采用內(nèi)部或者嵌入式邏輯分析儀推動FPGA調(diào)試技術改變

1 推動FPGA調(diào)試技術改變的原因

進行硬件設計的功能調(diào)試時，F(xiàn)PGA的再編程能力是關鍵的優(yōu)點。CPLD和FPGA早期使用時，如果發(fā)現(xiàn)設計不能正常工作，工程師就使用“調(diào)試鉤”的方法。先將要觀察的FPGA內(nèi)部信號引到引腳，然后用外部的邏輯分析儀捕獲數(shù)據(jù)。然而當設計的復雜程度增加時，這個方法就不再適合了，其中有幾個原因。第一是由于FPGA的功能增加了，而器件的引腳數(shù)目卻緩慢地增長。因此，可用邏輯對I/O的比率減小了，參見圖1。此外，設計很復雜時，通常完成設計后只有幾個空余的引腳，或者根本就沒有空余的引腳能用于調(diào)試。

圖1 Lattice FPGA的LUT/可用I/O

第二，現(xiàn)在設計的復雜性經(jīng)常需要觀察許多信號，而不是幾個信號。常用的技術是實現(xiàn)較寬的內(nèi)部總線，以便在較大的FPGA中達到高的系統(tǒng)吞吐量。如果懷疑內(nèi)部的32位總線里有壞的數(shù)據(jù)，則難以用幾個I/O引腳來確定問題所在。

第三，通常需要在系統(tǒng)中測試復雜的功能。在這種情況下，在系統(tǒng)中調(diào)試時訪問一些I/O也許是有限的。新類型的包還限制訪問FPGA引腳。系統(tǒng)速度也是個問題，因為探針的連接可能會引起性能或者噪聲信號降低。

最后，推動FPGA調(diào)試方法改變的關鍵因素是有了新的工具，這些工具采用內(nèi)部或者嵌入式邏輯分析儀。

擁有這些工具可得到最佳的結果，而不是用與先前工具相同的方法。資源、靜態(tài)參數(shù)和動態(tài)參數(shù)通常約束了內(nèi)部邏輯分析儀和外部邏輯分析儀。本文對這兩種類型工具的約束進行了比較，考察如何最佳地利用內(nèi)部邏輯分析儀。

2 外部邏輯分析儀受到的限制

外部邏輯分析儀已經(jīng)用了幾十年了。外部邏輯分析儀的最大優(yōu)點是能夠存儲大量的信號信息，或者用來跟蹤數(shù)據(jù)。配置在不斷變化，但大多數(shù)外部邏輯分析儀可以存儲兆字節(jié)的數(shù)據(jù)。為了對FPGA使用外部邏輯分析儀，數(shù)據(jù)信號必須引到片外?？捎脙煞N方法中的一種來做。第一種方法是直接把信號送到用于觀察的I/O引腳。取決于FPGA 的封裝類型，接觸I/O引腳 可能會有困難。 針對用這種方法進行調(diào)試的電路板 設計 要用連接器，例如與FPGA相連的MICTOR連接器。然而這種方法不是很有效， 因為每個信號都需要一個I/O引腳。

第二種方法是插入能把信號引到I/O的核。這種方法的優(yōu)點是這個核設計成能多路復用信號至I/O引腳，允許引腳共享。這種方法的局限是信號要被外部的邏輯分析儀實時捕獲，多路復用大大降低了快速捕獲信號的可能性。由于這個原因，通常使用2x 或者 4x多路復用方案。這意味著現(xiàn)在32 個I/O引腳可以支持64個或128個信號。這樣得到了很大的改進，但是仍然有限制，例如要調(diào)試寬總線的情況。一旦信號連接到外部的邏輯分析儀，然后就設置觸發(fā)和數(shù)據(jù)捕獲條件。

使用外部邏輯分析儀設置的約束是有限的信號、高速觸發(fā)邏輯和大量的跟蹤存儲器。大多數(shù)邏輯分析儀使用狀態(tài)機觸發(fā)機制。用戶指定一個值等待這個信號，然后捕獲這個數(shù)據(jù)，或者進入另一個狀態(tài)，尋找不同的情況。這些信號本身是靜態(tài)的，但各種情況是動態(tài)的，會在任何時候發(fā)生變化。給定約束后，這個方法很有效。因為限制了信號的數(shù)目，在信號組合的情況下減少了操作數(shù)。但是跟蹤的存儲器相對較大，試圖找到一個接近的觀察點是很普通的事，然后捕捉大量的數(shù)據(jù)以找到問題所在。

