電子發(fā)燒友App
芯片透射電鏡測試—競品分析
- 芯片(407689)
- 透射電鏡(5664)
相關(guān)推薦
軌道交通電子元器件失效分析
、襯底檢查、掃描電鏡檢查、PN結(jié)染?、DB FIB、熱點檢測、漏電位置檢測、彈坑檢測、粗細(xì)撿漏、ESD 測試（2）常?失效模式分析：靜電損傷、過電損傷、鍵合
2024-03-15 17:34:29
首樣免費掃描電鏡SEM-EDS測試分析【博仕檢測】
射線，表征材料元素方面的信息，可定性、半定量Be-U的元素 ；
定位測試點，如在失效分析中可以用來定位失效點，在異物分析中可以用來定位異物點。
博****仕檢測測試案例：
1.觀察材料的表面形貌
2024-03-01 18:59:58
透射電鏡TEM測試解剖芯片結(jié)構(gòu)：深入微觀世界的技術(shù)探索
在芯片制造領(lǐng)域，透射電鏡TEM技術(shù)發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。通過TEM測試，科學(xué)家可以觀察芯片中晶體結(jié)構(gòu)的變化，分析晶體缺陷，研究材料界面結(jié)構(gòu)，從而深入了解芯片的工作原理和性能。
2024-02-27 16:48:13
134
134
基于有限元模型的IC卡芯片受力分析研究
在智能卡三輪測試中，失效表現(xiàn)為芯片受損，本文基于有限元模型來研究智能 IC 卡（Integrated circuit card）芯片受力分析與強度提升方法，
2024-02-25 09:49:29215
215
掃描電鏡的操作步驟及日常維護(hù)
掃描電鏡按構(gòu)造和用處可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發(fā)射式電子顯微鏡等。 掃描電鏡常用于察看那些用普通顯微鏡所不能分辨的纖細(xì)物質(zhì)構(gòu)造，次要用于察看固體外表的形貌，也能與
2024-02-01 18:22:15603
603汽車emc測試項目包括哪些 汽車電子emc測試標(biāo)準(zhǔn)
。 一、汽車EMC測試項目 輻射傳導(dǎo)測試 輻射傳導(dǎo)測試是評估汽車電子設(shè)備在電磁輻射下的抗干擾能力。該測試項目使用天線或模擬輻射源向汽車電子設(shè)備輻射電磁波，并通過測量設(shè)備上的輻射電壓或電流來評估其抗干擾能力。 傳導(dǎo)敏感性測試 傳
2024-01-31 14:32:09470
470首臺國產(chǎn)商業(yè)場發(fā)射透射電子顯微鏡發(fā)布
1月20日，廣州慧炬科技有限公司成功舉辦“承鴻鵠之志，造大國電鏡”新品發(fā)布會，正式發(fā)布首臺國產(chǎn)商業(yè)場發(fā)射透射電子顯微鏡“太行”TH-F120。標(biāo)志著我國已掌握透射電鏡整機研制能力以及電子槍、高壓電源
2024-01-26 08:26:00280
280
國產(chǎn)首臺！這類儀器100%靠進(jìn)口成為歷史
來源：儀器信息網(wǎng)，謝謝 ? 標(biāo)志著我國已掌握透射電鏡用的場發(fā)射電子槍等核心技術(shù)，并具備量產(chǎn)透射電鏡整機產(chǎn)品的能力。 編輯：感知芯視界 Link 芯我們是幸運的，可以共同見證這一重要時刻的來臨
2024-01-22 09:54:52127
127半導(dǎo)體芯片結(jié)構(gòu)分析
薄TEM薄片+TEM觀察分析對于芯片膜層很薄的結(jié)構(gòu)層，一般是幾個納米的芯片膜厚，透射電鏡TEM分辨率比SEM高，透射電子顯微鏡的分辨率比光學(xué)顯微鏡高的很多，可以達(dá)到0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬
2024-01-02 17:08:51
核心技術(shù)突破！國產(chǎn)200kV透射電子顯微鏡進(jìn)入小批量試產(chǎn)
中國近年來向著科技自立自強的方向邁出了堅定的步伐，核心技術(shù)不斷突破，高端儀器設(shè)備持續(xù)涌現(xiàn)。近日消息，由蘇州博眾儀器科技有限公司（簡稱博眾儀器）自主研發(fā)的200kV透射電子顯微鏡BZ-F200已經(jīng)進(jìn)入
2023-12-28 11:24:09766
766
透射式RIS在未來6G無線通信的應(yīng)用場景
