EMC測試：傳導騷擾實驗原理

EMC檢測(電磁兼容性檢測)的全稱是Electro Magnetic Compatibility，其定義為“設(shè)備和系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁騷擾的能力” 該定義包含兩個方面的意思，首先，該設(shè)備應(yīng)能在一定的電磁環(huán)境下正常工作， 即該設(shè)備應(yīng)具備一定的電磁抗擾度(EMS)； 其次，該設(shè)備自身產(chǎn)生的電磁騷擾不能對其他電子產(chǎn)品產(chǎn)生過大的影響，即電磁騷擾(EMI)。

EMI的檢驗項目

①諧波電流（2～40次諧波）

②閃爍Flicker

③傳導騷擾（CE）

④輻射騷擾（RE）

EMS的檢驗項目

①. 靜電放電抗擾度（ESD）;

②. 輻射電磁場（80MHz～1000 MHz）抗擾度（RS）;

③. 電快速瞬變/脈沖群抗擾度;

④. 浪涌（雷擊）抗擾度;

⑤. 注入電流（150kHz～230MHz）抗擾度（CS）;

⑥. 電壓暫降和短時中斷抗擾度

1、Harmonic（諧波測試）

Standard:EN61000-3-2

a) 規(guī)定向公共電網(wǎng)發(fā)射的諧波電流的限值。

b)指定由在特定環(huán)境下被測設(shè)備產(chǎn)生的輸入電流的諧波成分的限值。

c) 適用于輸入電流小于或等于16A的接入公共低電壓網(wǎng)絡(luò)的電子電氣設(shè)備。

諧波測試主要是檢驗低壓供電網(wǎng)絡(luò)中的諧波可能對這些頻率敏感的設(shè)備所產(chǎn)生的影響。

諧波實驗原理：由于電子設(shè)備的工作模式、非線性元件和各種干擾噪聲等原因，導致其輸入電流不是完全的正炫波，往往含有豐富的高次諧波成分對電網(wǎng)造成污染。

電力系統(tǒng)中的諧波指的是那些頻率為供電系統(tǒng)額定頻率整數(shù)倍的

正弦電壓或正弦電流。

公共輸電系統(tǒng)出現(xiàn)諧波電流會引起以下問題﹕

1、損失更多電能﹐每一個諧波都有無功功率部分、有功功率部分﹐（其中有功功率會令導線發(fā)熱﹐導致導線要采用更大面積）；

2、電子部件使用壽命縮短；

3、電壓失真導致電機效率降低

諧波電壓是由疊加在電源電壓上的一個或多個連續(xù)正炫波的組合波構(gòu)成?。

?

諧波導致電網(wǎng)電壓產(chǎn)生畸變

A ?類限值

2. 電壓波動和閃爍 Flicker

Standard: EN 61000-3-3

a）對定電壓波動和閃爍對公共電網(wǎng)的影響的限值。

b） 指定在特定的條件下被測樣機產(chǎn)生的電壓變化限值和評估方法的指導。

c）適用于每相輸入電流小于或等于16A的接入公共低電壓網(wǎng)絡(luò)的220V到250V，50Hz的電子電氣設(shè)備

該標準的目的是為了保證產(chǎn)品不對與其連接在一起的照明設(shè)備造成過度的閃爍影響(燈光閃爍)。

下表對于各相對電壓變化值允許的分鐘變化率或變化時間?？梢岳斫鉃殡妷鹤兓仍酱?，允許的變化速度就越小，或者說是要求變化的時間也越大。

限值：

3.傳導騷擾 CE (0.15-30MHz)

Standard:EN61000-6-4

A) 電子電氣測量測試設(shè)備

B)電子電氣控制設(shè)備

C)電子電氣實驗室設(shè)備

Classification of equipment

Class A: (非家用)equipment suitable for use in all establishments other than domestic and those directly connected to a low voltage power supply network which supplies buildings used for domestic purposes.

Class B: (家用)equipment suitable for use in domestic establishments and in establishments directly connected to a low voltage power supply network which supplies buildings used for domestic purposes.

