剛看了一個(gè)最能打的國(guó)產(chǎn)芯榜單,找到一些國(guó)產(chǎn)車規(guī)芯片,看看參數(shù)介紹感覺還不錯(cuò),大家有用過(guò)的或了解的嗎?國(guó)產(chǎn)車規(guī)芯片發(fā)展處于什么水平?用過(guò)的說(shuō)說(shuō)唄
2024-03-22 10:25:22
開關(guān)電源可靠性測(cè)試是檢測(cè)開關(guān)電源質(zhì)量、穩(wěn)定性和質(zhì)量的重要手段。可靠性測(cè)試也是開關(guān)電源測(cè)試的關(guān)鍵環(huán)節(jié),以此評(píng)估開關(guān)電源的性能和使用壽命。
2024-03-21 15:50:2783 UACHV225S高壓AC-DC電源模塊高可靠性重要參數(shù) 輸入電壓:85~265Vac輸出電壓: 225Vdc電源精度:1%功率: 250w訂貨周期:6-8周品牌:PICO產(chǎn)品詳情介紹
2024-03-20 20:36:19
周 品牌:PICO產(chǎn)品詳情介紹70565是一款高可靠性的Pico音頻變壓器。音頻變壓器是音頻范圍內(nèi)使用的變壓器,它可以提供電流隔離、信號(hào)增益
2024-03-20 20:05:32
檢測(cè)l 板卡電性能測(cè)試及壽命特征分析l 板卡壽命及加速壽命試驗(yàn)l 板卡失效分析l 板卡可靠性提升相關(guān)資質(zhì)CNAS服務(wù)
2024-03-15 17:27:02
服務(wù)內(nèi)容橫向科研技術(shù)支持和服務(wù)、高鐵裝備、零部件失效分析、可靠性試驗(yàn)方案及可靠性提升方案開發(fā)與執(zhí)行、裝備及系統(tǒng)健康管理技術(shù)方案開發(fā)及軟硬件平臺(tái)搭建。服務(wù)范圍● 車體部件:側(cè)窗、底部大部件、連接件等
2024-03-15 16:46:27
許多可靠性“磨損”測(cè)試監(jiān)測(cè)的是一個(gè)性能參數(shù),該參數(shù)隨著對(duì)數(shù)變化的時(shí)間長(zhǎng)度而穩(wěn)步下降。
2024-03-13 14:28:37316 EMC測(cè)試整改:提升產(chǎn)品合規(guī)性和市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力?|深圳比創(chuàng)達(dá)電子在當(dāng)前的產(chǎn)品研發(fā)和制造領(lǐng)域,電磁兼容(EMC)測(cè)試是確保產(chǎn)品符合法規(guī)要求并能夠在各種電磁環(huán)境下正常工作的重要環(huán)節(jié)。然而,很多企業(yè)在進(jìn)行
2024-03-07 09:50:28
一次性注射器滑動(dòng)性測(cè)試儀 介紹/濟(jì)南三泉智能科技有限公司醫(yī)用注射器滑動(dòng)性能測(cè)試儀是一款用于檢測(cè)注射器滑動(dòng)性能的醫(yī)療設(shè)備,通過(guò)模擬實(shí)際使用過(guò)程中推桿的滑動(dòng)距離和滑動(dòng)速度,對(duì)注射器的滑動(dòng)性能進(jìn)行評(píng)估
2024-02-26 14:20:30
電子產(chǎn)品高加速壽命測(cè)試HALT、高加速應(yīng)力篩選測(cè)試HASS,都是可靠性測(cè)試的方法,用于評(píng)估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。那他們之前的區(qū)別是什么呢,跟隨本文來(lái)一起了解。
2024-01-30 10:25:44206 封裝可靠性最重要的可靠性測(cè)試,也是進(jìn)行器件壽命模型建立和壽命評(píng)估的根本。服務(wù)范圍車規(guī)級(jí)功率器件模塊及基于分立器件的等效特殊設(shè)計(jì)產(chǎn)品。檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)● DINENISO/
2024-01-29 22:46:02
的建議,來(lái)消除失效并防止失效的再次發(fā)生,提高產(chǎn)品的可靠性。服務(wù)背景AEC-Q104是基于失效機(jī)制的車用多芯片組件(MCM)應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證規(guī)范。MCM多芯片模組規(guī)范解決了
2024-01-29 21:47:22
重要的車載元器件部件,是AEC委員會(huì)持續(xù)關(guān)注的重點(diǎn)領(lǐng)域。AEC-Q100對(duì)IC的可靠性測(cè)試可細(xì)分為加速環(huán)境應(yīng)力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學(xué)
2024-01-29 21:43:34
