的setup：（示例，請不求甚解即可。） 輻射發(fā)射測試的線束長一般要求1.7m~2m。蓄電池和負(fù)載箱之間會用AN即人工網(wǎng)絡(luò)。AN可以阻止EUT產(chǎn)生的射頻
2020-09-01 10:40:09
8038 
輻射發(fā)射（RE） 測試主要是測量受試設(shè)備對環(huán)境的電磁騷擾能量。由于現(xiàn)在的電子設(shè)備日益發(fā)展，周圍的電子設(shè)備越來越多，電磁環(huán)境也越來越擁擠。RE測試的目的就是為了控制受試設(shè)備的電磁輻射，使其不對周圍的電子設(shè)備造成干擾。
2016-02-16 11:02:181530 
對其不同位置處的頻譜曲線及場強(qiáng)分布進(jìn)行場路協(xié)同仿真，并使用電場探頭及頻譜儀對轉(zhuǎn)接板及芯片的頻譜曲線及場強(qiáng)分布進(jìn)行實(shí)際測試，最后將仿真結(jié)果與實(shí)測結(jié)果進(jìn)行對比，驗(yàn)證仿真方法的可行性。
2022-07-19 09:42:282013 在電磁兼容的輻射發(fā)射測試中，最常見的就是時鐘輻射超標(biāo)，隨著系統(tǒng)設(shè)計復(fù)雜性和集成度的大規(guī)模提高，電子系統(tǒng)的時鐘頻率越來越高，處理的難度也越來越大。
2023-07-14 09:33:55756 
子模塊，模塊和背板之間通過相對應(yīng)的連接器連接。背板主要起到連接各個子模塊，充當(dāng)子模塊之間通信的橋梁。 每個模塊都單獨(dú)的屏蔽設(shè)計, 背板也進(jìn)行了屏蔽設(shè)計? 但是在進(jìn)行輻射發(fā)射測試時, 發(fā)現(xiàn)輻射發(fā)射測試超標(biāo)。超標(biāo)頻點(diǎn)是350MHz, 測試頻譜圖如圖所示： 圖中粗折線
2023-08-17 09:10:492935 
電磁干擾EMI可以大致分為“傳導(dǎo)發(fā)射”和“輻射發(fā)射”兩種類型。
2023-08-23 10:51:234198 
的耦合 / 去耦網(wǎng)絡(luò)、傳感器或天線，施加于各類被測設(shè)備，用作敏感度或干擾度測量。(3)測量方法電磁兼容性測試依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的不同，有許多種測量方法，但歸納起來可分為 4 類；傳導(dǎo)發(fā)射測試、輻射發(fā)射測試、傳導(dǎo)
2023-04-12 13:47:29
EMC檢驗(yàn)項(xiàng)目包含電磁發(fā)射(EMI)和電磁抗擾度(EMS)兩個方面。電磁發(fā)射(EMI)包含的測試如下：輻射發(fā)射測試傳導(dǎo)發(fā)射測試騷擾功率測試電流諧波測試電源諧波測量閃爍測試電磁抗擾度(EMS)包含
2022-06-10 19:58:11
，讓我們更好地了解不同類型的輻射測試。圖1：采用雙天線進(jìn)行EMC / EMI測試的半電波暗室。腔室的材料不允許信號離開或進(jìn)入房間以確保進(jìn)行精確的測量。輻射測試 - 排放輻射發(fā)射測試比傳導(dǎo)發(fā)射測試要復(fù)雜一些
2018-07-25 18:12:31
，廣播電臺或任何其他環(huán)境信號。一個建議是在外部站點(diǎn)（如大型空倉庫）設(shè)置輻射發(fā)射測試。理想的設(shè)置避免了帶有隱藏金屬線束的墻壁或可能產(chǎn)生反射的物體，并且可能使某些故障頻率無效和/或放大一些“通過”頻率
2018-07-25 17:53:55
measurement procedures for lighting devices (C63.29)。待形成正式版本后，燈具將有單獨(dú)的測試標(biāo)準(zhǔn)。射頻LED燈的包括兩個測試項(xiàng)目：AC電源端口傳導(dǎo)發(fā)射和輻射發(fā)射，測試要求分別依據(jù)FCC Part 15.107和15.109。
2016-07-25 15:30:19
護(hù)走線等整改措施,使得D-SUB、LVDS滿足各自的特性阻抗要求。整改后,產(chǎn)品通過了CISPR 22標(biāo)準(zhǔn)中CLASS B對輻射發(fā)射的測試要求。
2012-03-31 14:26:18
的原理從 PCB 布局可以看出，12MHZ 的晶體正好布置在了 PCB 邊緣，當(dāng)產(chǎn)品放置與輻射發(fā)射的測試環(huán)境中時，被測產(chǎn)品的高速器件與實(shí)驗(yàn)室中參考接地會形成一定的容性耦合，產(chǎn)生寄生電容，導(dǎo)致出現(xiàn)共模輻射
