FPGA片內(nèi)PLL電磁抗擾度的熱應(yīng)力效應(yīng)研究與測(cè)試分析
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2019-10-04 08:00:00
帶開(kāi)路漏極脈寬調(diào)制輸出的線性霍爾效應(yīng)傳感器A1356
為數(shù)字編碼 PWM 輸出信號(hào)。數(shù)字編碼 PWM 輸出的耦合抗擾性遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了模擬輸出信號(hào)的抗擾性?! 1356 具有 BiCMOS 單片電路,該電路集成了霍爾元件、用于降低霍爾元件固有的靈敏度和偏移
2018-11-02 15:58:04
干擾測(cè)試-靜場(chǎng)探頭,硬件測(cè)試服務(wù),信號(hào)完整性測(cè)試,信號(hào)質(zhì)量測(cè)試,硬件整改,硬件維修,硬件組裝測(cè)試
測(cè)試)2.4分跌落、中斷、電壓變化三項(xiàng)測(cè)試,IEC6100-4-11, 測(cè)試環(huán)境: EN 55014-1: 家用電器輻射 EN 55014-2: 家用電器輻射抗擾度 EN 55011: 工業(yè)、科學(xué)
2019-11-19 15:30:31
干擾測(cè)試-靜場(chǎng)探頭,硬件測(cè)試服務(wù),信號(hào)完整性測(cè)試,信號(hào)質(zhì)量測(cè)試,硬件整改,硬件維修,硬件組裝測(cè)試
測(cè)試)2.4分跌落、中斷、電壓變化三項(xiàng)測(cè)試,IEC6100-4-11, 測(cè)試環(huán)境: EN 55014-1: 家用電器輻射 EN 55014-2: 家用電器輻射抗擾度 EN 55011: 工業(yè)、科學(xué)
2019-11-19 15:31:32
手機(jī)電磁兼容性改善測(cè)試介紹
兼容測(cè)試中經(jīng)常出現(xiàn)的問(wèn)題,包括靜電放電抗擾度試驗(yàn)、電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)、輻射騷擾及傳導(dǎo)騷擾性能測(cè)試中經(jīng)常發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題進(jìn)行了分析,并提出了相應(yīng)的改善手機(jī)電磁兼容性能的建議。
2019-07-25 07:20:40
提高產(chǎn)品抗擾度的方法-錢振宇pdf
;><strong>提高產(chǎn)品抗擾度的方法</strong></font><br/&
2009-10-13 14:27:48
無(wú)線電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備和測(cè)量方法規(guī)范(系列標(biāo)準(zhǔn)集合)
GB-T 6113.102-2008 無(wú)線電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備和測(cè)量方法規(guī)范 第1-2部分:無(wú)線電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備 輔助設(shè)備 傳導(dǎo)騷擾GB-T 6113.104-2008 無(wú)線電騷擾和抗擾度
2015-09-02 10:29:14
汽車各部件是怎么進(jìn)行EMI抗擾性測(cè)試的
隨著人們的生活水平逐漸提升,隨之對(duì)汽車的選購(gòu)也是高標(biāo)準(zhǔn)高要求的。本文是通過(guò)闡述汽車各部件怎是怎么進(jìn)行EMI抗擾性測(cè)試的?多年以來(lái),電磁干擾(EMI)效應(yīng)一直是現(xiàn)代電子控制系統(tǒng)中備受關(guān)注的一個(gè)
2020-10-21 11:02:35
汽車電子MCU中采用抗EMI的設(shè)計(jì)方法介紹
集成電路電磁干擾與抗擾度的設(shè)計(jì)和測(cè)試方法,而且有必要與集成電路的應(yīng)用相結(jié)合。針對(duì)汽車電子領(lǐng)域來(lái)講,將對(duì)整車級(jí)、零部件級(jí)的電磁兼容要求強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn),結(jié)合到集成電路的設(shè)計(jì)中,才能使電路更易于設(shè)計(jì)出符合標(biāo)準(zhǔn)
2019-07-25 06:13:00
汽車電子部件EMI抗擾性測(cè)試的幾種方法?它們有什么優(yōu)缺點(diǎn)?
