、襯底檢查、掃描電鏡檢查、PN結(jié)染?、DB FIB、熱點(diǎn)檢測、漏電位置檢測、彈坑檢測、粗細(xì)撿漏、ESD 測試（2）常?失效模式分析：靜電損傷、過電損傷、鍵合
2024-03-15 17:34:29
檢測l 板卡電性能測試及壽命特征分析l 板卡壽命及加速壽命試驗(yàn)l 板卡失效分析l 板卡可靠性提升相關(guān)資質(zhì)CNAS服務(wù)
2024-03-15 17:27:02
服務(wù)內(nèi)容橫向科研技術(shù)支持和服務(wù)、高鐵裝備、零部件失效分析、可靠性試驗(yàn)方案及可靠性提升方案開發(fā)與執(zhí)行、裝備及系統(tǒng)健康管理技術(shù)方案開發(fā)及軟硬件平臺搭建。服務(wù)范圍● 車體部件：側(cè)窗、底部大部件、連接件等
2024-03-15 16:46:27
和集成電路：光電子器件（國家標(biāo)準(zhǔn)）● GB7000系列燈具國家標(biāo)準(zhǔn)（強(qiáng)制性）● GB7000.5道路域街路照明燈具安全要求● GB/T9468-1988道路照明燈具光
2024-03-15 09:23:03
服務(wù)內(nèi)容芯片開封測試是芯片制造、封裝環(huán)節(jié)中非常重要的一個(gè)環(huán)節(jié)，它能對芯片的可靠性、品質(zhì)和生產(chǎn)成本等方面產(chǎn)生重要的影響。因此，在芯片應(yīng)用領(lǐng)域，開展芯片開封測試是非常關(guān)鍵的。廣電計(jì)量可提供化學(xué)開封、激光
2024-03-14 10:03:35
基本介紹功率器件可靠性是器件廠商和應(yīng)用方除性能參數(shù)外最為關(guān)注的，也是特性參數(shù)測試無法評估的，失效分析則是分析器件封裝缺陷、提升器件封裝水平和應(yīng)用可靠性的基礎(chǔ)。廣電計(jì)量擁有業(yè)界領(lǐng)先的專家團(tuán)隊(duì)及先進(jìn)
2024-03-13 16:26:07
MOS管瞬態(tài)熱阻測試（DVDS）失效品分析如何判斷是封裝原因還是芯片原因，有什么好的建議和思路
2024-03-12 11:46:57
1.檢查電子元器件外觀。通過對元器件外觀的檢查，可以確保元器件沒有明顯的損壞或缺陷，例如裂紋、氧化等。外觀檢查還能夠幫助確定元器件的型號和封裝形式，為后續(xù)的測試做好準(zhǔn)備。
2024-02-26 14:50:44
130 在SMT（表面貼裝技術(shù)）中，焊點(diǎn)是連接電子元器件與PCB（印制電路板）的重要介質(zhì)，而焊接失效則是最常見的電子元器件故障之一。因此，確保電子元器件的可靠焊接至關(guān)重要。其中，器件引腳共面性是影響焊接可靠性的一個(gè)重要因素。
2024-02-26 10:02:13159 
電子元器件的封裝測試是確保元器件在正常工作條件下能夠穩(wěn)定運(yùn)行的重要環(huán)節(jié)。
2024-02-23 18:17:171002 In Package）產(chǎn)品集成度高、結(jié)構(gòu)復(fù)雜、可靠性要求高等特點(diǎn)，對塑封工藝帶來了挑戰(zhàn)，目前國內(nèi)工業(yè)級塑封產(chǎn)品不能完全滿足軍用可靠性要求，工業(yè)級塑封產(chǎn)品常在嚴(yán)酷的環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)下表現(xiàn)出失效。本文針對工業(yè)級塑封 SIP 器件在可靠性試驗(yàn)過程中出現(xiàn)的失效現(xiàn)象進(jìn)行分析研
2024-02-23 08:41:26110 
市面上的電子元器件類型繁多，不同的產(chǎn)品有差異化的規(guī)格、計(jì)量單位、生產(chǎn)過程、質(zhì)檢標(biāo)準(zhǔn)復(fù)雜多樣，而這些形式各異的電子元件的經(jīng)營管理存在各式各樣的經(jīng)營
2024-02-01 09:51:53
電子產(chǎn)品高加速壽命測試HALT、高加速應(yīng)力篩選測試HASS，都是可靠性測試的方法，用于評估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。那他們之前的區(qū)別是什么呢，跟隨本文來一起了解。
2024-01-30 10:25:44206 
封裝可靠性最重要的可靠性測試，也是進(jìn)行器件壽命模型建立和壽命評估的根本。服務(wù)范圍車規(guī)級功率器件模塊及基于分立器件的等效特殊設(shè)計(jì)產(chǎn)品。檢測標(biāo)準(zhǔn)● DINENISO/
2024-01-29 22:46:02
; QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求檢測項(xiàng)目試驗(yàn)類型試驗(yàn)項(xiàng)??損分析X 射線透視、聲學(xué)掃描顯微鏡、?相顯微鏡電特性/電性定位分析電參數(shù)測試、IV&a
2024-01-29 22:40:29
和集成電路：光電子器件（國家標(biāo)準(zhǔn)）● GB7000系列燈具國家標(biāo)準(zhǔn)（強(qiáng)制性）● GB7000.5道路域街路照明燈具安全要求● GB/T9468-1988道路照明燈具光
2024-01-29 22:04:38
重要的車載元器件部件，是AEC委員會持續(xù)關(guān)注的重點(diǎn)領(lǐng)域。AEC-Q100對IC的可靠性測試可細(xì)分為加速環(huán)境應(yīng)力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學(xué)
2024-01-29 21:43:34
電子元器件的選用是電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)中非常重要的一環(huán)。正確的元器件選用可以保證產(chǎn)品的性能穩(wěn)定和可靠性，同時(shí)也可以降低成本和提高生產(chǎn)效率。
2024-01-18 18:11:29433 的產(chǎn)品種類不同，但是可靠性要求包含的項(xiàng)目大體相同。 本文檔相當(dāng)于GR-468的閱讀筆記，梳理和記錄有源光電器件可靠性的基本要求。本標(biāo)準(zhǔn)提出了建議性的一般可靠性保證規(guī)則，這些規(guī)則適合大部分用于電信設(shè)備的光電子器件適合設(shè)備廠商和光電子器件供應(yīng)商的設(shè)計(jì)，工程，制造和品保
2024-01-15 09:32:54114 
一 、溫度循環(huán)測試 測試方法： 1、將5款LED燈具放置在一個(gè)測試箱，測試箱的溫度可以調(diào)節(jié)溫度變化速率； 2、按LED燈具的額定輸入電壓接通電源點(diǎn)燈； 3、測試箱的溫度變化范圍設(shè)置為從-10℃到50
2024-01-11 17:17:06204 
、濕度相關(guān)的可靠性試驗(yàn)，對失效的產(chǎn)品進(jìn)行部件或者材料更換，直到通過測試則選用。雖然此模式可以簡單的完成產(chǎn)品的設(shè)計(jì)，然而未對失效的產(chǎn)品的失效根本原因進(jìn)行分析，對此后的技術(shù)發(fā)展有很大的阻礙作用。 Lab Companion 實(shí)驗(yàn)室在燈具
2024-01-11 16:48:40143 
電子元器件是電子設(shè)備中的重要組成部分，它們具有許多獨(dú)特的特點(diǎn)。
2024-01-09 18:16:59284 半導(dǎo)體可靠性測試主要是為了評估半導(dǎo)體器件在實(shí)際使用過程中的可靠性和穩(wěn)定性。這些測試項(xiàng)目包括多種測試方法和技術(shù)，以確保產(chǎn)品的性能、質(zhì)量和可靠性滿足設(shè)計(jì)規(guī)格和用戶需求。下面是關(guān)于半導(dǎo)體可靠性測試的詳細(xì)
2023-12-20 17:09:04696 電子產(chǎn)品的性能越來越強(qiáng)大，而集成度和組裝密度不斷提高，導(dǎo)致其工作功耗和發(fā)熱量的急劇增大。電子元器件因熱量集中引起的材料失效占總失效率絕大部分，熱管理技術(shù)是電子產(chǎn)品考慮的關(guān)鍵因素。對此，必須要加強(qiáng)對電子元器件的熱控制。為幫助大家深入了解，本文將對電子元器件散熱方式的相關(guān)知識予以匯總。
2023-12-19 16:32:45302 1、案例背景 LED燈帶在使用一段時(shí)間后出現(xiàn)不良失效，初步判斷失效原因?yàn)殂~腐蝕。據(jù)此情況，對失效樣品進(jìn)行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測手段，明確失效原因。 2、分析過程 2.1 外觀
2023-12-11 10:09:07188 
電子元器件失效原因都有哪些？ 電子元器件失效是指在正常使用過程中，元器件不能達(dá)到預(yù)期的功能和性能或者無法正常工作的情況。電子元器件失效原因很多，可以分為內(nèi)部和外部兩個(gè)方面。下面將詳細(xì)介紹電子元器件
