測(cè)試設(shè)備 射頻信號(hào)發(fā)生器
2024-03-14 23:16:13
測(cè)試設(shè)備 射頻信號(hào)發(fā)生器
2024-03-14 23:16:12
現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 灌溉測(cè)試儀套件
2024-03-14 22:12:01
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
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測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
一、前言 輻射抗擾度測(cè)試是對(duì)對(duì)講機(jī)、移動(dòng)電話(huà)、便攜式電話(huà)和廣播發(fā)射機(jī)等強(qiáng)發(fā)射機(jī)產(chǎn)生的射頻場(chǎng)的模擬。 二、測(cè)試方法 在輻射抗擾度測(cè)試期間，測(cè)試電波暗室中會(huì)產(chǎn)生射頻場(chǎng)。不同的EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)使用不
2024-03-11 15:03:06
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有沒(méi)有max2121射頻芯片寄存器配置實(shí)例啊，為什么我配置完測(cè)試不到信號(hào)
2024-03-07 17:44:39
羅德與施瓦茨（以下簡(jiǎn)稱(chēng)“R&S”）推出兩種用于 5G RF 和 RRM 一致性測(cè)試的測(cè)試系統(tǒng)。R&S TS8980S-4A 是專(zhuān)為 3GPP 帶內(nèi)測(cè)試用例定制的經(jīng)濟(jì)高效的一體化解決方案，
2024-02-28 18:22:36859 探針測(cè)試臺(tái)是一種用于測(cè)試集成電路（IC）的設(shè)備，工作原理是將待測(cè)試的IC芯片安裝在測(cè)試座上，然后通過(guò)探針接觸到芯片的引腳，以測(cè)試芯片的功能和性能。在測(cè)試過(guò)程中，探針測(cè)試臺(tái)會(huì)生成一系列的測(cè)試信號(hào)，通過(guò)
2024-02-04 15:14:19234 在無(wú)線(xiàn)通信領(lǐng)域，微波射頻測(cè)試電纜是一種常見(jiàn)的高精度系統(tǒng)測(cè)試耗材，與測(cè)試儀器配套使用。最常見(jiàn)的微波設(shè)備有泰克、是德，羅德與施瓦茨的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和掃頻儀等。任何DUT都位于信號(hào)發(fā)生器和分析儀之間
2024-01-15 10:18:36160 
泰凌微電子的產(chǎn)測(cè)工具默認(rèn)提供了多個(gè)產(chǎn)測(cè)固件，比如測(cè)試射頻RF，測(cè)試低功耗電流，這些屬于前置測(cè)試，即測(cè)試PCBA硬件是否存在異常。
2024-01-03 09:04:14307 
RF遙控是否屬于無(wú)線(xiàn)射頻呢？ RF遙控是一種無(wú)線(xiàn)射頻技術(shù)，被廣泛應(yīng)用于無(wú)線(xiàn)控制和通信領(lǐng)域。 第一部分：RF遙控的基本原理 在了解RF遙控之前，我們需要先了解什么是射頻（RF）技術(shù)。射頻是指處于高頻
2023-12-29 14:29:48446 二極管射頻測(cè)試電路是用來(lái)測(cè)試射頻信號(hào)的電路，它的輸出功率可以通過(guò)測(cè)量電路中的電壓和電流來(lái)計(jì)算得出。
2023-12-08 09:11:57214 在射頻(Radio Frequency，RF)電路中，LCR測(cè)試在確保無(wú)線(xiàn)應(yīng)用性能方面起著重要作用。射頻電路涉及到高頻信號(hào)的處理和傳輸，因此對(duì)電感(Inductance)、電容