汽車電子部件EMI抗擾性測(cè)試的各種方法及其優(yōu)缺點(diǎn),幫助測(cè)試工程師正確選擇最佳的測(cè)試手段。
2021-04-14 06:45:47
汽車零部件環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)室及電磁兼容EMC測(cè)試機(jī)構(gòu)
試驗(yàn),電壓暫降測(cè)試,騷擾功率試驗(yàn),電磁抗擾試驗(yàn)室,射頻測(cè)試,電磁場(chǎng)輻射試驗(yàn),抗繞度試驗(yàn),電瞬態(tài)干擾試驗(yàn),插入損耗試驗(yàn)等。
可靠性試驗(yàn)/可靠性測(cè)試:
可靠性強(qiáng)化試驗(yàn),加速壽命試驗(yàn)(halt),環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)(ess),可靠性驗(yàn)收試驗(yàn),可靠性鑒定試驗(yàn),可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)。
2023-05-23 15:55:57
測(cè)量技術(shù)系列之MC測(cè)試與靜電放電抗擾度試驗(yàn)
測(cè)試目的是檢測(cè)電器產(chǎn)品所產(chǎn)生的電磁輻射對(duì)人體、公共電網(wǎng)以及其他正常工作之電器產(chǎn)品的影響?! B/T 17626的本部分規(guī)定電氣和電子設(shè)備遭受直接來(lái)自操作者和對(duì)鄰近物體的靜電放電時(shí)的抗擾度要求和試驗(yàn)
2018-11-09 17:57:18
用于絕對(duì)編碼器的RS-485接口高EMC抗擾度設(shè)計(jì)包括BOM及層圖
描述該高 EMC 抗擾度參考設(shè)計(jì)展示了用于驅(qū)動(dòng)器和編碼器(如 EnDat 2.2、BiSS?、Tamagawa? 等)的 RS-485 收發(fā)器。EMC 抗擾度(尤其是逆變器開(kāi)關(guān)噪聲抗擾度)對(duì)于工業(yè)
2018-09-30 09:34:58
用突發(fā)脈沖器準(zhǔn)確分析脈沖抗擾度
。 二、任務(wù) 一個(gè)新的控制單元是干擾發(fā)生器抗擾度試驗(yàn)檢查的對(duì)象。該控制單元電路板包括液晶顯示器(+控制器)、μC(142引腳TQFP)、FPGA(100引腳TQFP)、接口模塊、無(wú)源器件(如SMD0603
2017-09-14 09:59:46
電風(fēng)扇做EMC測(cè)試的哪些項(xiàng)目?
)
射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試(RS)
電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試(EFT)
浪涌(沖擊)抗擾度測(cè)試(Surge)
射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試(CS)
工頻磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試(Magnetic Field
2023-09-25 09:05:04
磁隔離器抗擾度分析
即使存在上述情況,隔離器的周邊集成電路也已經(jīng)出現(xiàn)故障。4、結(jié)論由上述分析可知,數(shù)字磁隔離器與常見(jiàn)集成電路磁場(chǎng)抗擾度能力相當(dāng),不需要進(jìn)行額外的電磁防護(hù)處理,可以滿足用戶使用要求。
2021-09-13 09:40:47
稱重顯示儀電磁抗擾度整改案例
測(cè)試時(shí),幾乎每項(xiàng)測(cè)試都 Fail,產(chǎn)品的電磁抗干擾性能很差。下圖為產(chǎn)品的電磁抗擾度測(cè)試指標(biāo): 產(chǎn)品的試驗(yàn)配置如下圖所示: 二、 問(wèn)題分析該產(chǎn)品主要功能是通過(guò)傳感器采集小信號(hào),再通過(guò)放大、模數(shù)轉(zhuǎn)換等
2016-08-06 10:16:05
自抗擾控制技術(shù)
有沒(méi)有人在學(xué)習(xí)自抗擾技術(shù)的,能請(qǐng)教一下嗎,剛開(kāi)始學(xué)有很多不會(huì)的地!
2015-11-16 11:31:08
計(jì)算機(jī)服務(wù)器的產(chǎn)品環(huán)境可靠性和電磁兼容試驗(yàn)GB/T9813
兼容抗擾度試驗(yàn):
按照GBT17618標(biāo)準(zhǔn),進(jìn)行以下項(xiàng)目的電磁抗擾度試
靜電放電抗擾度
射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度
電快速瞬變脈沖群
浪涌抗擾度試驗(yàn)
傳導(dǎo)騷擾抗擾度
工頻磁場(chǎng)抗擾度
電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化
2023-06-15 09:45:58
請(qǐng)問(wèn)ST MEMS麥克風(fēng)的RF抗擾度是多少?塑料包裝如何抑制輻射干擾?