AEC-Q102產(chǎn)品試驗(yàn)車燈是整車的重要組件,圍繞車燈及其附件的可靠性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)紛繁復(fù)雜,各主機(jī)廠的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)均有不同描述,通用性較差。廣電計(jì)量提供一站式AEC-Q102產(chǎn)品試驗(yàn),光電器件車規(guī)級(jí)認(rèn)證服務(wù)
2024-01-29 21:38:13
、H3TRB、HTRB、HTGB、高壓蒸煮(Autoclave)試驗(yàn)服務(wù),設(shè)備能力完全覆蓋以SiC為第三代半導(dǎo)體器件的可靠性試驗(yàn)?zāi)芰?。服?wù)背景AEC-Q101對(duì)對(duì)各類半導(dǎo)體
2024-01-29 21:35:04
標(biāo)準(zhǔn)。安森美(onsemi)作為一家半導(dǎo)體供應(yīng)商,為高要求的應(yīng)用提供能在惡劣環(huán)境下運(yùn)行的產(chǎn)品,且這些產(chǎn)品達(dá)到了高品質(zhì)和高可靠性。之前我們分享了如何對(duì)IGBT進(jìn)行可靠性測(cè)試,今天我們來(lái)介紹如何通過(guò)可靠性審核程序確保IGBT的產(chǎn)品可靠性。
2024-01-25 10:21:16997 在當(dāng)今的半導(dǎo)體市場(chǎng),公司成功的兩個(gè)重要因素是產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。而這兩者是相互關(guān)聯(lián)的,可靠性體現(xiàn)為在產(chǎn)品預(yù)期壽命內(nèi)的長(zhǎng)期質(zhì)量表現(xiàn)。任何制造商要想維續(xù)經(jīng)營(yíng),必須確保產(chǎn)品達(dá)到或超過(guò)基本的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)和可靠性
2024-01-17 09:56:32448 本文將介紹半導(dǎo)體的可靠性測(cè)試及標(biāo)準(zhǔn)。除了詳細(xì)介紹如何評(píng)估和制定相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)以外,還將介紹針對(duì)半導(dǎo)體封裝預(yù)期壽命、半導(dǎo)體封裝在不同外部環(huán)境中的可靠性,及機(jī)械可靠性等評(píng)估方法。 什么是產(chǎn)品可靠性? 半導(dǎo)體
2024-01-13 10:24:17711 杭州廣立微電子股份有限公司近日推出了一款全新的晶圓級(jí)可靠性(Wafer Level Reliability WLR)測(cè)試設(shè)備,該設(shè)備具備智能并行測(cè)試功能,能夠顯著縮短測(cè)試時(shí)間,提高工作效率。
2023-12-28 15:02:23362 當(dāng)今競(jìng)爭(zhēng)激烈的汽車市場(chǎng)中,汽車的品質(zhì)和可靠性已成為消費(fèi)者選擇的重要標(biāo)準(zhǔn)。通過(guò)整車可靠性測(cè)試,汽車制造商可以確保他們的產(chǎn)品在各種極端條件下都能表現(xiàn)出色,從而贏得消費(fèi)者的信任和滿意度。
此外,整車
2023-12-22 17:16:20355 在進(jìn)行船舶產(chǎn)品可靠性測(cè)試之前,需要進(jìn)行了充分的準(zhǔn)備工作。需要準(zhǔn)備各種先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備和儀器。得以模擬真實(shí)使用環(huán)境中的條件,如溫度、濕度、壓力等,以確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。
2023-12-22 17:14:28153 半導(dǎo)體可靠性測(cè)試主要是為了評(píng)估半導(dǎo)體器件在實(shí)際使用過(guò)程中的可靠性和穩(wěn)定性。這些測(cè)試項(xiàng)目包括多種測(cè)試方法和技術(shù),以確保產(chǎn)品的性能、質(zhì)量和可靠性滿足設(shè)計(jì)規(guī)格和用戶需求。下面是關(guān)于半導(dǎo)體可靠性測(cè)試的詳細(xì)
2023-12-20 17:09:04696 SDNAND可靠性驗(yàn)證測(cè)試的重要性SDNAND可靠性驗(yàn)證測(cè)試至關(guān)重要。通過(guò)檢驗(yàn)數(shù)據(jù)完整性、設(shè)備壽命、性能穩(wěn)定性,確保產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn),可提高產(chǎn)品的可信度、提高品牌聲譽(yù),減少維修成本,確保