，在發(fā)射端天線前面不放置大理石，根據(jù)是否部署透射式RIS進(jìn)行實驗，測量透射式RIS的波束賦形增益，結(jié)果如表1所示。在沒有部署RIS的情況下，發(fā)射功率需要達(dá)到13.6 dBm才可實現(xiàn)1024 Mbps的傳輸速率，而在部署RIS的情況下，僅需5.4 dBm的發(fā)射功率即可實現(xiàn)1121 Mbps的傳輸速率。
2023-12-27 14:29:38218
218
電源芯片自動化測試系統(tǒng)有什么功能？如何解決某半導(dǎo)體公司測試難點？
成都某半導(dǎo)體芯片公司是一家專注于開發(fā)設(shè)計半導(dǎo)體電源芯片的高新技術(shù)企業(yè)，目前企業(yè)對于電源管理芯片研發(fā)階段的測試，絕大部分采用人工手動測試，效率低，耗時長，數(shù)據(jù)管理儲存難度大，無法快速地完成大數(shù)據(jù)分析
2023-12-25 16:42:04179
179
國儀電鏡論壇暨合肥工業(yè)大學(xué)顯微技術(shù)交流會成功舉辦
12月19日，國儀電鏡論壇暨合肥工業(yè)大學(xué)顯微技術(shù)交流會在合肥成功舉行，來自周邊地區(qū)高校與研究機構(gòu)的100余位專家學(xué)者，圍繞國產(chǎn)電鏡技術(shù)創(chuàng)新發(fā)展與示范應(yīng)用開展了深入討論與交流。本次大會由安徽省電鏡學(xué)會
2023-12-22 08:25:07346
346蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 500介紹
蔡司代理三本精密儀器小編獲悉，近期蔡司對中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)龔明教授進(jìn)行了采訪，談了對于蔡司場發(fā)射掃描電鏡在工作研究中的使用感受：中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)工程與材料科學(xué)實驗中心副主任，材料顯微分析實驗室
2023-12-20 15:04:37226
226
433射頻發(fā)射電路分析
433射頻發(fā)射電路是一種常見的無線通信電路，用于傳輸和接收無線信號。在這篇文章中，將詳細(xì)介紹433射頻發(fā)射電路的工作原理、電路組成以及相關(guān)參數(shù)。 433射頻發(fā)射電路主要包括：射頻發(fā)射器、射頻放大器
2023-12-20 14:25:011285
1285蔡司掃描電鏡與X射線顯微鏡檢測介紹
蔡司代理三本精密儀器小編介紹SEM掃描電鏡與X射線顯微鏡是生命科學(xué)研究中的重要儀器，憑借其納米級分辨率，SEM掃描電鏡與X射線顯微鏡極大地提升了我們對生物超微結(jié)構(gòu)的認(rèn)識，-些亞細(xì)胞結(jié)構(gòu)甚至是通過
2023-12-15 14:11:17142
142
紅外發(fā)射電路的功能介紹
。下面我將詳細(xì)解析紅外發(fā)射電路的功能分析。 首先，紅外發(fā)射電路具有信號轉(zhuǎn)換的功能。它可以將輸入的電信號轉(zhuǎn)換為紅外光信號，并通過紅外發(fā)射二極管將這些信號發(fā)射出去。這種轉(zhuǎn)換過程是通過電路中的元件和電子器件完成的，
2023-12-15 10:29:23325
325紅外發(fā)射電路的功能分析
紅外發(fā)射電路是紅外通信系統(tǒng)中的重要組成部分，其主要功能是產(chǎn)生和發(fā)射紅外信號。本文將詳細(xì)分析紅外發(fā)射電路的功能，包括其工作原理、主要組成部分、性能指標(biāo)以及應(yīng)用場景。 一、紅外發(fā)射電路的工作原理 紅外
2023-12-13 11:02:11409
409掃描電鏡能測出線寬的真實長度嗎？如何才能測準(zhǔn)？
大部分掃描電鏡實驗室對于納米尺寸的準(zhǔn)確測量，要求沒有那么嚴(yán)格，比如線寬或顆粒大小到底是105nm還是95nm，似乎不太重要
2023-12-09 17:36:52428
428
汽車功能安全芯片測試
汽車功能安全芯片測試? 汽車功能安全芯片測試是保障汽車安全性能的重要環(huán)節(jié)，也是汽車產(chǎn)業(yè)發(fā)展的關(guān)鍵部分。隨著汽車智能化技術(shù)的不斷進(jìn)步，車輛上搭載的各種智能功能也越來越多，這些功能倚賴于安全芯片來保障
2023-11-21 16:10:511066
1066車規(guī)芯片為什么要進(jìn)行三溫測試？
