尊敬的顧客感謝您對(duì)艾思荔鎮(zhèn)流器PCT老化試驗(yàn)箱的關(guān)注！我們專注于給您提供好的產(chǎn)品和周到的服務(wù)而努力，以下是產(chǎn)品簡(jiǎn)介，歡迎閱覽！
鎮(zhèn)流器PCT老化試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格：
1、型號(hào)pct-35、內(nèi)箱尺寸∮350×450D(mm)：
2、型號(hào)pct-45、內(nèi)箱尺寸∮550×550D(mm)：
3、溫度范圍：RT+100℃~135℃
4、濕度范圍：100％R。H
5、壓力范圍：0.0kg/㎝2～2.8kg/㎝2(相對(duì)壓力，鍋內(nèi)壓力)，Jue對(duì)壓力＝1.0kg/㎝2＋0.0kg/㎝2～3.0kg/㎝2(安全壓力容量為4kg/㎝2＝1個(gè)大氣壓＋3kg/㎝2)
6、溫度分布精度：±1.5℃
7、溫度控制精度：±0.5℃
8、溫度解析精度：0.1℃
9、加壓時(shí)間：0.0kg/㎝2～2.0kg/㎝2約30分鐘
10、內(nèi)箱材質(zhì)：采用SUS304耐寒耐熱不銹鋼板
11、外箱材質(zhì)：采用SECC鋼板，靜電噴塑處理。
鎮(zhèn)流器PCT老化試驗(yàn)箱試驗(yàn)?zāi)康模?/p>
1、加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度、與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等），加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。
2、用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。
3、隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長(zhǎng)期的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效，因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類型：即hast和UShast(HAST）現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC(國(guó)際電工委員會(huì)）所標(biāo)準(zhǔn)化。注意事項(xiàng)：UShast現(xiàn)在稱為HAST(高度加速應(yīng)力試驗(yàn)）。
艾思荔鎮(zhèn)流器PCT老化試驗(yàn)箱具有自動(dòng)加水功能并且在試驗(yàn)過(guò)程中水位過(guò)低時(shí)自動(dòng)補(bǔ)水，試驗(yàn)過(guò)程自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)至完成結(jié)束，使用簡(jiǎn)便。溫度控制：LED數(shù)字型溫度控制器可作Jing確試驗(yàn)溫度之設(shè)定、控制及顯示。定時(shí)器：LED數(shù)字型定時(shí)器，當(dāng)鍋內(nèi)溫度到達(dá)后才開(kāi)始時(shí)以確保試驗(yàn)完全。
