開關(guān)電源可靠性測(cè)試是檢測(cè)開關(guān)電源質(zhì)量、穩(wěn)定性和質(zhì)量的重要手段。可靠性測(cè)試也是開關(guān)電源測(cè)試的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，以此評(píng)估開關(guān)電源的性能和使用壽命。
2024-03-21 15:50:27
83 中芯國(guó)際車載芯片可靠性專項(xiàng)檢測(cè)中心涵蓋了公司自身工藝和IP、第三方IP或客戶產(chǎn)品的全面測(cè)試能力。根據(jù)AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)，配備了需滿足產(chǎn)品可靠度的多項(xiàng)測(cè)試設(shè)施，能滿足車載芯片的全方位可靠性檢測(cè)需求。
2024-03-20 14:32:48230 檢測(cè)l 板卡電性能測(cè)試及壽命特征分析l 板卡壽命及加速壽命試驗(yàn)l 板卡失效分析l 板卡可靠性提升相關(guān)資質(zhì)CNAS服務(wù)
2024-03-15 17:27:02
服務(wù)內(nèi)容橫向科研技術(shù)支持和服務(wù)、高鐵裝備、零部件失效分析、可靠性試驗(yàn)方案及可靠性提升方案開發(fā)與執(zhí)行、裝備及系統(tǒng)健康管理技術(shù)方案開發(fā)及軟硬件平臺(tái)搭建。服務(wù)范圍● 車體部件：側(cè)窗、底部大部件、連接件等
2024-03-15 16:46:27
服務(wù)范圍大規(guī)模集成電路芯片檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)●JESD22-A103/ A104/ A105/ A108/ A110●J-STD-020●JS-001/002●JESD78檢測(cè)項(xiàng)目（1）芯片級(jí)可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)
2024-03-14 16:28:30
許多可靠性“磨損”測(cè)試監(jiān)測(cè)的是一個(gè)性能參數(shù)，該參數(shù)隨著對(duì)數(shù)變化的時(shí)間長(zhǎng)度而穩(wěn)步下降。
2024-03-13 14:28:37316 
安規(guī)測(cè)試是對(duì)開關(guān)電源進(jìn)行電氣性能、安全性能等檢測(cè)，確保開關(guān)電源符合規(guī)定并且安全可靠，為開關(guān)電源的質(zhì)量把關(guān)。那么開關(guān)電源安規(guī)測(cè)試有哪些測(cè)試要求和標(biāo)準(zhǔn)呢？
2024-03-11 14:57:12140 評(píng)估晶振在極端溫度變化環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。模擬晶振在實(shí)際使用中可能會(huì)遇到的溫度變化情況，確保它能夠在不同的溫度極端條件下保持其性能。可參考標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD- 883E- 1011.9B。
2024-03-08 12:39:08155 
Electronics Council)制定和推動(dòng)，是集成電路制造商進(jìn)入汽車行業(yè)的關(guān)鍵認(rèn)證之一。 該認(rèn)證主要針對(duì)車載應(yīng)用的芯片進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量和可靠性驗(yàn)證，特別是對(duì)產(chǎn)品功能和性能進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范測(cè)試，以提高車載電子設(shè)備的穩(wěn)定性和標(biāo)準(zhǔn)化程度。由于車規(guī)級(jí)芯片在可靠性、安全性和使用壽命方面的要求較消費(fèi)級(jí)芯片更
2024-03-05 14:00:40128 
什么樣的電子元件才是車規(guī)級(jí)的器件呢？車規(guī)級(jí)芯片有哪些可靠性要求？ 車規(guī)級(jí)的電子元件是指能夠滿足汽車行業(yè)嚴(yán)格可靠性要求的器件。由于汽車行業(yè)對(duì)電子元件的可靠性要求非常高，因此車規(guī)級(jí)的器件需要經(jīng)過
2024-02-18 11:14:42662 電子產(chǎn)品高加速壽命測(cè)試HALT、高加速應(yīng)力篩選測(cè)試HASS，都是可靠性測(cè)試的方法，用于評(píng)估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。那他們之前的區(qū)別是什么呢，跟隨本文來一起了解。