車規(guī)芯片為什么要進(jìn)行三溫測試？ 車規(guī)芯片，也被稱為汽車惡劣環(huán)境芯片，是一種專門用于汽車電子系統(tǒng)的集成電路芯片。車規(guī)芯片需要進(jìn)行三溫測試，是因為汽車工作環(huán)境極其復(fù)雜，溫度變化范圍廣，從極寒的寒冷地區(qū)
2023-11-21 16:10:482596
2596
電源芯片測試指標(biāo)大全
電源芯片測試旨在檢測電源管理芯片的質(zhì)量和性能，保證其可以長期穩(wěn)定工作。電源芯片測試的參數(shù)主要有輸入/輸出電壓、輸出電流、效率、溫度、功耗等。本文將對電源芯片測試參數(shù)以及測試注意事項進(jìn)行介紹。
2023-11-15 15:39:11600
600
如何在透射電鏡下判斷位錯類型
最近收到老師同學(xué)們的許多問題，其中大家最想要了解的問題是“如何在透射電鏡下判斷位錯類型(螺位錯、刃位錯、混合位錯)”。在此，為了能快速理解并分析，我整理了三個問題，希望能幫助到大家，以下見解如有錯誤，請大家批評指正。
2023-11-13 14:37:25635
635
為什么要測試芯片上下電功能？芯片上電和下電功能測試的重要性
為什么要測試芯片上下電功能？芯片上電和下電功能測試的重要性? 芯片上下電功能測試是集成電路設(shè)計和制造過程中的一個重要環(huán)節(jié)。它是確保芯片在正常的上電和下電過程中能夠正確地執(zhí)行各種操作和功能的關(guān)鍵部分
2023-11-10 15:36:30591
591如何使用芯片測試工具測試芯片靜態(tài)功耗？
為什么需要芯片靜態(tài)功耗測試？如何使用芯片測試工具測試芯片靜態(tài)功耗？ 芯片靜態(tài)功耗測試是評估芯片功耗性能和優(yōu)化芯片設(shè)計的重要步驟。在集成電路設(shè)計中，靜態(tài)功耗通常是指芯片在不進(jìn)行任何操作時消耗的功率
2023-11-10 15:36:271117
1117如何用集成電路芯片測試系統(tǒng)測試芯片老化？
如何用集成電路芯片測試系統(tǒng)測試芯片老化？ 集成電路芯片老化測試系統(tǒng)是一種用于評估芯片長期使用后性能穩(wěn)定性的測試設(shè)備。隨著科技的進(jìn)步和電子產(chǎn)品的廣泛應(yīng)用，人們對芯片的可靠性要求日益增高，因此老化測試
2023-11-10 15:29:05680
680國儀電鏡論壇暨安徽大學(xué)先進(jìn)功能材料分析測試技術(shù)交流會成功舉辦
11月7日，國儀電鏡論壇暨安徽大學(xué)先進(jìn)功能材料分析測試技術(shù)交流會在安徽大學(xué)磬苑校區(qū)成功舉行，來自周邊地區(qū)高校的80多位領(lǐng)域內(nèi)師生參與了本次會議，深入探討先進(jìn)功能材料的分析測試技術(shù)與電子顯微鏡在研究
2023-11-10 08:24:59622
622如何測試電源芯片負(fù)載調(diào)整率呢？有哪些測試規(guī)范呢？
如何測試電源芯片負(fù)載調(diào)整率呢？有哪些測試規(guī)范呢？ 電源芯片的負(fù)載調(diào)整率是指電源芯片在負(fù)載變化時，輸出電壓的調(diào)整速度。測試電源芯片的負(fù)載調(diào)整率是非常重要的，它能夠評估電源芯片在實際使用中對負(fù)載變化
2023-11-09 15:30:46630
630芯片電學(xué)測試如何進(jìn)行？包含哪些測試內(nèi)容？
芯片電學(xué)測試如何進(jìn)行？包含哪些測試內(nèi)容？ 芯片電學(xué)測試是對芯片的電學(xué)性能進(jìn)行測試和評估的過程。它是保證芯片質(zhì)量和可靠性的重要環(huán)節(jié)，通過測試可以驗證芯片的功能、性能和穩(wěn)定性，從而確保芯片可以在實際
2023-11-09 09:36:48676
676IC芯片測試基本原理是什么？
IC芯片測試基本原理是什么？ IC芯片測試是指對集成電路芯片進(jìn)行功能、可靠性等方面的驗證和測試，以確保其正常工作和達(dá)到設(shè)計要求。IC芯片測試的基本原理是通過引入測試信號，檢測和分析芯片的響應(yīng)，以判斷
2023-11-09 09:18:37903
903聊聊IC測試機（3）基于ATE的IC測試原理、方法及故障分析
本文以ATE為基礎(chǔ)，討論了 集成電路測試的基本原理和測試方法，并進(jìn)行了故 障分析.
