開關(guān)電源的測試項目

　　良好的開關(guān)電源必須符合所有功能規(guī)格、保護特性、安全規(guī)范（如UL、CSA、VDE、DEMKO、SEMKO，長城等等之耐壓、抗燃、漏電流、接地等安全規(guī)格）、電磁兼容能力（如FCC、CE等之傳導(dǎo)與幅射干擾）、可靠性（如老化壽命測試）、及其他特定需求等。

　　開關(guān)電源包括下列之型式：

　　·AC-DC：如個人用、家用、辦公室用、工業(yè)用（電腦、周邊、傳真機、充電器）

　　·DC-DC：如可攜帶式產(chǎn)品（移動電話、筆計本電腦、攝影機，通信交換機二次電源）

　　·DC-AC：如車用轉(zhuǎn)換器（12V～115/230V） 、通信交換機振鈴信號電源

　　·AC-AC：如交流電源變壓器、變頻器、UPS不間斷電源

　　開關(guān)電源的設(shè)計、制造及品質(zhì)管理等測試需要精密的電子儀器設(shè)備來模擬電源供應(yīng)器實際工作時之各項特性（亦即為各項規(guī)格），并驗證能否通過。開關(guān)電源有許多不同的組成結(jié)構(gòu)（單輸出、多輸出、及正負極性等）和輸出電壓、電流、功率之組合，因此需要具彈性多樣化的測試儀器才能符合眾多不同規(guī)格之需求。

　　電氣性能（Electrical Specifications）測試

　　當(dāng)驗證電源供應(yīng)器的品質(zhì)時，下列為一般的功能性測試項目，詳細說明如下：

　　*功能（Functions）測試：

　　·輸出電壓調(diào)整（Hold-on Voltage Adjust）

　　·電源調(diào)整率（Line Regulation）

　　·負載調(diào)整率（Load Regulation）

　　·綜合調(diào)整率（Combine Regulation）

　　·輸出漣波及雜訊（Output Ripple & Noise， RARD）

　　·輸入功率及效率（Input Power， Efficiency）

　　·動態(tài)負載或暫態(tài)負載（Dynamic or Transient Response）

　　·電源良好/失效（Power Good/Fail）時間

　　·起動（Set-Up）及保持（Hold-Up）時間

　　*保護動作（Protections）測試：

　　·過電壓保護（OVP， Over Voltage Protection）

　　·短路保護（Short）

　　·過電流保護（OCP， Over Current Protection）

　　·過功率保護（OPP， Over Power Protection）

　　*安全（Safety）規(guī)格測試：

　　·輸入電流、漏電電流等

　　·耐壓絕緣： 電源輸入對地，電源輸出對地；電路板線路須有安全間距。

　　·溫度抗燃：零組件需具備抗燃之安全規(guī)格，工作溫度須於安全規(guī)格內(nèi)。

　　·機殼接地：需於0.1歐姆以下，以避免漏電觸電之危險。

　　·變壓輸出特性：開路、短路及最大伏安（VA）輸出

　　·異常測試：散熱風(fēng)扇停轉(zhuǎn)、電壓選擇開關(guān)設(shè)定錯誤

　　*電磁兼容（Electromagnetic Compliance）測試：

　　電源供應(yīng)器需符合CISPR 22、CLASS B之傳導(dǎo)與幅射的4dB馀裕度，電源供應(yīng)器需在以下三種負載狀況下測試：

　　每個輸出為空載、每個輸出為50%負載、每個輸出為100%負載。

　　·傳導(dǎo)干擾/免疫：經(jīng)由電源線之傳導(dǎo)性干擾/免疫

　　·幅射干擾/免疫：經(jīng)由磁場之幅射性干擾/免疫

　　*可靠性（Reliability）測試：

　　老化壽命測試：高溫（約50-60度）及長時間（約8-24小時）滿載測試。

　　*其他測試：

　　·ESD：Electrostatic Discharge靜電放電（人或物體經(jīng)由直接接觸或間隔放電引起）在2-15KV之ESD脈波下，

　　待測物之每個表面區(qū)域應(yīng)執(zhí)行連續(xù)20次的靜電放電測試，電源供應(yīng)器之輸出需繼續(xù)工作而不會產(chǎn)生突波（Glitch）