2024-01-30 10:25:44206 
封裝可靠性最重要的可靠性測(cè)試，也是進(jìn)行器件壽命模型建立和壽命評(píng)估的根本。服務(wù)范圍車規(guī)級(jí)功率器件模塊及基于分立器件的等效特殊設(shè)計(jì)產(chǎn)品。檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)● DINENISO/
2024-01-29 22:46:02
標(biāo)準(zhǔn)。安森美(onsemi)作為一家半導(dǎo)體供應(yīng)商，為高要求的應(yīng)用提供能在惡劣環(huán)境下運(yùn)行的產(chǎn)品，且這些產(chǎn)品達(dá)到了高品質(zhì)和高可靠性。之前我們分享了如何對(duì)IGBT進(jìn)行可靠性測(cè)試，今天我們來介紹如何通過可靠性審核程序確保IGBT的產(chǎn)品可靠性。
2024-01-25 10:21:16997 
標(biāo)準(zhǔn)。安森美 (onsemi) 作為一家半導(dǎo)體供應(yīng)商，為高要求的應(yīng)用提供能在惡劣環(huán)境下運(yùn)行的產(chǎn)品，且這些產(chǎn)品達(dá)到了高品質(zhì)和高可靠性。
2024-01-17 09:56:32448 
前言 光器件的可靠性標(biāo)準(zhǔn)中，我們最常接觸的應(yīng)該就是GR-468和GR-1209/1221了。GR-468重點(diǎn)講了有源器件的可靠性要求，而GR-1209/1221重點(diǎn)講無(wú)源器件的可靠性要求。雖然涵蓋
2024-01-15 09:32:54114 
本文將介紹半導(dǎo)體的可靠性測(cè)試及標(biāo)準(zhǔn)。除了詳細(xì)介紹如何評(píng)估和制定相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)以外，還將介紹針對(duì)半導(dǎo)體封裝預(yù)期壽命、半導(dǎo)體封裝在不同外部環(huán)境中的可靠性，及機(jī)械可靠性等評(píng)估方法。 什么是產(chǎn)品可靠性？ 半導(dǎo)體
2024-01-13 10:24:17711 
杭州廣立微電子股份有限公司近日推出了一款全新的晶圓級(jí)可靠性（Wafer Level Reliability WLR）測(cè)試設(shè)備，該設(shè)備具備智能并行測(cè)試功能，能夠顯著縮短測(cè)試時(shí)間，提高工作效率。
2023-12-28 15:02:23362 電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《IPC-9797A_EN 汽車要求和其他高可靠性應(yīng)用的壓配標(biāo)準(zhǔn).pdf》資料免費(fèi)下載
2023-12-25 09:48:38
8 當(dāng)今競(jìng)爭(zhēng)激烈的汽車市場(chǎng)中，汽車的品質(zhì)和可靠性已成為消費(fèi)者選擇的重要標(biāo)準(zhǔn)。通過整車可靠性測(cè)試，汽車制造商可以確保他們的產(chǎn)品在各種極端條件下都能表現(xiàn)出色，從而贏得消費(fèi)者的信任和滿意度。
此外，整車
2023-12-22 17:16:20355 
在進(jìn)行船舶產(chǎn)品可靠性測(cè)試之前，需要進(jìn)行了充分的準(zhǔn)備工作。需要準(zhǔn)備各種先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備和儀器。得以模擬真實(shí)使用環(huán)境中的條件，如溫度、濕度、壓力等，以確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。
2023-12-22 17:14:28153 
半導(dǎo)體可靠性測(cè)試主要是為了評(píng)估半導(dǎo)體器件在實(shí)際使用過程中的可靠性和穩(wěn)定性。這些測(cè)試項(xiàng)目包括多種測(cè)試方法和技術(shù)，以確保產(chǎn)品的性能、質(zhì)量和可靠性滿足設(shè)計(jì)規(guī)格和用戶需求。下面是關(guān)于半導(dǎo)體可靠性測(cè)試的詳細(xì)
2023-12-20 17:09:04696 及應(yīng)用， 然而， 相比金線鍵合， 由于銅線特殊的材料屬性和鍵合工藝， 其可靠應(yīng)用面臨一定的挑戰(zhàn)。為了確保汽車電子系統(tǒng)的高可靠性和穩(wěn)定性， 汽車電子委員會(huì)制定了一系列標(biāo)準(zhǔn)和認(rèn)證要求， 其中針對(duì)銅線鍵合器件于 2016 年發(fā)布了 AEC-Q006 標(biāo)準(zhǔn)。 對(duì)AEC-Q00