2023-11-01 15:39:48844
844
廣東全自動SEM掃描電鏡的原理和構(gòu)造
廣東全自動SEM掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡，通過掃描樣品表面并利用電子信號生成圖像。它與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡不同，能夠提供更高的放大倍數(shù)和更好的表面細(xì)節(jié)。以下是廣東全自動SEM掃描電鏡的原理和構(gòu)造
2023-10-31 15:12:41770
770機器視覺成像：明場像與暗場像都有什么區(qū)別呢
透射電鏡圖像分為試樣的顯微像和衍射花樣，這兩種像分別為不同電子成像，前者是透射電子成像，后者為散射電子成像。
2023-10-31 14:53:50677
677
高端新品發(fā)布！國產(chǎn)雙束電鏡+超高分辨電鏡閃耀2023全國電鏡年會
10月26日，2023年全國電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會在東莞市召開。國儀量子在會議期間重磅發(fā)布自主研制的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500、超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡SEM5000X，開啟了國產(chǎn)高端電鏡
2023-10-29 08:25:471159
1159
芯片電學(xué)測試是什么？都有哪些測試參數(shù)？
電學(xué)測試是芯片測試的一個重要環(huán)節(jié)，用來描述和評估芯片的電性能、穩(wěn)定性和可靠性。芯片電學(xué)測試包括直流參數(shù)測試、交流參數(shù)測試和高速數(shù)字信號性能測試等。
2023-10-26 15:34:14629
629芯片電源電流測試方法是什么？有什么測試條件？
芯片電源電流測試是為了測試S.M.P.S.的輸入電流有效值INPUT CURRENT。電流測試是芯片電源測試的項目之一，用來檢測電路或設(shè)備的電流負(fù)載是否正常，保證其正常工作防止過載，評估芯片電源的電氣特性。
2023-10-25 16:54:54620
620
一文帶您了解場發(fā)射掃描電鏡
普通熱發(fā)射掃描電子顯微鏡相比，場發(fā)射掃描電子顯微鏡具有更高的亮度和更小的電子束直徑，即更小的束斑尺寸和更高的分辨率。是納米尺度微區(qū)形貌分析的首選。 2. 文書組成 場發(fā)射掃描電子顯微鏡由場發(fā)射電子槍、電子束推進(jìn)器、聚光透
2023-10-23 14:56:393841
3841
電子背散射衍射(EBSD)裝置的基本布局
子束與樣品表面區(qū)作用，發(fā)生衍射,產(chǎn)生菊池帶(它與透射電鏡下透射方式形成的菊池帶有一些差異），由衍射錐體組成的三維花樣投影到低光度磷屏幕上，在二維屏幕上被截出相互交叉的菊池帶花樣，花樣被后面的 CCD 相機接收
2023-10-21 16:51:22384
384
標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)：揚帆系列“競”開發(fā)板(RK3568)
開發(fā)板名稱（芯片型號）
揚帆系列“競”開發(fā)板(RK3568)
芯片架構(gòu)
Cortex-A55
CPU頻率
2.0GHz
介紹（字?jǐn)?shù)請控制在200字以內(nèi)）
采用瑞芯微RK3568芯片，搭載
2023-10-19 10:39:21
基于透射型超表面的寬帶線圓極化轉(zhuǎn)換器設(shè)計
提出了一種工作在 S 波段和 C 波段的寬頻透射型線－圓極化波轉(zhuǎn)換器， 其由五層超表面級聯(lián)而成。
2023-10-18 10:05:59491
491
芯片靜態(tài)功耗是什么？如何產(chǎn)生？ATECLOUD-IC芯片測試系統(tǒng)如何測試？
在芯片的眾多測試項目中芯片的功耗測試可謂重中之重，因為芯片的功耗不僅關(guān)系著芯片的整體工作性能也對芯片的效率有著非常重大的影響。ATECLOUD-IC芯片測試系統(tǒng)只需將測試儀器和芯片連接好之后，運行
2023-10-08 15:30:25492
492
