現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 灌溉測(cè)試儀套件
2024-03-14 22:12:01
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
測(cè)試元件 脈沖發(fā)生器測(cè)試儀
2024-03-14 20:50:37
國(guó)產(chǎn)軟件的發(fā)展對(duì)于減少對(duì)外依賴、維護(hù)國(guó)家信息安全、促進(jìn)經(jīng)濟(jì)社會(huì)發(fā)展具有重要作用。ATECLOUD的研發(fā)和應(yīng)用，能夠在確保測(cè)試準(zhǔn)確性和高效性的同時(shí)，保障技術(shù)數(shù)據(jù)的安全性和可控性，助力國(guó)產(chǎn)化測(cè)試軟件的進(jìn)一步發(fā)展。
2024-03-13 14:09:07
63 
ATECLOUD-POWER開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)是納米軟件自主開(kāi)發(fā)的一款智能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，在傳統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的基礎(chǔ)上迭代，從用戶需求出發(fā)，更高效地完成開(kāi)關(guān)電源測(cè)試。該測(cè)試系統(tǒng)主要由測(cè)試設(shè)備(萬(wàn)用表
2024-03-04 15:34:43140 連續(xù)性測(cè)試儀是一種電子設(shè)備，用于測(cè)試電路的連續(xù)性。它通過(guò)檢測(cè)電路中的電阻或電導(dǎo)來(lái)評(píng)估電路的連續(xù)性和完整性。
2024-02-12 15:24:00251 
在進(jìn)行任何測(cè)試之前，務(wù)必?cái)嚅_(kāi)電路板的電源，并確保已將電容器放電。這是為了避免電擊和保護(hù)測(cè)試設(shè)備。
2024-02-06 12:30:36424 綜上所述，空載電壓影響著開(kāi)關(guān)電源的性能和穩(wěn)定性，開(kāi)關(guān)電源空載電壓測(cè)試有助于檢測(cè)電源并對(duì)其進(jìn)行維護(hù)。ATECLOUD-POWER開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試空載電源靈活性高，用戶無(wú)需學(xué)習(xí)代碼編程就可以完成測(cè)試
2024-02-02 15:41:33146 ATECLOUD-POWER是一款電源模塊自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，專門(mén)針對(duì)各類電源模塊測(cè)試及需求定制開(kāi)發(fā)，提供測(cè)試解決方案。系統(tǒng)采用硬件模塊化內(nèi)嵌式框架結(jié)構(gòu)，根據(jù)客戶測(cè)試需求及預(yù)算進(jìn)行調(diào)整，在滿足測(cè)試需求
2024-01-16 16:23:40144 3532-50自動(dòng)LCR測(cè)試儀353250LCR日本日置說(shuō)明書(shū)：東莞市德佳儀器羅先生提供
3532-50自動(dòng)LCR測(cè)試儀353250LCR日本日置
搭配寬幅測(cè)試頻率的阻抗測(cè)試儀
測(cè)試頻率可在42Hz
2024-01-05 16:35:55
因?yàn)V波電路Y電容未鎖螺釘導(dǎo)致CE電流法測(cè)試FAIL案例
2023-12-30 08:17:03498 
，進(jìn)入到控制臺(tái)。
選擇或者創(chuàng)建一個(gè)項(xiàng)目，如果新創(chuàng)建一個(gè)項(xiàng)目，注意選擇 HarmonyOS。
進(jìn)入項(xiàng)目空間，在左側(cè)導(dǎo)航欄中選擇 測(cè)試服務(wù) > HarmonyOS 云測(cè)試 ，進(jìn)入
2023-12-26 16:39:36
> HarmonyOS 云測(cè)試 ，進(jìn)入 HarmonyOS 云測(cè)試頁(yè)面 ， 點(diǎn)擊 HarmonyOS 云測(cè)試頁(yè)面右側(cè)的創(chuàng)建測(cè)試按鈕，進(jìn)入創(chuàng)建測(cè)試任務(wù)頁(yè)面**。**
在創(chuàng)建測(cè)試任務(wù)頁(yè)面選擇
2023-12-25 10:56:58
LCR測(cè)試儀有什么用？LCR測(cè)試儀使用說(shuō)明? LCR測(cè)試儀是一種專門(mén)用來(lái)測(cè)量和分析電感、電容和電阻等電學(xué)元件參數(shù)的儀器。LCR測(cè)試儀在電子產(chǎn)品制造、電子維修、研發(fā)和教學(xué)等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛，為工程師