2020-04-21 07:00:00
本帖最后由 玩美格調(diào) 于 2017-2-15 11:31 編輯
可以直接關(guān)注wx訂閱號【EMC家園】有更多的干貨等你。1輻射發(fā)射輻射發(fā)射測試測試電子、電氣和機(jī)電設(shè)備及其組件的輻射發(fā)射，包括來自
2017-02-15 11:29:45
1.3.2 電磁騷擾單位分貝（dB）的概念1.3.3 正確理解分貝真正的含義1.3.4 電場、磁場與天線1.3.5 RLC電路的諧振1.4 EMC意義上的共模和差模1.5 EMC測試實(shí)質(zhì)1.5.1 輻射發(fā)射測試實(shí)質(zhì)1.5.2 傳導(dǎo)騷擾測試實(shí)質(zhì)······下載鏈接：
2018-01-16 18:02:29
的含義1.3.4 電場、磁場與天線1.3.5 RLC電路的諧振1.4 EMC意義上的共模和差模1.5 EMC測試實(shí)質(zhì)1.5.1 輻射發(fā)射測試實(shí)質(zhì)1.5.2 傳導(dǎo)騷擾測試實(shí)質(zhì)1.5.3 ESD抗擾度測試實(shí)質(zhì)
2017-09-25 17:19:55
最大，而后依次遞減，而且無窮無盡。2、分析完波形之后，那么如何對應(yīng)到我們的設(shè)計呢？我們工程設(shè)計人員講究的是學(xué)以致用。圖2是一張某產(chǎn)品GB18655的輻射發(fā)射測試結(jié)果圖。我們可以發(fā)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)有部分限值是空白
2020-06-21 07:00:00
-60分貝的反射系數(shù)。泡沫金字塔吸收高頻電磁波，而低頻通常由鐵氧體磁磚來處理，鐵氧體磁磚是腔體中最昂貴的部件之一。用于不同類型測量的不同消聲室如前所述，消聲室用于各種測量，例如:天線方向圖測量輻射發(fā)射測試
2022-04-14 14:36:58
昌暉儀表結(jié)合案例分享儀表輻射發(fā)射測試步驟、輻射發(fā)射測試結(jié)果分析及展頻技術(shù)在輻射發(fā)射測試不合格項(xiàng)整改中的應(yīng)用，對儀表工程師提升儀表電氣兼容性能的設(shè)計水平有很好借鑒作用。1、電磁兼容概述通俗易懂來說
2018-08-11 18:06:07
分析儀一樣重要，頻譜分析儀具有寬頻率范圍、帶寬可選性和寬范圍掃描顯示等特性，使其在幾乎每一項(xiàng)EMC測試應(yīng)用中都能大顯身手，頻譜分析儀對于寬范圍的EMI診斷、故障檢測和測試應(yīng)用極其有用。輻射發(fā)射測量頻譜
2017-09-28 09:26:35
各位高工：我本次在進(jìn)行輻射發(fā)射測試時，發(fā)現(xiàn)干擾超標(biāo)，從圖上看，可以確定是12M晶振的倍頻引起。想將晶振更換為有源晶振，并用展頻技術(shù)，但之前未接觸過展頻，有沒有人用過類似的展頻芯片，可以介紹幾個便宜好用的芯片呢？
2017-12-04 11:34:01
）測量方法電磁兼容性測試依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的不同，有許多種測量方法，但歸納起來可分為4類；傳導(dǎo)發(fā)射測試、輻射發(fā)射測試、傳導(dǎo)敏感度（抗擾度）測試和輻射敏感度（抗擾度）測試。（4）測試診斷步驟圖1給出了一個設(shè)備或系統(tǒng)
2011-09-08 09:43:07
）測量方法電磁兼容性測試依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的不同，有許多種測量方法，但歸納起來可分為4類；傳導(dǎo)發(fā)射測試、輻射發(fā)射測試、傳導(dǎo)敏感度（抗擾度）測試和輻射敏感度（抗擾度）測試。（4）測試診斷步驟圖1給出了一個設(shè)備或系統(tǒng)
2011-09-14 09:43:48
。 （3）測量方法 電磁兼容性測試依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的不同，有許多種測量方法，但歸納起來可分為4類；傳導(dǎo)發(fā)射測試、輻射發(fā)射測試、傳導(dǎo)敏感度（抗擾度）測試和輻射敏感度（抗擾度）測試。 （4）測試診斷步驟 一個設(shè)備或系統(tǒng)
2011-11-21 17:09:17
