電子發(fā)燒友App

硬聲App

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

電子發(fā)燒友網(wǎng)>今日頭條>LED光學(xué)參數(shù)檢測(cè)失效分析

LED光學(xué)參數(shù)檢測(cè)失效分析

收藏

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴

評(píng)論

查看更多

相關(guān)推薦

輪廓測(cè)長|光學(xué)型輪廓儀專業(yè)檢測(cè)光學(xué)鏡片曲面

。SJ5900光學(xué)型輪廓儀提供自動(dòng)化測(cè)量、數(shù)據(jù)分析,提高效率和一致性,準(zhǔn)確檢測(cè)微觀輪廓參數(shù),適用于各種光學(xué)元件要求,保障工藝一致性。
2024-03-19 09:44:10221

軌道交通電子元器件失效分析

、襯底檢查、掃描電鏡檢查、PN結(jié)染?、DB FIB、熱點(diǎn)檢測(cè)、漏電位置檢測(cè)、彈坑檢測(cè)、粗細(xì)撿漏、ESD 測(cè)試(2)常?失效模式分析:靜電損傷、過電損傷、鍵合
2024-03-15 17:34:29

led失效分析-重點(diǎn)失效分析CNAS,CMA認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室

服務(wù)范圍LED芯片、LED支架、LED封裝膠、銀漿、鍵合線、LED燈珠(COB、LAMP、TOP、CHIP)、LED燈具、燈具驅(qū)動(dòng)電源。檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)● GB/T15651-1995半導(dǎo)體器件分立器件
2024-03-15 09:23:03

MLS640-244-310

光學(xué)檢測(cè)攝像頭CMOS 1/2.5"
2024-03-14 20:44:54

IC芯片半導(dǎo)體開封試驗(yàn),專注元器件領(lǐng)域失效檢測(cè)

開封以及機(jī)械開封等檢測(cè)方法。結(jié)合OM,X-RAY等設(shè)備分析判斷樣品的異常點(diǎn)位和失效的可能原因。服務(wù)范圍IC芯片半導(dǎo)體檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)GB/T 37045-2018 信息技
2024-03-14 10:03:35

MOSFET,IGBT功率器件失效根因分析

基本介紹功率器件可靠性是器件廠商和應(yīng)用方除性能參數(shù)外最為關(guān)注的,也是特性參數(shù)測(cè)試無法評(píng)估的,失效分析則是分析器件封裝缺陷、提升器件封裝水平和應(yīng)用可靠性的基礎(chǔ)。廣電計(jì)量擁有業(yè)界領(lǐng)先的專家團(tuán)隊(duì)及先進(jìn)
2024-03-13 16:26:07

MOS管熱阻測(cè)試失效分析

MOS管瞬態(tài)熱阻測(cè)試(DVDS)失效分析如何判斷是封裝原因還是芯片原因,有什么好的建議和思路
2024-03-12 11:46:57

光學(xué)平面度檢測(cè)設(shè)備 3d輪廓儀

、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。SuperViewW光學(xué)平面度檢測(cè)設(shè)備具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了
2024-03-06 11:09:55

首樣免費(fèi)掃描電鏡SEM-EDS測(cè)試分析【博仕檢測(cè)

射線,表征材料元素方面的信息,可定性、半定量Be-U的元素 ; 定位測(cè)試點(diǎn),如在失效分析中可以用來定位失效點(diǎn),在異物分析中可以用來定位異物點(diǎn)。 博****仕檢測(cè)測(cè)試案例: 1.觀察材料的表面形貌
2024-03-01 18:59:58

表面貼裝MOSFET產(chǎn)品上線高失效原因及其案例分析

經(jīng)過電參數(shù)測(cè)試合格的產(chǎn)品2N**經(jīng)過客戶SMT(無鉛工藝260±5℃)生產(chǎn)線貼裝后,發(fā)現(xiàn)大量產(chǎn)品電參數(shù)失效,出現(xiàn)的現(xiàn)象是D、S間漏電,產(chǎn)品短路,失效比例超過50%。
2024-02-25 10:35:42429

發(fā)光二極管LED的光效 發(fā)光二極管LED的類型

可見光LED主要用于開關(guān)、光學(xué)顯示和照明,不使用任何光傳感器。隱形LED的應(yīng)用包括使用光傳感器的光學(xué)開關(guān)、分析和光通信等。
2024-02-20 14:39:12410

貼片電阻阻值降低失效分析

貼片電阻阻值降低失效分析? 貼片電阻是電子產(chǎn)品中常見的元件之一。在電路中起著調(diào)節(jié)電流、電壓以及降低噪聲等作用。然而,就像其他電子元件一樣,貼片電阻也可能發(fā)生故障或失效。其中最常見的故障之一是電阻阻值
2024-02-05 13:46:22179

