LED燈具結(jié)構(gòu)分析X射線的失效分析
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2023-08-25 10:50:15293
x射線檢測設(shè)備監(jiān)控流體
引言 X射線檢測設(shè)備在醫(yī)學(xué)、工業(yè)、科研等多個(gè)領(lǐng)域中發(fā)揮著關(guān)鍵的作用。它們利用X射線的穿透性和吸收特性,能夠檢測、分析物體內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和性質(zhì),對(duì)于確保人們的健康、保障產(chǎn)品質(zhì)量和推動(dòng)科研發(fā)展具有重要意義
2023-08-21 15:21:58265
案例分享:電單車電控模塊ESD故障分析?|深圳比創(chuàng)達(dá)EMC(下)a
案例分享:電單車電控模塊ESD故障分析(下)?相信不少人是有疑問的,今天深圳市比創(chuàng)達(dá)電子科技有限公司就跟大家解答一下!
一、定位整改通過對(duì)產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)及電路進(jìn)行分析,推測可能的放電路徑及失效機(jī)理如下
2023-08-15 11:00:27
案例分享:電單車電控模塊ESD故障分析(下)?
案例分享:電單車電控模塊ESD故障分析(下)?相信不少人是有疑問的,今天深圳市比創(chuàng)達(dá)電子科技有限公司就跟大家解答一下!
一、定位整改通過對(duì)產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)及電路進(jìn)行分析,推測可能的放電路徑及失效機(jī)理如下
2023-08-15 10:57:02
在RISCV的生態(tài)里有沒有可以離線分析MCU運(yùn)行異常的工具?
中,再通過其他手段將整個(gè)RAM區(qū)域(包含代碼和數(shù)據(jù))都dump出來,形成dump文件;再離線通過工具結(jié)合elf文件+dump文件恢復(fù)Assert的現(xiàn)場,查看調(diào)用棧和內(nèi)部數(shù)據(jù)分析Assert原因;
這個(gè)
2023-08-12 07:33:00
在線X射線檢測儀的使用與應(yīng)用
在線X射線檢測儀是現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)過程中的重要工具,它們可以提供實(shí)時(shí)的、無損的產(chǎn)品分析和質(zhì)量控制。這些設(shè)備通過發(fā)射和檢測X射線,來測量和分析材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu),從而確保工藝流程的符合性和產(chǎn)品的質(zhì)量。 X射線
2023-08-11 10:53:12547
X射線無損探傷儀:高效、安全的質(zhì)量控制工具
對(duì)不同材料的穿透和吸收特性。當(dāng)X射線通過一個(gè)物體時(shí),不同密度和厚度的物質(zhì)會(huì)產(chǎn)生不同程度的吸收和衍射,通過檢測和分析這些差異,可以確定材料內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和狀況。 具體操作時(shí),X射線源會(huì)向被測物體發(fā)射X射線,射線穿透物體后被探
2023-07-27 14:21:07419
半導(dǎo)體器件鍵合失效模式及機(jī)理分析
本文通過對(duì)典型案例的介紹,分析了鍵合工藝不當(dāng),以及器件封裝因素對(duì)器件鍵合失效造成的影響。通過對(duì)鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析,以及對(duì)各種失效模式總結(jié),闡述了鍵合工藝不當(dāng)及封裝不良,造成鍵合本質(zhì)失效的機(jī)理;并提出了控制有缺陷器件裝機(jī)使用的措施。
2023-07-26 11:23:15930
LED驅(qū)動(dòng)電路圖分享 LED驅(qū)動(dòng)電路的工作原理和失效機(jī)理分析