模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 利用音頻輸入創(chuàng)建數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)流，并為系統(tǒng)創(chuàng)建數(shù)字計時。主要特色工作電壓范圍：4.5V 至 18V可承受高達(dá) 40V 的瞬態(tài)對于電源和 D 類放大器，開關(guān)頻率均為 2.1MHz在 10% 總諧波失真加噪聲的情況下，每通道為 45W（2Ω 負(fù)載）通過了 CISPR-25 5 類輻射發(fā)射測試
2018-12-28 15:20:02
大型醫(yī)療產(chǎn)品確定有輻射？輻射發(fā)射該怎么測試？
2021-05-07 06:02:16
進(jìn)行開場測試時，有時候不方便多次關(guān)閉和打開被測設(shè)備的電源。如何辨識環(huán)境信號的影響，識別出被測設(shè)備（DUT）的輻射發(fā)射信號？如何在開闊場地實(shí)現(xiàn)輻射發(fā)射測量？
2019-08-12 08:22:07
在輻射發(fā)射測試中，對于預(yù)掃描測量（使用峰值檢測器），我們保持20ms的測量時間，并且對于最終測量（使用準(zhǔn)峰值檢測器），我們將其保持在1秒。在SCAN TABLE設(shè)置中，我們確定了預(yù)掃描的測量時間
2019-08-09 14:19:39
procedures for lighting devices(C63.29)。待形成正式版本后，燈具將有單獨(dú)的測試標(biāo)準(zhǔn)?！ ∩漕lLED燈的包括兩個測試項(xiàng)目：AC電源端口傳導(dǎo)發(fā)射和輻射發(fā)射，測試要求分別
2016-08-09 17:00:01
數(shù)碼相機(jī)EMC定位測試 輻射發(fā)射整改案例分享給大家！
2015-08-03 14:52:17
也是06年我的一個案例期刊。以下是內(nèi)容簡介：在寫作這篇文章之前，筆者先說一下這篇文章的寫作背景，在前些時間，筆者經(jīng)過朋友的介紹，說有一個廠家有一款數(shù)碼相機(jī)在做CE 認(rèn)證，現(xiàn)在輻射發(fā)射測試在很多實(shí)驗(yàn)室
2008-07-31 16:11:42
` 現(xiàn)象描述：某塑料外殼產(chǎn)品，帶一根Ｉ/Ｏ電纜，在進(jìn)行EMC標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的輻射發(fā)射測試時發(fā)現(xiàn)輻射超標(biāo)，具體頻點(diǎn)是160MHz。需要分析其輻射超標(biāo)的原因，并給出相應(yīng)對策。原因分析：該產(chǎn)品只有一塊PCB
2020-12-25 15:02:07
本帖最后由 Hongliang_sz 于 2015-3-31 10:27 編輯
某產(chǎn)品EMC輻射發(fā)射測試定位總結(jié)－光扣板和導(dǎo)電膠圈的問題某產(chǎn)品前期通過了EMC測試，在切換機(jī)柜后，進(jìn)行認(rèn)證測試
2015-03-31 10:24:50
液晶顯示器輻射發(fā)射超標(biāo)整改案例1電源線套磁環(huán)飛利浦液晶顯示器輻射發(fā)射測試結(jié)果如圖1所示，曲線在200MHz-300MHz有較高的包絡(luò)。據(jù)以往經(jīng)驗(yàn)，這種包絡(luò)說明顯示器電源上存在很大噪聲，需對電源模塊做
2015-08-19 23:18:44
檢測中心。它包括有進(jìn)行傳導(dǎo)干擾、傳導(dǎo)敏感度及靜電放電敏感度測試的屏蔽室，有進(jìn)行輻射敏感度測試的消聲屏蔽室，有用來進(jìn)行輻射發(fā)射測試的開闊場地和配備齊全的測試與控制儀器設(shè)備。要建立這樣一套完善的實(shí)驗(yàn)室需
2012-03-23 10:09:08
外購) ，如果可能的話，還應(yīng)該有一個屏蔽房間(最起碼有一個屏蔽帳篷)和一張距地面80cm 的絕緣桌。2)輻射發(fā)射測試…需要同樣的頻譜分析儀或EMI 接收器、一副天線、電纜和OATS(開放區(qū)域測試場地或
2018-05-18 10:08:03
電磁兼容性暗室是符合輻射抗擾度測試的最優(yōu)化解決方案，它應(yīng)用與3米法測試并且其特性參數(shù)最符合輻射發(fā)射預(yù)驗(yàn)收測試的要求。內(nèi)部安裝鐵氧體吸波材料和鋪設(shè)部分復(fù)合吸波材料使CHC測試頻率范圍至少可以從
2016-03-01 10:10:18