2023-12-14 14:29:34164 可靠性測(cè)試是電源模塊測(cè)試的一項(xiàng)重要測(cè)試內(nèi)容,是檢測(cè)電源模塊穩(wěn)定性、運(yùn)行狀況的重要測(cè)試方法。隨著對(duì)電源模塊的測(cè)試要求越來(lái)越高,用電源模塊測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源模塊可以提高測(cè)試效率,確保測(cè)試結(jié)果可靠性,滿足測(cè)試要求。
2023-12-13 15:36:36384 近日,杭州廣立微電子股份有限公司正式推出了晶圓級(jí)可靠性(Wafer Level Reliability WLR)測(cè)試設(shè)備。該產(chǎn)品支持智能并行測(cè)試,可大幅度縮短WLR的測(cè)試時(shí)間。同時(shí),可以結(jié)合廣立微提供的定制化軟件系統(tǒng)來(lái)提升用戶工作效率。
2023-12-07 11:47:37434 加速環(huán)境應(yīng)力可靠性測(cè)試:需要對(duì)芯片進(jìn)行加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試,模擬高溫、低溫、濕熱和溫度循環(huán)等極端環(huán)境條件。這些測(cè)試旨在評(píng)估芯片在極端溫度條件下的可靠性和穩(wěn)定性。
2023-12-05 14:05:28565 上海伯東美國(guó) inTEST ThermoStream 高低溫沖擊熱流儀, 為車載芯片提供穩(wěn)定和高效的溫度測(cè)試解決方案, 保證車規(guī)產(chǎn)品的高安全性, 高可靠性和高穩(wěn)定性, inTEST 高度
2023-12-01 14:24:09
。
CW32A030C8T7通過(guò)AEC-Q100車規(guī)可靠性測(cè)試
作為武漢芯源半導(dǎo)體首款車規(guī)級(jí)MCU產(chǎn)品,CW32A030C8T7產(chǎn)品順利通過(guò)AEC-Q100(Grade2)車規(guī)級(jí)可靠性測(cè)試,符合車用電
2023-11-30 15:47:01
,應(yīng)盡量簡(jiǎn)化設(shè)計(jì),簡(jiǎn)化電路和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),使每個(gè)部件都成為最簡(jiǎn)設(shè)計(jì)。當(dāng)今世界流行的模塊化設(shè)計(jì)方法是提高設(shè)備可靠性的有效措施。塊功能相對(duì)單一,系統(tǒng)由模塊組成,可以減少設(shè)計(jì)的復(fù)雜性,將設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)化、規(guī)范
2023-11-22 06:29:05
除了新能源汽車需要做快速溫變?cè)囼?yàn)箱可靠性檢測(cè),還有什么產(chǎn)品需要進(jìn)行可靠性檢測(cè)呢? 我們一起來(lái)看看?
2023-11-20 17:24:29223 、產(chǎn)品易開裂等技術(shù)難題。車規(guī)級(jí)電感損耗整體降低30%以上,工作溫度高達(dá)165℃(比AEC-Q200最高等級(jí)0級(jí)高),電源效率高達(dá)98%,有效提升產(chǎn)品可靠性及電源轉(zhuǎn)換效率。
2023-11-17 09:40:31180 國(guó)家電網(wǎng):在就地化保護(hù)入網(wǎng)檢測(cè)中,首次引入可靠性試驗(yàn),驗(yàn)證產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)水平和壽命指標(biāo)。在關(guān)于新型一、二次設(shè)備(例如:電子式互感器)的科研項(xiàng)目中,增加了可靠性驗(yàn)證和壽命評(píng)估等相關(guān)研究課題。
2023-11-13 16:32:04452 器件可靠性驗(yàn)證是GR-468最重要的一個(gè)項(xiàng)目,標(biāo)準(zhǔn)對(duì)光電子器件可靠性試驗(yàn)的執(zhí)行程序與主要項(xiàng)目(測(cè)試項(xiàng),試驗(yàn)條件,樣本量等)進(jìn)行了說(shuō)明。主要測(cè)試內(nèi)容分為器件性能測(cè)試、器件應(yīng)力測(cè)試和器件加速老化測(cè)試。
2023-11-10 17:47:27628 電源模塊耐壓測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)及其規(guī)范是什么?要如何測(cè)試? 電源模塊是電子設(shè)備中至關(guān)重要的部分,其耐壓測(cè)試是確保產(chǎn)品質(zhì)量和安全性的重要環(huán)節(jié)。在進(jìn)行耐壓測(cè)試時(shí),需要遵循特定的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范,下面將詳細(xì)介紹電源模塊
