--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
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- 品牌 CHOTEST/中圖儀器
--- 產(chǎn)品詳情 ---
CHOTEST中圖儀器SJ5730粗糙度輪廓度儀一體機(jī)具有12mm-24mm的粗糙度輪廓一體式測(cè)量范圍,分辨率達(dá)到0.1nm,是大曲面測(cè)量(軸承、人工關(guān)節(jié)、精密模具、齒輪、葉片、光學(xué)鏡片)領(lǐng)域精細(xì)粗糙度測(cè)量的利器。
SJ5730粗糙度輪廓度儀一體機(jī)適合測(cè)量大曲面高精密零部件的輪廓參數(shù)測(cè)量,同時(shí)具備球面、弧面、非球面輪廓參數(shù)評(píng)價(jià)功能,能夠滿足各種高精密輪廓粗糙度加工行業(yè)的測(cè)量需求??蓮V泛應(yīng)用于精密機(jī)械加工、汽車、軸承、機(jī)床、模具、精密五金等行業(yè)。該儀器可以對(duì)零件表面的輪廓度、波紋度、粗糙度實(shí)現(xiàn)一次掃描測(cè)量,尤其是大范圍曲面、斜面進(jìn)行粗糙度檢測(cè),如圓弧面和球面、異型曲面進(jìn)行多種粗糙度參數(shù)、微觀輪廓度參數(shù)的測(cè)量。同時(shí)儀器還可對(duì)各種精密零件輪廓度、波紋度進(jìn)行測(cè)量,對(duì)形狀參數(shù)進(jìn)行分析。
技術(shù)參數(shù)
型號(hào) | SJ5730-100 | ||
輪廓參數(shù) |
測(cè)量范圍 | X軸 | 0~100mm |
立柱軸 | 0~300mm | ||
Z軸 | ±6mm(標(biāo)準(zhǔn)測(cè)桿)(±12mm:兩倍標(biāo)準(zhǔn)測(cè)桿) | ||
移動(dòng)速度 | X軸 | 0~20mm/s | |
立柱軸 | 0~20mm/s | ||
掃描速度(掃描軸) | 0.05~5mm/s | ||
直線度(掃描軸) | ≤(0.05+1.5L/1000)μm *備注:≤0.2μm/100mm | ||
測(cè)量力 | 0.5mN、0.75mN、1mN、2mN、3mN(電子檔位可調(diào)) | ||
粗糙度參數(shù) | 適用Ra測(cè)量范圍 | Ra0.012μm~Ra12.5μm(可選更大范圍) | |
示值誤差 | Ra: ≤±(3nm+2.0%A)(A:測(cè)量Ra標(biāo)稱值) | ||
重復(fù)性(1δ) | 1δ≤1nm *備注:0.1-0.2μm方波粗糙度樣塊、標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)階塊測(cè)試 | ||
殘值噪聲 | Rq≤2nm *備注:1納米級(jí)粗糙度樣塊、平晶測(cè)試 | ||
粗糙度測(cè)量參數(shù) | R粗糙度: Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,RzJ; Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr; 核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo; P輪廓參數(shù): Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax; W波紋度輪廓參數(shù): Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc; Motif參數(shù):R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte; 符合標(biāo)準(zhǔn): GB/T3505-2009,ISO4287:1997,ISO 13565-2:1996,ASME B46.1-2002, DIN/EN/ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994JIS B 0601-1982, ISO 1302:2002; | ||
濾波器 | 高斯濾波器、2RC濾波器,相位修正濾波器 | ||