2023-12-04 14:28:45208 
汽車(chē)功能安全芯片測(cè)試? 汽車(chē)功能安全芯片測(cè)試是保障汽車(chē)安全性能的重要環(huán)節(jié)，也是汽車(chē)產(chǎn)業(yè)發(fā)展的關(guān)鍵部分。隨著汽車(chē)智能化技術(shù)的不斷進(jìn)步，車(chē)輛上搭載的各種智能功能也越來(lái)越多，這些功能倚賴(lài)于安全芯片來(lái)保障
2023-11-21 16:10:511066 車(chē)規(guī)芯片為什么要進(jìn)行三溫測(cè)試？ 車(chē)規(guī)芯片，也被稱(chēng)為汽車(chē)惡劣環(huán)境芯片，是一種專(zhuān)門(mén)用于汽車(chē)電子系統(tǒng)的集成電路芯片。車(chē)規(guī)芯片需要進(jìn)行三溫測(cè)試，是因?yàn)槠?chē)工作環(huán)境極其復(fù)雜，溫度變化范圍廣，從極寒的寒冷地區(qū)
2023-11-21 16:10:482595 芯片出廠前的測(cè)試主要包括芯片功能測(cè)試、性能測(cè)試和可靠性測(cè)試，這三大類(lèi)測(cè)試是缺一不可的。
2023-11-21 14:53:36242 電源芯片測(cè)試旨在檢測(cè)電源管理芯片的質(zhì)量和性能，保證其可以長(zhǎng)期穩(wěn)定工作。電源芯片測(cè)試的參數(shù)主要有輸入/輸出電壓、輸出電流、效率、溫度、功耗等。本文將對(duì)電源芯片測(cè)試參數(shù)以及測(cè)試注意事項(xiàng)進(jìn)行介紹。
2023-11-15 15:39:11599 為什么要測(cè)試芯片上下電功能？芯片上電和下電功能測(cè)試的重要性? 芯片上下電功能測(cè)試是集成電路設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。它是確保芯片在正常的上電和下電過(guò)程中能夠正確地執(zhí)行各種操作和功能的關(guān)鍵部分
2023-11-10 15:36:30590 為什么需要芯片靜態(tài)功耗測(cè)試？如何使用芯片測(cè)試工具測(cè)試芯片靜態(tài)功耗？ 芯片靜態(tài)功耗測(cè)試是評(píng)估芯片功耗性能和優(yōu)化芯片設(shè)計(jì)的重要步驟。在集成電路設(shè)計(jì)中，靜態(tài)功耗通常是指芯片在不進(jìn)行任何操作時(shí)消耗的功率
2023-11-10 15:36:271117 如何用集成電路芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化？ 集成電路芯片老化測(cè)試系統(tǒng)是一種用于評(píng)估芯片長(zhǎng)期使用后性能穩(wěn)定性的測(cè)試設(shè)備。隨著科技的進(jìn)步和電子產(chǎn)品的廣泛應(yīng)用，人們對(duì)芯片的可靠性要求日益增高，因此老化測(cè)試
2023-11-10 15:29:05680 Arduino使用tft觸摸屏的轉(zhuǎn)換座如何DIY 手頭一個(gè)ili9341的tft屏幕使用16位8080并口 如何連接到ArduinO
2023-11-10 06:26:49
如何測(cè)試電源芯片負(fù)載調(diào)整率呢？有哪些測(cè)試規(guī)范呢？ 電源芯片的負(fù)載調(diào)整率是指電源芯片在負(fù)載變化時(shí)，輸出電壓的調(diào)整速度。測(cè)試電源芯片的負(fù)載調(diào)整率是非常重要的，它能夠評(píng)估電源芯片在實(shí)際使用中對(duì)負(fù)載變化