傳導騷擾實驗原理：

當電子設(shè)備干擾噪聲的頻率小于30MHz, 主要干擾音頻頻段，電子設(shè)備的電纜對于這類電磁波的波長來說，還不足一個波的波長(30MHz的波長為10m), 向空中輻射的效率很低，這樣若能測得電纜上感應(yīng)的噪聲電壓，就能衡量這一頻段的電磁噪聲干擾程度，這類噪聲就是傳導噪聲。

LISN的作用：

1.在EUT及供電電源之間起高頻隔離作用，避免來自供電電源的噪聲進入EUT,

影響測量結(jié)果。

2.模擬實際的供電電源阻抗，為EUT的電源端子間提供規(guī)定的阻抗，以使測量結(jié)果統(tǒng)一化。

3.保持測試頻段內(nèi)的阻抗穩(wěn)定為50歐，以實現(xiàn)與測量接收機/頻譜分析儀的輸入

阻抗匹配。

4.輻射騷擾 RE (30-1000MHz)

Standard:EN61000-6-4

Classification of equipment

Class A: equipment suitable for use in all establishments other than domestic and those directly connected to a low voltage power supply network which supplies buildings used for domestic purposes.非家用

Class B: equipment suitable for use in domestic establishments and in establishments directly connected to a low voltage power supply network which supplies buildings used for domestic purposes. 家用

a）電子電氣測量測試設(shè)備

b）電子電氣控制設(shè)備

c）電子電氣實驗室設(shè)備

輻射騷擾實驗原理：

當天線的總長度大于信號波長λ的1/20,會向空間產(chǎn)生有效的輻射發(fā)射，當天線的長度為λ/2的整數(shù)倍時，輻射的能量最大。當噪聲頻率大于30MHz時，電子設(shè)備的電纜，開孔、縫隙都容易滿足上述條件，形成輻射發(fā)射。

5.靜電放電 ESD

Standard: IEC 61000-4-2 Criteria B

目的是檢驗單個設(shè)備或系統(tǒng)抗靜電泄放干擾的能力。

實驗原理：ESD實驗是模擬人體、物體在接觸設(shè)備時產(chǎn)生的靜電放電或人體、物體對鄰近物體的放電包括直接通過能量的交換，引起器件的損壞或放電所引起的近場(電場和磁場的變化)，造成設(shè)備的誤動作。

?

Test Setup

6、輻射抗擾度 RS

Standard: IEC 61000-4-3 Criteria A

目的是檢驗單個設(shè)備或系統(tǒng)抗電場干擾的能力。

Test Waveform

頻率范圍：80MHz-2.5GHz,

調(diào)制方式：80％ AM, 1kHz sin-wave

頻率步長：1％

駐留時間: 3s

?

Test Setup

?

?

7、快速脈沖群 EFT/Burst

Standard: IEC 61000-4-4 Criteria B

實驗目的是考察單個設(shè)備或系統(tǒng)抗快速瞬變干擾的能力，這些瞬變騷擾是由于感性負載的中斷等瞬變動作，導致脈沖成群的出現(xiàn)，脈沖重復頻率高，上升時間短，單個脈沖能量低等會導致設(shè)備誤動作。

?

Test Setup

8.雷擊浪涌 Surge

Standard: IEC 61000-4-5 Criteria B

實驗目的是考察EUT抗浪涌干擾的能力，這些瞬變騷擾是由于其他設(shè)備的故障短路，主電源系統(tǒng)切換，間接雷擊等產(chǎn)生的干擾。

Test Waveform

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9.傳導射頻干擾 CS

Standard: IEC 61000-4-6 Criteria A

實驗目的是考察單個設(shè)備或系統(tǒng)抗傳導騷擾的能力。

實驗原理：主要考察外界從導線或電纜而引入的0.15MHz-80MHz的連續(xù)干擾電壓時的抗擾性。

Test Waveform

頻率范圍：0.15MHz-80MHz

調(diào)制方式：80％ AM, 1kHz sin-wave

頻率步長：1％

駐留時間: 3s

?

6.公頻磁場 Rated power frequency magnetic field

Standard: IEC 61000-4-8 Criteria A

實驗驗目的是考察EUT抗磁場干擾的能力。

*針對工業(yè)環(huán)境要求

*針對磁敏感設(shè)備，例如霍爾元件

7.電壓暫降和跌落 Dips

Standard: IEC 61000-4-11 Criteria B & C

實驗驗目的是考察EUT抗電壓跌落和暫降的能力。

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編輯：黃飛

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