2023-12-18 14:07:14326 
SDNAND可靠性驗(yàn)證測(cè)試的重要性SDNAND可靠性驗(yàn)證測(cè)試至關(guān)重要。通過檢驗(yàn)數(shù)據(jù)完整性、設(shè)備壽命、性能穩(wěn)定性，確保產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)，可提高產(chǎn)品的可信度、提高品牌聲譽(yù)，減少維修成本，確保
2023-12-14 14:29:34164 
可靠性測(cè)試是電源模塊測(cè)試的一項(xiàng)重要測(cè)試內(nèi)容，是檢測(cè)電源模塊穩(wěn)定性、運(yùn)行狀況的重要測(cè)試方法。隨著對(duì)電源模塊的測(cè)試要求越來越高，用電源模塊測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源模塊可以提高測(cè)試效率，確保測(cè)試結(jié)果可靠性，滿足測(cè)試要求。
2023-12-13 15:36:36384 近日，杭州廣立微電子股份有限公司正式推出了晶圓級(jí)可靠性（Wafer Level Reliability WLR）測(cè)試設(shè)備。該產(chǎn)品支持智能并行測(cè)試，可大幅度縮短WLR的測(cè)試時(shí)間。同時(shí)，可以結(jié)合廣立微提供的定制化軟件系統(tǒng)來提升用戶工作效率。
2023-12-07 11:47:37434 
加速環(huán)境應(yīng)力可靠性測(cè)試：需要對(duì)芯片進(jìn)行加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試，模擬高溫、低溫、濕熱和溫度循環(huán)等極端環(huán)境條件。這些測(cè)試旨在評(píng)估芯片在極端溫度條件下的可靠性和穩(wěn)定性。
2023-12-05 14:05:28565 子高可靠性和穩(wěn)定性要求，可用于環(huán)境溫度范圍-40°C~105°C的大部分車載應(yīng)用環(huán)境。
武漢芯源半導(dǎo)體始終將安全可靠性要求放在第一位，遵循AEC-Q100測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)行了包括高溫工作壽命試驗(yàn)
2023-11-30 15:47:01
近日，深圳市航順芯片技術(shù)研發(fā)有限公司（下文稱“航順芯片”）HK32AUTO39A家族產(chǎn)品經(jīng)第三方權(quán)威檢測(cè)機(jī)構(gòu)廣電計(jì)量檢測(cè)集團(tuán)（下文稱“廣電計(jì)量”）嚴(yán)格的可靠性標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試，順利完成AEC-Q100 Grade 1 -40~125℃車規(guī)認(rèn)證。
2023-11-28 15:06:03349 
如何判斷標(biāo)準(zhǔn)PoE供電交換機(jī)的可靠性？ 隨著物聯(lián)網(wǎng)和智能家居的快速發(fā)展，越來越多的設(shè)備需要使用到以太網(wǎng)供電（Power over Ethernet，PoE）交換機(jī)。在選擇合適的PoE交換機(jī)時(shí)，評(píng)估
2023-11-28 14:18:46263 柵既解決柵極氧化層的可靠性問題、又提高了SiCMOSFET的性能?增強(qiáng)型M1HCoolSiC芯片又“強(qiáng)“在哪里？英飛凌零碳工業(yè)功率事業(yè)部高級(jí)工程師趙佳女士，在2023英
2023-11-28 08:13:57372 
，應(yīng)盡量簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)化電路和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使每個(gè)部件都成為最簡(jiǎn)設(shè)計(jì)。當(dāng)今世界流行的模塊化設(shè)計(jì)方法是提高設(shè)備可靠性的有效措施。塊功能相對(duì)單一，系統(tǒng)由模塊組成，可以減少設(shè)計(jì)的復(fù)雜性，將設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)化、規(guī)范化
2023-11-22 06:29:05
到酷熱的沙漠地帶都有可能面對(duì)，溫度極大程度上影響車規(guī)芯片的性能和可靠性。下面將詳細(xì)介紹車規(guī)芯片三溫測(cè)試的意義和重要性。 首先，理解三溫測(cè)試的概念。三溫測(cè)試是指在惡劣和極端溫度環(huán)境下對(duì)車規(guī)芯片的性能和可靠性進(jìn)行