2023-11-09 15:30:46630 芯片電學(xué)測(cè)試如何進(jìn)行？包含哪些測(cè)試內(nèi)容？ 芯片電學(xué)測(cè)試是對(duì)芯片的電學(xué)性能進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估的過(guò)程。它是保證芯片質(zhì)量和可靠性的重要環(huán)節(jié)，通過(guò)測(cè)試可以驗(yàn)證芯片的功能、性能和穩(wěn)定性，從而確保芯片可以在實(shí)際
2023-11-09 09:36:48676 IC芯片測(cè)試基本原理是什么？ IC芯片測(cè)試是指對(duì)集成電路芯片進(jìn)行功能、可靠性等方面的驗(yàn)證和測(cè)試，以確保其正常工作和達(dá)到設(shè)計(jì)要求。IC芯片測(cè)試的基本原理是通過(guò)引入測(cè)試信號(hào)，檢測(cè)和分析芯片的響應(yīng)，以判斷
2023-11-09 09:18:37903 藍(lán)牙測(cè)試儀是專(zhuān)門(mén)對(duì)于藍(lán)牙信號(hào)，RF射頻等進(jìn)行綜合測(cè)試的電子儀器。 掌握藍(lán)牙測(cè)試儀是部分硬件工程師，特別是RF射頻硬件工程師一個(gè)必備的技能了。 那要如何操作藍(lán)牙測(cè)試儀呢？ 這里以一款以前市場(chǎng)上比較流行
2023-11-07 11:14:46425 
預(yù)灌封注射器針與針座連接力測(cè)試儀注射針斷裂力和連接牢固度測(cè)試儀是一款專(zhuān)門(mén)用于檢測(cè)注射針斷裂力和連接牢固度的儀器，它在醫(yī)療、科研和工業(yè)制造等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。本文將介紹注射針斷裂力和連接牢固度測(cè)試
2023-11-01 15:11:42
針座連接牢固度測(cè)試儀 注射針斷裂力和連接牢固度測(cè)試儀是一款專(zhuān)門(mén)用于檢測(cè)注射針斷裂力和連接牢固度的儀器，它在醫(yī)療、科研和工業(yè)制造等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。本文將介紹注射針斷裂力和連接牢固度測(cè)試
2023-11-01 14:51:35
使用漢仁的以太網(wǎng)帶變壓器的接口座，插上網(wǎng)線(xiàn)沒(méi)反應(yīng)
2023-10-31 07:18:42
電學(xué)測(cè)試是芯片測(cè)試的一個(gè)重要環(huán)節(jié)，用來(lái)描述和評(píng)估芯片的電性能、穩(wěn)定性和可靠性。芯片電學(xué)測(cè)試包括直流參數(shù)測(cè)試、交流參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字信號(hào)性能測(cè)試等。
2023-10-26 15:34:14629 芯片電源電流測(cè)試是為了測(cè)試S.M.P.S.的輸入電流有效值INPUT CURRENT。電流測(cè)試是芯片電源測(cè)試的項(xiàng)目之一，用來(lái)檢測(cè)電路或設(shè)備的電流負(fù)載是否正常，保證其正常工作防止過(guò)載，評(píng)估芯片電源的電氣特性。
2023-10-25 16:54:54620 
什么射頻信號(hào)測(cè)試要用示波器？如何使用示波器進(jìn)行射頻信號(hào)測(cè)試？ 射頻信號(hào)指的是高頻電磁波信號(hào)，在通信、廣播、雷達(dá)、無(wú)線(xiàn)電等領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用。由于射頻信號(hào)具有高頻、高帶寬、復(fù)雜波形等特點(diǎn)，因此進(jìn)行射頻
2023-10-20 15:07:58861 網(wǎng)分的射頻輸出功率如何設(shè)置？改動(dòng)射頻輸出功率，對(duì)測(cè)試參數(shù)有什么影響？ 網(wǎng)分器是一種常用的高頻器件，它可以將輸入的高頻信號(hào)分成兩個(gè)或多個(gè)輸出端口，用于進(jìn)行不同的測(cè)試或應(yīng)用。網(wǎng)分器的射頻輸出功率是指在