2023-11-10 14:22:492052 可靠性測(cè)試是半導(dǎo)體器件測(cè)試的一項(xiàng)重要測(cè)試內(nèi)容,確保半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性,保證其在各類環(huán)境長(zhǎng)時(shí)間工作下的穩(wěn)定性。半導(dǎo)體可靠性測(cè)試項(xiàng)目眾多,測(cè)試方法多樣,常見的有高低溫測(cè)試、熱阻測(cè)試、機(jī)械沖擊測(cè)試、引線鍵合強(qiáng)度測(cè)試等。
2023-11-09 15:57:52744 的響應(yīng)能力,從而保證電源系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。下面是關(guān)于測(cè)試電源芯片負(fù)載調(diào)整率的方法和相關(guān)測(cè)試規(guī)范。 一、測(cè)試方法 1. 構(gòu)建測(cè)試電路:首先需要構(gòu)建一個(gè)測(cè)試電路,包括一個(gè)電源芯片和一個(gè)負(fù)載電阻。負(fù)載電阻可以通過(guò)串聯(lián)或
2023-11-09 15:30:46630 芯片的老化試驗(yàn)及可靠性如何測(cè)試? 芯片的老化試驗(yàn)及可靠性測(cè)試是評(píng)估芯片性能和使用壽命的關(guān)鍵步驟。老化試驗(yàn)旨在模擬芯片在長(zhǎng)期使用過(guò)程中可能遭遇的各種環(huán)境和應(yīng)激,并確定芯片的可靠性和耐久性。本文將詳細(xì)
2023-11-09 09:12:011120 在兩個(gè)元件之間的連接線之間添加足夠的空間來(lái)實(shí)現(xiàn)的。
電氣間隙是指在PCB板上元件之間的空間距離,通常是通過(guò)在元件之間留出足夠的空間來(lái)實(shí)現(xiàn)的。
它們的實(shí)現(xiàn)有助于確保電路的可靠性和安全性,并且遵守安規(guī)要求
2023-11-03 11:16:11
機(jī)械溫控開關(guān)的可靠性有多少?我看溫控開關(guān)的體積很小,價(jià)格便宜,可以用于一些溫度控制方面,不過(guò)可靠性有多少呢?
2023-10-31 06:37:26
前 言 SAIMO Preface 基于仿真的自動(dòng)駕駛可靠性估計(jì)(一)中已經(jīng)介紹 ,使用定步長(zhǎng)泛化、樸素蒙特卡羅等方法生成驗(yàn)證自動(dòng)駕駛系統(tǒng)的仿真場(chǎng)景難以在可以接受的成本內(nèi)精確估計(jì)被測(cè)試系統(tǒng)在指定邏輯
2023-10-25 19:10:02253 半導(dǎo)體器件可靠性測(cè)試指的是評(píng)估半導(dǎo)體器件在不同工作條件下的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和可靠性的一系列測(cè)試和分析方法。這些測(cè)試旨在確保半導(dǎo)體器件在其設(shè)計(jì)壽命內(nèi)能夠正常運(yùn)行,不會(huì)出現(xiàn)意外故障,從而滿足用戶和應(yīng)用的需求
2023-10-25 09:19:15635 電源芯片測(cè)試貫穿著研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)過(guò)程的始終,目的就是為了通過(guò)反復(fù)檢測(cè)來(lái)確保電源芯片的性能、質(zhì)量和可靠性,保證正常工作運(yùn)行。電源芯片測(cè)試涉及到許多測(cè)試項(xiàng)目,并且有著具體的測(cè)試規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)和方法。本文納米軟件將介紹電源芯片輸入電壓范圍的測(cè)試規(guī)范。
2023-10-19 15:15:41476 智能鑰匙是一種新型的智能家居設(shè)備,它使你可以通過(guò)手機(jī)或者其他智能設(shè)備輕松地控制你的房門、車門、辦公室等入口。智能鑰匙可以提供更加便捷、安全和智能化的操作方式,但是這種設(shè)備并非完美無(wú)缺,它也面臨著一些風(fēng)險(xiǎn)和缺陷,需要經(jīng)過(guò)可靠性測(cè)試,確保它能夠可靠地運(yùn)行。
2023-10-17 14:07:57239 電子元器件可靠性測(cè)試是保證元器件性能和質(zhì)量的一個(gè)重要測(cè)試項(xiàng)目,同時(shí)也是電子設(shè)備可靠性的基礎(chǔ)。常見的可靠性測(cè)試項(xiàng)目有機(jī)械沖擊測(cè)試、高溫存儲(chǔ)測(cè)試、溫度循壞測(cè)試、引線鍵合強(qiáng)度測(cè)試等。