ST MEMS麥克風(fēng)的RF抗擾度是多少?塑料包裝如何抑制輻射干擾?以上來(lái)自于谷歌翻譯以下為原文 What is the RF immunity of the ST MEMS microphones
2018-12-05 16:15:46
請(qǐng)問(wèn)如何改良開(kāi)關(guān)檢測(cè)電路,增加抗擾度?
電路上的開(kāi)關(guān)檢測(cè)電路,外部DI1開(kāi)路的時(shí)候,光耦不發(fā)光,DIB1輸入mcu高電平;外部DI1合閘接地GND-E的時(shí)候,光耦發(fā)光,DIB1低電平。在平常應(yīng)用沒(méi)問(wèn)題,但是做抗擾度試驗(yàn)就不行了,DI1和GND-E加差模2.5kV,100KHz的阻尼振蕩干擾信號(hào),整個(gè)設(shè)備就死機(jī)了,請(qǐng)問(wèn)哪里改進(jìn),增加抗擾度。
2020-03-25 09:16:20
采用分布式偏振串擾檢測(cè)保偏光纖環(huán)質(zhì)量的研究
。通過(guò)光纖環(huán)熱應(yīng)力檢測(cè),可以了解骨架、光纖固化膠由于熱應(yīng)力作用對(duì)光纖環(huán)性能的影響。研究表明,分布式偏振串擾測(cè)量是大幅提高PMF環(huán)質(zhì)量的一個(gè)有效手段?!娟P(guān)鍵詞】:光纖陀螺(FOG);;光纖環(huán)繞制;;分布式
2010-04-22 11:32:42
集成電路的電磁兼容測(cè)試概述
IEC61967和集成電路電磁抗擾度標(biāo)準(zhǔn)IEC62132 。此外,在脈沖抗擾度方面,WG9也正在制定對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)IEC62215。
2014-11-17 09:49:17
靜電放電抗擾度試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
靜電放電抗擾度試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定電氣和電子設(shè)備遭受直接來(lái)自操作者對(duì)鄰近物體的靜電放電時(shí)的抗擾度要求和試驗(yàn)方法,還規(guī)定了不同環(huán)境和安裝條件下試驗(yàn)的范圍和試驗(yàn)程序。 [hide][/hide]
2009-12-02 16:18:00
高精度線性霍爾效應(yīng)傳感器A1356功能和優(yōu)點(diǎn)
模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字編碼 PWM 輸出信號(hào)。數(shù)字編碼 PWM 輸出的耦合抗擾性遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了模擬輸出信號(hào)的抗擾性?! 1356 具有 BiCMOS 單片電路,該電路集成了霍爾元件、用于降低霍爾元件固有的靈敏度
2018-12-04 15:26:13
PCB應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試三軸應(yīng)變片
深圳市品控科技有限公司供應(yīng)阿克蒙德TSK系列應(yīng)力測(cè)試儀、應(yīng)變片??捎糜诜职錦ICT\FCT\BGA等PCBA應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試,PCB板通用應(yīng)變測(cè)試儀,電子廠通用測(cè)試儀,應(yīng)變片,擁有多年豐富應(yīng)力測(cè)試經(jīng)驗(yàn)
2022-02-11 14:48:14
變溫場(chǎng)中熱應(yīng)力測(cè)試技術(shù)研究
變溫場(chǎng)中非金屬材料因溫度變化所受到的拉壓應(yīng)力,可利用金屬絲的應(yīng)變-電阻效應(yīng)把構(gòu)件表面的應(yīng)變量直接變換為電阻相對(duì)變化量的原理,通過(guò)電阻應(yīng)變片進(jìn)行其應(yīng)變測(cè)量。已知
2009-07-17 09:46:5519
應(yīng)力測(cè)試的方法有哪些?功率LED瞬態(tài)溫度場(chǎng)及熱應(yīng)力分布研究
、應(yīng)變及剪應(yīng)力的分布曲線。模擬結(jié)果表明最大應(yīng)力集中在鍵合層邊角處;軸向最大位移在透鏡與熱沉接觸邊緣;最大剪應(yīng)力集中在鍵合層的邊角區(qū)域。通過(guò)實(shí)驗(yàn)測(cè)試了LED 基板底面中心點(diǎn)的溫度變化,與仿真結(jié)果相符合,研究了各層材料導(dǎo)熱系數(shù)對(duì)LED 溫度場(chǎng)和應(yīng)力場(chǎng)分布的影
2018-10-24 09:38:255213
熱沖擊與熱應(yīng)力的相關(guān)特點(diǎn)介紹
熱沖擊是指由于急劇加熱或冷卻,使物體在較短的時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生大量的熱交換,溫度發(fā)生劇烈的變化時(shí),該物體就要產(chǎn)生沖擊熱應(yīng)力,這種現(xiàn)象稱為熱沖擊。金屬材料受到急劇的加熱和冷卻時(shí),其內(nèi)部將產(chǎn)生很大的溫差,從而
2019-05-17 10:52:546052
展會(huì)邀請(qǐng)|Aigtek安泰電子誠(chéng)邀您蒞臨第四屆全國(guó)熱應(yīng)力大會(huì)!