2023-10-20 14:44:20558 在很多的藍(lán)牙應(yīng)用場(chǎng)景中，客戶(hù)使用外置PA芯片，通過(guò)提升射頻的發(fā)射功率，以實(shí)現(xiàn)增加藍(lán)牙產(chǎn)品距離的目的。但在生產(chǎn)階段帶PA的板子偶爾會(huì)遇到射頻測(cè)試不過(guò)的情況。那如何對(duì)帶外置PA芯片的產(chǎn)品進(jìn)行射頻RF測(cè)試
2023-10-11 08:40:02731 
芯片測(cè)試座，又稱(chēng)為IC測(cè)試座、芯片測(cè)試夾具或DUT夾具，是一種用于測(cè)試集成電路（IC）或其他各種類(lèi)型的半導(dǎo)體器件的設(shè)備。它為芯片提供了一個(gè)穩(wěn)定的物理和電氣接口，使得在不造成芯片或測(cè)試設(shè)備損傷的情況下
2023-10-07 09:29:44805 
RF射頻無(wú)線(xiàn)終端技術(shù)操作指南，包含測(cè)試方案和電路圖集
2023-09-26 06:53:18
注射針與針座連接牢固度測(cè)試 醫(yī)藥包裝撕拉力測(cè)試儀是專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于測(cè)試藥品包裝材料的性能和質(zhì)量的一款強(qiáng)大儀器。其應(yīng)用范圍廣泛，涵蓋了安瓿瓶、丁基膠塞、鋁塑組合蓋、聚丙烯組合蓋、薄膜、復(fù)合膜
2023-09-25 15:42:08
針與針座連接牢固度測(cè)試儀 品質(zhì)可靠/濟(jì)南三泉智能科技有限公司 YYL-03醫(yī)療器械性能測(cè)試儀配有多功能觸摸屏控制，更方便快捷操作界面設(shè)備配有微型打印機(jī)，可適時(shí)打印實(shí)驗(yàn)結(jié)果
2023-09-22 10:46:30
隨著寬帶通信的不斷發(fā)展，變頻器件在各種通信系統(tǒng)中廣泛應(yīng)用。 作為通用器件的重要部分，變頻器的測(cè)試除了傳統(tǒng)連續(xù)波激勵(lì)下的射頻參數(shù)特性測(cè)試之外，還包含了在多音或?qū)拵д{(diào)制信號(hào)激勵(lì)下的失真測(cè)試，NPR
2023-09-20 07:40:05322 
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《STM32WL LoRa RF測(cè)試.pdf》資料免費(fèi)下載
2023-09-19 14:45:19
2 射頻芯片主要應(yīng)用于無(wú)線(xiàn)通信和雷達(dá)系統(tǒng)等領(lǐng)域，其性能直接影響到通信系統(tǒng)的質(zhì)量。而ATECLOUD-IC會(huì)針對(duì)芯片射頻自動(dòng)化測(cè)試提供一站式軟硬件解決方案，實(shí)現(xiàn)高效快速的自動(dòng)化測(cè)試，并且給予結(jié)果反饋。
2023-09-12 18:44:37329 
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《RF天線(xiàn)座4代板端 RF射頻座子圖紙.pdf》資料免費(fèi)下載
2023-08-28 16:02:330 芯片封裝測(cè)試有技術(shù)含量嗎？封裝測(cè)試是干嘛的？? 芯片封裝測(cè)試是指針對(duì)生產(chǎn)出來(lái)的芯片進(jìn)行封裝，并且對(duì)封裝出來(lái)的芯片進(jìn)行各種類(lèi)型的測(cè)試。封裝測(cè)試是芯片生產(chǎn)過(guò)程中非常關(guān)鍵的一環(huán)，而且也需要高度的技術(shù)含量
2023-08-24 10:41:572310 BGA老化座中的BGA全稱(chēng)是BallGridArray(球柵陣列結(jié)構(gòu)的PCB)，它是集成電路采用有機(jī)載板的一種封裝法。那么這種老化座有什么優(yōu)勢(shì)呢?