，12MHZ的晶體正好布置在了PCB邊緣，當(dāng)產(chǎn)品放置與輻射發(fā)射的測試環(huán)境中時，被測產(chǎn)品的高速器件與實(shí)驗(yàn)室中參考接地會形成一定的容性耦合，產(chǎn)生寄生電容，導(dǎo)致出現(xiàn)共模輻射，寄生電容越大，共模輻射越強(qiáng)；而寄生電容實(shí)質(zhì)
2020-06-09 15:44:58
。該產(chǎn)品出口歐洲，在實(shí)驗(yàn)室認(rèn)證過程中出現(xiàn)多項(xiàng)測試不通過，主要的難關(guān)為輻射發(fā)射測試難以通過。在實(shí)驗(yàn)室測試發(fā)現(xiàn)無改動單板測試，超標(biāo)嚴(yán)重；其中200MHz 超標(biāo)幅度最高達(dá)15dB.一. 試驗(yàn)?zāi)康脑诂F(xiàn)有的單板
2016-05-31 15:08:44
可大顯身手?！ ?b class="flag-6" style="color: red">輻射發(fā)射測量 頻譜分析儀是測試設(shè)備輻射發(fā)射必不可少的工具，它與適當(dāng)?shù)慕涌谙噙B就可用于ＥＭＩ自動測量。大多數(shù)情況下被測設(shè)備在第一次測試時都不能滿足人們的期望值，因此，診斷電磁干擾源并指出
2022-07-12 10:55:35
通過HFSS 仿真和測試設(shè)計了一種頻率覆蓋2～18Ghz 的超寬帶盤錐全向天線，駐波低，全向均勻性好并且結(jié)構(gòu)簡單，可用于與寬帶梳狀波發(fā)生器組成電場輻射發(fā)射測試項(xiàng)目的比對裝置
2009-12-31 11:28:12
40 EMC測試項(xiàng)目介紹 輻射發(fā)射測試 傳導(dǎo)發(fā)射測試 其他EMI測試 ...................
2011-01-19 16:29:14108 共模騷擾往往是造成電子電氣產(chǎn)品工作失靈或輻射發(fā)射測試超標(biāo)的主要原因。它主要可以分為兩種：一種是侵入設(shè)備的共模騷擾，另一種是從設(shè)備內(nèi)部輻射出來的共模騷擾。侵入設(shè)備的
2011-05-23 16:57:5663 數(shù)碼相機(jī)EMC定位測試輻射發(fā)射整改方案
2011-11-29 14:45:5632 輻射發(fā)射（RE） 測試主要是測量受試設(shè)備對環(huán)境的電磁騷擾能量。由于現(xiàn)在的電子設(shè)備日益發(fā)展，周圍的電子設(shè)備越來越多，電磁環(huán)境也越來越擁擠。RE測試的目的就是為了控制受試設(shè)備的電磁輻射，使其不對周圍的電子設(shè)備造成干擾。
2016-02-15 15:57:411191 
對于輻射測試來說，高頻發(fā)射比較難解決，比如一些人為或者隨機(jī)概率所造成種種諧振，而對于傳導(dǎo)測試來說，低頻發(fā)射比較難解決，特別是低頻的近場耦合，那是特別頑固，對于這種問題我們應(yīng)該如何解決，有哪幾種辦法
2018-04-13 08:20:0021824 
1、輻射發(fā)射測試 測試電子、電氣和機(jī)電設(shè)備及其組件的輻射發(fā)射，包括來自所有組件、電纜及連線上的輻射發(fā)射，用來鑒定其輻射是否符合標(biāo)準(zhǔn)的要求，一致在正常使用過程中影響同一環(huán)境中的其他設(shè)備。
2017-02-10 17:26:40592 電磁兼容性輻射發(fā)射測試方法（適用于工作頻率30-1000MHZ）隨著電子技術(shù)的發(fā)展，電路頻率的不斷提高，在電子產(chǎn)品的設(shè)計、開發(fā)生產(chǎn)、使用和維護(hù)的整個周期中，電磁兼容性（EMC）已經(jīng)成為必須考慮的一環(huán)
2017-11-01 15:53:2225 進(jìn)行開場測試時，有時候不方便多次關(guān)閉和打開被測設(shè)備的電源。本文探討了在這種情況下，如何辨識環(huán)境信號的影響，識別出被測設(shè)備（DUT）的輻射發(fā)射信號。本文討論了采用現(xiàn)代信號分析儀和EMI接收機(jī)進(jìn)行開闊
2017-11-08 15:05:102 環(huán)境電平過大，墻壁反射及墻壁對天線方向圖的影響等誤差。通過對某信息設(shè)備輻射發(fā)射測試結(jié)果分析可得，超標(biāo)頻點(diǎn)誤差為3 dB左右，本底噪聲誤差為5 dB左右，符合要求。
2018-07-18 12:31:001861 
