、襯底檢查、掃描電鏡檢查、PN結(jié)染?、DB FIB、熱點(diǎn)檢測(cè)、漏電位置檢測(cè)、彈坑檢測(cè)、粗細(xì)撿漏、ESD 測(cè)試（2）常?失效模式分析：靜電損傷、過(guò)電損傷、鍵合
2024-03-15 17:34:29
服務(wù)范圍LED芯片、LED支架、LED封裝膠、銀漿、鍵合線、LED燈珠（COB、LAMP、TOP、CHIP）、LED燈具、燈具驅(qū)動(dòng)電源。檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)● GB/T15651-1995半導(dǎo)體器件分立器件
2024-03-15 09:23:03
基本介紹功率器件可靠性是器件廠商和應(yīng)用方除性能參數(shù)外最為關(guān)注的，也是特性參數(shù)測(cè)試無(wú)法評(píng)估的，失效分析則是分析器件封裝缺陷、提升器件封裝水平和應(yīng)用可靠性的基礎(chǔ)。廣電計(jì)量擁有業(yè)界領(lǐng)先的專(zhuān)家團(tuán)隊(duì)及先進(jìn)
2024-03-13 16:26:07
MOS管瞬態(tài)熱阻測(cè)試（DVDS）失效品分析如何判斷是封裝原因還是芯片原因，有什么好的建議和思路
2024-03-12 11:46:57
射線，表征材料元素方面的信息，可定性、半定量Be-U的元素 ；
定位測(cè)試點(diǎn)，如在失效分析中可以用來(lái)定位失效點(diǎn)，在異物分析中可以用來(lái)定位異物點(diǎn)。
博****仕檢測(cè)測(cè)試案例：
1.觀察材料的表面形貌
2024-03-01 18:59:58
LED的反向漏電流（Ir）偏移量超過(guò)ESD測(cè)試前測(cè)量值的10倍。這也是判斷LED是否受到靜電擊穿的一個(gè)指標(biāo)。
2024-02-18 12:28:09
196 ; QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求檢測(cè)項(xiàng)目試驗(yàn)類(lèi)型試驗(yàn)項(xiàng)??損分析X 射線透視、聲學(xué)掃描顯微鏡、?相顯微鏡電特性/電性定位分析電參數(shù)測(cè)試、IV&a
2024-01-29 22:40:29
什么是鋰離子電池失效？鋰離子電池失效如何有效分析檢測(cè)？ 鋰離子電池失效是指電池容量的顯著下降或功能完全喪失，導(dǎo)致電池?zé)o法提供持久且穩(wěn)定的電能輸出。鋰離子電池失效是由多種因素引起的，包括電池化學(xué)反應(yīng)
2024-01-10 14:32:18216 我用的是ＡＤＰ2114 DCtoDC電源管理芯片，輸出設(shè)置為3.3V/3A和1.2V/1A，輸出頻率為600KHz,電路如圖：
現(xiàn)在遇到的問(wèn)題是手碰到芯片后芯片會(huì)損壞，用萬(wàn)用表測(cè)量SW1,SW2對(duì)VIN1短路，請(qǐng)教問(wèn)各位大蝦出現(xiàn)這種故障的原因是因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">靜電擊穿還是別的原因？
2024-01-08 07:46:53
ESD靜電放電有幾種主要的破壞機(jī)制 ESD失效的原因? 靜電放電(ESD)是由于靜電的積累導(dǎo)致電荷突然放電到不同電勢(shì)的物體上而引起的一系列現(xiàn)象。ESD可能對(duì)電子設(shè)備和電路產(chǎn)生不可逆的破壞，因此對(duì)于
2024-01-03 13:42:481269 是非常重要的。 靜電的危害： 1. 火災(zāi)爆炸風(fēng)險(xiǎn)：靜電可以在某些情況下引發(fā)火災(zāi)和爆炸。例如，在油氣行業(yè)中，靜電可以在攜帶易燃?xì)怏w或液體的設(shè)備和管道中產(chǎn)生火花，引起爆炸。 2. 電擊風(fēng)險(xiǎn)：當(dāng)人體帶有靜電時(shí)，觸摸帶電物體可能
2024-01-03 13:42:38404 USB接口靜電防護(hù)器件選型要點(diǎn) USB接口靜電防護(hù)器件是一種用于防止USB接口設(shè)備受到靜電擊穿和損壞的關(guān)鍵器件。在設(shè)計(jì)電子產(chǎn)品中, 對(duì)于USB接口的保護(hù)是非常重要的，因?yàn)椴缓线m的保護(hù)可能導(dǎo)致設(shè)備損壞
2024-01-03 11:31:24635 ESD靜電屏蔽防護(hù)的方法及原理分析 ESD靜電放電是指兩個(gè)物體之間由于電荷不平衡而產(chǎn)生的電能放出。靜電放電會(huì)對(duì)電子器件和設(shè)備造成損害，從而影響它們的性能、可靠性和壽命。為了保護(hù)電子設(shè)備和器件免受靜電