?緊湊型設(shè)計(jì)，提高老化測(cè)試板容量
2023-08-22 13:32:03
芯片測(cè)試座（Chip Test Socket）是一種用于測(cè)試集成電路芯片（IC）的裝置。它通常由一個(gè)金屬底盤(pán)和一個(gè)或多個(gè)針腳組成，針腳與IC的引腳相連，以便將IC連接到測(cè)試設(shè)備上。
2023-08-14 11:07:52524 
IC測(cè)試座是電子產(chǎn)品中不可或缺的一部分，以下是我們?cè)谑褂肐C測(cè)試座時(shí)應(yīng)該注意的要點(diǎn)：
匹配：
確保您使用的測(cè)試座與您的IC的引腳完全匹配。如果您的測(cè)試座不能與您的IC兼容，那么可能會(huì)導(dǎo)致IC損壞或
2023-08-12 16:56:58
FT測(cè)試，英文全稱(chēng)Final Test，是芯片出廠前的最后一道攔截。測(cè)試對(duì)象是針對(duì)封裝好的chip，對(duì)封裝好了的每一個(gè)chip進(jìn)行測(cè)試，是為了把壞的chip挑出來(lái)，檢驗(yàn)的是封裝的良率。
FT測(cè)試
2023-08-01 15:34:26
在IC芯片測(cè)試中，芯片測(cè)試座起著至關(guān)重要的作用。它是連接芯片和測(cè)試設(shè)備的關(guān)鍵橋梁，為芯片提供測(cè)試所需的電流和信號(hào)。
2023-07-25 14:02:50632 射頻簡(jiǎn)稱(chēng)RF，是高頻交流變化電磁波的簡(jiǎn)稱(chēng)。
2023-07-11 15:51:351154 
在涉及射頻(RF)的硬件測(cè)試中，選擇可配置、已校準(zhǔn)的可靠信號(hào)源是其中最重要的方面之一。
2023-07-10 09:53:44203 
在芯片測(cè)試中，分類(lèi)和選擇是關(guān)鍵的步驟，以確保芯片的質(zhì)量和可靠性。根據(jù)不同的測(cè)試目標(biāo)和要求，可以采用不同的分類(lèi)方法和選擇策略。
2023-06-30 13:50:22478 射頻芯片是現(xiàn)代通信系統(tǒng)中至關(guān)重要的組成部分，由于其高頻特性的特殊性，射頻芯片的測(cè)試與傳統(tǒng)數(shù)字芯片測(cè)試存在巨大的差異。在射頻系統(tǒng)中，信號(hào)的頻率、幅度、相位等參數(shù)對(duì)通信質(zhì)量至關(guān)重要，因此射頻芯片的測(cè)試
2023-06-29 10:01:161162 芯片封裝測(cè)試是在芯片制造過(guò)程的最后階段完成的一項(xiàng)重要測(cè)試，它主要用于驗(yàn)證芯片的封裝質(zhì)量和功能可靠性。芯片封裝測(cè)試包括以下主要方面。
2023-06-28 13:49:561167 芯片功能測(cè)試是電子產(chǎn)品制造過(guò)程中的一項(xiàng)重要步驟。具體而言，它包括以下幾個(gè)方面的測(cè)試：
2023-06-20 14:50:52935 射頻放大器的指標(biāo)測(cè)試通常需要使用專(zhuān)業(yè)的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試方法來(lái)評(píng)估其性能。以下是一般的射頻放大器指標(biāo)測(cè)試步驟和方法。
2023-06-19 09:58:04923 的電學(xué)性質(zhì)，包括電阻、電容和電流等。
時(shí)鐘測(cè)試設(shè)備（Clock Testing Equipment）：用于測(cè)試芯片的時(shí)鐘頻率和穩(wěn)定性。
7．芯片測(cè)試座百度上的定義是ic測(cè)試座(測(cè)試插座)是對(duì)ic器件的電
2023-06-17 15:01:52
芯片測(cè)試座是一種電子元器件，它是用來(lái)測(cè)試集成電路芯片的設(shè)備，它可以用來(lái)測(cè)試和檢查電路芯片的性能，以確保其達(dá)到規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)。