安泰電子誠(chéng)邀您蒞臨觀摩2023年3月31日-4月2日,第四屆全國(guó)熱應(yīng)力大會(huì)將在重慶隆重召開(kāi),屆時(shí)Aigtek安泰電子將攜一眾明星產(chǎn)品及專業(yè)測(cè)試解決方案亮相本次展會(huì),我們誠(chéng)邀您蒞臨重慶科苑戴斯酒店
2023-03-28 16:23:13528
大會(huì)回顧 | 重溫第四屆全國(guó)熱應(yīng)力大會(huì)安泰電子高光時(shí)刻!
第四屆全國(guó)熱應(yīng)力大會(huì)2023年4月2日,第四屆全國(guó)熱應(yīng)力大會(huì)在重慶完美落下帷幕,作為我國(guó)熱應(yīng)力領(lǐng)域的年度盛會(huì),本次大會(huì)匯聚業(yè)內(nèi)眾多科研工作者參加。作為國(guó)內(nèi)優(yōu)秀的民族測(cè)試儀器制造商,本屆大會(huì)
2023-04-10 11:23:23420
技術(shù)資訊 I 多層 PCB 的熱應(yīng)力分析
本文要點(diǎn)多層PCB有很多優(yōu)點(diǎn),但是,多層結(jié)構(gòu)也會(huì)給電路板帶來(lái)熱應(yīng)力問(wèn)題。熱應(yīng)力分析是一種溫度和應(yīng)力分析方法,用于確定多層PCB中的熱應(yīng)力點(diǎn)。熱應(yīng)力分析結(jié)果有助于PCB設(shè)計(jì)人員構(gòu)建可靠、穩(wěn)健和經(jīng)過(guò)優(yōu)化
2023-04-13 15:15:351197
PCBA應(yīng)力測(cè)試中MLCC失效應(yīng)用和案例分析
在PCBA中,MLCC對(duì)應(yīng)變比較敏感,過(guò)大的應(yīng)力會(huì)導(dǎo)致PCBA失效。在生成過(guò)程中SMT,DIP,FATP三大電子制造環(huán)境,都會(huì)對(duì)PCBA產(chǎn)生應(yīng)力。所以需要把控風(fēng)險(xiǎn),進(jìn)行日常制程的應(yīng)力測(cè)試。
2022-03-21 11:19:43112
基于數(shù)值計(jì)算的模擬仿真方法進(jìn)行碲鎘汞芯片的熱應(yīng)力分析
通過(guò)實(shí)驗(yàn)進(jìn)行大面陣碲鎘汞芯片的熱應(yīng)力分析不僅耗時(shí)長(zhǎng)、成本高,而且對(duì)于微米尺度的陣列單元分析難度高。近年來(lái),利用基于數(shù)值計(jì)算的模擬仿真方法進(jìn)行碲鎘汞芯片的熱應(yīng)力分析受到了人們廣泛的關(guān)注及研究。近年來(lái)
2023-11-26 10:48:39367
評(píng)論
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