2023-12-07 13:37:46865 LED器件占LED顯示屏成本約40%～70%，LED顯示屏成本的大幅下降得益于LED器件的成本降低。LED封裝質(zhì)量的好壞對LED顯示屏的質(zhì)量影響較大。封裝可靠性的關(guān)鍵包括芯片材料的選擇、封裝材料
2023-12-06 08:25:44382 
器件可靠性與溫度的關(guān)系
2023-12-04 16:34:45244 
元器件固有可靠性的提高主要由元器件承制單位在元器件的設(shè)計(jì)、材料選擇和生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制所決定。有關(guān)元器件固有質(zhì)量的保證內(nèi)容后續(xù)推送中將重點(diǎn)介紹。
2023-12-04 10:58:26297 PCB上的光電元器件為什么總失效？
2023-11-23 09:08:29252 
損壞的器件不要丟，要做失效分析！
2023-11-23 09:04:42181 
）選擇優(yōu)質(zhì)器件。
元器件是設(shè)備的基本組成單元，其質(zhì)量的好壞將直接影響到設(shè)備的可靠性。軍用通信設(shè)備應(yīng)盡量采用工業(yè)級以上產(chǎn)品，最好是軍品，并在上機(jī)前嚴(yán)格進(jìn)行老化篩選，剔除早期失效器件。
（6）充分利用
2023-11-22 06:29:05
電子元器件的加工技術(shù)是電子工程和制造領(lǐng)域的核心之一，涉及從基本的物理和化學(xué)過程到復(fù)雜的機(jī)械和自動化系統(tǒng)。隨著科技的不斷進(jìn)步，電子元器件的加工技術(shù)也在不斷發(fā)展和創(chuàng)新，以滿足現(xiàn)代電子設(shè)備對高性能、高可靠性和小型化的需求。本文將詳細(xì)介紹電子元器件加工技術(shù)的幾個(gè)關(guān)鍵方面。
2023-11-21 11:31:41547 
如何使用電壓加速進(jìn)行器件的ELF(早期失效)測試？ 電壓加速法是一種常用于測試電子器件早期失效（Early Life Failure，ELF）的方法。該方法通過增加電壓施加在器件上，模擬器件在正常
2023-11-17 14:35:54240 電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《LED驅(qū)動器可靠性低的幾點(diǎn)原因.doc》資料免費(fèi)下載
2023-11-15 10:00:49
0 介紹LGA器件焊接失效分析及對策
2023-11-15 09:22:14349 
器件可靠性驗(yàn)證是GR-468最重要的一個(gè)項(xiàng)目，標(biāo)準(zhǔn)對光電子器件可靠性試驗(yàn)的執(zhí)行程序與主要項(xiàng)目（測試項(xiàng)，試驗(yàn)條件，樣本量等）進(jìn)行了說明。主要測試內(nèi)容分為器件性能測試、器件應(yīng)力測試和器件加速老化測試。
2023-11-10 17:47:27628 可靠性測試是半導(dǎo)體器件測試的一項(xiàng)重要測試內(nèi)容，確保半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性，保證其在各類環(huán)境長時(shí)間工作下的穩(wěn)定性。半導(dǎo)體可靠性測試項(xiàng)目眾多，測試方法多樣，常見的有高低溫測試、熱阻測試、機(jī)械沖擊測試、引線鍵合強(qiáng)度測試等。
2023-11-09 15:57:52748 
電子元器件說容易也容易，說難也難 ，容易是為什么呢？因?yàn)槿绻豢紤]實(shí)際應(yīng)用的話，對于電子元器件的認(rèn)識只需要知道它的功能，它的參數(shù)，然后計(jì)算理論值就可以了， 歐姆定律，基爾霍夫定律 等的信手拈來
2023-11-06 10:33:46286 
電子元器件中的散熱器：作用與重要性
在電子元器件的世界里，散熱器扮演著至關(guān)重要的角色。作為一種專門用于散發(fā)電子元件產(chǎn)生的熱量的裝置，散熱器對于維護(hù)電子設(shè)備的穩(wěn)定性和可靠性具有不可替代的作用。本文將詳細(xì)介紹散熱器在電子元器件中的定義、分類、作用以及應(yīng)用，并探討其設(shè)計(jì)原則和維護(hù)方法。
2023-11-01 09:20:06513 
機(jī)械溫控開關(guān)的可靠性有多少？我看溫控開關(guān)的體積很小，價(jià)格便宜，可以用于一些溫度控制方面，不過可靠性有多少呢？
2023-10-31 06:37:26
半導(dǎo)體器件可靠性測試指的是評估半導(dǎo)體器件在不同工作條件下的長期穩(wěn)定性和可靠性的一系列測試和分析方法。這些測試旨在確保半導(dǎo)體器件在其設(shè)計(jì)壽命內(nèi)能夠正常運(yùn)行，不會出現(xiàn)意外故障，從而滿足用戶和應(yīng)用的需求