2023-10-11 14:49:05350 通過(guò)PLC組態(tài)軟件提高系統(tǒng)可靠性的幾項(xiàng)措施
2023-09-25 06:26:12
電流探頭是一種用于測(cè)量電路中電流的設(shè)備,通常與萬(wàn)用表或示波器一起使用。它是一個(gè)重要的測(cè)試工具,因此必須進(jìn)行驗(yàn)證以確保其可靠性。
2023-09-22 10:53:07242 服務(wù)內(nèi)容廣電計(jì)量是國(guó)內(nèi)振動(dòng)試驗(yàn)?zāi)芰^完善的權(quán)威檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)機(jī)構(gòu)之一,配備了(1~35)噸不同推力的振動(dòng)臺(tái),可滿足不同尺寸、重量的樣品的振動(dòng)測(cè)試需求。服務(wù)范圍本商品可提供針對(duì)家用電器、汽車零部件、線束
2023-09-21 16:52:00
龍騰半導(dǎo)體建有功率器件可靠性與應(yīng)用實(shí)驗(yàn)中心,專注于產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證、參數(shù)檢測(cè)、可靠性驗(yàn)證、失效分析及應(yīng)用評(píng)估,公司參考半導(dǎo)體行業(yè)可靠性試驗(yàn)條件和抽樣原則,制定產(chǎn)品可靠性規(guī)范并依此對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行完整可靠性驗(yàn)證。
2023-09-20 16:29:21808 硬件IIC與軟件IIC在使用上的區(qū)別,對(duì)產(chǎn)品可靠性與效率的影響
2023-09-20 07:53:05
、振動(dòng)等,大大降低了雷達(dá)的穩(wěn)定性和可靠性。
而且多線激光雷達(dá)這種轉(zhuǎn)動(dòng)的工作模式,若采用滑環(huán)設(shè)計(jì)會(huì)容易失效,而無(wú)線供電的方式則不夠穩(wěn)定,很難滿足車規(guī)級(jí)別的應(yīng)用場(chǎng)景。
2.3.2 MEMS 激光雷達(dá)
MEMS
2023-09-19 13:35:01
加強(qiáng)符合車規(guī)MCU芯片功能及平臺(tái)工具,并協(xié)助客戶加速車載應(yīng)用方案開發(fā)、縮短產(chǎn)品量產(chǎn)時(shí)程,共創(chuàng)智能汽車產(chǎn)業(yè)的繁榮前景。
關(guān)于AEC-Q100:
●汽車電子委員會(huì)(AEC)制定的車用電子組件可靠性測(cè)試
2023-09-15 12:04:18
過(guò)濾。這些扼流圈可以廣泛應(yīng)用于汽車、工業(yè)、IIoT以及網(wǎng)絡(luò)和電信。
車規(guī)級(jí)電源線共模扼流圈
車規(guī)級(jí)信號(hào)線共模扼流圈
特性
Automotive Common Mode Chokes
01
高可靠性
2023-09-12 14:48:02
? 走進(jìn)龍騰實(shí)驗(yàn)室 功率器件可靠性試驗(yàn)測(cè)試項(xiàng)目系列專題(一) ? 可靠性實(shí)驗(yàn)室介紹 ? 龍騰半導(dǎo)體建有功率器件可靠性與應(yīng)用實(shí)驗(yàn)中心,專注于產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證、參數(shù)檢測(cè)、可靠性驗(yàn)證、失效分析及應(yīng)用評(píng)估,公司
2023-09-12 10:23:45698 電感是汽車電子DC/DC轉(zhuǎn)換器的核心元器件之一, 如何開發(fā)高可靠性、高品質(zhì)、能滿足汽車部件需求的一體成型電感是當(dāng)前業(yè)界關(guān)心的熱點(diǎn)話題。
2023-09-08 10:14:28188 車載可降低故障風(fēng)險(xiǎn)的高可靠性高頻率功率電感器方案。 目次 汽車電子的動(dòng)向 車載零部件要求的環(huán)境的變化 針對(duì)各種ECU分別提出最佳解決方案 高可靠性車載用高頻率功率電感器的產(chǎn)品概述 高可靠性車載用高頻率功率電感器的產(chǎn)品概要、
2023-08-22 16:26:24371 彈簧拉壓測(cè)試機(jī)的詳細(xì)介紹?|深圳磐石測(cè)控
2023-08-21 09:48:18570 碳化硅作為第三代半導(dǎo)體經(jīng)典的應(yīng)用,具有眾多自身優(yōu)勢(shì)和技術(shù)優(yōu)勢(shì),它所制成的功率器件在生活中運(yùn)用十分廣泛,越來(lái)越無(wú)法離開,因此使用碳化硅產(chǎn)品的穩(wěn)定性在一定程度上也決定了生活的質(zhì)量。作為高尖精的產(chǎn)品,芯片的可靠性測(cè)試貫徹始終,從設(shè)計(jì)到選材再到最后的出產(chǎn),那研發(fā)過(guò)程中具體需要做哪些測(cè)試呢