什么是芯片測試座？芯片測試座的選擇和使用
芯片測試座，又稱為IC測試座、芯片測試夾具或DUT夾具，是一種用于測試集成電路（IC）或其他各種類型的半導(dǎo)體器件的設(shè)備。它為芯片提供了一個穩(wěn)定的物理和電氣接口，使得在不造成芯片或測試設(shè)備損傷的情況下
2023-10-07 09:29:44811
811
化妝品蓋帽鎖緊扭力測試儀
化妝品蓋帽鎖緊扭力測試儀 瓶裝、吸嘴和軟管包裝產(chǎn)品的瓶蓋鎖緊與開啟扭矩值是生產(chǎn)單位嚴(yán)格把關(guān)的重要工藝參數(shù)之一。這個扭矩值的恰當(dāng)與否，對于產(chǎn)品的流轉(zhuǎn)以及最后的消費體驗都產(chǎn)生著深遠(yuǎn)的影響。而
2023-09-21 17:21:09
淺談鋰硫電池電荷儲存聚集反應(yīng)的新機制
建立了高時空分辨電化學(xué)原位液相透射電鏡技術(shù)，耦合真實電解液環(huán)境和外加電場，實現(xiàn)了對Li–S電池界面反應(yīng)原子尺度動態(tài)實時觀測和研究。
2023-09-16 09:28:38395
395
基于磁電偶極子的透射陣和反射陣天線
透射陣和反射陣是基于空間饋電的天線陣列，通過調(diào)制陣面上每個單元的幅度和相位響應(yīng)，實現(xiàn)波束賦形。相比于傳統(tǒng)相控陣，透射陣和反射陣具有結(jié)構(gòu)簡單和低成本的優(yōu)勢；而相比于傳統(tǒng)透鏡和反射面天線，其又具有較高的設(shè)計靈活度。
2023-09-10 09:19:541207
1207
聚焦離子束FIBSEM切片測試【博仕檢測】
截面分析 FIB-SEM測試
FIB技術(shù)可以精確地在器件的特定微區(qū)進(jìn)行截面觀測，形成高分辨的清晰圖像，并且對所加工的材料沒有限制，同時可以邊刻蝕邊利用SEM實時觀察樣品，截面分析是FIB最常
2023-09-05 11:58:27
蔡司掃描電鏡在第三代半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用成果
掃描電子顯微鏡-電子通道對比成像（SEM-ECCI）是在掃描電子顯微鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)取代了透射電子顯微鏡（TEM）在缺陷表征領(lǐng)域的部分功能。與TEM
2023-09-04 14:56:47356
356
當(dāng)前火炫的ARGB: 電競鍵盤、LED景觀照明等應(yīng)用芯片
當(dāng)前火炫的ARGB: 電競鍵盤、LED景觀照明等應(yīng)用芯片
火炫的ARGB應(yīng)用:
在ARGB展示中，MG32F02V032芯片里面帶一ASB總線，可控制4串ARGB燈條，就可呈現(xiàn)出酷炫變化的燈光
2023-08-29 15:37:44
電競鍵盤M0系列: 玩家級酷炫燈光效果
電競鍵盤M0系列: 玩家級酷炫燈光效果
玩家級酷炫燈光效果:
采用MG32F02U128芯片的鍵盤的應(yīng)用，其鍵盤的RGB燈效控制乃是透過硬件除法器計算燈效，然后再透過PWM輸出一個很漂亮
2023-08-29 15:34:08
透射電鏡TEM測試原理及過程
散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏，膠片以及感光耦合組件）上顯示出來的顯微鏡。 透射電鏡TEM原理 博仕檢測工程師對客戶指定樣品區(qū)域內(nèi)定點制備高質(zhì)量的透射電子顯微鏡(TEM) 樣品 聚焦離子束FI
2023-08-29 14:54:151371
1371
EDS面掃、線掃、點掃的應(yīng)用
能譜儀（EDS）是一種快速分析樣品微區(qū)內(nèi)元素種類及含量的重要工具，通常與掃描電鏡（SEM）、透射電鏡（TEM）組合使用，實現(xiàn)形貌與成分的對照。它的工作原理是：當(dāng)電子束掃描樣品時，不同元素被激發(fā)出來的x射線能量不同，通過探測這些特征X射線的能量與強度，可以確定樣品中的元素組成和含量。
2023-08-29 09:43:241953
1953
6221直流電源＋2182A租賃納伏表測試低電阻和微小電阻
有很多，如透射電鏡、拉曼光譜、電化學(xué)C-V、X射線雙晶衍射等。 安泰測試科技通過相應(yīng)的測試儀器和搭配的測試軟件，可提供覆蓋了量子材料、超導(dǎo)材料、半金屬材料、納米材料、薄膜材料、絕緣材料等大部分的半導(dǎo)體測試方法和應(yīng)用