線性壓降 (LDO) 穩(wěn)壓器用于為 C2000 微控制器供電。此設(shè)計已按照電波暗室 (ALSE) 方法進(jìn)行了 CISPR 25 輻射發(fā)射測試，采用電壓方法進(jìn)行了 CISPR 25 傳導(dǎo)發(fā)射測試，并根據(jù) ISO 1
2018-01-23 16:43:420 從PCB布局可以看出， 12MHZ的晶體正好布置在了 PCB邊緣，當(dāng)產(chǎn)品放置與輻射發(fā)射的測試環(huán)境中時， 被測產(chǎn)品的高速器件與實(shí)驗(yàn)室中參考接地會形成一定的容性耦合， 產(chǎn)生寄生電容， 導(dǎo)致出現(xiàn)共模輻射
2018-01-31 17:12:2729 以下將全面介紹電磁騷擾輻射發(fā)射的測試方法。電磁騷擾發(fā)射（EMI）包括輻射發(fā)射（RE）和傳導(dǎo)發(fā)射（CE）。
2019-08-01 11:41:4112300 
輻射發(fā)射（Radiated Emission）測試是測量EUT通過空間傳播的輻射騷擾場強(qiáng)?？梢苑譃榇艌?b class="flag-6" style="color: red">輻射、電場輻射，前者針對燈具和電磁爐，后者則應(yīng)用普遍。另外，家電和電動工具、AV產(chǎn)品的輔助設(shè)備有功率輻射發(fā)射的要求（稱為騷擾功率）。
2019-07-19 11:30:174618 
本文主要討論一些關(guān)于輻射發(fā)射測試的場地設(shè)計問題。開闊場為優(yōu)選的測試場地。然而，由于日益嚴(yán)重的電磁“污染”和開闊場對氣候的依賴性，半電波暗室已成為經(jīng)濟(jì)適用的替代品。本文結(jié)合民用EMC測試標(biāo)準(zhǔn)，對用于輻射發(fā)射測試SAC的設(shè)計和建造問題作一些介紹。
2019-07-26 10:51:095225 
輻射發(fā)射（Radiated Emission）測試是測量EUT通過空間傳播的輻射騷擾場強(qiáng)?？梢苑譃榇艌?b class="flag-6" style="color: red">輻射、電場輻射，前者針對燈具和電磁爐，后者則應(yīng)用普遍。另外，家電和電動工具、AV產(chǎn)品的輔助設(shè)備有功率輻射發(fā)射的要求（稱為騷擾功率）。
2019-11-11 16:42:171137 
此參考設(shè)計有利于 TPS65150 LCD 偏置 IC 滿足 CISPR 22 B 類標(biāo)準(zhǔn)。它側(cè)重于輻射發(fā)射測試，能幫助設(shè)計人員滿足工業(yè)顯示應(yīng)用的法規(guī)要求。TPS65150 LCD 偏置 IC 提供用于驅(qū)動薄膜晶體管 (TFT) LCD 的所有三種必要電壓（由單節(jié)電池電壓供電）。
2019-11-18 08:00:000 一個很好的例子是HDMI端口和可以從這些電纜輻射的相關(guān)EMI，我們用它作為案例研究，文章可以在這里找到; 符合EMC輻射發(fā)射測試（EMI）。在EMC測試期間，使用頻譜分析儀和/或EMI接收器以及合適的測量天線進(jìn)行輻射發(fā)射測量。
2019-11-21 14:38:094309 
某款家用電子設(shè)備在做輻射發(fā)射測試時，在低頻段30M-300MHZ存在高低不平的輻射包絡(luò)，最高超標(biāo)頻段超出限值5db。經(jīng)細(xì)查后發(fā)現(xiàn)，輻射噪聲源于主板某差動放大IC的輸出端。
2020-03-08 13:54:001940 輻射發(fā)射（Radiated Emission）測試是測量EUT通過空間傳播的輻射騷擾場強(qiáng)?？梢苑譃榇艌?b class="flag-6" style="color: red">輻射、電場輻射，前者針對燈具和電磁爐，后者則應(yīng)用普遍。另外，家電和電動工具、AV產(chǎn)品的輔助設(shè)備有功率輻射發(fā)射的要求（稱為騷擾功率）。
2020-05-04 16:10:002770 
3． 實(shí)際上該測試屬于共模電壓測試（電源線對大地的騷擾電壓測試）由于這部分連接屬單點(diǎn)接地，檢查設(shè)備內(nèi)部電源接口PCB螺釘是否全部安裝。
2020-06-04 09:33:0411925 在這個頻段測量磁場H，當(dāng)EUT較小時，放在大磁環(huán)天線（LLA）中，測量騷擾磁場的感應(yīng)電流；當(dāng)EUT較大時，采用遠(yuǎn)天線法，用單小環(huán)在規(guī)定距離測量騷擾的磁場強(qiáng)度。
