JTAG在整個嵌入式系統(tǒng)開發(fā)生命周期中的系統(tǒng)調(diào)試和測試中的作用

　　隨著摩爾定律的每轉(zhuǎn)變，設(shè)計人員在開發(fā)過程的每個階段都面臨著新的復(fù)雜程度的挑戰(zhàn)。芯片設(shè)計師不僅要在塊硅片上獲得正確的集成電路（ IC） 邏輯、性能、功率和產(chǎn)量。

　　此外，系統(tǒng)開發(fā)人員必須將首次成功擴展到板級參考設(shè)計、引導(dǎo)代碼、操作系統(tǒng) （OS） 端口和應(yīng)用軟件，更不用說閃存編程、制造測試方法和現(xiàn)場支持了。同時，滿足緊迫的期限和成本目標(biāo)從未如此具有挑戰(zhàn)性。

　　改變瓶頸隨著硬件和軟件開發(fā)技術(shù)的發(fā)展，系統(tǒng)測試和調(diào)試的性質(zhì)也在不斷發(fā)展。摩爾定律不僅影響了處理器和內(nèi)存設(shè)計，而且在集成系統(tǒng)功能、將操作系統(tǒng)（或?qū)崟r操作系統(tǒng) （RTOS））集成到嵌入式系統(tǒng)以及捆綁到嵌入式系統(tǒng)的應(yīng)用軟件數(shù)量方面也發(fā)生了類似的變化。終產(chǎn)品。

　　讓我們倒計時。在大規(guī)模集成 （LSI） 組件（至少 1000 個門）時代，中央處理器（ CPU） 只是 CPU，受到當(dāng)時半導(dǎo)體工藝技術(shù)、功耗和產(chǎn)量的限制。

　　調(diào)試在很大程度上僅限于集成硬件功能、調(diào)整芯片間時序和驗證邏輯功能的過程。系統(tǒng)軟件大約有數(shù)百 KB，并且受到預(yù)算內(nèi)存空間中可容納的代碼量的限制。

　　時代變了。如今，內(nèi)存空間和高CPU時鐘頻率“幾乎”。設(shè)計、調(diào)試和測試挑戰(zhàn)已經(jīng)從硬件組件集成和調(diào)試發(fā)展到系統(tǒng)硬件設(shè)計的仿真，先于 SOC 流片，再到系統(tǒng)軟件建模，然后是數(shù)百兆字節(jié) （MB） 的集成） 系統(tǒng)軟件。

　　在系統(tǒng)級，當(dāng)今的大多數(shù)嵌入式設(shè)備都需要功能齊全的嵌入式操作系統(tǒng)，運行多個由內(nèi)存管理單元 （MMU） 管理的應(yīng)用程序，并且越來越多地提供某種網(wǎng)絡(luò)功能，例如局域網(wǎng) （LAN） 或無線網(wǎng)絡(luò)連接用于控制或網(wǎng)絡(luò)訪問數(shù)據(jù)庫或語音、數(shù)據(jù)和視頻服務(wù)。

　　當(dāng)代嵌入式解決方案的是具有數(shù)百萬個門的片上系統(tǒng) （SOC），將高速緩存、暫存器隨機存取存儲器 （RAM） 和外圍功能集成到一個芯片上；許多組件接口被埋在芯片內(nèi)，不再可用于系統(tǒng)測試/調(diào)試的引腳或板級。CPU 內(nèi)核現(xiàn)在以數(shù)百兆赫茲（MHz） 的頻率運行，并集成了許多硬件接口，因此歷史測試方法已不復(fù)存在。

　　JTAG 的救援——邊界掃描測試聯(lián)合測試行動小組 （JTAG） 在 1990 年代開始通過標(biāo)準(zhǔn)化串行掃描鏈方法（JTAG；IEEE 1149.1）來訪問片上資源和內(nèi)置的額外移位寄存器來解決板級測試問題進入每個 IC 的I/O路徑以進行邊界掃描測試。

　　在邊界掃描測試出現(xiàn)之前，很難調(diào)試芯片組件下方的潛在焊料凸點問題。在電路板組裝之前，每個 IC 都經(jīng)過測試以確保其完美運行。因此，如果組裝好的印刷電路板PCB不能正常工作，則故障一定是由印刷電路板中的焊橋、間隙或缺陷引起的。但是，如果缺陷位于芯片組件下方，無法看到或不易修復(fù)怎么辦？

　　邊界掃描測試方法解決了這個問題。如圖 1 所示，添加了一條通過 I/O 寄存器的串行掃描路徑，并由每塊板獨有的復(fù)雜測試程序執(zhí)行，以幫助識別有故障的芯片或其他設(shè)備，以便對它們進行返工或更換。在圖 1 的圖表中，每個灰色框代表一類設(shè)備功能，例如閃存、外圍設(shè)備、I/O 端口等。