2023-11-21 16:10:482596 芯片出廠前的測(cè)試主要包括芯片功能測(cè)試、性能測(cè)試和可靠性測(cè)試，這三大類測(cè)試是缺一不可的。
2023-11-21 14:53:36242 如何提升基于DC-DC模塊的電源系統(tǒng)的可靠性？ 基于DC-DC模塊的電源系統(tǒng)可靠性是關(guān)乎設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行的重要因素。為了提高可靠性，我們可以從設(shè)計(jì)、選型、制造、測(cè)試和維護(hù)等方面進(jìn)行優(yōu)化和改進(jìn)。以下是一些
2023-11-17 14:35:58323 器件可靠性驗(yàn)證是GR-468最重要的一個(gè)項(xiàng)目，標(biāo)準(zhǔn)對(duì)光電子器件可靠性試驗(yàn)的執(zhí)行程序與主要項(xiàng)目（測(cè)試項(xiàng)，試驗(yàn)條件，樣本量等）進(jìn)行了說明。主要測(cè)試內(nèi)容分為器件性能測(cè)試、器件應(yīng)力測(cè)試和器件加速老化測(cè)試。
2023-11-10 17:47:27628 可靠性測(cè)試是半導(dǎo)體器件測(cè)試的一項(xiàng)重要測(cè)試內(nèi)容，確保半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性，保證其在各類環(huán)境長(zhǎng)時(shí)間工作下的穩(wěn)定性。半導(dǎo)體可靠性測(cè)試項(xiàng)目眾多，測(cè)試方法多樣，常見的有高低溫測(cè)試、熱阻測(cè)試、機(jī)械沖擊測(cè)試、引線鍵合強(qiáng)度測(cè)試等。
2023-11-09 15:57:52744 
芯片的老化試驗(yàn)及可靠性如何測(cè)試？ 芯片的老化試驗(yàn)及可靠性測(cè)試是評(píng)估芯片性能和使用壽命的關(guān)鍵步驟。老化試驗(yàn)旨在模擬芯片在長(zhǎng)期使用過程中可能遭遇的各種環(huán)境和應(yīng)激，并確定芯片的可靠性和耐久性。本文將詳細(xì)
2023-11-09 09:12:011120 機(jī)械溫控開關(guān)的可靠性有多少？我看溫控開關(guān)的體積很小，價(jià)格便宜，可以用于一些溫度控制方面，不過可靠性有多少呢？
2023-10-31 06:37:26
電學(xué)測(cè)試是芯片測(cè)試的一個(gè)重要環(huán)節(jié)，用來描述和評(píng)估芯片的電性能、穩(wěn)定性和可靠性。芯片電學(xué)測(cè)試包括直流參數(shù)測(cè)試、交流參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字信號(hào)性能測(cè)試等。
2023-10-26 15:34:14629 半導(dǎo)體器件可靠性測(cè)試指的是評(píng)估半導(dǎo)體器件在不同工作條件下的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和可靠性的一系列測(cè)試和分析方法。這些測(cè)試旨在確保半導(dǎo)體器件在其設(shè)計(jì)壽命內(nèi)能夠正常運(yùn)行，不會(huì)出現(xiàn)意外故障，從而滿足用戶和應(yīng)用的需求
2023-10-25 09:19:15635 
智能鑰匙是一種新型的智能家居設(shè)備，它使你可以通過手機(jī)或者其他智能設(shè)備輕松地控制你的房門、車門、辦公室等入口。智能鑰匙可以提供更加便捷、安全和智能化的操作方式，但是這種設(shè)備并非完美無(wú)缺，它也面臨著一些風(fēng)險(xiǎn)和缺陷，需要經(jīng)過可靠性測(cè)試，確保它能夠可靠地運(yùn)行。
2023-10-17 14:07:57239 
電子元器件可靠性測(cè)試是保證元器件性能和質(zhì)量的一個(gè)重要測(cè)試項(xiàng)目，同時(shí)也是電子設(shè)備可靠性的基礎(chǔ)。常見的可靠性測(cè)試項(xiàng)目有機(jī)械沖擊測(cè)試、高溫存儲(chǔ)測(cè)試、溫度循壞測(cè)試、引線鍵合強(qiáng)度測(cè)試等。
2023-10-11 14:49:05350 
基于可靠性試驗(yàn)所用的菊花鏈測(cè)試結(jié)構(gòu)，對(duì)所設(shè)計(jì)的扇出型封裝結(jié)構(gòu)進(jìn)行了完整的菊花鏈芯片制造及后道組裝工藝制造，并對(duì)不同批次、不同工藝參數(shù)條件下的封裝樣品進(jìn)行電學(xué)測(cè)試表征、可靠性測(cè)試和失效樣品分析。
2023-10-08 10:18:15217 
通過PLC組態(tài)軟件提高系統(tǒng)可靠性的幾項(xiàng)措施