2023-12-21 16:01:33638 LCR數(shù)字電橋來(lái)測(cè)量電容和電感的詳細(xì)步驟和注意事項(xiàng)? LCR數(shù)字電橋是一種用來(lái)測(cè)量電容和電感的儀器，它利用LCR諧振原理，通過(guò)測(cè)量電路的諧振頻率來(lái)間接計(jì)算電容和電感的數(shù)值。下面將詳細(xì)介紹LCR數(shù)字
2023-12-21 15:37:141841 LCR數(shù)字電橋的原理是什么？LCR數(shù)字電橋是用來(lái)干什么的？ LCR數(shù)字電橋原理的詳解 LCR數(shù)字電橋是一種測(cè)試電路中被稱為LCR元件的電感、電容和電阻的值的儀器。通過(guò)測(cè)量該元件在不同頻率下的電壓
2023-12-21 15:37:10628 電容電感測(cè)試儀有什么特點(diǎn) 電容電感測(cè)試儀使用方法? 電容電感測(cè)試儀是一種常用的電子測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)量電容和電感的參數(shù)。它具有以下特點(diǎn)： 1. 高精度測(cè)量：電容電感測(cè)試儀具有高靈敏度和高精確度的測(cè)量
2023-12-20 14:13:10361 鋁管內(nèi)涂層連續(xù)性測(cè)試儀是鋁質(zhì)藥用軟膏管檢測(cè)內(nèi)涂層連續(xù)性指標(biāo)時(shí)必不可少的檢測(cè)裝置，具體依據(jù)為YBB00162002-2015《鋁質(zhì)藥用軟膏管》。藥用復(fù)合軟膏管主要用于盛放軟膏劑各類乳膏、凝膠、軟膏
2023-12-19 11:26:34
晶振負(fù)載電容測(cè)試原理與測(cè)試方法 晶體振蕩器（也稱為晶振）是一種產(chǎn)生精確頻率的電子設(shè)備，被廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中，如計(jì)算機(jī)、通信設(shè)備、家用電器等。晶振的工作原理是通過(guò)施加電場(chǎng)使晶體發(fā)生壓電效應(yīng)，從而
2023-12-18 14:09:32311 納米軟件在電測(cè)行業(yè)深耕十余年，在行業(yè)的大背景下，為了進(jìn)一步完善自動(dòng)化測(cè)試，開(kāi)發(fā)出了新的智能化的電源模塊自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)ATECLOUD-POWER，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試，自動(dòng)采集、統(tǒng)計(jì)、分析測(cè)試數(shù)據(jù)，提高測(cè)試速度。
2023-12-15 14:40:39273 
安捷倫4284A精密 LCR 表，20 Hz 至 1 MHz的測(cè)試頻率范用和卓越的測(cè)試信號(hào)性能使4284A能夠在模擬預(yù)期應(yīng)用的條件下，按照最常用的測(cè)過(guò)標(biāo)準(zhǔn)IEC/MIL標(biāo)準(zhǔn))測(cè)試元器件。無(wú)論是在研發(fā)
2023-12-15 11:31:01
在建立任何電氣連接之前，連續(xù)性測(cè)試儀是電氣測(cè)試設(shè)備的重要組成部分。它用于確定在兩點(diǎn)之間創(chuàng)建電氣通道或形成電路的可行性。在連接儀器之前，確保待測(cè)電路完全斷電至關(guān)重要。
2023-12-13 17:35:55358 
電容在ESD測(cè)試整改中的妙用
2023-12-07 09:44:30236 
Agilent 4288A 1 kHz/1 MHz 電容表為生產(chǎn)線中的電容器測(cè)試提供高速且可靠的測(cè)量。通過(guò)精確測(cè)量，可以實(shí)現(xiàn)從低值到中值（最高 20 uF）的電容測(cè)量
2023-12-06 09:17:59
ATECLOUD是智能自動(dòng)化新能源汽車(chē)電源測(cè)試系統(tǒng)，打破測(cè)試程序繁瑣、技術(shù)要求高、無(wú)法隨之更新兼容、測(cè)試成本高等測(cè)試難點(diǎn)，為用戶量身打造新能源汽車(chē)電源測(cè)試設(shè)備并定制一體化測(cè)試方案，降低測(cè)試成本，實(shí)現(xiàn)高效能測(cè)試。系統(tǒng)內(nèi)含的數(shù)據(jù)洞察功能進(jìn)行全方位數(shù)據(jù)分析，幫助用戶用數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)生產(chǎn)力。
2023-12-05 14:57:32210 LCR表，是一種用于測(cè)量無(wú)源器件的專用參數(shù)測(cè)量工具，L：指的是電感;C：指的是電容;R：指的是電阻。LCR表可以選擇測(cè)量的頻率和范圍。
2023-12-04 14:35:14312 
在射頻(Radio Frequency，RF)電路中，LCR測(cè)試在確保無(wú)線應(yīng)用性能方面起著重要作用。射頻電路涉及到高頻信號(hào)的處理和傳輸，因此對(duì)電感(Inductance)、電容