　　圖 1. 用于邊界掃描測試的 JTAG 連接JTAG 方法提供了一種測試非常復(fù)雜的系統(tǒng)的方法，同時保持較低的引腳數(shù)。具體來說，無論掃描鏈寄存器路徑有多長，IEEE1149.1 規(guī)范只需要 5 個引腳用于 JTAG 連接。JTAG 測試訪問端口的標(biāo)準(zhǔn)引腳功能包括：

　　TRST 測試復(fù)位（從 JTAG 探針輸出到芯片以復(fù)位 JTAG 測試邏輯）TCK 測試時鐘（從 JTAG 探針輸出到芯片以設(shè)置 JTAG 掃描速率）TDI 測試數(shù)據(jù)輸入（串行測試數(shù)據(jù)輸入到芯片）TDO 測試數(shù)據(jù)輸出（串行測試數(shù)據(jù)從芯片輸出）TMS 測試模式選擇（通過 TCK 上升沿的狀態(tài)確定運行或調(diào)試模式）幾家公司幾乎完全專注于邊界掃描測試，專注于 JTAG 硬件連接設(shè)備和基于主機的測試軟件工具，以使測試程序適應(yīng)每個電路板設(shè)計。

　　JTAG 的第二個角色——用于軟件/硬件調(diào)試的 CPU 內(nèi)核訪問鑒于 CPU 處理器內(nèi)核現(xiàn)在通過內(nèi)核中的集成緩存、本地片上總線、動態(tài)分配內(nèi)存的 MMU 以及其他 SOC 外設(shè)和 I/O 塊，JTAG 路徑提供了到 CPU 內(nèi)部調(diào)試邏輯的直接連接。因此，我們現(xiàn)在有了一種觀察和控制程序執(zhí)行的方法。由于緩存和外圍設(shè)備已移至芯片上，因此調(diào)試邏輯也必須移至芯片上（下圖 2）。

　　圖 2. 用于軟件調(diào)試/開發(fā)的 JTAG 連接通過這種直接內(nèi)核訪問，基于主機的調(diào)試器軟件現(xiàn)在可以斷言“調(diào)試異?！?，重定向處理器以從調(diào)試邏輯寄存器而不是程序計數(shù)器獲取下一條指令，從而有效地控制處理器以執(zhí)行軟件調(diào)試操作：

　　* Run-control： Start， Stop， Single-Step， Step Into/Over （source or instruction）* 設(shè)置硬件和軟件斷點* 指定在斷點處要滿足的條件或要執(zhí)行的腳本* 控制目標(biāo)系統(tǒng)的復(fù)位和初始化*要調(diào)試的代碼或要編程到閃存中的代碼*執(zhí)行閃存編程和其他半托管實用程序請注意，在上述兩種應(yīng)用中，邊界掃描和軟件調(diào)試，JTAG 的作用只是提供物理層通信接口，類似于ISO開放系統(tǒng)互連模型中的 PHY 層。

　　支持哪些調(diào)試功能的協(xié)議體現(xiàn)在調(diào)試邏輯中，設(shè)計到 CPU 內(nèi)核和主機上運行的調(diào)試器軟件功能中。

　　JTAG 調(diào)試優(yōu)點使用具有 JTAG 訪問權(quán)限的調(diào)試器的主要優(yōu)點是：

　　* JTAG 連接提供對否則隱藏的 CPU 內(nèi)核的直接訪問* JTAG接口不占用系統(tǒng) I/O 端口（串行、以太網(wǎng)）* JTAG 調(diào)試方法使用很少或沒有系統(tǒng)內(nèi)存分配（如在監(jiān)視器中）* 沒有監(jiān)視器會隨著系統(tǒng)崩潰而崩潰（在電路板啟動時沒有用）* JTAG 連接不需要目標(biāo)系統(tǒng)電源（一些僅 USB 探頭除外）* JTAG 調(diào)試器可以在不停止 CPU 的情況下“竊取周期”來讀取寄存器/內(nèi)存（假設(shè) CPU 中內(nèi)置的調(diào)試邏輯提供此功能）* JTAG 調(diào)試會話可以重置和/或初始化系統(tǒng)（注意：系統(tǒng)重置不是 JTAG 的一部分。相反，它是使用 JTAG 進行遠程調(diào)試的附屬物，可以通過網(wǎng)絡(luò)遠程重置 JTAG 探針和目標(biāo)。） * JTAG 調(diào)試器可以在不干擾系統(tǒng)的情況下連接到調(diào)試邏輯JTAG 調(diào)試限制JTAG 調(diào)試連接并不能解決世界上所有的調(diào)試問題，因為存在一些嚴(yán)重的限制：

　　1） 通過 JTAG 代碼并不是大型程序 （》20MB） 的快方式，尤其是對于依賴 10/100BaseT 以太網(wǎng)訪問的目標(biāo)系統(tǒng)。