半導(dǎo)體檢測(cè)分析廠商勝科納米IPO進(jìn)展更新

勝科納米(蘇州)股份有限公司(以下簡(jiǎn)稱“勝科納米”)作為一家半導(dǎo)體檢測(cè)分析廠商,近日在科創(chuàng)板上市的申請(qǐng)獲得了上交所的受理,并已回復(fù)審核問詢函。據(jù)上交所發(fā)行上市審核官網(wǎng)顯示,勝科納米主要的服務(wù)內(nèi)容包括失效分析、材料分析與可靠性分析,其目標(biāo)是成為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的“芯片全科醫(yī)院”。
2024-02-02 15:52:55573

MOSFET,IGBT功率器件失效根因分析

; QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求檢測(cè)項(xiàng)目試驗(yàn)類型試驗(yàn)項(xiàng)??損分析X 射線透視、聲學(xué)掃描顯微鏡、?相顯微鏡電特性/電性定位分析參數(shù)測(cè)試、IV&a
2024-01-29 22:40:29

led燈效分析-重點(diǎn)失效分析CNAS,CMA認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室

服務(wù)范圍LED芯片、LED支架、LED封裝膠、銀漿、鍵合線、LED燈珠(COB、LAMP、TOP、CHIP)、LED燈具、燈具驅(qū)動(dòng)電源。檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)● GB/T15651-1995半導(dǎo)體器件分立器件
2024-01-29 22:04:38

什么是鋰離子電池失效?鋰離子電池失效如何有效分析檢測(cè)?

什么是鋰離子電池失效?鋰離子電池失效如何有效分析檢測(cè)? 鋰離子電池失效是指電池容量的顯著下降或功能完全喪失,導(dǎo)致電池?zé)o法提供持久且穩(wěn)定的電能輸出。鋰離子電池失效是由多種因素引起的,包括電池化學(xué)反應(yīng)
2024-01-10 14:32:18216

第20講:DIPIPM?市場(chǎng)失效分析(2)

在了解了DIPIPM失效分析的流程后是不是會(huì)很容易地找到市場(chǎng)失效的原因了呢?答案是否定的。不管是對(duì)收集到的市場(chǎng)失效信息還是對(duì)故障解析報(bào)告的解讀、分析都需要相應(yīng)的專業(yè)技能作為背景,對(duì)整機(jī)進(jìn)行的測(cè)試也需要相應(yīng)的測(cè)試技能。
2023-12-27 15:41:37278

DIPIPM?市場(chǎng)失效分析(1)

DIPIPM是雙列直插型智能功率模塊的簡(jiǎn)稱,由三菱電機(jī)于1997年正式推向市場(chǎng),迄今已在家電、工業(yè)和汽車空調(diào)等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用。本講座主要介紹DIPIPM的基礎(chǔ)、功能、應(yīng)用和失效分析技巧,旨在幫助讀者全面了解并正確使用該產(chǎn)品。
2023-12-22 15:15:27241

常見的齒輪失效有哪些形式?失效的原因是什么?如何解決?

常見的齒輪失效有哪些形式?失效的原因是什么?可采用哪些措施來減緩失效的發(fā)生? 齒輪是機(jī)械傳動(dòng)中常用的一種傳動(dòng)方式,它能夠?qū)?dòng)力從一個(gè)軸傳遞到另一個(gè)軸上。然而,在長時(shí)間使用過程中,齒輪也會(huì)出現(xiàn)各種失效
2023-12-20 11:37:151051

ESD失效和EOS失效的區(qū)別

ESD失效和EOS失效的區(qū)別 ESD(電靜電放電)失效和EOS(電壓過沖)失效是在電子設(shè)備和電路中經(jīng)常遇到的兩種失效問題。盡管它們都涉及電氣問題,但其具體產(chǎn)生的原因、影響、預(yù)防方法以及解決方法
2023-12-20 11:37:023069

淺談失效分析失效分析流程

▼關(guān)注公眾號(hào):工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個(gè)芯片產(chǎn)業(yè)鏈,復(fù)雜的產(chǎn)業(yè)鏈中任意一環(huán)出現(xiàn)問題都會(huì)帶來芯片的失效問題。芯片從工藝到應(yīng)用都會(huì)面臨各種失效風(fēng)險(xiǎn),筆者平時(shí)也會(huì)參與到失效分析中,這一期就對(duì)失效
2023-12-20 08:41:04530

應(yīng)用于光學(xué)測(cè)量的高性能薄膜厚度檢測(cè)設(shè)備

檢測(cè)儀器來進(jìn)行檢測(cè)。因此「美能光伏」生產(chǎn)了美能Poly在線膜厚測(cè)試儀,該設(shè)備采用光伏行業(yè)領(lǐng)先的微納米薄膜光學(xué)測(cè)量創(chuàng)新技術(shù),且適用于大規(guī)模產(chǎn)線自動(dòng)化檢測(cè)工序,可幫助
2023-12-16 08:33:09300

車規(guī)MCU之設(shè)計(jì)失效模式和影響分析(DFMEA)詳解

計(jì)失效模式和影響分析(DFMEA,Design Failure Mode and Effects Analysis)在汽車工業(yè)中扮演著非常重要的角色。
2023-12-14 18:21:402297