2024-01-03 11:09:47322 ESD靜電保護(hù)器件的特點(diǎn)及選型? ESD靜電保護(hù)器件是一種用于防止靜電擊穿和靜電放電對(duì)電子產(chǎn)品的損害的器件。靜電釋放是一種突然的瞬態(tài)電流，可能會(huì)導(dǎo)致電子元件和芯片的永久損壞。因此，為了保護(hù)電子設(shè)備
2024-01-03 10:24:39222 崩擊穿和齊納擊穿是半導(dǎo)體器件中常見(jiàn)的兩種擊穿現(xiàn)象，它們?cè)谖锢頇C(jī)制、電壓特性和應(yīng)用方面有很大的區(qū)別。本文將對(duì)這兩種擊穿現(xiàn)象進(jìn)行詳細(xì)的介紹和分析。 一、雪崩擊穿 物理機(jī)制 雪崩擊穿是指在高電場(chǎng)作用
2023-12-30 17:06:003163 
esd靜電二極管有方向嗎？ ESD靜電二極管是一種用于防止和保護(hù)電子設(shè)備被靜電擊穿和損壞的重要元件。它具有獨(dú)特的方向性和特性，能夠有效地將靜電放電到安全的地方。本文將詳細(xì)介紹ESD靜電二極管
2023-12-29 15:17:19269 在了解了DIPIPM失效分析的流程后是不是會(huì)很容易地找到市場(chǎng)失效的原因了呢？答案是否定的。不管是對(duì)收集到的市場(chǎng)失效信息還是對(duì)故障解析報(bào)告的解讀、分析都需要相應(yīng)的專(zhuān)業(yè)技能作為背景，對(duì)整機(jī)進(jìn)行的測(cè)試也需要相應(yīng)的測(cè)試技能。
2023-12-27 15:41:37278 
點(diǎn)有可能發(fā)生了擊穿放電。 2. 氣體分析：通過(guò)對(duì)故障點(diǎn)附近空氣中的氣體成分進(jìn)行分析，可以確定是否存在放電產(chǎn)生的氣體，如硫化氫，二氧化硫等。這些氣體的存在通常是擊穿放電的明顯證據(jù)。 3. 熱成像檢測(cè)：使用紅外熱成像儀可以檢測(cè)故障
2023-12-26 16:01:51160 DIPIPM是雙列直插型智能功率模塊的簡(jiǎn)稱(chēng)，由三菱電機(jī)于1997年正式推向市場(chǎng)，迄今已在家電、工業(yè)和汽車(chē)空調(diào)等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用。本講座主要介紹DIPIPM的基礎(chǔ)、功能、應(yīng)用和失效分析技巧，旨在幫助讀者全面了解并正確使用該產(chǎn)品。
2023-12-22 15:15:27241 
如何使用頻譜分析儀來(lái)觀察和分析雜散信號(hào)？ 頻譜分析儀是一種廣泛應(yīng)用于電子領(lǐng)域的儀器，用于觀察和分析信號(hào)的頻譜特性。它可以幫助工程師們檢測(cè)和排除信號(hào)中的雜散信號(hào)，確保設(shè)備的正常工作和無(wú)干擾的信號(hào)傳輸
2023-12-21 15:37:16592 ESD靜電的危害與失效類(lèi)型及模式？|深圳比創(chuàng)達(dá)電子
2023-12-21 10:19:12407 
防靜電電阻大好還是小好? 靜電指的是物體表面帶電現(xiàn)象，而靜電放電則是指當(dāng)兩個(gè)帶電物體接觸時(shí)，電荷會(huì)從一個(gè)物體轉(zhuǎn)移到另一個(gè)物體上。這種現(xiàn)象在日常生活和工業(yè)生產(chǎn)中經(jīng)常出現(xiàn)，通常會(huì)引起電擊、火花等意外事故
2023-12-20 13:54:13856 ESD失效和EOS失效的區(qū)別 ESD（電靜電放電）失效和EOS（電壓過(guò)沖）失效是在電子設(shè)備和電路中經(jīng)常遇到的兩種失效問(wèn)題。盡管它們都涉及電氣問(wèn)題，但其具體產(chǎn)生的原因、影響、預(yù)防方法以及解決方法
2023-12-20 11:37:023069 ▼關(guān)注公眾號(hào)：工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個(gè)芯片產(chǎn)業(yè)鏈，復(fù)雜的產(chǎn)業(yè)鏈中任意一環(huán)出現(xiàn)問(wèn)題都會(huì)帶來(lái)芯片的失效問(wèn)題。芯片從工藝到應(yīng)用都會(huì)面臨各種失效風(fēng)險(xiǎn)，筆者平時(shí)也會(huì)參與到失效分析中，這一期就對(duì)失效
2023-12-20 08:41:04530 
根據(jù)不同的誘因，常見(jiàn)的對(duì)半導(dǎo)體器件的靜態(tài)損壞可分為人體，機(jī)器設(shè)備和半導(dǎo)體器件這三種。