2020-07-13 09:10:347517 
電子產(chǎn)品為什么要做EMC電磁兼容測試，EMC測試要怎么做，自始至終是硬件、PCB工程師做電子設(shè)計必不可少的重要環(huán)節(jié)。
2020-10-23 15:08:484633 
某塑料外殼產(chǎn)品，帶一根Ｉ/Ｏ 電纜，在進(jìn)行 EMC 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的輻射發(fā)射測試時發(fā)現(xiàn)輻射超標(biāo)，具體頻點(diǎn)是 160 MHz。需要分析其輻射超標(biāo)的原因，并給出相應(yīng)對策。
2020-11-01 10:46:174744 
從PCB布局可以看出，12MHz的晶體正好布置在了PCB邊緣，當(dāng)產(chǎn)品放置于輻射發(fā)射的測試環(huán)境中時，被測產(chǎn)品的高速器件與實(shí)驗(yàn)室中參考地會形成一定的容性耦合，產(chǎn)生寄生電容，導(dǎo)致出現(xiàn)共模輻射，寄生電容越大，共模輻射越強(qiáng)；
2020-11-03 15:10:251721 搭配鋰離子電池組同時出現(xiàn)。電能管理系統(tǒng)與 BMS 類似，但 BMS 針對電池進(jìn)行管理，EMS 則概括了所有能源的管理。EMC 問題描述 此款產(chǎn)品按照 SMTC3800006-2011 標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行測試時，輻射發(fā)射測試超標(biāo)，本文針對不符合項(xiàng)進(jìn)行整改并給出相應(yīng)
2020-11-18 18:37:0019 按照常規(guī)分類方式，車輛的電磁兼容性能往往分為發(fā)射特性和抗擾特性。發(fā)射特性關(guān)注對車輛以外的其他電器設(shè)備的保護(hù)，我國主要由法規(guī)來要求（GB 14023、GB/T 18387 和 GB 34660
2020-11-27 15:32:242064 ，滿足各類集成電路模塊、各類存儲芯片、各類電源管理芯片、各類接口芯片、各類時鐘芯片以及運(yùn)放等。 集成電路產(chǎn)品EMC測試系統(tǒng)的測試項(xiàng)目有：EMI類、EMS類。 EMI類：依據(jù)IEC 61967系列標(biāo)準(zhǔn)； TEM小室法—輻射發(fā)射測試； 表面掃描法—輻射發(fā)射測試； 1Ω/150Ω直接耦合
2020-12-28 10:41:573715 輻射發(fā)射測試實(shí)質(zhì)上就是測試產(chǎn)品中兩種等效天線所產(chǎn)生的輻射信號，第一種是等效天線信號環(huán)路，環(huán)路是產(chǎn)生的輻射等效天線，這種輻射產(chǎn)生的源頭是環(huán)路中流動著的電流信號。
2021-02-03 09:54:426695 
在電磁兼容的輻射發(fā)射測試中，最常見的就是時鐘輻射超標(biāo)（如下圖所示）。可以說70%的輻射超標(biāo)都是時鐘問題引起的，因?yàn)闀r域中周期性的信號對應(yīng)頻域中離散的頻譜，所以時鐘能量比較集中，這在頻譜上的表現(xiàn)
2021-02-19 16:55:364251 
一前情提要 相信大家已經(jīng)看出來了，這是一個投影儀的輻射發(fā)射測試，測試標(biāo)準(zhǔn)為EN55032 Class B。此產(chǎn)品還有其他時鐘問題，不過已經(jīng)解決了，我們現(xiàn)在重點(diǎn)關(guān)注100MHz-200MHz這部分超標(biāo)
2021-09-05 09:42:092549 正確理解分貝真正的含義
1.3.4 電場、磁場與天線
1.3.5 RLC電路的諧振
1.4 EMC意義上的共模和差模
1.5 EMC測試實(shí)質(zhì)
1.5.1 輻射發(fā)射測試實(shí)質(zhì)
1.5.2 傳導(dǎo)騷擾測試實(shí)質(zhì)
1.5.3
2022-01-14 10:46:27119 測試數(shù)據(jù)中，1、2、3、5這幾個超標(biāo)點(diǎn)都是單支(窄帶干擾)，其頻率間隔是125MHz，所以是板子上125MHz時鐘的倍頻引起的超標(biāo)。超標(biāo)的頻率范圍是500-900MHz，屬于高頻范圍，而低頻幾乎沒有噪聲(125MHz，250MHz，375MHz并不超標(biāo)，甚至沒有噪聲)，為什么呢?