2023-10-25 09:19:15635 
LED燈泡為例，通過LED推拉力測試機(jī)的測試，可以評估燈泡外殼與燈泡底座之間的連接強(qiáng)度，確保在使用過程中不會發(fā)生脫落或松動。同時(shí)，該測試機(jī)還可以測試LED燈珠的抗拉強(qiáng)度，保證燈珠在不同溫度和濕度環(huán)境下的可靠性
2023-10-18 15:34:25642 
電子元器件可靠性測試是保證元器件性能和質(zhì)量的一個(gè)重要測試項(xiàng)目，同時(shí)也是電子設(shè)備可靠性的基礎(chǔ)。常見的可靠性測試項(xiàng)目有機(jī)械沖擊測試、高溫存儲測試、溫度循壞測試、引線鍵合強(qiáng)度測試等。
2023-10-11 14:49:05350 
和可靠性直接決定了LED照明燈具的使用效果和壽命。為了能夠更好地應(yīng)用在LED照明燈具中，在LED驅(qū)動電源的研發(fā)或者生產(chǎn)階段，需要采用合適的測試方案對LED驅(qū)動電源各項(xiàng)指標(biāo)進(jìn)行測試。
2023-09-22 14:46:16589 
? ? ? 前言 隨著電子系統(tǒng)高速、高帶寬、大功耗、低壓大電流的發(fā)展，電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)面臨更大挑戰(zhàn)。從元器件到電路模塊、系統(tǒng)都需要進(jìn)行建模仿真，優(yōu)化元器件電性能和可靠性，從而提升電子系統(tǒng)穩(wěn)定性。電容
2023-09-21 16:57:272506 
服務(wù)內(nèi)容廣電計(jì)量可為裝備、航空航天產(chǎn)品、汽車、家電、電工電子產(chǎn)品、電子元器件、儀器儀表等的整機(jī)及其結(jié)構(gòu)件、組件等開展軍標(biāo)降雨和吹雨、強(qiáng)化、滴水，以及外殼防護(hù)等級IPX1～I(xiàn)PX9K的防水試驗(yàn)
2023-09-21 16:30:05
龍騰半導(dǎo)體建有功率器件可靠性與應(yīng)用實(shí)驗(yàn)中心，專注于產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證、參數(shù)檢測、可靠性驗(yàn)證、失效分析及應(yīng)用評估，公司參考半導(dǎo)體行業(yè)可靠性試驗(yàn)條件和抽樣原則，制定產(chǎn)品可靠性規(guī)范并依此對產(chǎn)品進(jìn)行完整可靠性驗(yàn)證。
2023-09-20 16:29:21808 
硬件IIC與軟件IIC在使用上的區(qū)別，對產(chǎn)品可靠性與效率的影響
2023-09-20 07:53:05
? 走進(jìn)龍騰實(shí)驗(yàn)室 功率器件可靠性試驗(yàn)測試項(xiàng)目系列專題（一） ? 可靠性實(shí)驗(yàn)室介紹 ? 龍騰半導(dǎo)體建有功率器件可靠性與應(yīng)用實(shí)驗(yàn)中心，專注于產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證、參數(shù)檢測、可靠性驗(yàn)證、失效分析及應(yīng)用評估，公司
2023-09-12 10:23:45698 
和可靠性直接決定了LED照明燈具的使用效果和壽命。為了能夠更好地應(yīng)用在LED照明燈具中，在LED驅(qū)動電源的研發(fā)或者生產(chǎn)階段，需要采用合適的測試方案對LED驅(qū)動電源各項(xiàng)指標(biāo)進(jìn)行測試。
2023-09-11 15:53:37754 
自20世紀(jì)50年代初，印制電路板（PCB）一直是電子封裝的基本構(gòu)造模塊，作為各種電子元器件的載體和電路信號傳輸?shù)臉屑~，其質(zhì)量和可靠性決定了整個(gè)電子封裝的質(zhì)量和可靠性。而隨著電子產(chǎn)品的小型化、輕量化
2023-08-31 15:46:08521 影響電子元器件壽命因素 電子元器件是現(xiàn)代電子技術(shù)的基礎(chǔ)單元，廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域。然而，電子元器件的使用壽命卻不盡相同，一些元器件可能會因?yàn)橐恍┰蚨鴵p壞或者失效。因此，探究影響電子元器件壽命的因素
