一 產(chǎn)品簡(jiǎn)介
DI-1nS-FRD 系列二極管反向恢復(fù)時(shí)間測(cè)試儀，是本公司第四代產(chǎn)品。第四代的 FPGA芯片、閾值比較器等核心芯片采用恒溫控制，使得測(cè)試精度和測(cè)試穩(wěn)定性大大提高。本系列測(cè)試儀采用觸摸液晶屏，可進(jìn)行器件篩選的最大恢復(fù)時(shí)間設(shè)置、最小恢復(fù)時(shí)間設(shè)置、上升下降觸發(fā)設(shè)置，同時(shí)顯示二極管的恢復(fù)時(shí)間，PASS 指示燈直接提示測(cè)試的二極管是否合格。該系列測(cè)試儀廣泛應(yīng)用于二極管測(cè)試系統(tǒng)、工業(yè)生產(chǎn)系統(tǒng)以及電子應(yīng)用實(shí)驗(yàn)室等領(lǐng)域。DI-1nS-FRD 為快恢復(fù)二極管反向恢復(fù)時(shí)間測(cè)試儀，擅長(zhǎng)測(cè)試反向恢復(fù)時(shí)間小于 1000nS的快恢復(fù)二極管和肖特基二極管，精度 0.1nS。DI-1nS-FRD 除了可以進(jìn)行傳統(tǒng)的連續(xù)恒流脈沖測(cè)試外，還可以脈沖恒流測(cè)試，具有二極管 PN結(jié)不升溫，測(cè)試數(shù)值穩(wěn)定不變的特性。
二 應(yīng)用范圍
小功率快恢復(fù)二極管
肖特基二極管
三 指標(biāo)