　　2） 多核系統(tǒng)調(diào)試，其中多個 CPU 內(nèi)核以菊花鏈方式連接在同一個掃描鏈上并且可以單獨訪問，但實現(xiàn)同步調(diào)試操作需要額外的片上硬件來避免與 JTAG 操作相關(guān)的打滑。

　　隨后，在發(fā)出異步JTAG 停止命令后可能會經(jīng)過數(shù)百個 CPU 周期。這些功能的示例現(xiàn)在開始出現(xiàn)，例如，Cavium Networks Octeon 系列中的全局處理器間控制邏輯，具有多達 16 個64 位cnMIPS 內(nèi)核。

　　3）“Printf”仍然為提取各種調(diào)試狀態(tài)提供了一個簡單的補充。

　　其他調(diào)試功能并非所有調(diào)試功能本身都使用 JTAG 掃描鏈。例如，一些處理器包括收集跟蹤信息的能力，這是一種非常有價值的調(diào)試工具，因為它可以通過分支和中斷跟蹤執(zhí)行，通常可以節(jié)省數(shù)小時或數(shù)天的時間來尋找特別虛幻的錯誤。

　　在代跟蹤實現(xiàn)中，第二個調(diào)試邏輯塊以流水線時鐘速率（片外和板外）卸載跟蹤數(shù)據(jù)，以便在用于控制 JTAG 操作的同一調(diào)試探針中收集。

　　原始的 ARM 嵌入式跟蹤宏單元 （ETM） 和 MIPS EJTAG 調(diào)試邏輯的 PCTrace 組件均未使用 JTAG 來上傳跟蹤數(shù)據(jù)。兩者都使用 JTAG 來設(shè)置操作模式，但每個都有自己獨立的并行總線、跟蹤協(xié)議和時鐘線，可在 CPU 運行時卸載跟蹤數(shù)據(jù)。

　　這為三個限制奠定了基礎(chǔ)：（1） 可靠地收集有效數(shù)據(jù)的頻率，（2） 在芯片上添加多達 20 個額外焊盤、封裝上的引腳以及使調(diào)試探針成本加倍的成本，以及 （3 ） 沒有實用的方法來在具有多個 CPU 內(nèi)核的 SOC 中實現(xiàn)跟蹤收集。

　　片上跟蹤緩沖器下一階段的跟蹤技術(shù)開發(fā)使用片上跟蹤緩沖器來收集有關(guān)程序執(zhí)行流的數(shù)據(jù)。這種方法帶來雙重好處。首先，它支持以CPU 時鐘速率收集跟蹤數(shù)據(jù)。同時，這種方法將成本降至，因為跟蹤數(shù)據(jù)是通過用于正常“運行控制”調(diào)試的相同 JTAG 掃描鏈路徑/引腳上傳的。

　　ARM 的新嵌入式跟蹤緩沖器 （ETB） 和 MIPS 使用跟蹤控制塊 （TCB） 的新 PDTrace 為后續(xù)主機處理提供了全面的跟蹤信息，盡管芯片面積和成本有所增加。

　　英特爾 XScale 應(yīng)用處理器（IOP、IXC、IXP 和 PXA）在其實現(xiàn)中使用了這一主題的創(chuàng)造性變體。分支數(shù)據(jù)和分支計數(shù)數(shù)據(jù)不是收集每條指令的大量跟蹤狀態(tài)信息，而是收集在一個小得多的片上跟蹤緩沖區(qū)中。根據(jù)這些數(shù)據(jù)，可以重建執(zhí)行流程，只是沒有實時標(biāo)記可用。

　　根據(jù)所使用的技術(shù)和片上緩沖區(qū)的大小，可以顯示的跟蹤數(shù)據(jù)量需要權(quán)衡取舍。因此，適用通常的成本與收益權(quán)衡。一定量的跟蹤信息總比沒有好，在典型的調(diào)試場景中，應(yīng)該考慮多少才是真正足夠的。

　　雖然大量的跟蹤信息提供了一種無需“檢測”代碼（這可能會影響性能）就可以分析代碼執(zhí)行情況的方法，但與之相關(guān)的開發(fā)工具成本也會增加。

　　表 1：JTAG 在整個開發(fā)和產(chǎn)品生命周期中的適用性和優(yōu)勢其他 JTAG 應(yīng)用除了硬件/軟件調(diào)試和邊界掃描測試，JTAG 連接還被各種工具供應(yīng)商用于直接在線閃存編程、發(fā)送命令腳本以在目標(biāo)板上執(zhí)行、編程現(xiàn)場可編程邏輯器件（ FPLD），并為數(shù)字信號處理器（DSP） 等其他功能塊提供類似的專用調(diào)試功能。許多復(fù)雜的 IC 包括內(nèi)置的自測功能，這些功能通過 JTAG 啟動和后分析。