2023-08-29 16:46:281637 電子元器件失效的四個(gè)原因? 電子元器件在電子產(chǎn)品中扮演著至關(guān)重要的角色，它們的失效會給電子產(chǎn)品的性能、可靠性和安全性帶來不良影響。電子元器件失效的原因有很多，其中比較常見的有以下四個(gè)原因。 一、電子
2023-08-29 16:35:161666 為一定的電信號，為電子器件的工作提供基本功能。因此，保障半導(dǎo)體的可靠性也顯得尤為重要，其中半導(dǎo)體失效分析便是保障半導(dǎo)體可靠性的一項(xiàng)重要工作。 什么是半導(dǎo)體失效？ 半導(dǎo)體失效指的是半導(dǎo)體電子器件在使用過程中出現(xiàn)功
2023-08-29 16:29:08736 元器件損壞的原因是多方面的，下面我們從幾個(gè)不同的角度來分析電子元器件損壞的原因。 1. 環(huán)境因素 環(huán)境因素是電子元器件損壞的主要原因之一。環(huán)境因素包括溫度、濕度、塵土、腐蝕氣體、電磁干擾等。有些電子元器件對環(huán)境的要
2023-08-29 16:29:062040 低溫對電子元器件影響是什么？電子元器件低溫失效原因有哪些？ 隨著科技的進(jìn)步和應(yīng)用范圍的不斷擴(kuò)大，人們對于電子元器件的質(zhì)量和可靠性要求也越來越高，因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">電子元器件的低溫失效會嚴(yán)重影響產(chǎn)品的穩(wěn)定性和壽命
2023-08-29 16:29:019851 體系,通過厚實(shí)力展示了行業(yè)翹楚的標(biāo)準(zhǔn),證明了興森實(shí)驗(yàn)室擁有開展電路板檢測分析、電子元器件檢測分析、及其環(huán)境可靠性評估的對外服務(wù)。面對市場環(huán)境中眾多的電路板種類,興森用經(jīng)驗(yàn)和案例沉淀逐一應(yīng)對,累積了海量的解決方案,在元器件檢測方
2023-08-29 16:19:58298 
電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。對于硬件工程師來講電子元器件失效是個(gè)非常麻煩的事情，比如某個(gè)半導(dǎo)體器件外表完好但實(shí)際上已經(jīng)半失效
2023-08-29 10:47:313730 
常見的應(yīng)用場景： 封裝測試：在電子元器件的封裝過程中，需要保證封裝的密封性能，以防止外界環(huán)境對元器件的影響。氣密檢漏儀可以用來測試封裝是否合格，是否存在泄漏點(diǎn)。 真空設(shè)備測試：在一些電子元器件的制造過程中，需
2023-08-24 14:45:49309 
smt電子元器件焊接可靠性判斷標(biāo)準(zhǔn)有哪些
2023-08-22 11:35:22815 
在電子設(shè)備的制造和維修過程中，準(zhǔn)確地檢測電子元器件的外觀是至關(guān)重要的。通過仔細(xì)觀察元器件的外觀，我們可以判斷其質(zhì)量和可靠性，以確保設(shè)備的正常運(yùn)行。以下是一些簡單而有效的技巧，可幫助您檢測電子元器件的外觀。
2023-08-22 09:40:29546 功率器件可靠性
2023-08-07 14:51:532 電子設(shè)備的持續(xù)小型化使得PCB板的布局越來越緊湊，然而不合理的PCB板布局嚴(yán)重影響了板上電子元器件的熱傳遞通路，從而導(dǎo)致電子元器件的可靠性因溫度升高而失效，也即系統(tǒng)可靠性大大降低。這也使得PCB板的溫升問題上升到一定的高度。
2023-08-01 14:20:08415 
件占LED顯示屏成本約40%～70%，LED顯示屏成本的大幅下降得益于LED器件的成本降低。LED封裝質(zhì)量的好壞對LED顯示屏的質(zhì)量影響較大。封裝可靠性的關(guān)鍵包括芯片材料的選擇、封裝材料的選擇及工藝管控。隨著LED顯示屏逐漸向著高端市場滲透，對LED顯示屏器件的品質(zhì)要求
2023-07-31 17:34:39452 本文通過對典型案例的介紹，分析了鍵合工藝不當(dāng)，以及器件封裝因素對器件鍵合失效造成的影響。通過對鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析，以及對各種失效模式總結(jié)，闡述了鍵合工藝不當(dāng)及封裝不良，造成鍵合本質(zhì)失效的機(jī)理；并提出了控制有缺陷器件裝機(jī)使用的措施。
2023-07-26 11:23:15930 季豐電子面向客戶提供完整的半導(dǎo)體工藝可靠性測試、驗(yàn)證和咨詢服務(wù)，可有效縮短制造工藝和器件開發(fā)的時(shí)間，加速客戶產(chǎn)品投入市場的進(jìn)程周期。 ? 工藝可靠性業(yè)務(wù)主要基于行業(yè)通用及客戶定制標(biāo)準(zhǔn)、產(chǎn)品、工藝特點(diǎn)
