4287A擁有高速測量(9 毫秒/數(shù)據(jù)點(diǎn))、統(tǒng)計(jì)分析以及內(nèi)置比較器等諸多強(qiáng)大的功能，可顯著提高制造過程中的測試效率。此外，與以前的射頻LCR表相比，4287A在測量精度與阻抗測量范圍方面都有了明顯的改進(jìn)，這些改進(jìn)是通過在儀表的模擬電路設(shè)計(jì)中使用了最先進(jìn)的技術(shù)實(shí)現(xiàn)的。因此，4287A測量結(jié)果的重復(fù)性和穩(wěn)定性會更好，即便是在測量SMD 電感器而需要使用很小的測試信號時(shí)也是如此。
易于使用的操作界面
面向應(yīng)用的操作界面可以通過鼠標(biāo)、面板按鍵或鍵盤進(jìn)行導(dǎo)航，簡化了復(fù)雜的測量設(shè)置過程。像測量頻率、激勵(lì)信號的電平(包括使用列表掃描的應(yīng)用情況)、對多功能比較器的使用限制等參數(shù)的設(shè)定都可以通過對設(shè)置表格進(jìn)行編輯和驗(yàn)證來完成。設(shè)置編輯器的表格多達(dá)八頁，用于存儲八種不同的設(shè)置。在設(shè)置表格建成后，很簡單地通過選擇相對應(yīng)的編號(從1到8)即可選擇有效的測量設(shè)置。
主要技術(shù)指標(biāo)
測試頻率
阻抗測量參數(shù)
顯示分辨率
測試信號電平
基本精度
測量范圍
測量時(shí)間
測量端口
校準(zhǔn)和補(bǔ)償
Rdc測量功能
數(shù)據(jù)存儲設(shè)備
接口
從1MHz到3GHz100kHz分辨率列表掃描模式下,每次掃描多達(dá)32個(gè)點(diǎn)。
Z、 0z(rad)、 0z(deg)、Yl、 0y(rad)、 ydeg) X、G、B、Ls,Lp,Cs、 Cp、Rs、 Rp.0D
5位
V(電壓開路條件):從4.47mVrms到502mVrms(頻率大于1GHz時(shí)447mVrms)l(電流短路條件):從0.0894mArms到10mArms(頻率大于1GHz時(shí)8.94mArms)
+1.0%
從200m0到3kn(測量頻率為1MHz時(shí)測量誤差不大于10%)
9毫秒/點(diǎn)(最快測量速度)
3.5毫米(陰頭)
開路/短路/負(fù)載/低損耗電容器校準(zhǔn)件,夾具電長度補(bǔ)償開路/短路補(bǔ)償
檢查被測器件的接觸是否良好(可選擇開啟或關(guān)閉此功能)
18G內(nèi)置硬盤和1.44M軟盤
GPIB、網(wǎng)絡(luò)(自適應(yīng)10base-T/100base-TX)和光隔離機(jī)械手接口