2023-08-28 16:31:02450
450
芯片封裝測試有技術(shù)含量嗎？封裝測試是干嘛的？
芯片封裝測試有技術(shù)含量嗎？封裝測試是干嘛的？? 芯片封裝測試是指針對生產(chǎn)出來的芯片進(jìn)行封裝，并且對封裝出來的芯片進(jìn)行各種類型的測試。封裝測試是芯片生產(chǎn)過程中非常關(guān)鍵的一環(huán)，而且也需要高度的技術(shù)含量
2023-08-24 10:41:572313
2313N71.T4K-B1小體積壓電鏡架
芯明天壓電鏡架通常是由兩支壓電螺釘驅(qū)動來完成二維角度偏轉(zhuǎn)，兩軸之間具有共同的軸心，通過施加電壓使兩支壓電螺釘產(chǎn)生直線運動分別控制對應(yīng)軸的偏轉(zhuǎn)角度及方向，從而調(diào)整鏡片的位置和方向。 芯明天常規(guī)款電動壓電鏡
2023-08-24 10:08:06161
161
6221＋2182A低電阻和微小電阻測試方案
有很多，如透射電鏡、拉曼光譜、電化學(xué)C-V、X射線雙晶衍射等。 ? ? 安泰測試科技通過相應(yīng)的測試儀器和搭配的測試軟件，可提供覆蓋了量子材料、超導(dǎo)材料、半金屬材料、納米材料、薄膜材料、絕緣材料等大部分的半導(dǎo)體測試方法和
2023-08-21 17:22:40556
556
芯片測試座的定義
芯片測試座（Chip Test Socket）是一種用于測試集成電路芯片（IC）的裝置。它通常由一個金屬底盤和一個或多個針腳組成，針腳與IC的引腳相連，以便將IC連接到測試設(shè)備上。
2023-08-14 11:07:52525
525
透射電子顯微鏡的用途和特點
和分析來揭示樣品的微觀結(jié)構(gòu)。 1.電子源 ? TEM使用電子束而不是光束。季豐電子MA實驗室配備的透射電鏡Talos系列采用的是超高亮度電子槍，球差透射電鏡HF5000采用的是冷場電子槍。 2.真空系統(tǒng) ? 為了避免電子束在穿越樣品之前與氣體相互作用，整個顯微鏡都必須維持在高真空條件下。 3
2023-08-01 10:02:152342
2342蔡司掃描電鏡在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用成果
掃描電鏡-電子通道襯度成像技術(shù)（SEM-ECCI）是一種在掃描電鏡下直接表征晶體材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)。SEM-ECCI技術(shù)的發(fā)展在缺陷表征領(lǐng)域替代了一部分透射電鏡（TEM）的功能，相對透射電鏡分析而言
2023-07-31 15:59:56330
330
蔡司熱場掃描電鏡Sigma 300電子顯微鏡
蔡司熱場掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠?qū)Ω鞣N材質(zhì)的導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附件可以實現(xiàn)樣品表面微觀區(qū)域內(nèi)的成分和織構(gòu)分析
2023-07-26 10:48:06650
650芯片測試座在IC芯片測試中的作用
在IC芯片測試中，芯片測試座起著至關(guān)重要的作用。它是連接芯片和測試設(shè)備的關(guān)鍵橋梁，為芯片提供測試所需的電流和信號。
2023-07-25 14:02:50632
632芯片測試需要什么技能？
電路基礎(chǔ)知識。芯片測試涉及到電子電路的測量和分析，因此需要具備扎實的電路基礎(chǔ)知識，包括電子元器件、電路分析方法等。
2023-07-23 10:02:34506
506EM科特 CUBE-Ⅱ臺式桌面掃描電鏡與傳統(tǒng)掃描電鏡的區(qū)別
EM科特（EmCrafts）Cube系列桌面式掃描電鏡，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。區(qū)別與傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機身，Cube系列占地面積小，便攜性能好，可遵照客戶服務(wù)指南任意移動SEM設(shè)備。 EM