2023-08-18 09:52:23750 壽命測(cè)試是一種重要的可靠性測(cè)試方法,用于評(píng)估組件、子系統(tǒng)或系統(tǒng)在預(yù)期或指定的使用壽命條件下的性能和可靠性。壽命測(cè)試旨在模擬實(shí)際應(yīng)用環(huán)境中物品所面臨的各種因素和應(yīng)力,例如時(shí)間、溫度、振動(dòng)、沖擊、電壓等,并通過(guò)持續(xù)的測(cè)試和監(jiān)測(cè)來(lái)觀察物品在這些條件下的行為。
2023-08-01 16:31:20505 ,規(guī)劃評(píng)估驗(yàn)證策略,制定認(rèn)證測(cè)試規(guī)范性準(zhǔn)則,最終完成各項(xiàng)驗(yàn)證測(cè)試項(xiàng)目,出具權(quán)威檢驗(yàn)認(rèn)證報(bào)告。 該業(yè)務(wù)結(jié)合多種測(cè)試和FA手段,確定失效模式、探究失效機(jī)理,幫助客戶定位失效根因。 測(cè)試設(shè)備介紹? ? 1.晶圓級(jí)WLR工藝可靠性測(cè)
2023-07-23 11:16:121376 可靠性,是指產(chǎn)品在規(guī)定時(shí)間內(nèi)和條件下完成規(guī)定功能的能力,是產(chǎn)品質(zhì)量的重要指標(biāo),如果在規(guī)定時(shí)間內(nèi)和條件下產(chǎn)品失去了規(guī)定的功能,則稱之為產(chǎn)品失效或出現(xiàn)了故障。可靠性測(cè)試項(xiàng)目的科學(xué)性、合理性,抽樣和試驗(yàn)
2023-07-21 10:36:26619 在半導(dǎo)體器件中,常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。 在大多數(shù)情況下,加速測(cè)試不改變故障的物理特性,但會(huì)轉(zhuǎn)移觀察時(shí)間。 加速條件和正常使用條件之間的轉(zhuǎn)移稱為“降額”。那么半導(dǎo)體可靠性測(cè)試有哪些?讓凱智通小編告訴你~
2023-07-13 14:47:182544 總之,可靠性分配是一種有助于理解復(fù)雜系統(tǒng)可靠性的方法。通過(guò)將系統(tǒng)分解為更小的組件,并為每個(gè)組件分配可靠性指標(biāo),可以進(jìn)行更詳細(xì)和全面的可靠性分析,從而提高系統(tǒng)的可靠性和性能。
2023-07-11 10:48:01810 設(shè)備的可靠性涉及多個(gè)方面:穩(wěn)定的硬件、優(yōu)秀的軟件架構(gòu)、嚴(yán)格的測(cè)試以及市場(chǎng)和時(shí)間的檢驗(yàn)等等。
2023-07-11 10:09:32212 01內(nèi)容摘要本文介紹了一種基于可變形測(cè)試模塊的電感和電阻測(cè)試系統(tǒng),旨在解決傳統(tǒng)手動(dòng)測(cè)量方法存在的局限性和需求提升的問(wèn)題。該系統(tǒng)通過(guò)引入可變形測(cè)試模塊、大規(guī)模矩陣和配套設(shè)備,實(shí)現(xiàn)了電感和電阻的大規(guī)模
2023-07-07 10:09:47352 電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試是為了評(píng)估產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間內(nèi),在預(yù)期的使用、運(yùn)輸或儲(chǔ)存等所有環(huán)境下,保持功能可靠性而進(jìn)行的活動(dòng)。是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境條件下經(jīng)受其作用,以評(píng)價(jià)產(chǎn)品在實(shí)際使用、運(yùn)輸
2023-07-04 14:30:441184 車規(guī)級(jí)功率器件未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)
材料方面: SiC和GaN是必然趨勢(shì),GaAs在細(xì)分領(lǐng)域有可能
●封裝方面:高功率密度、高可靠性和定制化
●評(píng)測(cè)方面:多應(yīng)力綜合測(cè)試方法、新型結(jié)溫測(cè)試方法和技術(shù)
●進(jìn)展方面:國(guó)產(chǎn)在趕超進(jìn)口(參數(shù)和性能),可靠性還需要時(shí)間沉淀
2023-07-04 10:48:05415 。因此,硬件可靠性設(shè)計(jì)在保證元器件可靠性的基礎(chǔ)上,既要考慮單一控制單元的可靠性設(shè)計(jì),更要考慮整個(gè)控制系統(tǒng)的可靠性設(shè)計(jì)。
