冷熱沖擊試驗設備是品質部的一種測試設備，可適用于多個行業(yè)，如電子電器零組件、通訊組件、自動化零部件、汽車配件、化學材料、金屬、塑膠等，同時也適合航天、國防工業(yè)、BGA、兵工業(yè)、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁和高分子材料等領域。
冷熱沖擊試驗設備主要用于測試物品在高、低溫環(huán)境下的反復抵拉力和熱脹冷縮性能，以及產品在此物理環(huán)境下產生的化學變化或物理傷害。使用該設備可以確認各種產品的品質，從精密的電子芯片到重型機械組件都需要進行測試。目前，該設備已經成為工業(yè)界公認的理想測試工具之一。
使用冷熱沖擊試驗設備標準執(zhí)行：
GB/T10592-2008是關于高低溫試驗箱技術條件的標準。
GB/T2423.1-2008是關于電工電子產品環(huán)境試驗的標準，其中第2部分是有關試驗方法的規(guī)定。試驗A是針對低溫的試驗。
《GB/T2423.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗》的第2部分規(guī)定了試驗方法，其中試驗B是高溫試驗。
GB/T2423.22-2012是關于環(huán)境試驗的標準，其中第2部分為試驗方法。試驗N是指溫度變化試驗，該試驗方法與IEC60068-2-14:2009標準相一致。
GJB150.《3-86設備環(huán)境試驗方法》的第3部分是關于高溫試驗的。
《GJB/T150.4-86設備環(huán)境試驗方法第4部分低溫試驗》規(guī)定了低溫環(huán)境下設備的試驗方法。
《GJB/T150.5-86設備環(huán)境試驗方法》的第5部分是關于溫度沖擊試驗的。
冷熱沖擊試驗設備技術參數:
1.貝爾可根據客戶的需求制造出更適合的設備，內箱尺寸為W800毫米×H800毫米×D800毫米。
2.外箱尺寸：以實際尺寸為準。
3.高溫槽的預熱溫度范圍為60攝氏度至200攝氏度。
4.加熱速度：從60℃升至200℃不超過30分鐘。
5.預冷的低溫槽可以達到-75至-10℃的溫度范圍。
6.降溫時間：從+20℃到-75℃不超過60分鐘;(注意：降溫時間是指低溫槽獨立運行時的表現(xiàn))。
7.溫度沖擊范圍為正數：+60℃至+150℃，負數：-65℃至-10℃。
8.溫度變化范圍：在攝氏度上上下浮動不超過0.5℃。
9.溫度誤差范圍為正負2.0℃。
10.恢復溫度所需時間：不超過5分鐘。
11.試樣限制：本實驗設備不允許測試或儲存易燃、易爆或易揮發(fā)性物質的試樣，也不允許測試或儲存具有腐蝕性的試樣。