2022-04-27 10:56:209348 眾所周知，混響室是美國軍方提出是用于解決電磁兼容測試，包括測量輻射抗擾度和輻射發(fā)射測試的系統(tǒng)?；祉懯乙婚_始廣泛用于測試電磁兼容，但在射頻OTA領(lǐng)域中并未得到CTIA的認(rèn)可用于終端SISO測試， CTIA早期規(guī)定混響室用于大尺寸設(shè)備測試。
2022-05-16 10:18:391174 從PCB布局可以看出，12MHz的晶體正好布置在了PCB邊緣，當(dāng)產(chǎn)品放置于輻射發(fā)射的測試環(huán)境中時，被測產(chǎn)品的高速器件與實(shí)驗(yàn)室中參考地會形成一定的容性耦合，產(chǎn)生寄生電容，導(dǎo)致出現(xiàn)共模輻射，寄生電容越大，共模輻射越強(qiáng)。
2022-10-17 15:52:58754 從PCB布局可以看出，12MHz的晶體正好布置在了PCB邊緣，當(dāng)產(chǎn)品放置于輻射發(fā)射的測試環(huán)境中時，被測產(chǎn)品的高速器件與實(shí)驗(yàn)室中參考地會形成一定的容性耦合，產(chǎn)生寄生電容，導(dǎo)致出現(xiàn)共模輻射，寄生電容越大，共模輻射越強(qiáng)。
2023-01-09 10:40:59160 從PCB布局可以看出，12MHz的晶體正好布置在了PCB邊緣，當(dāng)產(chǎn)品放置于輻射發(fā)射的測試環(huán)境中時，被測產(chǎn)品的高速器件與實(shí)驗(yàn)室中參考地會形成一定的容性耦合，產(chǎn)生寄生電容，導(dǎo)致出現(xiàn)共模輻射，寄生電容越大，共模輻射越強(qiáng)。
2023-02-01 15:30:36260 在電磁兼容中，為什么多媒體設(shè)備輻射發(fā)射測試的天線距離被測設(shè)備3米或者10米，而汽車零部件輻射發(fā)射測試的天線距離被測設(shè)備1米？
2023-03-02 09:18:24609 提供汽車電子EMI輻射發(fā)射測試，傳導(dǎo)發(fā)射測試。實(shí)驗(yàn)室在廣州，外地朋友可以寄送樣品，全程貼心服務(wù)。
2023-03-06 09:50:44593 電磁兼容性（EMC）是電子設(shè)備存在于電磁環(huán)境中而不會對該環(huán)境中的其他電子設(shè)備造成干擾或干擾的能力。
2023-03-16 15:30:341762 
從PCB布局可以看出，12MHZ的晶體正好布置在了PCB邊緣，當(dāng)產(chǎn)品放置與輻射發(fā)射的測試環(huán)境中時，被測產(chǎn)品的高速器件與實(shí)驗(yàn)室中參考接地會形成一定的容性耦合，產(chǎn)生寄生電容，導(dǎo)致出現(xiàn)共模輻射，寄生電容越大，共模輻射越強(qiáng)。
2023-04-03 11:16:43305 作為傳播路徑而不是導(dǎo)線，既然稱之為發(fā)射，那么肯定相對而言其周圍空間就有接收物體或設(shè)備存在。
輻射發(fā)射（Radiated Emission）測試是測量EUT通過空間傳播的輻射騷擾場強(qiáng)。是對車輛的電子零部件輻射場強(qiáng)的一種測試方法。
2023-05-17 11:41:512648 
輻射發(fā)射（Radiated Emission）測試是測量EUT通過空間傳播的輻射騷擾場強(qiáng)?？梢苑譃榇艌?b class="flag-6" style="color: red">輻射、電場輻射，前者針對燈具和電磁爐，后者則應(yīng)用普遍。
2023-05-17 11:47:152685 
輻射發(fā)射（RE）測試是EMI的另一個測試項(xiàng)，不同類型的設(shè)備進(jìn)行輻射發(fā)射測試時都需選取響應(yīng)的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，按照不同的設(shè)備等級與分類，來確定被測試的設(shè)備（EUT）的測量限制和測試要求。
2023-05-20 10:26:49286 
：（示例，請不求甚解即可。） ? ? 輻射發(fā)射測試的線束長一般要求1.7m~2m。蓄電池和負(fù)載箱之間會用AN即人工網(wǎng)絡(luò)。AN可以阻止EUT產(chǎn)生的射頻電磁騷
