虹科測(cè)試測(cè)量

動(dòng)態(tài)

• 上傳了資料 2021-10-14 16:56

  虹科DASYLab知識(shí)庫(kù)

  Dasylab

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2021-10-14 16:53

  DASYLab數(shù)據(jù)采集軟件開(kāi)發(fā)平臺(tái)

  

  產(chǎn)品型號(hào)：DASYLab 2020 編程方式：無(wú)代碼圖形化編程 控制方式：并行數(shù)據(jù)流控制 軟件功能：信號(hào)分析、數(shù)學(xué)運(yùn)算、統(tǒng)計(jì)、顯示、觸發(fā)等百余種功能模塊

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• 發(fā)布了文章 2021-10-14 03:19

  虹科新品 | PXI多單體電池仿真模塊

  

  仿真 電池

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• 發(fā)布了文章 2021-10-12 16:18

  虹科電子 | 設(shè)備電容老化危害大，出廠測(cè)試可別輕視它！

  

  作為電子元器件測(cè)試中的重要環(huán)節(jié)，電容失效性測(cè)試一直以來(lái)都是電容生產(chǎn)和應(yīng)用廠家繞不開(kāi)的話(huà)題。本文將介紹在當(dāng)今快速工業(yè)化的大環(huán)境下，進(jìn)行高效率的電容失效性測(cè)試的方法。

  批量測(cè)試 可靠性測(cè)試

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