2023-12-04 14:28:45208 
。 超級(jí)電容器的測(cè)試主要是測(cè)試其電性能參數(shù)，如電容大小、內(nèi)阻大小、電流特性、功率密度等。測(cè)試的主要原理是利用電性能參數(shù)的測(cè)定來(lái)評(píng)估超級(jí)電容的質(zhì)量。具體來(lái)說(shuō)，測(cè)試過(guò)程中，會(huì)利用一定的電路連接，將超級(jí)電容與電源
2023-12-04 11:57:15318 低溫啟動(dòng)測(cè)試是確保開(kāi)關(guān)電源及設(shè)備在低溫環(huán)境下可靠運(yùn)行的測(cè)試方法之一，以評(píng)估開(kāi)關(guān)電源在低溫環(huán)境下的性能。ATECLOUD-POWER開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)采取無(wú)代碼開(kāi)發(fā)模式，操作簡(jiǎn)單，用戶可自由選擇測(cè)試
2023-11-28 15:34:47286 
LCR測(cè)試儀的測(cè)量范圍通常較窄，一般適用于低頻率范圍內(nèi)的電路或元件測(cè)量。而阻抗分析儀可以覆蓋更寬的頻率范圍，從直流到射頻等不同頻段。
2023-11-23 16:58:071079 ：TH2810LCR測(cè)試儀采用先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)和數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)，能夠實(shí)現(xiàn)高精度的電阻、電容、電感等參數(shù)測(cè)量。其測(cè)量精度可達(dá)到0.05%，能夠滿足各種高精度測(cè)量需求。 寬測(cè)量范圍：TH2810LCR測(cè)試儀的測(cè)量范圍廣泛，電阻測(cè)量范圍從0.1Ω到1.0MΩ，電容測(cè)量
2023-11-21 17:38:40330 
季豐電子張江實(shí)驗(yàn)室為了滿足大家的測(cè)試LCR的需求，增加一臺(tái)E4980AL-LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀，E4980AL精密LCR表可提供極佳的精確度和速度，并且具有多種功能，可廣泛應(yīng)用于各種元件測(cè)量。
2023-11-21 10:12:531333 
智能網(wǎng)聯(lián)汽車(chē)虛擬仿真測(cè)試平臺(tái)主要用于智能網(wǎng)聯(lián)汽車(chē)自動(dòng)駕駛功能的仿真測(cè)試。平臺(tái)內(nèi)置多個(gè)測(cè)試場(chǎng)景庫(kù)，嵌入先進(jìn)的自動(dòng)駕駛算法，可在系統(tǒng)中進(jìn)行場(chǎng)景搭建、多種型號(hào)車(chē)輛的選擇、單個(gè)或多種傳感器配置等測(cè)試項(xiàng)目。
2023-11-20 17:22:21717 
實(shí)驗(yàn)名稱:高壓放大器三維超聲橢圓振動(dòng)平臺(tái)的測(cè)試應(yīng)用研究方向:三維超聲橢圓測(cè)試目的:以共振頻率為約束條件設(shè)計(jì)了非共振型三維橢圓振動(dòng)輔助加工平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)了頻率、振幅、相等振動(dòng)參數(shù)的可調(diào)性。測(cè)試設(shè)備
2023-11-17 08:01:07143 
ATECLOUD-POWER是檢測(cè)電源性能的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，針對(duì)電源模塊各類測(cè)試項(xiàng)目提供定制方案，指導(dǎo)電源模塊的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)，保證電源的質(zhì)量、穩(wěn)定性和可靠性。該方案包括軟件定制開(kāi)發(fā)以及硬件設(shè)備選擇兩方面，根據(jù)客戶需求定制測(cè)試方案。
2023-11-15 14:54:46311 
LCR表測(cè)電容怎么實(shí)現(xiàn)連續(xù)測(cè)試？ 連續(xù)測(cè)試的實(shí)現(xiàn)是通過(guò)在LCR(電感、電容、電阻)表上設(shè)置連續(xù)測(cè)試模式，并配置合適的參數(shù)進(jìn)行操作。在本文中，我們將詳細(xì)介紹如何實(shí)現(xiàn)連續(xù)測(cè)試電容的步驟和方法。 首先
2023-11-10 15:39:32322 什么是igbt短路測(cè)試？igbt短路測(cè)試平臺(tái)? IGBT短路測(cè)試是針對(duì)晶體管IGBT（Insulated Gate Bipolar Transistor）進(jìn)行的一種測(cè)試方法。IGBT是一種高壓高功率