當(dāng)靜電與設(shè)備導(dǎo)線的主體接觸時(shí)，設(shè)備由于放電而發(fā)生充電，設(shè)備接地，放電電流將立即流過(guò)電路，導(dǎo)致靜電擊穿。外部物體
2023-12-12 17:18:54
有一批現(xiàn)場(chǎng)儀表在某化工廠使用一年后，儀表紛紛出現(xiàn)故障。經(jīng)分析發(fā)現(xiàn)儀表中使用的厚膜貼片電阻阻值變大了，甚至變成開(kāi)路了。把失效的電阻放到顯微鏡下觀察，可以發(fā)現(xiàn)電阻電極邊緣出現(xiàn)了黑色結(jié)晶物質(zhì)，進(jìn)一步分析
2023-12-12 15:18:171020 
1、案例背景 LED燈帶在使用一段時(shí)間后出現(xiàn)不良失效，初步判斷失效原因?yàn)殂~腐蝕。據(jù)此情況，對(duì)失效樣品進(jìn)行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測(cè)手段，明確失效原因。 2、分析過(guò)程 2.1 外觀
2023-12-11 10:09:07188 
這期我?guī)Т蠹依^續(xù)進(jìn)行靜電放電問(wèn)題典型案例分析，前篇文章分別介紹了復(fù)位信號(hào)、DC-DC芯片設(shè)計(jì)問(wèn)題引發(fā)的靜電放電問(wèn)題；這篇文章將介紹軟件設(shè)計(jì)、PCB環(huán)路設(shè)計(jì)引發(fā)的靜電放電問(wèn)題；話不多說(shuō)，還是通過(guò)兩個(gè)案例展現(xiàn)給大家。
2023-12-11 10:03:46489 減少靜電產(chǎn)生和降低擊穿風(fēng)險(xiǎn)的方法和材料 靜電是一種普遍存在的現(xiàn)象，對(duì)人類(lèi)和設(shè)備都可能產(chǎn)生一定程度的威脅。為了減少靜電的產(chǎn)生，并降低由于靜電引起的擊穿風(fēng)險(xiǎn)，人們?cè)诓煌I(lǐng)域積極進(jìn)行研究和實(shí)踐。本文將詳細(xì)
2023-11-29 16:30:06274 DIPIPM是雙列直插型智能功率模塊的簡(jiǎn)稱(chēng)，由三菱電機(jī)于1997年正式推向市場(chǎng)，迄今已在家電、工業(yè)和汽車(chē)空調(diào)等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用。本講座主要介紹DIPIPM的基礎(chǔ)、功能、應(yīng)用和失效分析技巧，旨在幫助讀者全面了解并正確使用該產(chǎn)品。
2023-11-29 15:16:24414 
從這期開(kāi)始我將帶大家進(jìn)入靜電放電問(wèn)題的典型案例分析，通過(guò)具體的實(shí)際案例以幫助大家消化前面的知識(shí)，并通過(guò)典型案例的分析為后面靜電放電設(shè)計(jì)做鋪墊。
2023-11-29 09:17:53347 
何謂PN結(jié)的擊穿特性？雪崩擊穿和齊納擊穿各有何特點(diǎn)？ PN結(jié)的擊穿特性是指當(dāng)在PN結(jié)上施加的電壓超過(guò)一定的值時(shí)，PN結(jié)將發(fā)生擊穿現(xiàn)象，電流迅速增大，導(dǎo)致結(jié)電壓快速降低。擊穿是指在正向或反向電壓
2023-11-24 14:20:271216 什么是雪崩擊穿？單脈沖雪崩與重復(fù)雪崩有何不同？雪崩擊穿失效機(jī)理是什么？ 雪崩擊穿是指在電力系統(tǒng)中，由于過(guò)電壓等原因?qū)е陆^緣擊穿，進(jìn)而引發(fā)設(shè)備失效的一種故障現(xiàn)象。在電力系統(tǒng)中，絕緣是保證設(shè)備正常運(yùn)行
2023-11-24 14:15:36818 半導(dǎo)體器件擊穿機(jī)理分析及設(shè)計(jì)注意事項(xiàng)
2023-11-23 17:38:36474 
靜電放電與電路在一些環(huán)境下，靜電很容易積累并在放電的時(shí)候產(chǎn)生很大的電擊。我們做個(gè)實(shí)驗(yàn)，穿著襪子在地毯上來(lái)回走動(dòng)，然后去觸碰別人引起別人電擊驚嚇。被電擊后驚訝之余，我們并不太擔(dān)心，因?yàn)槠胀?b class="flag-6" style="color: red">靜電不會(huì)
2023-11-23 10:06:40201 
損壞的器件不要丟，要做失效分析！
2023-11-23 09:04:42181 
