四分幅X射線K-B顯微鏡成像系統(tǒng)

　　為了滿足“神光2”裝置上的物理實(shí)驗(yàn)需求，上海激光等離子體研究所聯(lián)合同濟(jì)大學(xué)和深圳大學(xué)研發(fā)了四分幅X射線K-B顯微鏡成像系統(tǒng)。其中四通道K-B顯微鏡由同濟(jì)大學(xué)制作，設(shè)計(jì)放大倍數(shù)約8倍，工作能段如圖1，X射線分幅相機(jī)由深圳大學(xué)制作，采用三微帶結(jié)構(gòu)，離線測(cè)試表明，分幅相機(jī)空間分辨率月20 lp/mm，時(shí)間分辨力月75ps，觸發(fā)幌動(dòng)小于87ps。為了驗(yàn)證這套四分幅X射線K-B顯微鏡成像系統(tǒng)的整體性能并考核基數(shù)指標(biāo)，通過在神光2裝置上開展了考核實(shí)驗(yàn)，并成功地在物理實(shí)驗(yàn)中使用了這套系統(tǒng)。

　　實(shí)驗(yàn)條件

　　實(shí)驗(yàn)在“神光2”球型靶室上進(jìn)行，圖2為實(shí)驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)的照片，四通道KB置于靶室內(nèi)，分幅相機(jī)通過轉(zhuǎn)接法蘭與靶室連接。利用八路激光中的四束經(jīng)過束勻滑的3倍頻激光疊加驅(qū)動(dòng)背光靶，焦斑尺寸約300μm。考核實(shí)驗(yàn)中使用了Cu、Ti背光靶，分別提供圖1中A、B能段的背光X射線背光?？己藢?shí)驗(yàn)使用兩種網(wǎng)格樣品用于測(cè)定系統(tǒng)的空間分辨率如圖3。

　　樣品1為四象限網(wǎng)格，用于測(cè)定系統(tǒng)放大倍率及視場(chǎng)，4個(gè)區(qū)域分別為127，6.5，84，169μm；樣品2用于測(cè)量系統(tǒng)極限分辨率，左上為16.9μm，右上12.7μm，下方為刀口。分幅相機(jī)安裝在靶室外，使用光纖面板耦合的科學(xué)CCD相機(jī)作為后記錄系統(tǒng)。