2023-11-09 09:18:291042 現(xiàn)在好多的物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)都可以實(shí)現(xiàn)很多種遠(yuǎn)程監(jiān)測(cè)的功能，但是基本上都是使用了云平臺(tái)的情況下實(shí)現(xiàn)，但是不使用云平臺(tái)的話，只使用MCU怎么樣才能實(shí)現(xiàn)溫度的遠(yuǎn)程監(jiān)測(cè)？
2023-11-09 06:43:43
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《基于ARM9平臺(tái)和FPGA的1553B總線測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf》資料免費(fèi)下載
2023-11-08 10:10:29
0 ATECLOUD-POWER電源測(cè)試系統(tǒng)滿足電源常規(guī)測(cè)試指標(biāo)，用電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源高壓，不僅可以提升測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性，還可以自動(dòng)分析數(shù)據(jù)，所測(cè)數(shù)據(jù)也可以生成數(shù)據(jù)報(bào)告并導(dǎo)出，方便用戶分析、管理數(shù)據(jù)，提升電源性能，實(shí)現(xiàn)智能化改造。
2023-10-24 16:34:181227 如何測(cè)試和檢查電容？電容是好是壞？短路還是開(kāi)路？ 電容器是一種常見(jiàn)的電子元件，它的主要作用是儲(chǔ)存電荷，穩(wěn)定電壓。但是在一些情況下，電容器可能會(huì)出現(xiàn)損壞，導(dǎo)致電路的故障。因此，我們需要測(cè)試和檢查電容
2023-10-22 15:03:18683 短路保護(hù)測(cè)試是為了測(cè)試S.M.P.S.輸出端在開(kāi)機(jī)前或在工作中短路時(shí)，產(chǎn)品是否有保護(hù)功能。測(cè)試過(guò)程中需要用到的測(cè)試設(shè)備有交流電源、電子負(fù)載、示波器和低阻抗短路夾。依SPEC.規(guī)定，輸入電壓AC LINE和負(fù)載LOAD值以及低阻抗短路夾。
2023-10-18 17:16:46457 
耐壓測(cè)試不僅可以檢驗(yàn)電源模塊、電器設(shè)備等承受過(guò)壓的能力，而且還可以檢測(cè)設(shè)備的絕緣性能。在電氣設(shè)備的使用過(guò)程中會(huì)出現(xiàn)電壓突然上升的情況，并且長(zhǎng)期使用設(shè)備會(huì)老化，絕緣能力會(huì)減弱，容易造成危險(xiǎn)。因此耐壓測(cè)試是電源模塊測(cè)試的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。
2023-10-18 15:50:21396 
一 應(yīng)用描述它具有器件快速篩選、絕緣耐壓測(cè)試、直流安規(guī)模擬測(cè)試、靜電干擾模擬、高壓電壓表的功能, 它將把關(guān)入庫(kù)產(chǎn)品質(zhì)量, 鍛煉產(chǎn)品抗干擾、抗靜電的能力, 降低產(chǎn)品返修率，是您原材料入庫(kù)、產(chǎn)品研發(fā)
2023-10-16 15:43:35
半導(dǎo)體靜態(tài)測(cè)試參數(shù)是指在直流條件下對(duì)其進(jìn)行測(cè)試，目的是為了判斷半導(dǎo)體分立器件在直流條件下的性能，主要是測(cè)試半導(dǎo)體器件在工作過(guò)程中的電流特性和電壓特性。ATECLOUD半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)采用軟硬件架構(gòu)為測(cè)試工程師提供整體解決方案，此系統(tǒng)可程控，可以實(shí)現(xiàn)隨時(shí)隨地測(cè)試，移動(dòng)端也可實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試數(shù)據(jù)情況。
2023-10-10 15:05:30415 測(cè)試，4285A 提供了從75 kHz至30 MHz更高的測(cè)試頻率范圍。無(wú)論是研發(fā)、制造、質(zhì)量保證或輸入信號(hào)檢查，4285A都能滿足您對(duì)LCR表的所有測(cè)試和測(cè)量要
2023-10-09 15:47:36
在芯片的眾多測(cè)試項(xiàng)目中芯片的功耗測(cè)試可謂重中之重，因?yàn)樾酒墓牟粌H關(guān)系著芯片的整體工作性能也對(duì)芯片的效率有著非常重大的影響。ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)只需將測(cè)試儀器和芯片連接好之后，運(yùn)行
2023-10-08 15:30:25492 
導(dǎo)通電阻測(cè)試就是用來(lái)檢測(cè)導(dǎo)線或連線情況是否正常的一種方法，是指兩個(gè)導(dǎo)體間在一定電壓下通過(guò)的電流所引起的電壓降之比，通俗的說(shuō)就是導(dǎo)線通電后的電阻值。芯片引腳導(dǎo)通性測(cè)試是一個(gè)必要的步驟，用于驗(yàn)證和檢測(cè)芯片引腳之間的連接是否正確，以確保芯片的正常工作。