保護(hù)器件過電應(yīng)力失效機(jī)理和失效現(xiàn)象淺析

保護(hù)器件過電應(yīng)力失效機(jī)理和失效現(xiàn)象淺析
2023-12-14 17:06:45262

阻容感失效分析

成分發(fā)現(xiàn),須莊狀質(zhì)是硫化銀晶體。原來電阻被來自空氣中的硫給腐蝕了。 失效分析發(fā)現(xiàn),主因是電路板上含銀電子元件如貼片電阻、觸點(diǎn)開關(guān)、繼電器和LED等被硫化腐蝕而失效。銀由于優(yōu)質(zhì)的導(dǎo)電特性,會(huì)被使用作為電極、焊接材料
2023-12-12 15:18:171020

LED燈帶失效分析

1、案例背景 LED燈帶在使用一段時(shí)間后出現(xiàn)不良失效,初步判斷失效原因?yàn)殂~腐蝕。據(jù)此情況,對(duì)失效樣品進(jìn)行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測(cè)手段,明確失效原因。 2、分析過程 2.1 外觀
2023-12-11 10:09:07188

晶振失效了?怎么解決?

晶振失效了?怎么解決?
2023-12-05 17:22:26230

X-RAY在失效分析中的應(yīng)用

待測(cè)物的內(nèi)部結(jié)構(gòu),在不破壞待測(cè)物的情況下觀察內(nèi)部有問題的區(qū)域。 二、應(yīng)用范圍 ?IC、BGA、PCB/PCBA、表面貼裝工藝焊接性檢測(cè)等; ?金屬材料及零部件、電子元器件、電子組件、LED元件等內(nèi)部裂紋、異物的缺陷檢測(cè),BGA、線路板等內(nèi)部位移的分析; ?判別空焊
2023-12-04 11:57:46242

DIPIPM失效解析報(bào)告解讀及失效分析

DIPIPM是雙列直插型智能功率模塊的簡(jiǎn)稱,由三菱電機(jī)于1997年正式推向市場(chǎng),迄今已在家電、工業(yè)和汽車空調(diào)等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用。本講座主要介紹DIPIPM的基礎(chǔ)、功能、應(yīng)用和失效分析技巧,旨在幫助讀者全面了解并正確使用該產(chǎn)品。
2023-11-29 15:16:24414

損壞的器件不要丟,要做失效分析

損壞的器件不要丟,要做失效分析!
2023-11-23 09:04:42181

IGBT的失效模式與失效機(jī)理分析探討及功率模塊技術(shù)現(xiàn)狀未來展望

壓接型IGBT器件與焊接式IGBT模塊封裝形式的差異最終導(dǎo)致兩種IGBT器件的失效形式和失效機(jī)理的不同,如表1所示。本文針對(duì)兩種不同封裝形式IGBT器件的主要失效形式和失效機(jī)理進(jìn)行分析。1.焊接式IGBT模塊封裝材料的性能是決定模塊性能的基礎(chǔ),尤其是封裝
2023-11-23 08:10:07721

FPC焊點(diǎn)剝離失效分析

FPC在后續(xù)組裝過程中,連接器發(fā)生脫落。在對(duì)同批次的樣品進(jìn)行推力測(cè)試后,發(fā)現(xiàn)連接器推力有偏小的現(xiàn)象。據(jù)此進(jìn)行失效分析,明確FPC連接器脫落原因。
2023-11-20 16:32:22312

光耦失效的幾種常見原因及分析

將詳細(xì)分析光耦失效的幾種常見原因。 首先,常見的光耦失效原因之一是LED失效。LED是光耦發(fā)光二極管的核心部件,它會(huì)發(fā)出光信號(hào)。常見的LED失效原因有兩種:老化和損壞。LED的使用壽命是有限的,長時(shí)間使用后會(huì)逐漸老化。老化后的LE
2023-11-20 15:13:441445

3D光學(xué)檢測(cè)儀器

中圖儀器SuperViewW系列3D光學(xué)檢測(cè)儀器用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量。它基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸,典型結(jié)果包括:1、三維表面
2023-11-17 08:59:04

PCB失效分析技術(shù)概述

 那么就要用到一些常用的失效分析技術(shù)。介于PCB的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)與失效的主要模式,其中金相切片分析是屬于破壞性的分析技術(shù),一旦使用了這兩種技術(shù),樣品就破壞了,且無法恢復(fù);另外由于制樣的要求,可能掃描電鏡分析和X射線能譜分析有時(shí)也需要部分破壞樣品。
2023-11-16 17:33:05115

SJ5720超高精度光學(xué)鏡片檢測(cè)儀器

目前國內(nèi)尚無專業(yè)測(cè)量設(shè)備能夠檢測(cè)高精度非球面鏡片參數(shù),比如微觀輪廓參數(shù)、水平軸線夾角、光軸位置參數(shù)及頂點(diǎn)半徑誤差、斜率參數(shù)等,基本依賴進(jìn)口,只有部分國產(chǎn)機(jī)型能夠滿足普通精度的微觀輪廓Pt參數(shù)測(cè)量,而
2023-11-16 13:46:42