2023-07-05 15:24:02433
433
關(guān)于EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列的特點分析
的高性能高效率，大樣品倉內(nèi)含5軸共心電動樣品臺，可更輕松地測量大尺寸樣品。 EM科特 Veritas鎢燈絲掃描電鏡系列 產(chǎn)品優(yōu)勢 l大尺寸樣品分析? Veritas系列可以分析常規(guī)SEM無法分析的大尺寸樣品。例如：晶圓，磁盤 l無損樣品分析?? 無需切割即可分析樣品。例如PCB，半導(dǎo)體圖案分析 l較重
2023-07-05 15:13:38270
270
SEM掃描電鏡工作原理，SEM掃描電鏡技術(shù)應(yīng)用
這是Amanda王莉第55篇文章,點這里關(guān)注我,記得標(biāo)星在當(dāng)今世界，SEM掃描電子顯微鏡分析技術(shù)，一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段，主要應(yīng)用在半導(dǎo)體、材料科學(xué)、生命科學(xué)和納米材料
2023-07-05 10:04:061995
1995
芯片測試座的分類和選擇
在芯片測試中，分類和選擇是關(guān)鍵的步驟，以確保芯片的質(zhì)量和可靠性。根據(jù)不同的測試目標(biāo)和要求，可以采用不同的分類方法和選擇策略。
2023-06-30 13:50:22478
478芯片封裝測試包括哪些？
芯片封裝測試是在芯片制造過程的最后階段完成的一項重要測試，它主要用于驗證芯片的封裝質(zhì)量和功能可靠性。芯片封裝測試包括以下主要方面。
2023-06-28 13:49:561167
1167反激電源：反射電壓
當(dāng)MOS管關(guān)斷之后，在DCM工作條件下的Vds電壓變化展示如下圖所示，在波形的中段位置Vds=Vor+Vin，其中Vin是開關(guān)電源的輸入電壓，而Vor就是反射電壓。
2023-06-25 15:15:233009
3009
場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 500規(guī)格參數(shù)
今天三本精密儀器小編給您介紹場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM500規(guī)格參數(shù)及樣品制備要求：一、樣品要求（1）本儀器不接收磁性、易潮、液體、有機、生物、不耐熱、熔融蒸發(fā)、松動粉末或碎屑等有揮發(fā)物樣品
2023-06-19 11:15:40813
813芯片測試設(shè)備有哪些？看完這篇你就知道了
芯片測試設(shè)備是用于檢測芯片性能的工具和設(shè)備。這些設(shè)備可以幫助工程師、科學(xué)家和制造商檢測和分析芯片的特定屬性，以確保它們符合規(guī)格和標(biāo)準(zhǔn)。以下是一些常見的芯片測試設(shè)備：
邏輯分析儀（Logic
2023-06-17 15:01:52
芯片測試座的結(jié)構(gòu)及工作原理
芯片測試座是一種電子元器件，它是用來測試集成電路芯片的設(shè)備，它可以用來測試和檢查電路芯片的性能，以確保其達(dá)到規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)。
2023-06-15 13:43:53805
805芯片中的CP測試是什么？
芯片中的CP測試是什么？讓凱智通小編來為您解答~ ★芯片中的CP一般指的是CP測試，也就是晶圓測試(Chip Probing)。 一、CP測試是什么? CP測試在整個芯片制作流程中處于晶圓制造和封裝
2023-06-10 15:51:493372
3372
物聯(lián)網(wǎng)芯片/微機電系統(tǒng)芯片測試方法
、電源管理、互聯(lián)互通及系統(tǒng)級應(yīng)用等方面的信號傳輸特性分析展開，如圖所示。隨著芯片應(yīng)用技術(shù)和測試技術(shù)的發(fā)展，一些新的測試方法不斷問世，這些新方法可進(jìn)一步提高測試覆蓋率。
2023-06-08 16:44:23721
721芯片測試的重要性
芯片為什么要做測試？