壓接型IGBT器件與焊接式IGBT模塊封裝形式的差異最終導(dǎo)致兩種IGBT器件的失效形式和失效機(jī)理的不同，如表1所示。本文針對(duì)兩種不同封裝形式IGBT器件的主要失效形式和失效機(jī)理進(jìn)行分析。1.焊接式IGBT模塊封裝材料的性能是決定模塊性能的基礎(chǔ)，尤其是封裝
2023-11-23 08:10:07721 
為滿足客戶(hù)分析需求的多樣性，季豐電子在張江實(shí)驗(yàn)室配備了激光誘導(dǎo)擊穿光譜元素分析設(shè)備，采用355nm的YAG激光誘導(dǎo)被測(cè)材料產(chǎn)生光譜；
2023-11-21 10:15:47558 
FPC在后續(xù)組裝過(guò)程中，連接器發(fā)生脫落。在對(duì)同批次的樣品進(jìn)行推力測(cè)試后，發(fā)現(xiàn)連接器推力有偏小的現(xiàn)象。據(jù)此進(jìn)行失效分析，明確FPC連接器脫落原因。
2023-11-20 16:32:22312 
將詳細(xì)分析光耦失效的幾種常見(jiàn)原因。 首先，常見(jiàn)的光耦失效原因之一是LED失效。LED是光耦發(fā)光二極管的核心部件，它會(huì)發(fā)出光信號(hào)。常見(jiàn)的LED失效原因有兩種：老化和損壞。LED的使用壽命是有限的，長(zhǎng)時(shí)間使用后會(huì)逐漸老化。老化后的LE
2023-11-20 15:13:441445 冬天在地墊上行走時(shí)，會(huì)感覺(jué)觸電感；在冬天接觸把手時(shí)也會(huì)感覺(jué)被電到；在穿衣服時(shí)聽(tīng)到的噼啪聲等等。
這些生活中微不足道的靜電現(xiàn)象，卻對(duì)電子元件和電子線路板有著很大的影響，比如可能會(huì)產(chǎn)生靜電擊穿使元件損壞或
2023-11-17 14:28:26
在SMT加工過(guò)程中，靜電放電會(huì)對(duì)電子元器件造成損傷或失效，隨著IC集成度的提高和元器件的逐漸縮小，靜電的影響也變得愈加嚴(yán)重。據(jù)統(tǒng)計(jì)，導(dǎo)致電子產(chǎn)品失效的因素中，靜電占比8%~33%，而每年因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">靜電
2023-11-17 08:07:49394 
在SMT加工過(guò)程中，靜電放電會(huì)對(duì)電子元器件造成損傷或失效，隨著IC集成度的提高和元器件的逐漸縮小，靜電的影響也變得愈加嚴(yán)重。 據(jù)統(tǒng)計(jì)，導(dǎo)致電子產(chǎn)品失效的因素中，靜電占比8%~33%，而每年因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">靜電
2023-11-16 19:05:01250 
那么就要用到一些常用的失效分析技術(shù)。介于PCB的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)與失效的主要模式，其中金相切片分析是屬于破壞性的分析技術(shù)，一旦使用了這兩種技術(shù)，樣品就破壞了，且無(wú)法恢復(fù)；另外由于制樣的要求，可能掃描電鏡分析和X射線能譜分析有時(shí)也需要部分破壞樣品。
2023-11-16 17:33:05115 切片分析切片分析就是通過(guò)取樣、鑲嵌、切片、拋磨、腐蝕、觀察等一系列手段和步驟獲得 PCB 橫截面結(jié)構(gòu)的過(guò)程。
2023-11-16 16:31:56156 在SMT加工過(guò)程中，靜電放電會(huì)對(duì)電子元器件造成損傷或失效，隨著IC集成度的提高和元器件的逐漸縮小，靜電的影響也變得愈加嚴(yán)重。 據(jù)統(tǒng)計(jì)，導(dǎo)致電子產(chǎn)品失效的因素中，靜電占比8%~33%，而每年因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">靜電
2023-11-15 14:52:56865 
在SMT加工過(guò)程中，靜電放電會(huì)對(duì)電子元器件造成損傷或失效，隨著IC集成度的提高和元器件的逐漸縮小，靜電的影響也變得愈加嚴(yán)重。
2023-11-15 09:25:33740 
介紹LGA器件焊接失效分析及對(duì)策
2023-11-15 09:22:14349 
抵消電壓。
比如冬天在地墊上行走時(shí)，會(huì)感覺(jué)觸電感；在冬天接觸把手時(shí)也會(huì)感覺(jué)被電到；在穿衣服時(shí)聽(tīng)到的噼啪聲等等。
這些生活中微不足道的靜電現(xiàn)象，卻對(duì)電子元件和電子線路板有著很大的影響，比如可能會(huì)產(chǎn)生靜電擊穿
2023-11-14 18:39:57