隨著市場需求的不斷增加,近年從事LED制造和研發(fā)的人員大大增加。LED企業(yè)亦如雨后春筍般成長。由于從事LED驅(qū)動(dòng)研發(fā)的企業(yè)和人眾多,其技術(shù)水平參 差不齊,研發(fā)出來的LED驅(qū)動(dòng)電路質(zhì)量好壞不一。導(dǎo)致LED燈具的失效時(shí)常發(fā)生,阻礙了LED照明的市場推廣。
2023-07-25 09:12:046864
芯片失效分析程序的基本原則
與開封前測試結(jié)果加以比較,是否有改變,管殼內(nèi)是否有水汽的影響。進(jìn)一步可將表面氧化層、鋁條去掉,用機(jī)械探針扎在有關(guān)節(jié)點(diǎn)上進(jìn)行靜態(tài)(動(dòng)態(tài))測試、判斷被隔離部分是否性能正常,分析失效原因。
2023-07-05 09:43:04317
集成電路封裝失效的原因、分類和分析方法
與外界的連接。然而,在使用過程中,封裝也會(huì)出現(xiàn)失效的情況,給產(chǎn)品的可靠性帶來一定的影響。因此,對(duì)于封裝失效的分析和解決方法具有很重要的意義。
2023-06-28 17:32:001779
集成電路封裝失效分析流程
為了防止在失效分析過程中丟失封裝失效證據(jù)或因不當(dāng)順序引人新的人為的失效機(jī)理,封裝失效分析應(yīng)按一定的流程進(jìn)行。
2023-06-25 09:02:30315
集成電路封裝失效分析方法
集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關(guān)的失效現(xiàn)象、形式(失效模式),查找封裝失效原因,確定失效的物理化學(xué)過程(失效機(jī)理),為集成電路封裝糾正設(shè)計(jì)、工藝改進(jìn)等預(yù)防類似封裝失效的再發(fā)生,提升
2023-06-21 08:53:40572
講一下失效分析中最常用的輔助實(shí)驗(yàn)手段:亮點(diǎn)分析(EMMI)
EMMI:Emission microscopy 。與SEM,F(xiàn)IB,EB等一起作為最常用的失效分析手段。
2023-06-12 18:21:182310
日立分析儀器EA1280X射線熒光分析儀產(chǎn)品介紹
日立分析儀器(上海)有限公司于2023年6月宣布推出EA1280,這是一款用于在中國測量環(huán)境有害物質(zhì)的新型能量色散X射線熒光分析儀。
2023-06-12 12:40:50281
分析解決LED燈 關(guān)燈后閃爍、燈不亮、燈變暗問題
LED燈(LED lamp)是指利用發(fā)光二極管作為光源的燈具,一般使用銀膠或白膠將半導(dǎo)體LED固化到支架上,然后用銀線或金線連接芯片和電路板,四周用環(huán)氧樹脂密封,起到保護(hù)內(nèi)部芯線的作用,最后安裝外殼。
2023-06-06 09:16:151875
應(yīng)用Inspire 軟件對(duì)齒輪系統(tǒng)進(jìn)行多體動(dòng)力學(xué)仿真分析
本文應(yīng)用Inspire 軟件對(duì)換擋執(zhí)行機(jī)構(gòu)中的齒輪系統(tǒng)進(jìn)行多體動(dòng)力學(xué)仿真分析,基于分析結(jié)果對(duì)輸出齒輪和輸出軸結(jié)構(gòu)薄弱部位進(jìn)行改進(jìn)設(shè)計(jì)并進(jìn)行仿真分析和試驗(yàn)驗(yàn)證,改進(jìn)后結(jié)構(gòu)應(yīng)力值顯著降低且在實(shí)驗(yàn)過程中未出現(xiàn)斷裂失效現(xiàn)象。
2023-05-24 10:38:27897
LED驅(qū)動(dòng)電源失效的原因分析
LED驅(qū)動(dòng)電源作為LED照明中不可或缺的一部分,對(duì)其電子封裝技術(shù)要求亦愈發(fā)嚴(yán)苛,不僅需要具備優(yōu)異的耐候性能、機(jī)械力學(xué)性能、電氣絕緣性能和導(dǎo)熱性能,同時(shí)也需要兼顧灌封材料和元器件的粘接性。那么在LED驅(qū)動(dòng)電源的使用中,導(dǎo)致LED驅(qū)動(dòng)電源失效的原因都有哪些呢?下面就跟隨名錦坊小編一起來看看吧!