濾波長(zhǎng)度 | 0.08、0.25、0.8、2.5、8.0、25mm可選 | ||
濾波長(zhǎng)度 | λc×3、4、5、6、7、8可選 | ||
儀器尺寸(長(zhǎng)×寬×高) | 600×350×850(mm) | ||
儀器總重量 | 約95Kg |
性能特點(diǎn)
1、一次測(cè)量同時(shí)評(píng)定輪廓和粗糙度參數(shù)
超高精度衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng),具有12mm~24mm的大量程粗糙度測(cè)量范圍,分辨率高達(dá)0.1nm,系統(tǒng)殘差小于2nm。
2、高精度、高穩(wěn)定性、高重復(fù)性:滿足被測(cè)件測(cè)量精度要求
1)系統(tǒng)掃描軸采用特殊的超高耐磨材質(zhì)復(fù)合材質(zhì)摩擦片,耐磨性能優(yōu)良,穩(wěn)定性高,能保障系統(tǒng)長(zhǎng)時(shí)間的穩(wěn)定的直線度精度;
2)高精度轉(zhuǎn)軸采用特殊的高剛性、低慣量、超低摩擦系數(shù)的紅寶石轉(zhuǎn)軸系統(tǒng),確保了轉(zhuǎn)動(dòng)的超高靈敏度及測(cè)量精度;
3)超高穩(wěn)定的驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì),確保了驅(qū)動(dòng)運(yùn)行過(guò)程中不產(chǎn)生任何的振動(dòng)及干擾,保障了系統(tǒng)掃描運(yùn)動(dòng)精度;
4)高精度的納米級(jí)光學(xué)轉(zhuǎn)軸測(cè)量系統(tǒng),保障了儀器超高的分辨率及全程納米級(jí)粗糙度測(cè)量精度;
5)一體式拔插式碳纖維測(cè)桿、高剛性、低慣量,一鍵拔插,特殊設(shè)計(jì)的高剛性拔插結(jié)構(gòu),無(wú)需鎖螺釘,方便快捷、穩(wěn)定可靠;
3、智能化管理與軟件分析系統(tǒng)
儀器操作界面友好,操作者易掌握儀器基本操作,使用十分簡(jiǎn)便。
1)10多年積累的實(shí)用檢測(cè)軟件設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn),向客戶提供簡(jiǎn)潔、實(shí)用、快速的操作體驗(yàn);
2)智能化分析及記錄,同批次可自動(dòng)測(cè)量和分析,大幅度減少人員的操作要求及降低人員的勞動(dòng)強(qiáng)度;
3)測(cè)量范圍廣,可滿足絕大多數(shù)類型的工件粗糙度輪廓測(cè)量要求;
4)非球面專用軟件分析功能模塊,一鍵式快速測(cè)量非球面光學(xué)鏡片;
5)可自動(dòng)和手動(dòng)選取被測(cè)段進(jìn)行評(píng)定,可依據(jù)客戶要求進(jìn)行軟件功能的定制;
6)純中文操作軟件系統(tǒng),更好的為國(guó)內(nèi)用戶服務(wù);
7)可打印各種格式的檢定報(bào)告,自動(dòng)顯示、打印、保存、查詢測(cè)量記錄,打印格式正規(guī)、美觀;檢定數(shù)據(jù)可存檔,或集中打印,不占用檢定操作時(shí)間;
8)本儀器采用計(jì)算機(jī)大容量數(shù)據(jù)庫(kù)儲(chǔ)存,可自動(dòng)記錄保存所有檢定結(jié)果。
4、智能保護(hù)系統(tǒng)
儀器在各個(gè)方向都有進(jìn)行硬件及軟件保護(hù),能有效的保護(hù)儀器主機(jī)及測(cè)針,降低人員因操作失誤帶來(lái)的測(cè)針及儀器損傷;
模塊測(cè)針拔插式結(jié)構(gòu),方便更換,遇到卡針可輕松拆換測(cè)針;測(cè)量傳感器帶舵機(jī)結(jié)構(gòu),可防止掃描陡坡時(shí)的快速下墜。
5、靈活手動(dòng)控制:
儀器配置了特殊分離式操作桿,操作桿在儀器操作移動(dòng)時(shí),可放置在任何位置控制操作,在測(cè)量工件前對(duì)測(cè)針進(jìn)行粗定位;在脫離電腦的情況下,操作桿具備左右/上下移動(dòng)測(cè)針、急停、測(cè)桿上下角度擺動(dòng)及速度分多級(jí)調(diào)節(jié)功能。
6、成熟的標(biāo)定校準(zhǔn)技術(shù)