2023-09-25 06:26:12
電流探頭是一種用于測(cè)量電路中電流的設(shè)備，通常與萬(wàn)用表或示波器一起使用。它是一個(gè)重要的測(cè)試工具，因此必須進(jìn)行驗(yàn)證以確保其可靠性。
2023-09-22 10:53:07242 
服務(wù)內(nèi)容廣電計(jì)量是國(guó)內(nèi)振動(dòng)試驗(yàn)?zāi)芰^完善的權(quán)威檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)機(jī)構(gòu)之一，配備了（1~35）噸不同推力的振動(dòng)臺(tái)，可滿足不同尺寸、重量的樣品的振動(dòng)測(cè)試需求。服務(wù)范圍本商品可提供針對(duì)家用電器、汽車零部件、線束
2023-09-21 16:52:00
龍騰半導(dǎo)體建有功率器件可靠性與應(yīng)用實(shí)驗(yàn)中心，專注于產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證、參數(shù)檢測(cè)、可靠性驗(yàn)證、失效分析及應(yīng)用評(píng)估，公司參考半導(dǎo)體行業(yè)可靠性試驗(yàn)條件和抽樣原則，制定產(chǎn)品可靠性規(guī)范并依此對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行完整可靠性驗(yàn)證。
2023-09-20 16:29:21808 
硬件IIC與軟件IIC在使用上的區(qū)別，對(duì)產(chǎn)品可靠性與效率的影響
2023-09-20 07:53:05
MCU可靠性設(shè)計(jì)——小芯片里的大學(xué)問
2023-09-18 10:58:41264 
(MGEQ1C064AD48)于今年6月已獲AEC-Q100 Grade2車規(guī)級(jí)可靠性認(rèn)證，滿足安全標(biāo)準(zhǔn)車規(guī)級(jí)MCU的功能，近期也正導(dǎo)入試產(chǎn)中，預(yù)計(jì)今年第4季可實(shí)現(xiàn)規(guī)模量產(chǎn)。
表1_車規(guī)等級(jí)芯片要求
資料來源: 方正證券
2023-09-15 12:04:18
和多功能化要求，以及無(wú)鉛、無(wú)鹵進(jìn)程的推動(dòng)，對(duì)PCB可靠性的要求會(huì)越來越高，因此如何快速定位PCB可靠性問題并作相應(yīng)的可靠性提升成為PCB企業(yè)的重要課題之一。
2023-08-31 15:46:08521 smt電子元器件焊接可靠性判斷標(biāo)準(zhǔn)有哪些
2023-08-22 11:35:22815 
碳化硅作為第三代半導(dǎo)體經(jīng)典的應(yīng)用，具有眾多自身優(yōu)勢(shì)和技術(shù)優(yōu)勢(shì)，它所制成的功率器件在生活中運(yùn)用十分廣泛，越來越無(wú)法離開，因此使用碳化硅產(chǎn)品的穩(wěn)定性在一定程度上也決定了生活的質(zhì)量。作為高尖精的產(chǎn)品，芯片的可靠性測(cè)試貫徹始終，從設(shè)計(jì)到選材再到最后的出產(chǎn)，那研發(fā)過程中具體需要做哪些測(cè)試呢
2023-08-18 09:52:23750 
從以前的模式中進(jìn)行掃描，然后掃描除第一種以外的所有以及測(cè)試程序中的最后一個(gè)模式。
2023-08-11 09:38:02553 
壽命測(cè)試是一種重要的可靠性測(cè)試方法，用于評(píng)估組件、子系統(tǒng)或系統(tǒng)在預(yù)期或指定的使用壽命條件下的性能和可靠性。壽命測(cè)試旨在模擬實(shí)際應(yīng)用環(huán)境中物品所面臨的各種因素和應(yīng)力，例如時(shí)間、溫度、振動(dòng)、沖擊、電壓等，并通過持續(xù)的測(cè)試和監(jiān)測(cè)來觀察物品在這些條件下的行為。
2023-08-01 16:31:20505 季豐電子面向客戶提供完整的半導(dǎo)體工藝可靠性測(cè)試、驗(yàn)證和咨詢服務(wù)，可有效縮短制造工藝和器件開發(fā)的時(shí)間，加速客戶產(chǎn)品投入市場(chǎng)的進(jìn)程周期。 ? 工藝可靠性業(yè)務(wù)主要基于行業(yè)通用及客戶定制標(biāo)準(zhǔn)、產(chǎn)品、工藝特點(diǎn)
2023-07-23 11:16:121376 
前言 光器件的可靠性標(biāo)準(zhǔn)中，我們最常接觸的應(yīng)該就是GR-468和GR-1209/1221了。GR-468重點(diǎn)講了有源器件的可靠性要求，而GR-1209/1221重點(diǎn)講無(wú)源器件的可靠性要求。雖然涵蓋
2023-07-20 18:10:43889 