2023-09-28 14:52:341155 
鋁制軟膏管連續(xù)性測(cè)試儀 在制藥領(lǐng)域，藥用軟管的使用廣泛且重要。為了確保藥品的安全性和質(zhì)量，藥用軟管需要經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的質(zhì)量控制，而藥用軟管連續(xù)性測(cè)試儀在其中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。藥用軟管連續(xù)性測(cè)試
2023-09-28 13:33:22
連續(xù)電流（持續(xù)電流）是指元器件在工作狀態(tài)下內(nèi)部電流持續(xù)流動(dòng)的狀態(tài)，一般都是用于對(duì)元器件允許連續(xù)通過(guò)電流限制的一種描述。比如電源芯片允許的持續(xù)電流，就表示該芯片可連續(xù)通過(guò)的最大電流。
2023-09-18 17:39:04393 
LCR-Reader-R1是一款設(shè)計(jì)獨(dú)特，便于攜帶且精度0.5%的LCR測(cè)量?jī)x表。測(cè)試鑷子采用4線，不銹鋼鍍金材質(zhì)。對(duì)于在制造、實(shí)驗(yàn)室工作、維修保養(yǎng)等各個(gè)方面的表面貼裝技術(shù)的檢測(cè)和故障
2023-09-18 17:28:35
測(cè)試電源芯片的負(fù)載調(diào)整率時(shí)我們可以使用ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)軟件控制電源給芯片供電輸入，讓芯片處于工作狀態(tài)，之后給芯片的輸出端加載輸出電流，控制電子負(fù)載步進(jìn)輸出電流讓其從0逐步增大
2023-09-18 16:37:17873 
芯片振蕩頻率是指芯片內(nèi)部的工作頻率，常用于數(shù)字電路和模擬電路中。芯片的振蕩頻率直接關(guān)系到芯片的運(yùn)行速度，其大小與內(nèi)部電容器、電感、晶體等元件的特性有關(guān)，所以一款芯片在生產(chǎn)出來(lái)之后它的振蕩頻率的大小
2023-09-15 15:43:23316 
射頻芯片主要應(yīng)用于無(wú)線通信和雷達(dá)系統(tǒng)等領(lǐng)域，其性能直接影響到通信系統(tǒng)的質(zhì)量。而ATECLOUD-IC會(huì)針對(duì)芯片射頻自動(dòng)化測(cè)試提供一站式軟硬件解決方案，實(shí)現(xiàn)高效快速的自動(dòng)化測(cè)試，并且給予結(jié)果反饋。
2023-09-12 18:44:37329 
Y電容是一種常見(jiàn)的被動(dòng)元件，用于濾波和穩(wěn)壓電路中。在實(shí)際應(yīng)用中，需要對(duì)Y電容進(jìn)行測(cè)試以確保其正常工作。本文將介紹Y電容的測(cè)試方法和注意事項(xiàng)。
2023-09-12 16:53:511266 dc-dc電源模塊因其特性被廣泛應(yīng)用于醫(yī)療、軍工、電子等領(lǐng)域。隨著技術(shù)的發(fā)展，電源模塊測(cè)試項(xiàng)目也逐漸增多，測(cè)試過(guò)程變得復(fù)雜。而納米軟件dc-dc電源模塊測(cè)試系統(tǒng)基于一種智能云測(cè)試平臺(tái)，可以為其提供高效快捷的電源測(cè)試方案。
2023-09-12 15:46:09384 
據(jù)專利摘要，一個(gè)軸承裝置、晶圓測(cè)試裝置，以及包括晶片測(cè)試方法，軸承裝置運(yùn)送如下：測(cè)試將晶片，晶片測(cè)試將會(huì)把加熱的主加熱平臺(tái)；主加熱平臺(tái)繞圓形輔助加熱平臺(tái)測(cè)試將晶片可以收納的空間用于圍繞主加熱平臺(tái)的屋頂。
2023-09-05 11:28:21427 
虹科電源測(cè)試系統(tǒng)ATE升級(jí)實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試密度和更低的測(cè)試成本01高密度精度測(cè)量單元HK-HDPMU在單板上提供多達(dá)192個(gè)額外的獨(dú)立參數(shù)測(cè)量單元(PMU)通道。虹科解決方案將增加并行測(cè)試，而無(wú)需創(chuàng)建
2023-09-04 16:22:23317 
測(cè)試電容器的四種方法 電容器是一種非常常見(jiàn)的電子元件，它具有存儲(chǔ)電能的能力。測(cè)試電容器的方法也非常多，下面我們將詳細(xì)介紹四種常見(jiàn)的測(cè)試電容器的方法。 一、萬(wàn)用表測(cè)試法 萬(wàn)用表是一種非常常用的電測(cè)儀器
2023-09-01 15:11:495854 在本指南中，您將學(xué)習(xí)如何通過(guò)在更短的時(shí)間內(nèi)運(yùn)行更多的測(cè)試來(lái)增加您的單元測(cè)試吞吐量。
這種效率的提高來(lái)自于使用虛擬平臺(tái)而不是物理硬件作為開(kāi)發(fā)平臺(tái)。