儀器配置特殊的高精度標(biāo)定臺(tái),通過(guò)簡(jiǎn)單的標(biāo)定操作,能對(duì)儀器的參數(shù)進(jìn)行誤差補(bǔ)償,對(duì)測(cè)針針尖磨損進(jìn)行修正補(bǔ)償,使其滿足高精度輪廓測(cè)量。
SJ5730粗糙度輪廓度儀一體機(jī)一次測(cè)量可同時(shí)評(píng)定粗糙度及輪廓參數(shù),分析評(píng)定R參數(shù)、P參數(shù)、W參數(shù)等微觀粗糙度參數(shù)及倒角、R角、直線度、位置尺寸、角度的宏觀輪廓參數(shù);以及表面粗糙度評(píng)定: R參數(shù)、P參數(shù)、W參數(shù)、核心粗糙度Rcore、Motif等微觀粗糙度參數(shù)評(píng)定等。
環(huán)境條件
溫度:20±5℃;
相對(duì)濕度:10%~80%;
電源/功率:220V,50Hz,≤1.5KW(含電腦及顯示器);
振動(dòng):按照三坐標(biāo)振動(dòng)要求標(biāo)準(zhǔn),振動(dòng)速度均方根≤5um/s,振動(dòng)頻率8~100Hz;
校準(zhǔn)室內(nèi)應(yīng)無(wú)影響測(cè)量的灰塵、震動(dòng)、噪音、氣流、腐蝕性氣體和較強(qiáng)磁場(chǎng);
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原理與操作類-工作原理是什么:觸針式接觸測(cè)量原理,將很尖的觸針垂直安置在被測(cè)表面上作橫向移動(dòng),觸針隨被測(cè)表面輪廓起伏,其微小位移通過(guò)電路轉(zhuǎn)換、放大和運(yùn)算處理,得到表面粗糙度和輪廓參數(shù)值。-如何進(jìn)行測(cè)量操作:先將被測(cè)工件穩(wěn)固放置在工作臺(tái)上,然后選擇合適的測(cè)針并安裝好,調(diào)整觸針與被測(cè)表面垂直接觸,設(shè)置好測(cè)量參數(shù),如測(cè)量范圍、取樣長(zhǎng)度等,再啟動(dòng)測(cè)量程序,驅(qū)動(dòng)裝置拖 -
關(guān)于白光干涉儀的常見(jiàn)提問(wèn)及回答2025-01-09 16:02
原理相關(guān)1、白光干涉儀的基本原理是什么:白光干涉儀的基本原理是利用光學(xué)干涉原理。光源發(fā)出的光經(jīng)過(guò)擴(kuò)束準(zhǔn)直后經(jīng)分光棱鏡分成兩束,一束光經(jīng)被測(cè)表面反射回來(lái),另一束光經(jīng)參考鏡反射,兩束反射光最終匯聚并發(fā)生干涉。由于兩束光相互干涉,在CCD相機(jī)感光面會(huì)觀察到明暗相間的干涉條紋,干涉條紋的亮度取決于兩束光的光程差,根據(jù)白光干涉條紋明暗度以及干涉條紋出現(xiàn)的位置解析出被測(cè) -
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1、工作原理方面-激光跟蹤儀主要是通過(guò)發(fā)射激光束來(lái)跟蹤目標(biāo)。它有一個(gè)高精度的角度編碼器,能夠精確測(cè)量?jī)x器的水平角和垂直角。同時(shí),激光干涉測(cè)量系統(tǒng)可以測(cè)量從儀器到目標(biāo)反射鏡的距離。當(dāng)目標(biāo)反射鏡移動(dòng)時(shí),激光跟蹤儀通過(guò)不斷地測(cè)量角度和距離的變化,從而確定目標(biāo)在三維空間中的位置。例如,在工業(yè)制造中,當(dāng)一個(gè)機(jī)械零件需要精確測(cè)量其外形尺寸時(shí),激光跟蹤儀就可以實(shí)時(shí)追蹤零件 -
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一、三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的基本原理相關(guān)問(wèn)題1.三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是如何進(jìn)行測(cè)量的?-三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)通過(guò)探測(cè)系統(tǒng)(如接觸式測(cè)頭或非接觸式測(cè)頭)獲取工件表面上點(diǎn)的坐標(biāo)位置。它基于笛卡爾坐標(biāo)系,有X、Y、Z三個(gè)互相垂直的坐標(biāo)軸。當(dāng)測(cè)頭接觸到工件表面的測(cè)量點(diǎn)時(shí),測(cè)量機(jī)的控制系統(tǒng)會(huì)記錄下此時(shí)測(cè)頭在三個(gè)坐標(biāo)軸方向上的位置信息,這些坐標(biāo)值就代表了測(cè)量點(diǎn)在三維空間中的位置。例如,在測(cè)量一個(gè) -