　　或中斷（Interrupt），直接ESD接觸時不應(yīng)造成過激（Overshoot）或欠激（Undershoot）之超過穩(wěn)壓范圍的狀況、及過電壓保護（OVP）、過電流保護（OCP）等。另外，於ESD放電電壓在高達25KV下，應(yīng)不致造成元件故障（Failure）。

　　·EFT：Electrical Fast Transient or burst一串切換雜訊經(jīng)由電源線或I/O線路之傳導(dǎo)性干擾（由供電或建筑物內(nèi)引起）。

　　·Surge：經(jīng)由電源線之高能量暫態(tài)雜訊干擾（電燈之閃動引起）。

　　·VD/I：Dips and Interrupts電源電壓下降或中斷（電力分配系統(tǒng)之故障或失誤所引起，例如供電過載或空氣開關(guān)跳動所引起）

　　·Inrush： 開機輸入沖擊電流，開關(guān)電源對供電系統(tǒng)的影響

　　常規(guī)功能（Functions）測試

　　輸出電壓調(diào)整：

　　當(dāng)制造開關(guān)電源時，第一個測試步驟為將輸出電壓調(diào)整至規(guī)格范圍內(nèi)。此步驟完成后才能確保后續(xù)的規(guī)格能夠符合。 通常，當(dāng)調(diào)整輸出電壓時，將輸入交流電壓設(shè)定為正常值（115Vac或230Vac），并且將輸出電流設(shè)定為正常值或滿載電流，然後以數(shù)字電壓表測量電源供應(yīng)器的輸出電壓值并調(diào)整其電位器（VR）直到電壓讀值位於要求之范圍內(nèi)。

　　電源調(diào)整率：

　　電源調(diào)整率的定義為電源供應(yīng)器於輸入電壓變化時提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。此項測試系用來驗證電源供應(yīng)器在最惡劣之電源電壓環(huán)境下，如夏天之中午（因氣溫高，用電需求量最大）其電源電壓最低；又如冬天之晚上（因氣溫低，用電需求量最?。┢潆娫措妷鹤罡摺Ｔ谇笆鲋畠蓚€極端下驗證電源供應(yīng)器之輸出電源之穩(wěn)定度是否合乎需求之規(guī)格。

　　為精確測量電源調(diào)整率，需要下列之設(shè)備：

　　·能提供可變電壓能力的電源，至少能提供待測電源供應(yīng)器的最低到最高之輸入電壓范圍。

　　·一個均方根值交流電壓表來測量輸入電源電壓，眾多的數(shù)字功率計能精確計量V A W PF。

　　·一個精密直流電壓表，具備至少高於待測物調(diào)整率十倍以上，一般應(yīng)用5位以上高精度數(shù)字表。

　　·連接至待測物輸出的可變電子負載。

　　*測試步驟如下：於待測電源供應(yīng)器以正常輸入電壓及負載狀況下熱機穩(wěn)定後，分別於低輸入電壓（Min），正常輸入電壓（Normal），及高輸入電壓（Max）下測量并記錄其輸出電壓值。

　　電源調(diào)整率通常以一正常之固定負載（Nominal Load）下，由輸入電壓變化所造成其輸出電壓偏差率（deviation）的百分比，如下列公式所示：

　　V0（max）-V0（min） / V0（normal）

　　電源調(diào)整率亦可用下列方式表示之：於輸入電壓變化下，其輸出電壓之偏差量須於規(guī)定之上下限范圍內(nèi)，即輸出電壓之上下限絕對值以內(nèi)。