LED大屏幕核心元器件是由LED燈珠及IC驅(qū)動(dòng)組成，由于LED對(duì)于靜電很敏感，靜電過(guò)大會(huì)導(dǎo)致發(fā)光二極管擊穿，因此安裝LED大屏幕過(guò)程中必須要做好接地措施，才能避免死燈的風(fēng)險(xiǎn)。
2023-11-09 11:05:59534 在電子產(chǎn)品的驗(yàn)證測(cè)試中，靜電測(cè)試是非常重要的一項(xiàng)。 靜電放電可能會(huì)造成電子產(chǎn)品如手機(jī)，智能鎖等發(fā)生突然性失效或者潛在性失效，使得電子產(chǎn)品出現(xiàn)故障或性能下降，所以針對(duì)靜電測(cè)試是電子產(chǎn)品上市的一個(gè)重要
2023-11-06 17:07:071021 一、案例背景 車(chē)門(mén)控制板發(fā)生暗電流偏大異常的現(xiàn)象，有持續(xù)發(fā)生的情況，初步判斷發(fā)生原因?yàn)镃3 MLCC電容開(kāi)裂。據(jù)此情況，結(jié)合本次失效樣品，對(duì)失效件進(jìn)行分析，明確失效原因。 二、分析過(guò)程 1、失效復(fù)現(xiàn)
2023-11-03 11:24:22279 
【電磁兼容技術(shù)案例分享】靜電放電（ESD）整改案例分析
2023-11-03 08:17:43765 
LED大屏幕核心元器件是由LED燈珠及IC驅(qū)動(dòng)組成，由于LED對(duì)于靜電很敏感，靜電過(guò)大會(huì)導(dǎo)致發(fā)光二極管擊穿，因此安裝LED大屏幕過(guò)程中必須要做好接地措施，才能避免死燈的風(fēng)險(xiǎn)。
2023-11-01 09:34:01492 靜電放電過(guò)程中靜電干擾主要通過(guò)三種間接耦合方式干擾敏感源，即電場(chǎng)耦合、磁場(chǎng)耦合、地彈。前文已經(jīng)深入分析了靜電放電過(guò)程中的電場(chǎng)耦合，今天就談?wù)?b class="flag-6" style="color: red">靜電放電過(guò)程中的磁場(chǎng)耦合，也可以理解環(huán)路耦合。
2023-10-30 14:24:46875 
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《基于Matlab微帶線靜電場(chǎng)分析.pdf》資料免費(fèi)下載
2023-10-25 11:10:46
0 本文涵蓋HIP失效分析、HIP解決對(duì)策及實(shí)戰(zhàn)案例。希望您在閱讀本文后有所收獲，歡迎在評(píng)論區(qū)發(fā)表您的想法。
2023-10-16 15:06:08299 
的，并且可以用于各種電路，包括放大器、濾波器、振蕩器、電源等。 雖然CBB電容器的使用范圍很廣，但是它們?nèi)匀蝗菀资艿?b class="flag-6" style="color: red">電擊穿的影響。擊穿是指電壓高于電容器所能承受的電壓極限而導(dǎo)致的電流穿過(guò)電容器的現(xiàn)象。CBB電容的擊穿可能會(huì)導(dǎo)致電容器失效
2023-09-22 17:42:00620 為什么PN結(jié)的雪崩擊穿和齊納擊穿在溫度升高的情況下，擊穿電壓變化方向相反？? PN結(jié)是半導(dǎo)體器件中最基本的組成部件之一，廣泛應(yīng)用于電力、電信、信息處理等領(lǐng)域。PN結(jié)的雪崩擊穿和齊納擊穿是PN結(jié)失效
2023-09-21 16:09:511811 在日常的電源設(shè)計(jì)中，半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)器件的雪崩能力、VDS電壓降額設(shè)計(jì)是工程師不得不面對(duì)的問(wèn)題，本文旨在分析半導(dǎo)體器件擊穿原理、失效機(jī)制，以及在設(shè)計(jì)應(yīng)用中注意事項(xiàng)。
2023-09-19 11:44:382588 晶閘管被擊穿有什么影響? 晶閘管是一種半導(dǎo)體器件，它在控制電路中起著非常關(guān)鍵的作用。然而，當(dāng)晶閘管被擊穿時(shí)，它會(huì)受到損壞，從而影響整個(gè)電路的正常運(yùn)行。因此，了解晶閘管被擊穿的影響非常重要。本文將對(duì)
2023-09-13 16:39:511378 靜電無(wú)處不在，區(qū)別在于靜電的多少而已。特別是工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中，大量的靜電會(huì)有很多危害。 靜電的危害有幾點(diǎn)：1.引起電子設(shè)備的故障或誤動(dòng)作，造成電磁干擾。2.擊穿集成電路和精密的電子元件，或使元件老化