LGA器件焊接失效分析及對(duì)策

介紹LGA器件焊接失效分析及對(duì)策
2023-11-15 09:22:14349

Micro LED顯示面板的光學(xué)性能研究

Micro LED顯示面板包含PCB板、LED芯片、封裝膠膜、驅(qū)動(dòng)IC等,Micro LED COB顯示屏的光學(xué)性能關(guān)鍵指標(biāo):亮度、對(duì)比度、色域、灰階、刷新率、可視角等。本文通過研究COB單元板光學(xué)性能的設(shè)計(jì)影響因素,為COB單元板的光學(xué)性能設(shè)計(jì)提供參考。
2023-11-13 11:06:34803

表面3D光學(xué)檢測(cè)儀器

中圖儀器SuperViewW系列表面3D光學(xué)檢測(cè)儀器基于白光干涉原理,能以3D非接觸方式,對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階
2023-11-10 11:50:45

如何對(duì)失效的電子主板進(jìn)行FA分析

有效的對(duì)失效的主板進(jìn)行FA分析。 在進(jìn)行FA分析時(shí)的時(shí)候,是要遵守一定的流程的。 從外觀檢查,電測(cè),信號(hào)檢測(cè),其他驗(yàn)證等一步步進(jìn)行分析驗(yàn)證。 外觀檢查 外觀檢查是一片fail板子必須會(huì)經(jīng)過的過程,向一些元件被燒毀,燒焦或者撞
2023-11-07 11:46:52386

無創(chuàng)人體血糖光學(xué)檢測(cè)技術(shù)研究與展望

電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《無創(chuàng)人體血糖光學(xué)檢測(cè)技術(shù)研究與展望.pdf》資料免費(fèi)下載
2023-11-06 16:16:490

車門控制板暗電流失效分析

異常品暗電流值 正常品暗電流值 異常品阻值 正常品阻值 測(cè)試結(jié)果 異常品暗電流為4.9989mA,偏離要求范圍(1mA 以內(nèi)),且針對(duì)關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)的分析未見異常。 2、外觀及X-RAY分析 X-RAY 外觀 測(cè)試結(jié)果 X-RAY 及外觀檢測(cè),未見異常。 3、針對(duì)失效現(xiàn)象的初步
2023-11-03 11:24:22279

大功率固態(tài)高功放功率合成失效分析

電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《大功率固態(tài)高功放功率合成失效分析.pdf》資料免費(fèi)下載
2023-10-20 14:43:470

基于自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀通信系統(tǒng)設(shè)計(jì)

電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《基于自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀通信系統(tǒng)設(shè)計(jì).pdf》資料免費(fèi)下載
2023-10-18 10:33:200

HIP失效分析、HIP解決對(duì)策及實(shí)戰(zhàn)案例

本文涵蓋HIP失效分析、HIP解決對(duì)策及實(shí)戰(zhàn)案例。希望您在閱讀本文后有所收獲,歡迎在評(píng)論區(qū)發(fā)表您的想法。
2023-10-16 15:06:08299

3d光學(xué)輪廓儀基本原理和測(cè)試步驟

形成參考光路和檢測(cè)光路。用于表面形貌紋理,微觀結(jié)構(gòu)分析,用于測(cè)試各類表面并自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù),廣泛應(yīng)用于光學(xué),半導(dǎo)體,材料
2023-09-28 15:36:421805

邏輯分析參數(shù)有哪些?

邏輯分析參數(shù)有哪些? 邏輯分析儀是一種廣泛應(yīng)用于數(shù)字電子系統(tǒng)測(cè)試的工具。其主要功能是通過對(duì)數(shù)字信號(hào)進(jìn)行采樣和分析,幫助用戶定位和解決電子系統(tǒng)中的故障問題。邏輯分析儀的性能參數(shù)是衡量邏輯分析
2023-09-19 16:33:181204

滾動(dòng)軸承的失效原因及措施

滾動(dòng)軸承的可靠性與滾動(dòng)軸承的失效形式有著密切的關(guān)系,要提高軸承的可靠性,就必須從軸承的失效形式著手,仔細(xì)分析滾動(dòng)軸承的失效原因,才能找出解決失效的具體措施。今天我們通過PPT來了解一下軸承失效。
2023-09-15 11:28:51212

各種材料失效分析檢測(cè)方法

失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及,它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開發(fā)、改進(jìn),產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。
2023-09-12 09:51:47291

集成電路為什么要做失效分析?失效分析流程?