因為在芯片在制造過程中，不可避免的會出現(xiàn)缺陷，芯片測試就是為了發(fā)現(xiàn)產(chǎn)生缺陷的芯片。如果缺少這一步驟，把有缺陷的壞片賣給客戶，后續(xù)的損失將是測試環(huán)節(jié)原本成本的數(shù)倍，可能還會影響公司在行業(yè)的聲譽。
2023-06-08 15:47:55
芯片測試的功能介紹
芯片測試座，又稱為芯片測試插座，是一種專門用于測試芯片的設(shè)備。它通常包括一個底座和一個插頭，是一種連接芯片與測試儀器或其他設(shè)備的接口。
2023-06-07 14:14:00426
426【應(yīng)用案例】透射電子顯微鏡TEM
透射電子顯微鏡TEM 透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡稱TEM)，可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)
2023-05-31 09:20:40782
782
工控級固態(tài)硬盤主控芯片BGA底部填充膠應(yīng)用案例分析
工控級固態(tài)硬盤主控芯片BGA底部填充膠應(yīng)用案例分析由漢思新材料提供．客戶生產(chǎn)產(chǎn)品：工控級固態(tài)硬盤用膠芯片：硬盤主控芯片客戶要解決的問題：終端客戶做完TC測試和振動測試后，抽檢20臺設(shè)備，3臺設(shè)備出現(xiàn)
2023-05-31 05:00:00469
469
芯明天壓電鏡架選型
芯明天壓電鏡架是一種利用壓電效應(yīng)來控制鏡片位置的光學(xué)機械。壓電效應(yīng)是指在某些晶體中，如壓電陶瓷，當(dāng)施加電場時，壓電陶瓷會發(fā)生形變，通過機械結(jié)構(gòu)將這種形變轉(zhuǎn)換為直線毫米級行程，該運動對鏡架進(jìn)行角度偏轉(zhuǎn)
2023-05-25 10:27:45350
350
脈沖壓縮透射光柵高功率光束組合光譜衍射光柵
脈沖壓縮透射光柵高功率光束組合光譜衍射光柵 脈沖壓縮透射光柵高功率光束組合光譜衍射光柵采用獨特的圖案化方法、DUV投影光刻和離子蝕刻，為透射衍射光柵提供了許多
2023-05-24 13:50:09
芯片測試及測試方法有哪些？
芯片從設(shè)計到成品有幾個重要環(huán)節(jié)，分別是設(shè)計->流片->封裝->測試，但芯片成本構(gòu)成的比例確大不相同，一般為人力成本20%，流片40%，封裝35%，測試5%。測試是芯片各個環(huán)節(jié)中最
2023-05-22 08:58:331849
1849LPDDR4信號測試報告分析
近期幫做芯片的同行看一份LPDDR4的Compliance測試數(shù)據(jù)，想看看是否有機會優(yōu)化信號品質(zhì)，報告中體現(xiàn)的問題很有代表性，整理記錄下來。
一、 測試數(shù)據(jù)
這是一份LPDDR4
2023-05-16 15:43:05
全方位了解IC芯片測試流程，IC芯片自動化測試平臺分享
在開始芯片測試流程之前應(yīng)先充分了解芯片的工作原理。要熟悉它的內(nèi)部電路，主要參數(shù)指標(biāo)，各個引出線的作用及其正常電壓。芯片很敏感，所以測試的時候要注意不要引起引腳之間的短路，任何一瞬間的短路都能被捕
2023-04-25 15:13:122065
2065
\"FCM32F042系列\(zhòng)" 軟硬件兼容 “STM32F042系列”
時coremark為103.7分，和國際競品一致l低功耗：15mA@48MHz；6.2uA@STOP model硬件除法運算l硬件開方運算l軟、硬件兼容國際競品l多種封裝：TSSOP20、LQFP32、LQFP48、QFN32、QFN48
2023-04-17 11:12:31
透射光柵分光片超聲波清洗機
?透射光柵分光片（Transmission Grating Beamsplitters）通常用于He-Ne激光束的分光和可見范圍內(nèi)多條激光的分離。透射的光束被衍射為多階。透射光柵分光片由在拋光玻璃
2023-04-12 14:46:14
0
0“FCM32F103系列” 軟硬件兼容 “STM32F103系列”
豐富的外設(shè)：ADC、TIMER、SPI、USART、I2C、I2S、DMA、WDT、TS、VREF、USB、CANl高性能：在72MHz時coremark為191.4分，領(lǐng)先國際競品l低功耗
2023-04-11 16:39:15
工商網(wǎng)監(jiān)
評論