本指南對(duì)任何開(kāi)發(fā)或運(yùn)行嵌入式軟件單元測(cè)試的人都很
2023-08-28 06:31:42
）阻抗測(cè)試。Keysight E4982A LCR 表的性能十分優(yōu)秀，適用于在 SMD 電感器和 EMI 濾波器等無(wú)源元器件的制造過(guò)程中提供高頻阻抗測(cè)試。 E4982A 提供了列表測(cè)量等強(qiáng)大功能，不僅適用于制造測(cè)試，在研發(fā)和質(zhì)檢領(lǐng)域也能大顯身手。 E4982A 擁有出色的測(cè)量速度和可重復(fù)性、優(yōu)異的測(cè)量
2023-08-25 16:15:480 agilent安捷倫4284A電橋 HP惠普4284A LCR表Agilent 4284A精密LCR測(cè)試儀是用于元件和材料測(cè)量的儀器。它通過(guò)提供精確、高吞吐量的測(cè)試方法來(lái)改善元件的質(zhì)量
2023-08-22 16:10:02
E4981A是安捷倫一款電容計(jì)，可以高速、可靠的測(cè)量生產(chǎn)線中的陶瓷電容器。E4981A 能夠測(cè)量從低值到高值的電容，從而可以提高測(cè)試吞吐量，同時(shí)確保在陶瓷電容器測(cè)試中的元件具有質(zhì)量
2023-08-11 11:52:51
數(shù)字電橋的測(cè)試夾具正確連接。確保連接穩(wěn)固且接觸良好，以避免測(cè)量誤差。 - 步驟2：打開(kāi)LCR數(shù)字電橋，并選擇測(cè)量模式為電容測(cè)量。在儀器面板上，通常有一個(gè)相應(yīng)的按鍵或觸摸屏菜單供選擇。 - 步驟3：調(diào)整測(cè)試頻率。根據(jù)需求，選擇適當(dāng)?shù)?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試頻率。測(cè)
2023-08-09 17:29:543106 KEYSIGHT E4980AL (AGILENT) 精密 LCR 表Keysight E4980AL 精密 LCR 表可為各種元件測(cè)量提供準(zhǔn)確度、速度和多功能性。Agilent E4980AL 表
2023-08-05 16:18:06
惠普HP4286A安捷倫4286A RF LCR表，1 MHz至1 GHz 4286A安捷倫LCR表，能精確、可靠的測(cè)量電子元器件，例如測(cè)量：電阻電感電容，是電子制造生產(chǎn)元件
2023-08-05 14:19:26
這種簡(jiǎn)單的電容器測(cè)試儀能夠測(cè)試1uf至450uf范圍內(nèi)的泄漏電解電容器。它可以測(cè)試大型啟動(dòng)和運(yùn)行電容器以及額定電壓為 1v 的 10uf微型電容器。了解定時(shí)周期后，您可以測(cè)試低至 0.5uf 和高達(dá) 650uf。
2023-07-25 15:01:001495 
安捷倫4287A LCR儀表 4287A 是 Agilent 的 3 GHz LCR 儀表。LCR 表是一種電子測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)量電子元件的電感 (L)、電容 (C) 和電阻 (R)。LCR 儀表
2023-07-13 16:07:25232 
安捷倫4284A LCR儀表 4284A 是 Agilent 的 1 MHz LCR 儀表。LCR 表是一種電子測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)量電子元件的電感 (L)、電容 (C) 和電阻 (R)。LCR 儀表
2023-07-13 13:55:05347 
LCR測(cè)試儀是一種廣泛應(yīng)用于電子行業(yè)的測(cè)試儀器，用于測(cè)量電路元件（電感、電容和電阻）的參數(shù)和性能。它可以幫助工程師們進(jìn)行元件的選型、生產(chǎn)過(guò)程的質(zhì)量控制以及故障排除。本文將介紹LCR測(cè)試儀的用途以及
2023-07-06 17:52:36706 
在大多數(shù)電子電氣故障排除和維修工作中，都會(huì)遇到一個(gè)常見(jiàn)的電容問(wèn)題，如果想知道如何測(cè)試和檢查電容？電容是好是壞？短路還是開(kāi)路？在這里，可以用模擬（AVO，安培、電壓、歐姆）和數(shù)字萬(wàn)用表檢查電容是否處于
2023-07-02 14:15:5810468 
測(cè)試電路的連續(xù)性是調(diào)試硬件時(shí)必不可少的步驟。當(dāng)我們沒(méi)有配備適當(dāng)?shù)墓ぞ吆驮O(shè)備來(lái)處理它時(shí)，硬件調(diào)試可能是一個(gè)真正的痛苦。該連續(xù)性測(cè)試儀電路將為調(diào)試問(wèn)題提供廉價(jià)有效的解決方案。上述電路能夠檢查兩點(diǎn)之間的導(dǎo)電路徑連接。
2023-06-29 16:49:53492 