失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。
2023-09-06 10:28:051331

集成電路失效分析

集成電路失效分析 隨著現(xiàn)代社會(huì)的快速發(fā)展,人們對(duì)集成電路(Integrated Circuit,簡(jiǎn)稱IC)的需求越來越大,IC在各種電子設(shè)備中占據(jù)著至關(guān)重要的地位,如手機(jī)、電腦、汽車等都需要使用到
2023-08-29 16:35:13627

芯片失效分析方法 芯片失效原因分析

芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展,各種芯片被廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而,在使用過程中,芯片的失效是非常常見的問題。芯片失效分析是解決這個(gè)問題的關(guān)鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:112800

半導(dǎo)體失效分析

半導(dǎo)體失效分析? 半導(dǎo)體失效分析——保障電子設(shè)備可靠性的重要一環(huán) 隨著電子科技的不斷發(fā)展,電子設(shè)備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分,而半導(dǎo)體也是電子設(shè)備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉(zhuǎn)化
2023-08-29 16:29:08736

電子元器件損壞的原因有哪些?電子芯片故障原因有哪些?常見的電子元器件失效機(jī)理與分析

電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。對(duì)于硬件工程師來講電子元器件失效是個(gè)非常麻煩的事情,比如某個(gè)半導(dǎo)體器件外表完好但實(shí)際上已經(jīng)半失效
2023-08-29 10:47:313729

鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 ;我需要詳盡、詳實(shí)、細(xì)致的最少1500字的文

鉭電容失效分析 鉭電容失效原因分析 鉭電容燒壞的幾種原因 鉭電容是一種電子元器件,通常用于將電場(chǎng)儲(chǔ)存為電荷的裝置。它們具有高電容和低ESR等優(yōu)點(diǎn),因此被廣泛應(yīng)用于數(shù)字電路、模擬電路和電源等領(lǐng)域。然而
2023-08-25 14:27:562133

電容器的常見失效模式和失效機(jī)理

參數(shù)變化(包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等),部分功能失效
2023-08-23 11:23:17749

光學(xué)3D表面輪廓儀可以測(cè)金屬嗎?

測(cè)量金屬制品的長度、寬度、高度等維度參數(shù)。 除了測(cè)量金屬表面的形狀和輪廓外,光學(xué)3D表面輪廓儀還可以生成三維點(diǎn)云數(shù)據(jù)和色彩圖像,用于進(jìn)一步分析和展示: 1、三維點(diǎn)云數(shù)據(jù)可以用于進(jìn)行CAD模型比對(duì)、工藝
2023-08-21 13:41:46

雙面檢測(cè)aoi光學(xué)檢測(cè)儀詳細(xì)介紹

AOI檢測(cè)設(shè)備又名AOI光學(xué)自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備現(xiàn)已成為電子制造業(yè)確保產(chǎn)品質(zhì)量的重要檢測(cè)工具和過程質(zhì)量控制工具,因此,如何從眾多的AOI品牌中選擇和使用適合自已要求的AOI光學(xué)自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備,已成為廣大電子
2023-08-18 09:37:441756

洗地機(jī)缺水檢測(cè)功能如何實(shí)現(xiàn)

洗地機(jī)是我們?nèi)粘I钪谐R姷那鍧嵲O(shè)備,而洗地機(jī)的缺水檢測(cè)功能對(duì)于保證其正常工作非常重要。光電管道液位傳感器的應(yīng)用有效解決了傳統(tǒng)機(jī)械式傳感器的低精度和卡死失效問題,同時(shí)也解決了電容式傳感器的感度衰減
2023-08-01 14:17:09

汽車整車分析沖壓車身車間自動(dòng)化3D測(cè)量CASAIM光學(xué)自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備

每家汽車主機(jī)廠都希望建設(shè)高水平的汽車車身沖壓車間,主要生產(chǎn)車身覆蓋件、重要的車身結(jié)構(gòu)件等,車型越多,沖壓件的品種和模具就越多,對(duì)沖壓檢測(cè)效率提出了更高的要求。 CASAIM光學(xué)自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備在沖壓
2023-07-28 17:12:10409

半導(dǎo)體器件鍵合失效模式及機(jī)理分析

本文通過對(duì)典型案例的介紹,分析了鍵合工藝不當(dāng),以及器件封裝因素對(duì)器件鍵合失效造成的影響。通過對(duì)鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析,以及對(duì)各種失效模式總結(jié),闡述了鍵合工藝不當(dāng)及封裝不良,造成鍵合本質(zhì)失效的機(jī)理;并提出了控制有缺陷器件裝機(jī)使用的措施。
2023-07-26 11:23:15930

LED驅(qū)動(dòng)電路圖分享 LED驅(qū)動(dòng)電路的工作原理和失效機(jī)理分析

隨著市場(chǎng)需求的不斷增加,近年從事LED制造和研發(fā)的人員大大增加。LED企業(yè)亦如雨后春筍般成長。由于從事LED驅(qū)動(dòng)研發(fā)的企業(yè)和人眾多,其技術(shù)水平參 差不齊,研發(fā)出來的LED驅(qū)動(dòng)電路質(zhì)量好壞不一。導(dǎo)致LED燈具的失效時(shí)常發(fā)生,阻礙了LED照明的市場(chǎng)推廣。
2023-07-25 09:12:046864

基于自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)(AOI)設(shè)計(jì)