2023-09-13 09:25:53427 
失效分析是一門(mén)發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開(kāi)始從軍工向普通企業(yè)普及，它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開(kāi)發(fā)、改進(jìn)，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。
2023-09-12 09:51:47291 
失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。
2023-09-06 10:28:051331 
數(shù)碼相機(jī)設(shè)計(jì)更加趨于多功能和智能化，對(duì)于其集成電路設(shè)計(jì)也有了嚴(yán)苛的要求。在數(shù)碼相機(jī)的研發(fā)過(guò)程中，電路的高集成、線細(xì)以及線間距短等特性，使得電子元件和電路板對(duì)靜電越來(lái)越敏感，因此需要在相機(jī)內(nèi)部設(shè)計(jì)靜電防護(hù)電路，有效抑制靜電干擾，防止靜電放電擊穿帶來(lái)的危害，從而提高相機(jī)的可靠性和穩(wěn)定性。
2023-09-05 09:15:46421 
集成電路失效分析 隨著現(xiàn)代社會(huì)的快速發(fā)展，人們對(duì)集成電路（Integrated Circuit，簡(jiǎn)稱(chēng)IC）的需求越來(lái)越大，IC在各種電子設(shè)備中占據(jù)著至關(guān)重要的地位，如手機(jī)、電腦、汽車(chē)等都需要使用到
2023-08-29 16:35:13627 ，極易出現(xiàn)失效問(wèn)題。因此，深入研究SBD失效機(jī)理，對(duì)于促進(jìn)SBD的性能和壽命提高，具有重要的意義。 SBD失效機(jī)理可以從電學(xué)和物理兩個(gè)方面討論。首先，SBD失效機(jī)理包括電學(xué)性失效和物理性失效。 電學(xué)性失效： 1.反向擊穿失效 SBD在反向電場(chǎng)下受到電子滲出現(xiàn)象（即逆向電子穿透
2023-08-29 16:35:08971 芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展，各種芯片被廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而，在使用過(guò)程中，芯片的失效是非常常見(jiàn)的問(wèn)題。芯片失效分析是解決這個(gè)問(wèn)題的關(guān)鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:112800 半導(dǎo)體失效分析? 半導(dǎo)體失效分析——保障電子設(shè)備可靠性的重要一環(huán) 隨著電子科技的不斷發(fā)展，電子設(shè)備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分，而半導(dǎo)體也是電子設(shè)備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉(zhuǎn)化
2023-08-29 16:29:08736 鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 鉭電容是一種電子元器件，通常用于將電場(chǎng)儲(chǔ)存為電荷的裝置。它們具有高電容和低ESR等優(yōu)點(diǎn)，因此被廣泛應(yīng)用于數(shù)字電路、模擬電路和電源等領(lǐng)域。然而
2023-08-25 14:27:562133 ：a、靜電注入金屬殼上時(shí)，金屬外殼與MOS管的散熱器之間存在拉弧放電，最初版本的MOS管耐壓性能差，易被靜電擊穿燒毀。b、電源插件小板也靠近MOS管散熱器，尤其是尺寸較大的電解電容器，更易將干擾引入此
2023-08-15 11:00:27
：a、靜電注入金屬殼上時(shí)，金屬外殼與MOS管的散熱器之間存在拉弧放電，最初版本的MOS管耐壓性能差，易被靜電擊穿燒毀。b、電源插件小板也靠近MOS管散熱器，尤其是尺寸較大的電解電容器，更易將干擾引入此
2023-08-15 10:57:02
本文通過(guò)對(duì)典型案例的介紹，分析了鍵合工藝不當(dāng)，以及器件封裝因素對(duì)器件鍵合失效造成的影響。通過(guò)對(duì)鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析，以及對(duì)各種失效模式總結(jié)，闡述了鍵合工藝不當(dāng)及封裝不良，造成鍵合本質(zhì)失效的機(jī)理；并提出了控制有缺陷器件裝機(jī)使用的措施。