2023-06-29 15:29:53698 IEC 62308的范圍規(guī)定“本標(biāo)準(zhǔn)描述了項(xiàng)目的可靠性評(píng)估方法。適用于任務(wù)、安全、業(yè)務(wù)關(guān)鍵、高完整性、復(fù)雜電子產(chǎn)品。它包含有關(guān)為什么需要可靠性以及如何以及在何處使用評(píng)估結(jié)果的信息。最后,它詳細(xì)說(shuō)明了如何選擇可靠性評(píng)估方法以及支持評(píng)估所需的數(shù)據(jù)。
2023-06-27 09:55:11508 ,使用壽命要求更長(zhǎng),可靠性和安全性要求更高。笙泉科技MGEQ1C064AD48于近期已通過(guò)AEC-Q100 (Grade 2)認(rèn)證,滿足車規(guī)級(jí)產(chǎn)品工作環(huán)境惡劣的要求,可幫助實(shí)現(xiàn)車載應(yīng)用和控制等支持,協(xié)助
2023-06-26 13:07:39
單片GaN器件集成驅(qū)動(dòng)功率轉(zhuǎn)換的效率、密度和可靠性
2023-06-21 09:59:28
通過(guò)集成和應(yīng)用相關(guān)壓力測(cè)試的GaN可靠性
2023-06-21 06:02:18
GaNPower集成電路的可靠性測(cè)試與鑒定
2023-06-19 11:17:46
GaN功率集成電路可靠性的系統(tǒng)方法
2023-06-19 06:52:09
,保險(xiǎn)絲/熔斷器提供必要的過(guò)負(fù)載保護(hù)。最新的AEC-Q200修訂版E確定了保險(xiǎn)絲/熔斷器廠商的測(cè)試要求,并確保符合AEC-Q200認(rèn)證的保險(xiǎn)絲/熔斷器能高標(biāo)準(zhǔn)地滿足耐用性和可靠性。本文介紹了汽車電子理事會(huì)、AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn)及其新修訂版E。 ? 當(dāng)今汽車電氣化供電需求復(fù)雜而
2023-06-15 16:53:541009 產(chǎn)品概述:KF32A250 系列單片機(jī)是基于 KF32 內(nèi)核架構(gòu)開發(fā)的車規(guī)級(jí)32位單片機(jī)。KF32A250滿足AEC-Q100汽車可靠性認(rèn)證;可支持到Grade1級(jí)車規(guī)工作溫度范圍。KF32A250
2023-06-14 18:40:59
為溫度85℃,且濕度為85%的條件下,對(duì)試驗(yàn)體進(jìn)行老化測(cè)試,也就是嚴(yán)酷的環(huán)境可靠性試驗(yàn),比較常用的測(cè)試時(shí)間為1000小時(shí),主要檢驗(yàn)產(chǎn)品在高溫高濕的惡劣環(huán)境下所能承
2023-06-12 16:52:50456 芯片功能測(cè)試常用5種方法有板級(jí)測(cè)試、晶圓CP測(cè)試、封裝后成品FT測(cè)試、系統(tǒng)級(jí)SLT測(cè)試、可靠性測(cè)試。
2023-06-09 16:25:42
33A-1997 半導(dǎo)體分立器件總規(guī)范
GJB 63B-2001 有可靠性指標(biāo)的固體電解質(zhì)鉭電容器總規(guī)范
GJB 65B-1999 有可靠性指標(biāo)的電磁繼電器總規(guī)范
GJB 597A-1996 半導(dǎo)體集成電路總
2023-06-08 09:17:22
芯片測(cè)試治具是一種用于芯片測(cè)試的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備,可以實(shí)現(xiàn)芯片的功能測(cè)試、參數(shù)測(cè)試和性能測(cè)試,它可以幫助電子工程師驗(yàn)證芯片的性能和可靠性,實(shí)現(xiàn)芯片的精確測(cè)試和優(yōu)化。
2023-05-30 15:26:25453 試驗(yàn),電壓暫降測(cè)試,騷擾功率試驗(yàn),電磁抗擾試驗(yàn)室,射頻測(cè)試,電磁場(chǎng)輻射試驗(yàn),抗繞度試驗(yàn),電瞬態(tài)干擾試驗(yàn),插入損耗試驗(yàn)等。
可靠性試驗(yàn)/可靠性測(cè)試:
可靠性強(qiáng)化試驗(yàn),加速壽命試驗(yàn)(halt),環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)(ess),可靠性驗(yàn)收試驗(yàn),可靠性鑒定試驗(yàn),可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)。
2023-05-23 15:55:57