2023-06-15 13:43:53805 電動(dòng)病床沖擊試驗(yàn)儀一.符合標(biāo)準(zhǔn)：沖擊試驗(yàn)儀符合標(biāo)準(zhǔn): ANSI/BIFMA 5.1;EN 1730/1728;QB/T 2280 YY0571 圖BB.2等。可完成座面沖擊耐久試驗(yàn)，座面結(jié)構(gòu)強(qiáng)度沖擊
2023-06-12 10:00:05
芯片中的CP測(cè)試是什么？讓凱智通小編來(lái)為您解答~ ★芯片中的CP一般指的是CP測(cè)試，也就是晶圓測(cè)試(Chip Probing)。 一、CP測(cè)試是什么? CP測(cè)試在整個(gè)芯片制作流程中處于晶圓制造和封裝
2023-06-10 15:51:493371 
芯片功能測(cè)試常用5種方法有板級(jí)測(cè)試、晶圓CP測(cè)試、封裝后成品FT測(cè)試、系統(tǒng)級(jí)SLT測(cè)試、可靠性測(cè)試。
2023-06-09 15:46:581662 芯片為什么要做測(cè)試？
因?yàn)樵?b class="flag-6" style="color: red">芯片在制造過(guò)程中，不可避免的會(huì)出現(xiàn)缺陷，芯片測(cè)試就是為了發(fā)現(xiàn)產(chǎn)生缺陷的芯片。如果缺少這一步驟，把有缺陷的壞片賣(mài)給客戶(hù)，后續(xù)的損失將是測(cè)試環(huán)節(jié)原本成本的數(shù)倍，可能還會(huì)影響公司在行業(yè)的聲譽(yù)。
2023-06-08 15:47:55
芯片測(cè)試座，又稱(chēng)為芯片測(cè)試插座，是一種專(zhuān)門(mén)用于測(cè)試芯片的設(shè)備。它通常包括一個(gè)底座和一個(gè)插頭，是一種連接芯片與測(cè)試儀器或其他設(shè)備的接口。
2023-06-07 14:14:00426 射頻信號(hào)是一種具有遠(yuǎn)距離傳輸能力的高頻電磁波，廣義上的射頻(RF)包括了 300kHz~300GHz 的頻段口。
2023-06-04 16:07:06720 
射頻測(cè)試電纜是在射頻測(cè)試中必不可少的工具，它主要用于連接測(cè)試儀器和被測(cè)試設(shè)備之間，傳輸高頻信號(hào)。選擇合適的射頻測(cè)試電纜非常重要，下面將介紹如何選擇射頻測(cè)試電纜。 正確選擇射頻測(cè)試電纜對(duì)于保證測(cè)試結(jié)果
2023-05-25 09:35:59589 
芯片從設(shè)計(jì)到成品有幾個(gè)重要環(huán)節(jié)，分別是設(shè)計(jì)->流片->封裝->測(cè)試，但芯片成本構(gòu)成的比例確大不相同，一般為人力成本20%，流片40%，封裝35%，測(cè)試5%。測(cè)試是芯片各個(gè)環(huán)節(jié)中最
2023-05-22 08:58:331848 RF射頻測(cè)試座是幾個(gè)部分構(gòu)成，首先是測(cè)試座外殼+測(cè)試座常規(guī)探針+RF射頻同軸連接器。
2023-05-17 10:07:541138 
虹科Raditeq 系列產(chǎn)品使您能夠執(zhí)行快速準(zhǔn)確的 EMC/RF 測(cè)試。測(cè)試使用 RadiMation 測(cè)試軟件輕松執(zhí)行傳導(dǎo)和輻射 EMC 和 RF 測(cè)試或測(cè)量。
2023-05-08 09:41:55828 
射頻源是一種廣泛應(yīng)用于無(wú)線(xiàn)通信、電視、衛(wèi)星通信等領(lǐng)域的設(shè)備，它通過(guò)產(chǎn)生高頻信號(hào)來(lái)傳輸數(shù)據(jù)和信息。而測(cè)試電纜則是測(cè)量、測(cè)試射頻設(shè)備時(shí)經(jīng)常使用的工具，可以將信號(hào)從信號(hào)發(fā)生器傳輸?shù)奖粶y(cè)設(shè)備上。接下來(lái)我們將詳細(xì)介紹射頻源使用測(cè)試電纜的方法：
2023-05-04 14:37:31525 干擾一樣，一直是工程師們最難解決的問(wèn)題。想要成功設(shè)計(jì)出一塊好的RF電路，就必須要仔細(xì)將整個(gè)設(shè)計(jì)過(guò)程中每個(gè)步驟和細(xì)節(jié)都要仔細(xì)規(guī)劃，穩(wěn)中求勝。