3 使用內(nèi)部邏輯分析儀

用內(nèi)部邏輯分析儀能與外部邏輯分析儀一樣對FPGA進行功能調(diào)試。內(nèi)部邏輯分析儀使用嵌入在FPGA設計中的一個或多個邏輯分析儀核。設計者使用PC在軟件中設置觸發(fā)條件，通過JTAG訪問FPGA。一旦邏輯分析儀軟核捕獲了數(shù)據(jù)，通過JTAG將信息返回PC，然后設計者對這些數(shù)據(jù)進行觀察。觸發(fā)信號的復雜性和跟蹤存儲器的大小對信號數(shù)目有限制。大多數(shù)情況下，設計者可以觀察成百上千個信號。

觸發(fā)資源受FPGA限制，即未使用的邏輯和RAM。跟蹤存儲器有些實現(xiàn)需要RAM。有些則需要RAM或者LUT。然而，所需要的跟蹤存儲器比用外部邏輯分析儀大大減少，通常為數(shù)千位與數(shù)百萬位之比。觸發(fā)和數(shù)據(jù)捕獲以設計的全速進行，因為信號不需要在FPGA片外復用。

用外部邏輯分析儀時，信號必須靜態(tài)定義。改變信號經(jīng)常需要FPGA再次執(zhí)行，盡管有些工具提供只增加FPGA布線來改變部分或全部連接信號的能力。在調(diào)試期間，大多數(shù)實現(xiàn)部分或所有觸發(fā)條件動態(tài)地改變。然而，觸發(fā)的復雜性的變化取決于所用的工具。信號差別越多，所能提供的存儲器就越小。為了獲得最佳的結果，不同的觸發(fā)選項驅(qū)動了使用內(nèi)部邏輯分析儀的需要。

復雜調(diào)試的一個例子是在SMPTE SDI HD顯示中尋找一個特別的像素。在特殊的情況下，找到EAV (end active video)時序是必須的，然后尋找與數(shù)據(jù)相關的特別線數(shù)，再尋找SAV (start active video)時序。最后根據(jù)線中對應的像素，計算字節(jié)數(shù)目，參見圖2。

圖2 SDI HD數(shù)據(jù)流實例

為了調(diào)試找到這種數(shù)據(jù)需要尋找值的時序，再找特殊值，然后結束序列，最后在捕獲數(shù)據(jù)前數(shù)時鐘的數(shù)目。為了理解是如何做的，必須查看具體的實現(xiàn)過程。萊迪思的Reveal硬件調(diào)試器使用觸發(fā)單元和觸發(fā)表示以決定觸發(fā)點。觸發(fā)單元是一個比較器，觸發(fā)表示允許觸發(fā)單元和序列值組合在一起。

對于這個SDI實例，用3個觸發(fā)單元來定義EAV和SAV序列，另外的觸發(fā)單元用于線數(shù)，最后在發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)前的一個計數(shù)聲明用于等待。觸發(fā)建立的實例如圖3所示。這個設置可以用來尋找任何要求的線數(shù)和像素，因為線數(shù)觸發(fā)的值和計數(shù)可以動態(tài)地改變。

圖3 觸發(fā)設置的實例

4 結論

工程師將繼續(xù)使用外部邏輯分析儀，因為用它分析系統(tǒng)級功能時是很有價值的。但是用于內(nèi)部FPGA調(diào)試需要連接到電路板，信號的數(shù)目受到了限制。而內(nèi)部邏輯分析儀在可用信號數(shù)目方面提供了很大的自由度，但是在觸發(fā)邏輯和跟蹤存儲器方面受到約束。然而小心地使用觸發(fā)選項使內(nèi)部邏輯分析儀在精確的時間開始捕獲數(shù)據(jù)，要最大化可用的資源。這個例子中，需要分析在SDI視頻信號里特殊的像素(線和字)的復雜實現(xiàn)被分解成簡單的元素，這種方法提高了效率。這個例子只是瀏覽了內(nèi)部邏輯分析儀的使用和應用。由于FPGA設計復雜性不斷增加，針對功能驗證和調(diào)試，內(nèi)部邏輯分析儀和類似的工具受到了設計者的青睞。

責任編輯：gt