自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(AOI)是電子印刷電路板(pcb)制造和測(cè)試中的一項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)。自動(dòng)光學(xué)檢測(cè),AOI能夠快速準(zhǔn)確的檢測(cè)電子組件,特別是pcb,確保產(chǎn)品出廠質(zhì)量高,產(chǎn)品制作正確,沒有制造故障
2023-07-08 09:43:26680

新材料檢測(cè)必備實(shí)驗(yàn)室資源:表面檢測(cè)

新材料表面檢測(cè),多會(huì)面臨表面缺陷檢測(cè)、表面瑕疵檢測(cè)、表面污染物成分分析、表面粗糙度測(cè)試、表面失效分析等需求,以下為常備實(shí)驗(yàn)室資源這是Amanda王莉的第57篇文章,點(diǎn)這里關(guān)注我,記得標(biāo)星01表面檢測(cè)
2023-07-07 10:02:45567

光學(xué)器件偏振相關(guān)的參數(shù)

光學(xué)器件偏振相關(guān)的參數(shù)包括:偏振度、偏振方向、偏振狀態(tài)等。以下是它們的詳細(xì)介紹。
2023-07-05 15:50:53568

關(guān)于ESD靜電浪涌測(cè)試在連接器端子失效分析中的應(yīng)用啟示

信號(hào)板HDMI連接器接地pin腳出現(xiàn)燒毀不良圖源:華南檢測(cè)中心本文案例,從信號(hào)板HDMI連接器接地pin腳出現(xiàn)燒毀不良現(xiàn)象展開,通過第三方實(shí)驗(yàn)室提供失效分析報(bào)告,可以聚焦失效可能原因,比如,可能輸入
2023-07-05 10:04:23238

芯片失效分析程序的基本原則

與開封前測(cè)試結(jié)果加以比較,是否有改變,管殼內(nèi)是否有水汽的影響。進(jìn)一步可將表面氧化層、鋁條去掉,用機(jī)械探針扎在有關(guān)節(jié)點(diǎn)上進(jìn)行靜態(tài)(動(dòng)態(tài))測(cè)試、判斷被隔離部分是否性能正常,分析失效原因。
2023-07-05 09:43:04317

Agilent86141B光學(xué)分析

安捷倫86141B光學(xué)分析儀 86141B 是安捷倫的光學(xué)分析儀。光譜分析儀,也稱為光學(xué)分析儀,是一種測(cè)量光源功率的精密儀器。該電子測(cè)試設(shè)備用于監(jiān)測(cè)指定波長范圍內(nèi)的功率分布。它以圖表的形式顯示測(cè)量
2023-07-03 15:13:35239

Agilent86145B光學(xué)分析參數(shù)指標(biāo)

安捷倫86145B光學(xué)分析儀 86145B 是安捷倫的光學(xué)分析儀。光譜分析儀,也稱為光學(xué)分析儀,是一種測(cè)量光源功率的精密儀器。該電子測(cè)試設(shè)備用于監(jiān)測(cè)指定波長范圍內(nèi)的功率分布。它以圖表的形式顯示測(cè)量
2023-07-03 14:56:5494

Agilent86142B光學(xué)分析

安捷倫86142B光學(xué)分析儀 86142B 是安捷倫的光學(xué)分析儀。光譜分析儀,也稱為光學(xué)分析儀,是一種測(cè)量光源功率的精密儀器。該電子測(cè)試設(shè)備用于監(jiān)測(cè)指定波長范圍內(nèi)的功率分布。它以圖表的形式顯示測(cè)量
2023-07-03 14:12:34116

請(qǐng)問芯片檢測(cè)中的非破壞分析有哪些?

芯片檢測(cè)中的非破壞分析有哪些?
2023-06-27 15:20:08

BGA失效分析與改善對(duì)策

BGA失效分析與改善對(duì)策
2023-06-26 10:47:41438

集成電路封裝失效分析流程

為了防止在失效分析過程中丟失封裝失效證據(jù)或因不當(dāng)順序引人新的人為的失效機(jī)理,封裝失效分析應(yīng)按一定的流程進(jìn)行。
2023-06-25 09:02:30315

集成電路封裝失效分析方法

集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關(guān)的失效現(xiàn)象、形式(失效模式),查找封裝失效原因,確定失效的物理化學(xué)過程(失效機(jī)理),為集成電路封裝糾正設(shè)計(jì)、工藝改進(jìn)等預(yù)防類似封裝失效的再發(fā)生,提升
2023-06-21 08:53:40572

AN-2033: 校準(zhǔn)光學(xué)煙霧和氣霧劑檢測(cè)模塊

ADPD188BI 是完整的光電式測(cè)量系統(tǒng),適合采用光學(xué)雙波長技術(shù)的煙霧檢測(cè)應(yīng)用。 該模塊集成了高效率光電式測(cè)量前端、藍(lán)光和紅外(IR)發(fā)光二極管(LED)以及一個(gè)光電二極管,這些元件包含在定制封裝
2023-06-16 15:38:24543