射頻電路的設(shè)計(jì)和普通pcb的設(shè)計(jì)，在理論上有很多的不一樣
2023-04-25 17:29:11
射頻測(cè)試線(xiàn)的接法是測(cè)量射頻信號(hào)傳輸過(guò)程中非常重要的一部分。在電信和電子工程領(lǐng)域，射頻測(cè)試線(xiàn)被廣泛應(yīng)用于射頻信號(hào)的測(cè)試、調(diào)節(jié)和測(cè)量。
2023-04-25 14:09:362926 射頻導(dǎo)納料位計(jì)可以用于測(cè)量各種物料，是物位計(jì)中比較誤差率比較低的一類(lèi)物位儀表產(chǎn)品，這得益于產(chǎn)品自身過(guò)硬質(zhì)量，還有正確的測(cè)試方法，測(cè)試射頻導(dǎo)納料位計(jì)不需要高技術(shù)設(shè)備與技術(shù)手段，只需要嚴(yán)格按照以下
2023-04-25 14:02:52632 網(wǎng)分射頻測(cè)試線(xiàn)是一種用于測(cè)試無(wú)線(xiàn)電設(shè)備在高頻信號(hào)下的性能的工具。隨著現(xiàn)代通信技術(shù)的發(fā)展，越來(lái)越多的無(wú)線(xiàn)電設(shè)備需要進(jìn)行高頻測(cè)試，因此網(wǎng)分射頻測(cè)試線(xiàn)也越來(lái)越重要。在使用網(wǎng)分射頻測(cè)試線(xiàn)時(shí)，需要注意一些基本使用方法和安全事項(xiàng)，以確保測(cè)試的精度和可靠性。
2023-04-24 14:01:34761 的 Tx 和 Rx 測(cè)試的命令響應(yīng)。我們還想在 ESP32C3 上使用 RF 測(cè)試工具對(duì) Wi-Fi 和 BLE 進(jìn)行 RF 范圍測(cè)試。我們?nèi)绾问褂?b class="flag-6" style="color: red">射頻測(cè)試工具驗(yàn)證 ESP32C3 的 Wi-Fi
2023-04-12 07:36:22
射頻測(cè)試線(xiàn)纜是一種用于連接測(cè)試儀器和被測(cè)器件的線(xiàn)纜，其性能直接影響測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。因此，了解射頻測(cè)試線(xiàn)纜的性能指標(biāo)是很重要的。
2023-04-07 14:35:511008 50 Ohm，這給其性能測(cè)試造成了困難。鑒于傳統(tǒng)測(cè)試方法的局限性，本文介紹了一種基于矢網(wǎng)的新穎測(cè)試方法，使用虛擬差分模式及Offset功能，能夠有效地測(cè)試射頻變壓器的性能指標(biāo)。
2023-03-31 09:29:41915 測(cè)試點(diǎn)/測(cè)試插座/測(cè)試插針
2023-03-30 17:34:49
時(shí)代在發(fā)展，手工制作逐漸被自動(dòng)化代替，自動(dòng)化設(shè)備零部件的需求量也在不斷的增加，螺桿支撐座作為自動(dòng)化設(shè)備中重要的零部件，其需求量也是不容小覷的，目前市面上的螺桿支撐座品牌眾多，規(guī)格多樣，價(jià)格也是
2023-03-29 17:41:33
我想用 CBT（信令測(cè)試）對(duì)藍(lán)牙進(jìn)行 RF 測(cè)試，并讓我的板子進(jìn)入 DUT 模式進(jìn)行測(cè)試。但是我無(wú)法從 SDK 中的指南中找到執(zhí)行此操作的方法。什么演示應(yīng)用程序適合這個(gè)？我使用的是 Murata 的 RT1060EVKB 和 1XK WiFi/BT 模塊。
2023-03-28 08:14:12
隨著機(jī)械手市場(chǎng)的普及，工業(yè)自動(dòng)化的改革，帶動(dòng)了不少?gòu)S商的發(fā)展，我們都知道滾珠螺桿是機(jī)械手行業(yè)中必不可少的零部件，而作為搭配滾珠螺桿使用的螺桿支撐座，也得到了迅猛的發(fā)展，大大小小，品牌眾多，那螺桿支撐
2023-03-27 17:38:28
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