? 1 背景與挑戰(zhàn) 1.1 數(shù)據(jù)平臺(tái)業(yè)務(wù)背景 數(shù)據(jù)平臺(tái)利用大數(shù)據(jù)智能分析、數(shù)據(jù)可視化等技術(shù)，對(duì)公司內(nèi)外部經(jīng)過(guò)采集、建設(shè)、管理、分析的多源異構(gòu)數(shù)據(jù)進(jìn)行呈現(xiàn)和應(yīng)用，實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)共享、日常報(bào)表自動(dòng)生成、快速
2023-06-28 16:28:37440 
*測(cè)試系統(tǒng)：本系統(tǒng)是專門(mén)針對(duì)各類電源模塊測(cè)試的一體化智能解決方案，此框架結(jié)構(gòu)可根據(jù)客戶實(shí)際測(cè)試需求以及預(yù)算進(jìn)行調(diào)整，經(jīng)濟(jì)適用。*測(cè)試產(chǎn)品：DC-DC電源模塊、AC-DC電源模塊、車(chē)用電源模塊、機(jī)載
2023-06-27 15:27:231 測(cè)試產(chǎn)品：芯片半導(dǎo)體器件。納米軟件ATECLOUD-IC芯片自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)適用于二極管、三極管、絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)管、結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管、單向和雙向可控硅、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽(yáng)二極管及多陣列器件等各類半導(dǎo)體分立器件綜合性能自動(dòng)化測(cè)試。
2023-06-20 16:55:17767 
ATECLOUD-Power測(cè)試應(yīng)用場(chǎng)景 研發(fā)測(cè)試、產(chǎn)線測(cè)試、老化測(cè)試、一測(cè)二測(cè)等 ATECLOUD-Power解決測(cè)試痛點(diǎn) ? 人工手動(dòng)測(cè)試，效率低，需要提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性； ? 測(cè)試
2023-06-19 15:04:40592 
新的FTB-500通用測(cè)試系統(tǒng)，將以現(xiàn)場(chǎng)為基礎(chǔ)的多種測(cè)量項(xiàng)目?jī)?yōu)化到單個(gè)的功能強(qiáng)大的平臺(tái)上，在這個(gè)平臺(tái)上實(shí)現(xiàn)多重任務(wù)處理，它集合了物理、光學(xué)、傳輸和數(shù)據(jù)通信測(cè)試在同一機(jī)箱內(nèi)。兩插槽配置：適用于OTDR
2023-06-19 11:44:35
本文介紹了從一組可重用的驗(yàn)證組件中構(gòu)建測(cè)試平臺(tái)所需的步驟。UVM促進(jìn)了重用，加速了測(cè)試平臺(tái)構(gòu)建的過(guò)程。 首先對(duì) 測(cè)試平臺(tái)集成者（testbench integrator） 和 測(cè)試編寫(xiě)者（test
2023-06-13 09:14:23326 
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《簡(jiǎn)易電容測(cè)試儀開(kāi)源設(shè)計(jì).zip》資料免費(fèi)下載
2023-06-09 14:36:091 過(guò)程的信息傳遞、發(fā)送命令等，物聯(lián)網(wǎng)機(jī)智云模塊可以實(shí)時(shí)上報(bào)種植數(shù)據(jù)至云平臺(tái)。制作了裝置模型樣機(jī)，試驗(yàn)測(cè)試結(jié)果表明：該裝置完成一棵樹(shù)的種植時(shí)間需要約8.45 s，完成區(qū)域10 m×10 m的土地種植時(shí)間需要
2023-05-31 19:38:05
芯片自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)平臺(tái)，并探討其在國(guó)產(chǎn)芯片研發(fā)中的應(yīng)用和前景。 ATECLOUD是一款由中國(guó)自主研發(fā)的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)平臺(tái)，旨在為CPU芯片的研發(fā)和生產(chǎn)提供高效、準(zhǔn)確的測(cè)試解決方案。該平臺(tái)采用了先進(jìn)的軟件和硬件技術(shù)，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)CPU芯片的全面測(cè)試，
2023-05-30 16:02:03856 
隨著全球?qū)Νh(huán)境保護(hù)的日益重視，新能源的發(fā)展越來(lái)越受到關(guān)注。電動(dòng)汽車(chē)作為新能源領(lǐng)域的重要組成部分，其性能和質(zhì)量對(duì)于消費(fèi)者來(lái)說(shuō)至關(guān)重要。為了確保電動(dòng)汽車(chē)的性能和質(zhì)量，測(cè)試系統(tǒng)平臺(tái)解決方案變得越來(lái)越重要。本文將介紹一種基于ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)新能源電機(jī)測(cè)試解決方案。