固有可靠性指的是什么？指的是在生產(chǎn)過程中已經(jīng)確立的可靠性，它是產(chǎn)品內(nèi)在的可靠性，是生產(chǎn)廠家模擬實(shí)際工作條件的標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境下，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行檢查并給予保證的可靠性。固有可靠性由電子元器件的生產(chǎn)單位電子元器件
2023-07-17 09:16:08850 
在半導(dǎo)體器件中，常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。 在大多數(shù)情況下，加速測(cè)試不改變故障的物理特性，但會(huì)轉(zhuǎn)移觀察時(shí)間。 加速條件和正常使用條件之間的轉(zhuǎn)移稱為“降額”。那么半導(dǎo)體可靠性測(cè)試有哪些？讓凱智通小編告訴你~
2023-07-13 14:47:182544 
安全性促進(jìn)可靠性設(shè)計(jì)：安全性要求通常會(huì)推動(dòng)可靠性設(shè)計(jì)的實(shí)施。為了滿足安全性要求，產(chǎn)品設(shè)計(jì)人員需要考慮風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估、故障預(yù)防和容錯(cuò)設(shè)計(jì)等措施。這些措施有助于提高產(chǎn)品的可靠性，減少故障率，增加產(chǎn)品在不安全環(huán)境下的穩(wěn)定性和可用性。
2023-07-12 10:44:132790 設(shè)備的可靠性涉及多個(gè)方面：穩(wěn)定的硬件、優(yōu)秀的軟件架構(gòu)、嚴(yán)格的測(cè)試以及市場(chǎng)和時(shí)間的檢驗(yàn)等等。
2023-07-11 10:09:32212 電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試是為了評(píng)估產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間內(nèi)，在預(yù)期的使用、運(yùn)輸或儲(chǔ)存等所有環(huán)境下，保持功能可靠性而進(jìn)行的活動(dòng)。是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境條件下經(jīng)受其作用，以評(píng)價(jià)產(chǎn)品在實(shí)際使用、運(yùn)輸
2023-07-04 14:30:441184 目標(biāo)到2025年,重點(diǎn)行業(yè)關(guān)鍵核心產(chǎn)品的可靠性水平明顯提升，可靠性標(biāo)準(zhǔn)體系基本建立，企業(yè)質(zhì)量與可靠性管理能力不斷增強(qiáng)，可靠性試驗(yàn)驗(yàn)證能力大幅提升，專業(yè)人才隊(duì)伍持續(xù)壯大。
2023-07-04 11:26:39313 
到2030年，10類關(guān)鍵核心產(chǎn)品可靠性水平達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平，可靠性標(biāo)準(zhǔn)引領(lǐng)作用充分彰顯，培育一批可靠性公共服務(wù)機(jī)構(gòu)和可靠性專業(yè)人才，我國(guó)制造業(yè)可靠性整體水平邁上新臺(tái)階，成為支撐制造業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的重要引擎。
2023-07-04 11:15:07471 車規(guī)級(jí)功率器件未來發(fā)展趨勢(shì)
材料方面: SiC和GaN是必然趨勢(shì)，GaAs在細(xì)分領(lǐng)域有可能
●封裝方面:高功率密度、高可靠性和定制化
●評(píng)測(cè)方面:多應(yīng)力綜合測(cè)試方法、新型結(jié)溫測(cè)試方法和技術(shù)
●進(jìn)展方面:國(guó)產(chǎn)在趕超進(jìn)口(參數(shù)和性能)，可靠性還需要時(shí)間沉淀
2023-07-04 10:48:05415 
在芯片測(cè)試中，分類和選擇是關(guān)鍵的步驟，以確保芯片的質(zhì)量和可靠性。根據(jù)不同的測(cè)試目標(biāo)和要求，可以采用不同的分類方法和選擇策略。
2023-06-30 13:50:22478 芯片封裝測(cè)試是在芯片制造過程的最后階段完成的一項(xiàng)重要測(cè)試，它主要用于驗(yàn)證芯片的封裝質(zhì)量和功能可靠性。芯片封裝測(cè)試包括以下主要方面。
