資料介紹
LF155/LF156/LF256/LF257/LF355/LF356/LF357 JFET Input Operational Amplifiers General Description
These are the first monolithic JFET input operational amplifiers
to incorporate well matched, high voltage JFETs on the
same chip with standard bipolar transistors (BI-FET? Technology).
These amplifiers feature low input bias and offset
currents/low offset voltage and offset voltage drift, coupled
with offset adjust which does not degrade drift or
common-mode rejection. The devices are also designed for
high slew rate, wide bandwidth, extremely fast settling time,
low voltage and current noise and a low 1/f noise corner.
Features
Advantages
n Replace expensive hybrid and module FET op amps
n Rugged JFETs allow blow-out free handling compared
with MOSFET input devices
n Excellent for low noise applications using either high or
low source impedance—very low 1/f corner
n Offset adjust does not degrade drift or common-mode
rejection as in most monolithic amplifiers
n New output stage allows use of large capacitive loads
(5,000 pF) without stability problems
n Internal compensation and large differential input voltage
capability
These are the first monolithic JFET input operational amplifiers
to incorporate well matched, high voltage JFETs on the
same chip with standard bipolar transistors (BI-FET? Technology).
These amplifiers feature low input bias and offset
currents/low offset voltage and offset voltage drift, coupled
with offset adjust which does not degrade drift or
common-mode rejection. The devices are also designed for
high slew rate, wide bandwidth, extremely fast settling time,
low voltage and current noise and a low 1/f noise corner.
Features
Advantages
n Replace expensive hybrid and module FET op amps
n Rugged JFETs allow blow-out free handling compared
with MOSFET input devices
n Excellent for low noise applications using either high or
low source impedance—very low 1/f corner
n Offset adjust does not degrade drift or common-mode
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n New output stage allows use of large capacitive loads
(5,000 pF) without stability problems
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