2023-07-23 11:16:121376 
可靠性，是指產(chǎn)品在規(guī)定時(shí)間內(nèi)和條件下完成規(guī)定功能的能力，是產(chǎn)品質(zhì)量的重要指標(biāo)，如果在規(guī)定時(shí)間內(nèi)和條件下產(chǎn)品失去了規(guī)定的功能，則稱之為產(chǎn)品失效或出現(xiàn)了故障。可靠性測試項(xiàng)目的科學(xué)性、合理性，抽樣和試驗(yàn)
2023-07-21 10:36:26619 
的產(chǎn)品種類不同，但是可靠性要求包含的項(xiàng)目大體相同。 本文檔相當(dāng)于GR-468的閱讀筆記，梳理和記錄有源光電器件可靠性的基本要求。本標(biāo)準(zhǔn)提出了建議性的一般可靠性保證規(guī)則，這些規(guī)則適合大部分用于電信設(shè)備的光電子器件適合設(shè)備廠商和光電子器件供應(yīng)商的設(shè)計(jì)，工程，制造和品保
2023-07-20 18:10:43889 
PCBA電子組件在焊接、運(yùn)輸、使用等條件下，通常會由于振動、沖擊彎曲變形等，從而在焊點(diǎn)或者器件上產(chǎn)生機(jī)械應(yīng)力，并最終導(dǎo)致焊點(diǎn)或者器件失效?？梢酝ㄟ^推拉力測試來模擬焊點(diǎn)的機(jī)械失效模型，分析焊點(diǎn)或器件失效原因，評價(jià)料件的可靠性。
2023-07-17 11:05:283868 
固有可靠性指的是什么？指的是在生產(chǎn)過程中已經(jīng)確立的可靠性，它是產(chǎn)品內(nèi)在的可靠性，是生產(chǎn)廠家模擬實(shí)際工作條件的標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境下，對產(chǎn)品進(jìn)行檢查并給予保證的可靠性。固有可靠性由電子元器件的生產(chǎn)單位電子元器件
2023-07-17 09:16:08850 
在組裝線上，工人正在組裝敏感的電子元器件到電路板上，當(dāng)工人將帶有靜電電荷的手接觸到敏感的元器件或電路板時(shí)，靜電電荷會迅速放電，產(chǎn)生高能量的電流。這可能會損壞元器件的內(nèi)部電子元件，導(dǎo)致元器件無法正常工作或完全失效。
2023-07-14 10:25:161599 元器件溫度預(yù)測在很多方面都有重要意義。一直以來，元器件溫度關(guān)系到可靠性，早期研究認(rèn)為現(xiàn)場故障率與穩(wěn)態(tài)元器件溫度相關(guān)。近來，基于物理學(xué)的可靠性預(yù)測將電子組件的故障率與工作周期（開機(jī)、關(guān)機(jī)又開機(jī)等）內(nèi)的溫度變化幅度和溫度變化率關(guān)聯(lián)起來，而這兩個(gè)因素均受穩(wěn)態(tài)工作溫度的影響。
2023-07-11 10:31:14659 
電子產(chǎn)品可靠性測試是為了評估產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間內(nèi)，在預(yù)期的使用、運(yùn)輸或儲存等所有環(huán)境下，保持功能可靠性而進(jìn)行的活動。是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境條件下經(jīng)受其作用，以評價(jià)產(chǎn)品在實(shí)際使用、運(yùn)輸
2023-07-04 14:30:441184 目標(biāo)到2025年,重點(diǎn)行業(yè)關(guān)鍵核心產(chǎn)品的可靠性水平明顯提升，可靠性標(biāo)準(zhǔn)體系基本建立，企業(yè)質(zhì)量與可靠性管理能力不斷增強(qiáng)，可靠性試驗(yàn)驗(yàn)證能力大幅提升，專業(yè)人才隊(duì)伍持續(xù)壯大。
2023-07-04 11:26:39313 
到2030年，10類關(guān)鍵核心產(chǎn)品可靠性水平達(dá)到國際先進(jìn)水平，可靠性標(biāo)準(zhǔn)引領(lǐng)作用充分彰顯，培育一批可靠性公共服務(wù)機(jī)構(gòu)和可靠性專業(yè)人才，我國制造業(yè)可靠性整體水平邁上新臺階，成為支撐制造業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的重要引擎。
2023-07-04 11:15:07472 車規(guī)級功率器件未來發(fā)展趨勢