2023-06-28 13:49:561167 拉力試驗(yàn)機(jī)夾具的初始距離、材質(zhì)、規(guī)格、定制、種類、廠家等因素都對(duì)測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性具有重要影響。在使用拉力試驗(yàn)機(jī)夾具時(shí)，需要根據(jù)被測(cè)物體的特性和測(cè)試要求，選擇合適的夾具，確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。
2023-06-27 13:37:29459 
IEC 62308的范圍規(guī)定“本標(biāo)準(zhǔn)描述了項(xiàng)目的可靠性評(píng)估方法。適用于任務(wù)、安全、業(yè)務(wù)關(guān)鍵、高完整性、復(fù)雜電子產(chǎn)品。它包含有關(guān)為什么需要可靠性以及如何以及在何處使用評(píng)估結(jié)果的信息。最后，它詳細(xì)說明了如何選擇可靠性評(píng)估方法以及支持評(píng)估所需的數(shù)據(jù)。
2023-06-27 09:55:11508 
單片GaN器件集成驅(qū)動(dòng)功率轉(zhuǎn)換的效率、密度和可靠性
2023-06-21 09:59:28
通過集成和應(yīng)用相關(guān)壓力測(cè)試的GaN可靠性
2023-06-21 06:02:18
GaNPower集成電路的可靠性測(cè)試與鑒定
2023-06-19 11:17:46
GaN功率集成電路可靠性的系統(tǒng)方法
2023-06-19 06:52:09
，保險(xiǎn)絲/熔斷器提供必要的過負(fù)載保護(hù)。最新的AEC-Q200修訂版E確定了保險(xiǎn)絲/熔斷器廠商的測(cè)試要求，并確保符合AEC-Q200認(rèn)證的保險(xiǎn)絲/熔斷器能高標(biāo)準(zhǔn)地滿足耐用性和可靠性。本文介紹了汽車電子理事會(huì)、AEC-Q200標(biāo)準(zhǔn)及其新修訂版E。 ? 當(dāng)今汽車電氣化供電需求復(fù)雜而
2023-06-15 16:53:541009 
封裝可靠性設(shè)計(jì)是指針對(duì)集成電路使用中可能出現(xiàn)的封裝失效模式，采取相應(yīng)的設(shè)計(jì)技術(shù)，消除或控制失效模式，使集成電路滿足規(guī)定的可靠性要求所采取的技術(shù)活動(dòng)。
2023-06-15 08:59:55505 芯片功能測(cè)試常用5種方法有板級(jí)測(cè)試、晶圓CP測(cè)試、封裝后成品FT測(cè)試、系統(tǒng)級(jí)SLT測(cè)試、可靠性測(cè)試。
2023-06-09 16:25:42
芯片功能測(cè)試常用5種方法有板級(jí)測(cè)試、晶圓CP測(cè)試、封裝后成品FT測(cè)試、系統(tǒng)級(jí)SLT測(cè)試、可靠性測(cè)試。
2023-06-09 15:46:581663 
提高可靠性最簡(jiǎn)單的方法就是把文件系統(tǒng)設(shè)置為只讀狀態(tài)。即禁止對(duì)其中的內(nèi)容作任何修改。這樣，文件系統(tǒng)便不會(huì)因?qū)懭氩僮髌陂g發(fā)生故障而受損。
2023-06-08 09:49:51860 
軍用電子元器件二篩，二次篩選試驗(yàn)，進(jìn)口元器件可靠性篩選試驗(yàn)
按性質(zhì)分類：
（1）檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、X射線非破壞性檢查。
（2）密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示蹤檢漏
2023-06-08 09:17:22
芯片測(cè)試治具是一種用于芯片測(cè)試的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備，可以實(shí)現(xiàn)芯片的功能測(cè)試、參數(shù)測(cè)試和性能測(cè)試，它可以幫助電子工程師驗(yàn)證芯片的性能和可靠性，實(shí)現(xiàn)芯片的精確測(cè)試和優(yōu)化。
2023-05-30 15:26:25453 試驗(yàn)，電壓暫降測(cè)試，騷擾功率試驗(yàn)，電磁抗擾試驗(yàn)室，射頻測(cè)試，電磁場(chǎng)輻射試驗(yàn)，抗繞度試驗(yàn)，電瞬態(tài)干擾試驗(yàn)，插入損耗試驗(yàn)等。
可靠性試驗(yàn)/可靠性測(cè)試：
可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)，加速壽命試驗(yàn)（halt），環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)（ess），可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)，可靠性鑒定試驗(yàn)，可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)。