2023-07-26 11:23:15930 工業(yè)靜電監(jiān)控系統(tǒng)是一種用于監(jiān)測(cè)和控制工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中靜電現(xiàn)象的技術(shù)系統(tǒng)。靜電是指由于物體間的電荷不平衡而產(chǎn)生的電場(chǎng)現(xiàn)象，它在工業(yè)生產(chǎn)中可能導(dǎo)致電擊、火花、電磁干擾等質(zhì)量問(wèn)題。 工業(yè)靜電監(jiān)控系統(tǒng)主要通過(guò)
2023-07-25 09:40:11248 
隨著市場(chǎng)需求的不斷增加，近年從事LED制造和研發(fā)的人員大大增加。LED企業(yè)亦如雨后春筍般成長(zhǎng)。由于從事LED驅(qū)動(dòng)研發(fā)的企業(yè)和人眾多，其技術(shù)水平參 差不齊，研發(fā)出來(lái)的LED驅(qū)動(dòng)電路質(zhì)量好壞不一。導(dǎo)致LED燈具的失效時(shí)常發(fā)生，阻礙了LED照明的市場(chǎng)推廣。
2023-07-25 09:12:046864 
在組裝線上，工人正在組裝敏感的電子元器件到電路板上，當(dāng)工人將帶有靜電電荷的手接觸到敏感的元器件或電路板時(shí)，靜電電荷會(huì)迅速放電，產(chǎn)生高能量的電流。這可能會(huì)損壞元器件的內(nèi)部電子元件，導(dǎo)致元器件無(wú)法正常工作或完全失效。
2023-07-14 10:25:161599 感測(cè)型靜電消除器是一種能夠監(jiān)測(cè)和消除靜電的裝置。靜電是由于物體表面積聚了不平衡的電荷而產(chǎn)生的現(xiàn)象，常常會(huì)引發(fā)電擊、火花、物體吸附等問(wèn)題。 感測(cè)型靜電消除器通常包含以下幾個(gè)主要部分： 1. 傳感器
2023-07-14 10:12:29399 
01 ? 反 向雪崩擊穿 一、背景介紹 根據(jù) ? Using LED as a Single Photon Detector [1] ?所介紹的紅色LED的單光子雪崩反向擊穿電流效應(yīng)
2023-06-30 07:35:04442 
機(jī)理、氣候環(huán)境應(yīng)力失效機(jī)理和輻射應(yīng)力失效機(jī)理等幾大類(lèi)。 1. 電應(yīng)力失效機(jī)理 電應(yīng)力失效包括封裝中的靜電放電，集成電路中存在n-p-n-p結(jié)構(gòu)而形成正反饋（月鎖效應(yīng)） 或鈍化層介質(zhì)受潮/污染/損傷 （白道擊穿）等過(guò)電應(yīng)力損傷導(dǎo)致
2023-06-26 14:15:31603 
BGA失效分析與改善對(duì)策
2023-06-26 10:47:41438 
為了防止在失效分析過(guò)程中丟失封裝失效證據(jù)或因不當(dāng)順序引人新的人為的失效機(jī)理，封裝失效分析應(yīng)按一定的流程進(jìn)行。
2023-06-25 09:02:30315 
集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關(guān)的失效現(xiàn)象、形式（失效模式），查找封裝失效原因，確定失效的物理化學(xué)過(guò)程（失效機(jī)理），為集成電路封裝糾正設(shè)計(jì)、工藝改進(jìn)等預(yù)防類(lèi)似封裝失效的再發(fā)生，提升
2023-06-21 08:53:40572 生活中到處都是靜電，而電子元器件70%以上的失效都來(lái)源于靜電，所以我們不得不通過(guò)靜電測(cè)試來(lái)模擬生活中的靜電對(duì)電子產(chǎn)品的傷害
2023-06-08 10:26:29925 
生活中到處都是靜電，而電子元器件70%以上的失效都來(lái)源于靜電，所以我們不得不通過(guò)靜電測(cè)試來(lái)模擬生活中的靜電對(duì)電子產(chǎn)品的傷害，避免產(chǎn)品在使用過(guò)程中因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">靜電而導(dǎo)致產(chǎn)品失效甚至危害人體安全。
2023-05-30 11:06:45475 
LED顯示屏產(chǎn)生靜電主要有兩種途徑：一種是通過(guò)人體或器材與地面產(chǎn)生的靜電放電，另一種是通過(guò)電磁波干擾形成的靜電。
2023-05-26 15:16:46723 