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影像儀是一種用于測(cè)量和檢測(cè)物體尺寸、形狀等多種特性的精密儀器。以下是關(guān)于影像儀的常見(jiàn)問(wèn)題及回答:一、影像儀的工作原理是什么?影像儀主要是利用光學(xué)成像系統(tǒng)將物體的輪廓、表面特征等形成光學(xué)影像,然后通過(guò)CCD(電荷耦合器件)相機(jī)或者CMOS(互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)相機(jī)進(jìn)行圖像采集。這些圖像被傳輸?shù)接?jì)算機(jī)軟件系統(tǒng)中,軟件會(huì)根據(jù)預(yù)先設(shè)定的測(cè)量算法和參照標(biāo)準(zhǔn)來(lái)分析處理199瀏覽量 -
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VX9000系列光學(xué)掃描成像測(cè)量機(jī),滿足PCB行業(yè)多樣化尺寸測(cè)量需求2023-12-01 09:29
VX9700光學(xué)掃描成像測(cè)量機(jī)紅、藍(lán)、綠三色光源滿足不同顏色PCB測(cè)量需求。高遠(yuǎn)心度雙側(cè)遠(yuǎn)心鏡頭提升數(shù)倍精度,一鍵測(cè)量新能源車PCB輪廓度、位置度、外形尺寸。739瀏覽量 -
激光干涉儀檢測(cè)機(jī)床的方法(以線性檢測(cè)為例)2023-10-27 15:21
激光干涉儀檢測(cè)機(jī)床的方法(以線性檢測(cè)為例)1.進(jìn)行線性測(cè)量的一般步驟(1)安裝設(shè)置激光干涉儀(2)將激光束與被測(cè)量的軸校準(zhǔn)(3)啟動(dòng)測(cè)量軟件,并輸入相關(guān)參數(shù)(如材料膨脹系數(shù))。(4)在機(jī)床上輸入測(cè)量程序,啟動(dòng)干涉儀測(cè)量,并記錄數(shù)據(jù)。(5)用測(cè)量軟件分析測(cè)量數(shù)據(jù),生產(chǎn)補(bǔ)償文件。線性測(cè)量應(yīng)用2.光束快速準(zhǔn)直步驟(1)沿著運(yùn)動(dòng)軸將反射鏡與干涉鏡分開(kāi)。(2)移動(dòng)機(jī)床工作臺(tái),當(dāng)光束離開(kāi)光靶外圓時(shí)停止移動(dòng),垂 -
納米級(jí)測(cè)量?jī)x器:窺探微觀世界的利器2023-10-11 13:49
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微納共聚焦顯微鏡:檢測(cè)摩擦學(xué)研究的重難點(diǎn)2023-09-22 09:13
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先進(jìn)封裝廠關(guān)于Bump尺寸的管控2023-09-06 14:26
BumpMetrologysystem—BOKI_1000在半導(dǎo)體行業(yè)中,Bump、RDL、TSV、Wafer合稱先進(jìn)封裝的四要素,其中Bump起著界面互聯(lián)和應(yīng)力緩沖的作用。Bump是一種金屬凸點(diǎn),從倒裝焊FlipChip出現(xiàn)就開(kāi)始普遍應(yīng)用,Bump的形狀有多種,常見(jiàn)的為球狀和柱狀,也有塊狀等其他形狀,下圖所示為各種類型的Bump。Bump起著界面之間的電氣互聯(lián)和應(yīng)力緩沖的作用,從Bondwire2.3k瀏覽量
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