光學(xué)液體分析原型制作平臺(tái)為普遍檢測(cè)指明了道路

制作復(fù)雜光學(xué)液體分析測(cè)量的原型是一個(gè)挑戰(zhàn),需要仔細(xì)考慮化學(xué)、光學(xué)和電子如何相互作用,以得出準(zhǔn)確的結(jié)果。集成式AFE產(chǎn)品(例如ADPD4101)為在更小的空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)更高性能的光學(xué)液體檢測(cè)鋪平了道路
2023-06-15 14:15:52478

講一下失效分析中最常用的輔助實(shí)驗(yàn)手段:亮點(diǎn)分析(EMMI)

EMMI:Emission microscopy 。與SEM,F(xiàn)IB,EB等一起作為最常用的失效分析手段。
2023-06-12 18:21:182310

集成式光學(xué)接收器如何滿足床旁檢測(cè)儀器的未來需求

基于熒光方法的診斷檢測(cè)需要借助一個(gè)閾值去檢測(cè)熒光。如果接收的熒光信號(hào)低于閾值水平,則無法確定樣本中存在目標(biāo)分析物。系統(tǒng)中的電子器件和一些其他因素可能產(chǎn)生背景噪聲使得閾值增高。為降低閾值水平,同時(shí)持續(xù)穩(wěn)定地獲得更出色的靈敏度而不犧牲選擇性,我們需要謹(jǐn)慎設(shè)計(jì)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),確保信號(hào)鏈不會(huì)提高背景噪聲的水平。
2023-06-12 16:18:04284

光學(xué)系統(tǒng)雜散光分析

摘要 :雜散光是光學(xué)系統(tǒng)中所有非正常傳輸光的總稱,雜散光對(duì)光學(xué)系統(tǒng)性能的影響因系統(tǒng)不同而變化。 因此,在現(xiàn)代光學(xué)設(shè)計(jì)中,雜散光分析成為光學(xué)設(shè)計(jì)工作中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。 雜散光產(chǎn)生的原因比較復(fù)雜,討論
2023-06-12 09:40:14586

安捷倫86142B光學(xué)分析

安捷倫86142B光學(xué)分析儀 86142B 是安捷倫的光學(xué)分析儀。光譜分析儀,也稱為光學(xué)分析儀,是一種測(cè)量光源功率的精密儀器。該電子測(cè)試設(shè)備用于監(jiān)測(cè)指定波長范圍內(nèi)的功率分布。它以圖表的形式顯示測(cè)量
2023-06-12 08:27:2189

Agilent安捷倫86146B光學(xué)分析

安捷倫86146B光學(xué)分析儀 86146B 是安捷倫的光學(xué)分析儀。光譜分析儀,也稱為光學(xué)分析儀,是一種測(cè)量光源功率的精密儀器。該電子測(cè)試設(shè)備用于監(jiān)測(cè)指定波長范圍內(nèi)的功率分布。它以圖表的形式顯示測(cè)量
2023-06-10 17:19:22232

汽車手勢(shì)傳感器如何克服光學(xué)串?dāng)_?

本文為 MAX25205 和 MAX25405 手勢(shì)傳感器的光學(xué)機(jī)械部分提供設(shè)計(jì)指南?;诩t外(IR)技術(shù)的手勢(shì)檢測(cè)系統(tǒng)存在一個(gè)關(guān)鍵的設(shè)計(jì)問題,即 LED 到傳感器之間的光學(xué)串?dāng)_(見圖 1)。特別是
2023-06-09 18:15:02371

季豐量產(chǎn)測(cè)試線設(shè)備——Wafer光學(xué)自動(dòng)檢測(cè)介紹

Wafer自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(AOI)設(shè)備適用于6寸&8寸&12寸 wafer的2D&3D缺陷檢測(cè)、尺寸測(cè)量,可實(shí)現(xiàn)對(duì)晶圓各種特征的多維度檢測(cè)。
2023-06-01 10:56:521898

LED驅(qū)動(dòng)電源失效的原因分析

LED驅(qū)動(dòng)電源作為LED照明中不可或缺的一部分,對(duì)其電子封裝技術(shù)要求亦愈發(fā)嚴(yán)苛,不僅需要具備優(yōu)異的耐候性能、機(jī)械力學(xué)性能、電氣絕緣性能和導(dǎo)熱性能,同時(shí)也需要兼顧灌封材料和元器件的粘接性。那么在LED驅(qū)動(dòng)電源的使用中,導(dǎo)致LED驅(qū)動(dòng)電源失效的原因都有哪些呢?下面就跟隨名錦坊小編一起來看看吧!
2023-05-18 11:21:19851

淺談抗靜電指標(biāo)差的LED失效分析案例

紅光LED芯片是單電極結(jié)構(gòu),它兩個(gè)電極之間的材質(zhì)、厚度、襯底材料與雙電極的藍(lán)綠光LED不一樣,所承受的靜電能量要比雙電極的高很多。
2023-05-15 09:26:20423