2023-05-23 15:55:57
可靠性測(cè)試對(duì)于芯片的制造和設(shè)計(jì)過程至關(guān)重要。通過進(jìn)行全面而嚴(yán)格的可靠性測(cè)試，可以提前發(fā)現(xiàn)并解決潛在的設(shè)計(jì)缺陷、制造問題或環(huán)境敏感性，從而確保芯片在長(zhǎng)期使用中的性能和可靠性。
2023-05-20 16:47:5211453 
課程名稱：《硬件電路可靠性設(shè)計(jì)、測(cè)試與案例分析》講師：王老師時(shí)間地點(diǎn)：北京6月15日-17日主辦單位：賽盛技術(shù)課程特色1.案例多，案例均來自于電路設(shè)計(jì)缺陷導(dǎo)致的實(shí)際產(chǎn)品可靠性問題2.課程內(nèi)容圍繞電路
2023-05-18 10:40:50350 
我想知道產(chǎn)品MPC5200CVR400B和PCF8582C-2T/03的MTBF或FIT值來做可靠性預(yù)測(cè)工作
2023-05-17 08:49:55
支持系統(tǒng)的導(dǎo)航設(shè)備和立體成像設(shè)備中。
?不同位置的PCB的不同可靠性要求
就公共安全而言，汽車屬于高可靠性產(chǎn)品類別，因此，汽車PCB必須通過一些可靠性測(cè)試，而尺寸，尺寸，機(jī)械和電氣性能等一般
2023-04-24 16:34:26
昂貴且復(fù)雜的離散互連電纜會(huì)降低設(shè)計(jì)的可靠性，增加設(shè)計(jì)成本和總體設(shè)計(jì)尺寸。幸運(yùn)的是，還有其他形式的柔性和柔性剛硬的PCB.柔性PCB可以為您提供滿足您的設(shè)計(jì)互連要求的經(jīng)濟(jì)高效且方便的解決方案，并
2023-04-21 15:52:50
點(diǎn)擊藍(lán)字關(guān)注我們SUBSCRIBEtoUSLED汽車照明市場(chǎng)在最近幾年得到了飛速的發(fā)展,LED器件在符合汽車照明標(biāo)準(zhǔn)體系的同時(shí)，也面臨著成本和可靠性方面的多重挑戰(zhàn)。一、LED汽車照明標(biāo)準(zhǔn)體系1.國(guó)際
2023-04-21 09:22:30366 
PCB設(shè)計(jì)中的可靠性有哪些？ 實(shí)踐證明，即使電路原理圖設(shè)計(jì)正確，如果PCB設(shè)計(jì)不當(dāng)，也會(huì)對(duì)電子設(shè)備的可靠性產(chǎn)生不利的影響。舉個(gè)簡(jiǎn)單的例子，如果PCB兩條細(xì)平行線靠得很近的話，則會(huì)造成信號(hào)波形
2023-04-10 16:03:54
半導(dǎo)體元器件在高溫環(huán)境下的可靠性是制造商和用戶十分關(guān)注的問題。高溫試驗(yàn)是一種常用的測(cè)試方法，通過模擬實(shí)際使用中的高溫環(huán)境，可以評(píng)估元器件在高溫下的性能和可靠性。高溫試驗(yàn)需要仔細(xì)設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)方案，包括選擇
2023-04-07 10:21:03766 
我想知道這些設(shè)備的可靠性數(shù)據(jù)，例如 MTBF 和 FIT，BSS138PW BSS84AKW，115
2023-04-03 08:12:35
可靠性/可用性驗(yàn)證測(cè)試FIT:定義及目的
FIT (Fault Injection Test) :故障注入測(cè)試,通過向系統(tǒng)注入在實(shí)際應(yīng)用中可能發(fā)生的故障,觀察系統(tǒng)功能性能變化,故
障檢測(cè)、定位、隔離以及故障恢復(fù)情況，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷、評(píng)估系統(tǒng)可靠性的測(cè)試方法。
2023-03-29 09:18:47589 電子產(chǎn)品的可靠性和可用性。 射頻組件測(cè)試的目的 射頻組件測(cè)試的目的是確保射頻組件的性能符合要求，以確保電子產(chǎn)品的可靠性和可用性。射頻組件測(cè)試的主要內(nèi)容包括射頻組件的發(fā)射功率測(cè)試、射頻組件的接收靈敏度測(cè)試、射
2023-03-28 16:33:16362 
嗨，我在哪里可以獲得以下芯片的可靠性測(cè)試報(bào)告？FS32K144HAT0MLHTPCA85073ADPTJA1044GT/3
2023-03-23 06:20:13
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