材料方面: SiC和GaN是必然趨勢，GaAs在細(xì)分領(lǐng)域有可能
●封裝方面:高功率密度、高可靠性和定制化
●評測方面:多應(yīng)力綜合測試方法、新型結(jié)溫測試方法和技術(shù)
●進(jìn)展方面:國產(chǎn)在趕超進(jìn)口(參數(shù)和性能)，可靠性還需要時(shí)間沉淀
2023-07-04 10:48:05415 
單片GaN器件集成驅(qū)動功率轉(zhuǎn)換的效率、密度和可靠性
2023-06-21 09:59:28
通過集成和應(yīng)用相關(guān)壓力測試的GaN可靠性
2023-06-21 06:02:18
GaNPower集成電路的可靠性測試與鑒定
2023-06-19 11:17:46
，保險(xiǎn)絲/熔斷器提供必要的過負(fù)載保護(hù)。最新的AEC-Q200修訂版E確定了保險(xiǎn)絲/熔斷器廠商的測試要求，并確保符合AEC-Q200認(rèn)證的保險(xiǎn)絲/熔斷器能高標(biāo)準(zhǔn)地滿足耐用性和可靠性。本文介紹了汽車電子理事會、AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn)及其新修訂版E。 ? 當(dāng)今汽車電氣化供電需求復(fù)雜而
2023-06-15 16:53:541009 
在一起。焊接的質(zhì)量和可靠性對于電子產(chǎn)品的性能和壽命至關(guān)重要。這個(gè)時(shí)候則需要進(jìn)行SMT元器件焊接的推力測試。 為了完成這一測試，我們需要使用SMT元器件焊接推拉力測試機(jī)。本文科準(zhǔn)測控小編將探討SMT元器件焊接推拉力測試機(jī)的原理、應(yīng)用和優(yōu)
2023-06-13 10:02:351357 
國際通用的車規(guī)級電子元器件測試規(guī)范，成為車用元器件質(zhì)量與可靠性的標(biāo)志，電子元器件AEC-Q認(rèn)證測試，對提升產(chǎn)品競爭力，并快速進(jìn)入供應(yīng)鏈具有重要作用。 華碧實(shí)驗(yàn)室是國內(nèi)領(lǐng)先的集檢測、鑒定、認(rèn)證和研發(fā)為一體的第三方檢測與分析的
2023-06-12 09:55:26564 
提升硅基氮化鎵橫向功率器件可靠性的難點(diǎn)在于如何準(zhǔn)確測試出器件在長期高壓大電流應(yīng)力工作下的安全工作區(qū)，如何保證器件在固定失效率下的壽命。硅基氮化鎵橫向功率器件在高壓大電流場景下的“可恢復(fù)退化”與“不可恢復(fù)退化”一直以來很難區(qū)分，這給器件安全工作區(qū)的識別和壽命評估帶來了極大挑戰(zhàn)。
2023-06-08 15:37:12477 
軍用電子元器件二篩，二次篩選試驗(yàn)，進(jìn)口元器件可靠性篩選試驗(yàn)
按性質(zhì)分類：
（1）檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、X射線非破壞性檢查。
（2）密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示蹤檢漏
2023-06-08 09:17:22
電子元器件是電子元件和小型的機(jī)器、儀器的組成部分，其本身常由若干零件構(gòu)成，可以在同類產(chǎn)品中通用;常指電器、無線電、儀表等工業(yè)的某些零件，是電容、晶體管、游絲、發(fā)條等電子器件的總稱。電子元器件的種類很多，今天由AMEYA360電子元器件來給大家介紹電子元器件的一些常用分類。
2023-05-25 16:29:316638 試驗(yàn)，電壓暫降測試，騷擾功率試驗(yàn)，電磁抗擾試驗(yàn)室，射頻測試，電磁場輻射試驗(yàn)，抗繞度試驗(yàn)，電瞬態(tài)干擾試驗(yàn)，插入損耗試驗(yàn)等。
可靠性試驗(yàn)/可靠性測試：
可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)，加速壽命試驗(yàn)（halt），環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)（ess），可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)，可靠性鑒定試驗(yàn)，可靠性增長試驗(yàn)。
2023-05-23 15:55:57
區(qū)，分布應(yīng)盡可能均勻，特別是對熱容量較大的元器件，應(yīng)盡量避免采用過大尺寸的PCB，以防止翹曲，布局設(shè)計(jì)不良將直接影響PCBA的可組裝性和可靠性。
1、連接器距離太近
連接器一般都是比較高的元器件，在