2023-05-28 10:46:19926 
當(dāng)產(chǎn)品放置于輻射發(fā)射的測試環(huán)境中時，被測產(chǎn)品的高速器件與實(shí)驗(yàn)室中參考地會形成一定的容性耦合，產(chǎn)生寄生電容，導(dǎo)致出現(xiàn)共模輻射，寄生電容越大，共模輻射越強(qiáng)；而寄生電容實(shí)質(zhì)就是晶體與參考地之間的電場分布，當(dāng)兩者之間電壓恒定時，兩者之間電場分布越多，兩者之間電場強(qiáng)度就越大，寄生電容也會越大
2023-06-06 09:56:151059 電磁兼容性測試項(xiàng)目主要包括 1、輻射發(fā)射測試 測試電子、電氣、機(jī)械設(shè)備及其部件的輻射和輻射。包括來自所有部件、電纜和接頭的輻射和輻射，用于確認(rèn)輻射是否符合標(biāo)準(zhǔn)要求，并確保在正常使用過程中影響同一
2023-06-13 15:59:201924 輻射發(fā)射測試的實(shí)質(zhì)：就是測試產(chǎn)品中兩種等效天線所產(chǎn)生的輻射信號。
2023-06-13 16:20:451108 
當(dāng)無線產(chǎn)品開啟個人通信時代之際，EUT這個載體變了，輻射發(fā)射測試標(biāo)準(zhǔn)要不要變？怎么變？回答這個問題的不再是ANSI和CISPR，而是聯(lián)合國下屬機(jī)構(gòu)國際電信聯(lián)盟無線電通信部門（ITU-R）以及著名
2023-05-29 06:00:00673 
在電磁兼容的輻射發(fā)射測試中，最常見的就是時鐘輻射超標(biāo)，隨著系統(tǒng)設(shè)計復(fù)雜性和集成度的大規(guī)模提高，電子系統(tǒng)的時鐘頻率越來越高，處理的難度也越來越大。時鐘輻射的癥結(jié)在于，時鐘信號對應(yīng)的頻域?yàn)檎瓗ьl譜，能量
2023-06-27 14:45:22650 
某產(chǎn)品在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行GJB151B陸軍地面設(shè)備的輻射發(fā)射測試時，在10KHz- 200MHz頻段超標(biāo)，最大超標(biāo)達(dá)到96dB，實(shí)驗(yàn)不通過。企業(yè)工程師驗(yàn)證了各種整改方案效果不佳。
2023-08-04 10:04:09844 
電磁干擾EMI可以大致分為“傳導(dǎo)發(fā)射”和“輻射發(fā)射”兩種類型。
2023-08-23 10:51:421294 
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《通過輻射發(fā)射測試:如何避免采用復(fù)雜的EMI抑制技術(shù)以實(shí)現(xiàn)緊湊、高性價比的隔離設(shè)計.pdf》資料免費(fèi)下載
2023-11-22 10:32:460 不知道大家有沒有一個疑問，RE和CE都是騷擾發(fā)射，但是，何為輻射發(fā)射？何為傳導(dǎo)發(fā)射？EMC不僅本身有點(diǎn)玄學(xué)，命名也都很玄。
按照電磁干擾的原理，電磁干擾的作用途徑主要可以分為兩大類，既輻射干擾和傳導(dǎo)性干擾。
2023-12-13 09:13:56763 
方案背景 近場測試非常適合產(chǎn)品開發(fā)階段輻射發(fā)射的EMI預(yù)兼容測試。在EMC測試中，進(jìn)行輻射發(fā)射測試時，通常天線離被測物EUT很遠(yuǎn)，進(jìn)行的都是遠(yuǎn)場測量。標(biāo)準(zhǔn)的遠(yuǎn)場輻射發(fā)射測試，可以準(zhǔn)確定量的告訴我
2024-01-22 15:00:29177 
從PCB布局可以看出，12MHz的晶體正好布置在了PCB邊緣，當(dāng)產(chǎn)品放置于輻射發(fā)射的測試環(huán)境中時，被測產(chǎn)品的高速器件與實(shí)驗(yàn)室中參考地會形成一定的容性耦合，產(chǎn)生寄生電容，導(dǎo)致出現(xiàn)共模輻射，寄生電容越大，共模輻射越強(qiáng)
2024-03-20 11:47:1445 
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