怎樣進(jìn)行芯片失效分析

失效分析為設(shè)計(jì)工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì),使之與設(shè)計(jì)規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。
2023-05-13 17:16:251365

TVS二極管失效機(jī)理與失效分析

。 通過對(duì)TVS篩選和使用短路失效樣品進(jìn)行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征.結(jié)合器件結(jié)構(gòu)、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時(shí)所受的應(yīng)力等。采用理論分析和試驗(yàn)證明等方法分析導(dǎo)致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:483678

電阻、電容、電感的常見失效分析

失效模式:各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。
2023-05-11 14:39:113227

進(jìn)口芯片失效怎么辦?做個(gè)失效分析查找源頭

芯片對(duì)于電子設(shè)備來說非常的重要,進(jìn)口芯片在設(shè)計(jì)、制造和使用的過程中難免會(huì)出現(xiàn)失效的情況。于是當(dāng)下,生產(chǎn)對(duì)進(jìn)口芯片的質(zhì)量和可靠性的要求越來越嚴(yán)格。因此進(jìn)口芯片失效分析的作用也日漸凸顯了出來,那么進(jìn)口芯片失效分析常用的方法有哪些呢?下面安瑪科技小編為大家介紹。
2023-05-10 17:46:31548

環(huán)旭電子發(fā)展先進(jìn)失效分析技術(shù)

為了將制程問題降至最低,環(huán)旭電子利用高精度3D X-Ray定位異常元件的位置,利用激光去層和重植球技術(shù)提取SiP 模組中的主芯片。同時(shí),利用X射線光電子能譜和傅立葉紅外光譜尋找元件表面有機(jī)污染物的源頭,持續(xù)強(qiáng)化SiP模組失效分析領(lǐng)域分析能力。
2023-04-24 11:31:411357

X-Ray檢測(cè)設(shè)備在LED生產(chǎn)中的應(yīng)用

也越來越復(fù)雜。為了保證LED質(zhì)量,保障產(chǎn)品安全,X-ray檢測(cè)設(shè)備在LED生產(chǎn)中應(yīng)用越來越廣泛。 X-ray檢測(cè)設(shè)備是一種應(yīng)用X射線技術(shù)的檢測(cè)儀器,可對(duì)LED芯片的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和外部尺寸進(jìn)行檢測(cè),特別是可以檢測(cè)LED芯片的封裝層是否存在缺陷,檢測(cè)LED芯片的外形及內(nèi)部
2023-04-21 14:05:28452

LED燈條x-ray檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)都有哪些?

LED燈條x-ray檢測(cè)是一種常用的電子元件檢測(cè)方法,它可以檢測(cè)LED燈條的外觀、內(nèi)部結(jié)構(gòu)和電路圖。它使用X射線來檢測(cè)LED燈條的電路,以及LED燈條內(nèi)部的電子組件。 LED燈條x-ray檢測(cè)
2023-04-20 12:01:28669

半導(dǎo)體集成電路失效分析原理及常見失效分析方法介紹!

失效分析(FA)是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開發(fā)
2023-04-18 09:11:211360

X-Ray檢測(cè)用于LED芯片封裝的無損檢測(cè)有哪些步驟?-智誠精展

X-Ray檢測(cè)用于LED芯片封裝的無損檢測(cè)的實(shí)施步驟如下: 1、準(zhǔn)備檢測(cè)設(shè)備:首先準(zhǔn)備X射線檢測(cè)設(shè)備,包括X射線攝像機(jī)、X射線儀器、X射線照相機(jī)等設(shè)備。 2、設(shè)置檢測(cè)參數(shù):其次,設(shè)置檢測(cè)參數(shù),包括
2023-04-14 14:48:24480

X-Ray檢測(cè)用于LED芯片封裝的無損檢測(cè)優(yōu)勢(shì)

X-Ray檢測(cè)是一種無損檢測(cè)技術(shù),其應(yīng)用于LED芯片封裝的無損檢測(cè)尤為重要。本文主要介紹X-Ray檢測(cè)用于LED芯片封裝的無損檢測(cè)的原理、優(yōu)勢(shì)、實(shí)施步驟及其有效性等問題,以期為LED芯片封裝的無損
2023-04-13 14:04:58975

BGA失效分析與改善對(duì)策

BGA失效分析與改善對(duì)策
2023-04-11 10:55:48577

PCB失效分析技術(shù)總結(jié)

程中出現(xiàn)了大量的失效問題。 對(duì)于這種失效問題,我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù),來使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證,本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù),供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749

X-ray在線檢測(cè)設(shè)備在LED燈條檢測(cè)中的應(yīng)用

X-ray在線檢測(cè)是一種非常有效的電子元件檢測(cè)技術(shù),它可以用來檢測(cè)LED燈條。X-ray在線檢測(cè)可以實(shí)現(xiàn)快速和準(zhǔn)確的檢測(cè),而且它也可以檢測(cè)LED燈條中隱藏的缺陷。 X-ray在線檢測(cè)通過將X射線
2023-04-10 12:00:00396

已全部加載完成