2023-05-22 10:34:31
可靠性測試對于芯片的制造和設(shè)計(jì)過程至關(guān)重要。通過進(jìn)行全面而嚴(yán)格的可靠性測試，可以提前發(fā)現(xiàn)并解決潛在的設(shè)計(jì)缺陷、制造問題或環(huán)境敏感性，從而確保芯片在長期使用中的性能和可靠性。
2023-05-20 16:47:5211462 
一般來說為了評價(jià)分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為可靠性試驗(yàn)，是為預(yù)測從產(chǎn)品出廠到其使用壽命結(jié)束期間的質(zhì)量情況
2023-05-20 09:16:021009 
LED驅(qū)動電源作為LED照明中不可或缺的一部分，對其電子封裝技術(shù)要求亦愈發(fā)嚴(yán)苛，不僅需要具備優(yōu)異的耐候性能、機(jī)械力學(xué)性能、電氣絕緣性能和導(dǎo)熱性能，同時(shí)也需要兼顧灌封材料和元器件的粘接性。那么在LED驅(qū)動電源的使用中，導(dǎo)致LED驅(qū)動電源失效的原因都有哪些呢?下面就跟隨名錦坊小編一起來看看吧!
2023-05-18 11:21:19851 課程名稱：《硬件電路可靠性設(shè)計(jì)、測試與案例分析》講師：王老師時(shí)間地點(diǎn)：北京6月15日-17日主辦單位：賽盛技術(shù)課程特色1.案例多，案例均來自于電路設(shè)計(jì)缺陷導(dǎo)致的實(shí)際產(chǎn)品可靠性問題2.課程內(nèi)容圍繞電路
2023-05-18 10:40:50350 
在PCBA加工中，要用到貼片元器件和插件元器件。
那么，貼片元器件與插件元器件的區(qū)別在哪？
一、兩者的區(qū)別
貼片元器件的體積小，能夠縮小電子產(chǎn)品的體積，能夠提高生產(chǎn)效率，節(jié)省成本；重量輕，可靠性強(qiáng)
2023-05-06 11:58:45
點(diǎn)擊藍(lán)字關(guān)注我們SUBSCRIBEtoUSLED汽車照明市場在最近幾年得到了飛速的發(fā)展,LED器件在符合汽車照明標(biāo)準(zhǔn)體系的同時(shí)，也面臨著成本和可靠性方面的多重挑戰(zhàn)。一、LED汽車照明標(biāo)準(zhǔn)體系1.國際
2023-04-21 09:22:30366 對所有制造材料進(jìn)行100%全面檢查。 制造商測試實(shí)驗(yàn)室、研發(fā)中心、材料研究小組和質(zhì)量控制部門，尋找微小缺陷正在刺激對掃描聲學(xué)顯微鏡(SAM)設(shè)備的投資。失效分析和可靠性檢測計(jì)量技術(shù)已變得至關(guān)重要，現(xiàn)在SAM與X射線和掃描電子顯微鏡(SEM)等其他實(shí)驗(yàn)室測試和測量儀器并駕齊驅(qū)。
2023-04-14 16:21:39925 
作為各種元器件的載體與電路信號傳輸?shù)臉屑~，PCB已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分，其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機(jī)設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。但是由于成本以及技術(shù)的原因，PCB在生產(chǎn)和應(yīng)用過
2023-04-10 14:16:22749 半導(dǎo)體元器件在高溫環(huán)境下的可靠性是制造商和用戶十分關(guān)注的問題。高溫試驗(yàn)是一種常用的測試方法，通過模擬實(shí)際使用中的高溫環(huán)境，可以評估元器件在高溫下的性能和可靠性。高溫試驗(yàn)需要仔細(xì)設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)方案，包括選擇
2023-04-07 10:21:03766 
我想知道這些設(shè)備的可靠性數(shù)據(jù)，例如 MTBF 和 FIT，BSS138PW BSS84AKW，115
2023-04-03 08:12:35
嗨，我在哪里可以獲得以下芯片的可靠性測試報(bào)告？FS32K144HAT0MLHTPCA85073ADPTJA1044GT/3
2023-03-23 06:20:13
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工商網(wǎng)監(jiān)
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