可靠性測(cè)試對(duì)于芯片的制造和設(shè)計(jì)過(guò)程至關(guān)重要。通過(guò)進(jìn)行全面而嚴(yán)格的可靠性測(cè)試,可以提前發(fā)現(xiàn)并解決潛在的設(shè)計(jì)缺陷、制造問(wèn)題或環(huán)境敏感性,從而確保芯片在長(zhǎng)期使用中的性能和可靠性。
2023-05-20 16:47:5211457 可制造性設(shè)計(jì) (Design for Manufacturabiity, DFM)、可靠性設(shè)計(jì) (Designfor Reliability, DFR)與可測(cè)試性設(shè)計(jì) (Design
2023-05-18 10:55:541428 我想知道產(chǎn)品MPC5200CVR400B和PCF8582C-2T/03的MTBF或FIT值來(lái)做可靠性預(yù)測(cè)工作
2023-05-17 08:49:55
設(shè)備的可靠性涉及多個(gè)方面:穩(wěn)定的硬件、優(yōu)秀的軟件架構(gòu)、嚴(yán)格的測(cè)試以及市場(chǎng)和時(shí)間的檢驗(yàn)等等。
2023-05-16 09:39:57427 。因此,硬件可靠性設(shè)計(jì)在保證元器件可靠性的基礎(chǔ)上,既要考慮單一控制單元的可靠性設(shè)計(jì),更要考慮整個(gè)控制系統(tǒng)的可靠性設(shè)計(jì)。
2023-05-11 11:11:48587 支持系統(tǒng)的導(dǎo)航設(shè)備和立體成像設(shè)備中。
?不同位置的PCB的不同可靠性要求
就公共安全而言,汽車屬于高可靠性產(chǎn)品類別,因此,汽車PCB必須通過(guò)一些可靠性測(cè)試,而尺寸,尺寸,機(jī)械和電氣性能等一般
2023-04-24 16:34:26
昂貴且復(fù)雜的離散互連電纜會(huì)降低設(shè)計(jì)的可靠性,增加設(shè)計(jì)成本和總體設(shè)計(jì)尺寸。幸運(yùn)的是,還有其他形式的柔性和柔性剛硬的PCB.柔性PCB可以為您提供滿足您的設(shè)計(jì)互連要求的經(jīng)濟(jì)高效且方便的解決方案,并
2023-04-21 15:52:50
打造具備高可靠性、高安全性、覆蓋不同電壓、不同容量的車規(guī)級(jí)存儲(chǔ)產(chǎn)品,在應(yīng)用端得到了充分的驗(yàn)證并深受客戶認(rèn)可。全系列創(chuàng)新產(chǎn)品覆蓋,滿足行業(yè)所需隨著自動(dòng)駕駛、車聯(lián)網(wǎng)和新能源汽車的快速發(fā)展,在緊湊空間
2023-04-13 15:18:46
PCB設(shè)計(jì)中的可靠性有哪些? 實(shí)踐證明,即使電路原理圖設(shè)計(jì)正確,如果PCB設(shè)計(jì)不當(dāng),也會(huì)對(duì)電子設(shè)備的可靠性產(chǎn)生不利的影響。舉個(gè)簡(jiǎn)單的例子,如果PCB兩條細(xì)平行線靠得很近的話,則會(huì)造成信號(hào)波形
2023-04-10 16:03:54
半導(dǎo)體元器件在高溫環(huán)境下的可靠性是制造商和用戶十分關(guān)注的問(wèn)題。高溫試驗(yàn)是一種常用的測(cè)試方法,通過(guò)模擬實(shí)際使用中的高溫環(huán)境,可以評(píng)估元器件在高溫下的性能和可靠性。高溫試驗(yàn)需要仔細(xì)設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)方案,包括選擇
2023-04-07 10:21:03766 我想知道這些設(shè)備的可靠性數(shù)據(jù),例如 MTBF 和 FIT,BSS138PW BSS84AKW,115
2023-04-03 08:12:35
可靠性/可用性驗(yàn)證測(cè)試FIT:定義及目的
FIT (Fault Injection Test) :故障注入測(cè)試,通過(guò)向系統(tǒng)注入在實(shí)際應(yīng)用中可能發(fā)生的故障,觀察系統(tǒng)功能性能變化,故
障檢測(cè)、定位、隔離以及故障恢復(fù)情況,發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷、評(píng)估系統(tǒng)可靠性的測(cè)試方法。
2023-03-29 09:18:47589 。 因此,硬件可靠性設(shè)計(jì)在保證元器件可靠性的基礎(chǔ)上,既要考慮單一控制單元的可靠性設(shè)計(jì),更要考慮整個(gè)控制系統(tǒng)的可靠性設(shè)計(jì)。
2023-03-27 17:01:30685 嗨,我在哪里可以獲得以下芯片的可靠性測(cè)試報(bào)告?FS32K144HAT0MLHTPCA85073ADPTJA1044GT/3
2023-03-23 06:20:13
評(píng)論
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