2023-05-18 11:21:19851
淺談抗靜電指標(biāo)差的LED失效分析案例
紅光LED芯片是單電極結(jié)構(gòu),它兩個(gè)電極之間的材質(zhì)、厚度、襯底材料與雙電極的藍(lán)綠光LED不一樣,所承受的靜電能量要比雙電極的高很多。
2023-05-15 09:26:20423
怎樣進(jìn)行芯片失效分析?
失效分析為設(shè)計(jì)工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì),使之與設(shè)計(jì)規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。
2023-05-13 17:16:251365
TVS二極管失效機(jī)理與失效分析
。
通過對(duì)TVS篩選和使用短路失效樣品進(jìn)行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征.結(jié)合器件結(jié)構(gòu)、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時(shí)所受的應(yīng)力等。采用理論分析和試驗(yàn)證明等方法分析導(dǎo)致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:483678
進(jìn)口芯片失效怎么辦?做個(gè)失效分析查找源頭
芯片對(duì)于電子設(shè)備來說非常的重要,進(jìn)口芯片在設(shè)計(jì)、制造和使用的過程中難免會(huì)出現(xiàn)失效的情況。于是當(dāng)下,生產(chǎn)對(duì)進(jìn)口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來越嚴(yán)格。因此進(jìn)口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來,那么進(jìn)口芯片失效分析常用的方法有哪些呢?下面安瑪科技小編為大家介紹。
2023-05-10 17:46:31548
為什么X射線檢查技術(shù)在PCB組裝中如此重要?
的差異而具有不同的X射線吸收率。在檢測器上產(chǎn)生投影,并且密度越高,陰影將越深。陰影將在很大程度上靠近X射線管,反之亦然。
因此,理想的X射線檢查系統(tǒng)必須具有清晰的X射線圖像,以便在缺陷分析過程中
2023-04-24 16:38:09
環(huán)旭電子發(fā)展先進(jìn)失效分析技術(shù)
為了將制程問題降至最低,環(huán)旭電子利用高精度3D X-Ray定位異常元件的位置,利用激光去層和重植球技術(shù)提取SiP 模組中的主芯片。同時(shí),利用X射線光電子能譜和傅立葉紅外光譜尋找元件表面有機(jī)污染物的源頭,持續(xù)強(qiáng)化SiP模組失效分析領(lǐng)域分析能力。
2023-04-24 11:31:411357
LED燈條x-ray檢測的優(yōu)點(diǎn)都有哪些?
LED燈條x-ray檢測是一種常用的電子元件檢測方法,它可以檢測LED燈條的外觀、內(nèi)部結(jié)構(gòu)和電路圖。它使用X射線來檢測LED燈條的電路,以及LED燈條內(nèi)部的電子組件。 LED燈條x-ray檢測
2023-04-20 12:01:28669
LED驅(qū)動(dòng)電源的設(shè)計(jì)與應(yīng)用
技術(shù) 7、常用LED燈具系統(tǒng)方案及電路分析; 8、LED路燈驅(qū)動(dòng)基本方案; 9、AC直接驅(qū)動(dòng)LED光源技術(shù)。
2023-04-18 16:16:2011
半導(dǎo)體集成電路失效分析原理及常見失效分析方法介紹!
失效分析(FA)是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開發(fā)
2023-04-18 09:11:211360
X-Ray檢測用于LED芯片封裝的無損檢測優(yōu)勢
檢測提供有價(jià)值的建議。 一、X-Ray檢測的原理 X-Ray檢測是一種無損檢測技術(shù),它采用X射線來檢測物體內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和外部形狀,通過檢測被檢測物體的輻射線吸收率來分析物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu),從而實(shí)現(xiàn)無損檢測的目的。 X-Ray檢測的基本原理是:X射線被射入被檢測物體
2023-04-13 14:04:58975
PCB失效分析技術(shù)總結(jié)
程中出現(xiàn)了大量的失效問題。 對(duì)于這種失效問題,我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù),來使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證,本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù),供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749
評(píng)論
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