2023-05-30 11:26:45573 
ms Keysight 4287A RF LCR表提供從1MHz至3GHz的精確、可靠和快速測(cè)量，以改進(jìn)生產(chǎn)線中電子元件測(cè)試的質(zhì)量和吞吐率。Keysight 42
2023-05-26 10:32:20
本文以M6Y2C核心板平臺(tái)搭配ePort-M的工控整機(jī)為案例，通過(guò)測(cè)試結(jié)果直觀感受時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度與Slew Rate對(duì)輻射測(cè)試的影響。
2023-05-15 14:19:00206 
PD電源測(cè)試是一種重要的電源測(cè)試方法，采用該方法可以更加全面、詳細(xì)地評(píng)估各種電子產(chǎn)品和設(shè)備的性能和安全性。本文將闡述PD電源測(cè)試的基本原理、測(cè)試對(duì)象以及測(cè)試的應(yīng)用價(jià)值。 首先，PD電源測(cè)試的基本原理
2023-05-09 11:51:44880 
隨著電子技術(shù)的發(fā)展，航電系統(tǒng)在飛機(jī)整機(jī)中的重要性飛速提升。據(jù)統(tǒng)計(jì)，近年來(lái)航電系統(tǒng)在飛機(jī)出廠成本中的比例直線上升，航電系統(tǒng)研發(fā)成本已占飛機(jī)研制總成本的近30%，并保持著持續(xù)擴(kuò)大的趨勢(shì)。測(cè)試保障作為
2023-05-09 11:33:47855 
NS-LCR測(cè)試儀程控軟件用于測(cè)量BNT基陶瓷材料、金屬樣塊、變壓器、電阻等的阻抗、電容值和損耗值，可以根據(jù)設(shè)置的時(shí)間間隔和頻率點(diǎn)進(jìn)行相應(yīng)測(cè)試，實(shí)現(xiàn)整體測(cè)試過(guò)程的自動(dòng)化。
2023-04-27 17:44:490 濾波器自動(dòng)化測(cè)試是一種利用頻譜分析儀自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)來(lái)測(cè)試濾波器性能的方法。濾波器自動(dòng)化測(cè)試可以在較短時(shí)間內(nèi)對(duì)多種濾波器類型進(jìn)行測(cè)試，包括低通濾波器、高通濾波器、帶通濾波器和帶阻濾波器等。測(cè)試
2023-04-25 17:11:10713 
4284A 是 Agilent 的 1 MHz LCR 儀表。LCR 表是一種電子測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)量電子元件的電感 (L)、電容 (C) 和電阻 (R)。LCR 儀表可準(zhǔn)確測(cè)量電子設(shè)備上的這些元素
2023-04-14 17:56:14
產(chǎn)品簡(jiǎn)介Agilent安捷倫4263B LCR數(shù)字電橋依靠在任何測(cè)試頻率上都有25ms的測(cè)量速度來(lái)提高一產(chǎn)率，這種能力提高了電解電容順和變壓器測(cè)試的效率，Agilent 4263B LCR表能檢查
2023-04-07 17:20:12
測(cè)試點(diǎn)/測(cè)試插座/測(cè)試插針
2023-03-30 17:34:49
儀主要用于測(cè)量電容、電感和阻抗三者的綜合數(shù)值，適用于測(cè)試電子元器件和電路的性能，也可以搭配LCR測(cè)試儀軟件使用；阻抗分析儀主要用于測(cè)量阻抗的大小和頻率特性，適用于測(cè)試電路中的阻抗。 另外，還要考慮儀器的精度和分辨率等參數(shù)。 一、
2023-03-28 16:14:44833 
ATECLOUD智能化測(cè)試軟件是國(guó)內(nèi)優(yōu)秀的Labview替代軟件平臺(tái)，使用ATECLOUD可以很輕松的搭建各類測(cè)試方案以及項(xiàng)目，不僅方便快速，而且準(zhǔn)確高效。今天就為大家實(shí)例說(shuō)明一下如何在
2023-03-28 16:13:54620 
性能質(zhì)量的重要指標(biāo)，因此“三電”系統(tǒng)的測(cè)試對(duì)于車(chē)企和用戶就至關(guān)重要。 本期為大家展示一下納米軟件開(kāi)發(fā)的ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)針對(duì)新能源汽車(chē)電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路的測(cè)試方案。 方案 ：新能源汽車(chē)電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路測(cè)試方案 使用儀器：示
2023-03-28 16:12:34520 
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