LED驅(qū)動(dòng)電源作為LED照明中不可或缺的一部分，對(duì)其電子封裝技術(shù)要求亦愈發(fā)嚴(yán)苛，不僅需要具備優(yōu)異的耐候性能、機(jī)械力學(xué)性能、電氣絕緣性能和導(dǎo)熱性能，同時(shí)也需要兼顧灌封材料和元器件的粘接性。那么在LED驅(qū)動(dòng)電源的使用中，導(dǎo)致LED驅(qū)動(dòng)電源失效的原因都有哪些呢?下面就跟隨名錦坊小編一起來(lái)看看吧!
2023-05-18 11:21:19851 紅光LED芯片是單電極結(jié)構(gòu)，它兩個(gè)電極之間的材質(zhì)、厚度、襯底材料與雙電極的藍(lán)綠光LED不一樣，所承受的靜電能量要比雙電極的高很多。
2023-05-15 09:26:20423 
失效分析為設(shè)計(jì)工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì)，使之與設(shè)計(jì)規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。
2023-05-13 17:16:251365 。
通過(guò)對(duì)TVS篩選和使用短路失效樣品進(jìn)行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征．結(jié)合器件結(jié)構(gòu)、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時(shí)所受的應(yīng)力等。采用理論分析和試驗(yàn)證明等方法分析導(dǎo)致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:483678 
芯片對(duì)于電子設(shè)備來(lái)說(shuō)非常的重要，進(jìn)口芯片在設(shè)計(jì)、制造和使用的過(guò)程中難免會(huì)出現(xiàn)失效的情況。于是當(dāng)下，生產(chǎn)對(duì)進(jìn)口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來(lái)越嚴(yán)格。因此進(jìn)口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來(lái)，那么進(jìn)口芯片失效分析常用的方法有哪些呢？下面安瑪科技小編為大家介紹。
2023-05-10 17:46:31548 通常情況下短接會(huì)造成線路的損壞、二極管被擊穿、變壓器燒毀、引起火災(zāi)觸電等危害。ESD靜電二極管作為用的最多的防護(hù)靜電器件，在操作過(guò)程中也時(shí)常將電路線中的零線、火線錯(cuò)節(jié)，從而造成短接，出現(xiàn)二極管被擊穿
2023-05-10 10:26:281325 
失效分析（FA）是一門(mén)發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開(kāi)始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開(kāi)發(fā)
2023-04-18 09:11:211360 
目前大多數(shù)的led顯示屏制造商尚不完全具備生產(chǎn)該類(lèi)產(chǎn)品的真正能力，從而給LED顯示屏產(chǎn)品帶來(lái)了隱患，以至影響到整個(gè)市場(chǎng)，靜電就是其中之一。那么，LED顯示屏靜電產(chǎn)生的原因是什么？靜電給LED顯示屏生產(chǎn)帶來(lái)哪些危害？
2023-04-13 17:08:27527 
BGA失效分析與改善對(duì)策
2023-04-11 10:55:48577 程中出現(xiàn)了大量的失效問(wèn)題。 對(duì)于這種失效問(wèn)題，我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù)，來(lái)使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證，本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù)，供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749 目前大概用了50000片芯片，其中1片芯片EN腳關(guān)不斷，綜合分析了各種可能發(fā)生的原因，懷疑是芯片靜電擊穿，只有1PCS，開(kāi)蓋分析沒(méi)有明顯不良，要怎么證明是靜電擊穿啊
2023-03-29 15:07:01
電子發(fā)燒友App
工商網(wǎng)監(jiān)
評(píng)論