上海昊量光電設(shè)備有限公司

動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2024-08-01 08:16

  光譜可調(diào)光源在消費(fèi)電子傳感器調(diào)試及測試的應(yīng)用介紹

  

  背景介紹消費(fèi)電子產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用在日常生活的方方面面，包括手機(jī)、筆記本電腦、平板電腦、智能手表等等。消費(fèi)電子中通常會包含各類傳感器用于感知設(shè)備周圍環(huán)境參數(shù)。包括環(huán)境光傳感器，接近傳感器，頻閃傳感器等。環(huán)境光傳感器可以檢測周圍的光源強(qiáng)度，并根據(jù)檢測結(jié)果自動調(diào)節(jié)屏幕亮度，它還可以調(diào)整相機(jī)曝光、白平衡參數(shù)，控制屏幕自動旋轉(zhuǎn)和調(diào)整環(huán)境照明等。接近傳感器用于檢測設(shè)備與物

  傳感器 光源 測試 消費(fèi)電子

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• 發(fā)布了文章 2024-07-31 08:16

  Moku:Lab應(yīng)用于雙光頻梳鎖定實(shí)現(xiàn)高效精準(zhǔn)測距

  

  光學(xué)頻率梳（OFC）已經(jīng)成為精確測量頻率和距離的重要工具，已經(jīng)在LiDAR、微納器件的3D表面輪廓和引力波探測等領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用。典型的OFC測量涉及許多的飛行時間檢測，它通過檢測激光脈沖從物體反射并返回探測器（通常是光學(xué)干涉儀）所需的時間來測定到物體或表面的距離。雖然測量概念很簡單，但要同時精確且快速地完成測量極具挑戰(zhàn)，通常需要犧牲其中一項(xiàng)。近期，中科院西安

  檢測 測量系統(tǒng) 測量頻率響應(yīng)

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• 發(fā)布了文章 2024-07-26 08:16

  光通信時代的引領(lǐng)者：光子晶體光纖

  

  摘要光子晶體光纖(photoniccrystalfiber，簡稱PCF)，又被稱為多孔或微結(jié)構(gòu)光纖。光子晶體光纖是一種新型光纖結(jié)構(gòu)，利用光子晶體的周期性結(jié)構(gòu)來控制和引導(dǎo)光信號的傳輸。光子晶體光纖具有許多獨(dú)特的光學(xué)特性，使其在光通信、光傳感和光子學(xué)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。與傳統(tǒng)的光纖相比，光子晶體光纖具有更大的波導(dǎo)帶寬、更低的傳輸損耗和更高的靈活性。光子晶體光

  PCF 光子晶體光纖 光通信

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• 發(fā)布了文章 2024-07-18 08:16

  搭建光學(xué)相干斷層掃描（OCT）系統(tǒng)您需要知道

  

  搭建光學(xué)相干斷層掃描（OCT）系統(tǒng)您需要知道！光學(xué)相干斷層掃描（OCT）系統(tǒng)的搭建需要光學(xué)和機(jī)械、信號和圖像處理等背景知識、一定的編程能力、以及大量的時間投入。使用現(xiàn)成的OCT光譜儀作為起始組件可以大大加快和簡化這一過程，并提高收集到的圖像的質(zhì)量，在這篇技術(shù)說明中，我們將向您介紹搭建光學(xué)相干斷層掃描系統(tǒng)的一些關(guān)鍵原理和光路，并分享我們技術(shù)專家的一些建議，希望

  3D成像 OCT 光譜儀

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• 發(fā)布了文章 2024-07-18 08:16

  OCT在無損檢測中的應(yīng)用舉例

  

  光學(xué)斷層掃描成像（OCT）利用紅外光提供表面輪廓和次表面結(jié)構(gòu)及均勻性的信息，提供比超聲波檢測更高的分辨率和更快的圖像速度。該新型無損檢測（NDT）技術(shù)無需接觸或耦合介質(zhì)，能夠?qū)崟r提供精確的信息，用于現(xiàn)場過程反饋和成品的高通量質(zhì)量控制。光學(xué)斷層掃描成像（OCT）在無損檢測中的主要優(yōu)勢為：高分辨率：2.6-10.0μm視頻速率采集：每秒30張圖像成像深度：高達(dá)5

  OCT 無損檢測 超聲波

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• 發(fā)布了文章 2024-07-18 08:16

  使用800nm OCT光譜儀實(shí)現(xiàn)超深OCT成像

  

  使用800nmOCT光譜儀實(shí)現(xiàn)超深OCT成像傳統(tǒng)上，OCT成像需要使用更長的波長來探測單次掃描中超過幾毫米的深度，但波長超過1100nm之后，就需要使用InGaAs探測器相機(jī)作為探測元件了，這是的整個OCT光譜儀的成本大幅增加。為此，美國Wasatch公司開發(fā)了一種擁有專利的獨(dú)特光譜儀設(shè)計(jì)，使其能夠使用800nmOCT光譜儀實(shí)現(xiàn)高達(dá)12毫米的成像深度，為長距

  OCT OCT成像 光譜儀 探測器

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• 發(fā)布了文章 2024-07-18 08:16

  OCT：從原理到關(guān)鍵參數(shù)

  

  一、什么是OCT？光學(xué)相干斷層掃描（OCT）是一種三維成像技術(shù)，可以在散射介質(zhì)中進(jìn)行高分辨率成像，無需接觸樣品或使用任何耦合介質(zhì)。OCT的橫向成像分辨率可達(dá)到幾微米，成像深度可達(dá)幾毫米。OCT能夠提供樣品表面輪廓和次表面結(jié)構(gòu)（即表面以下的結(jié)構(gòu)）及樣品均勻性的信息，從而實(shí)時提供準(zhǔn)確的信息用于診斷、監(jiān)測和現(xiàn)場過程反饋。因此，OCT已經(jīng)在眼科、皮膚科、血管造影等生

  3D圖像 OCT 三維成像

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• 發(fā)布了文章 2024-07-11 08:16

  東南大學(xué)利用Moku:Pro跟蹤MEMS應(yīng)用諧振頻率并穩(wěn)定輸出信號幅值

  

  簡介與挑戰(zhàn)微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）利用硅的電學(xué)和機(jī)械特性，將機(jī)械結(jié)構(gòu)和電子結(jié)構(gòu)集成在一起，用于檢測加速度、旋轉(zhuǎn)、角速度等。MEMS設(shè)備的核心組件包括一個垂直懸掛于設(shè)備運(yùn)動方向的質(zhì)量塊，在其框架內(nèi)驅(qū)動方向上共振。通過測量框架在感應(yīng)方向上的運(yùn)動，可以檢測到由旋轉(zhuǎn)運(yùn)動引起的科里奧利加速度。圖1：一個質(zhì)量塊懸掛在可水平移動的中心框上。通過測量框架的運(yùn)動，可以感知科里奧

  mems 微機(jī)電系統(tǒng) 諧振頻率

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• 發(fā)布了文章 2024-07-04 08:16

  基于SPAD單光子相機(jī)的LiDAR技術(shù)革新

  

  單光子光探測和測距（激光雷達(dá)）是在復(fù)雜環(huán)境中進(jìn)行深度成像的關(guān)鍵技術(shù)。盡管最近取得了進(jìn)展，一個開放的挑戰(zhàn)是能夠隔離激光雷達(dá)信號從其他假源，包括背景光和干擾信號。本文介紹了一種基于量子糾纏光子對的LiDAR（光探測與測距）技術(shù)，該技術(shù)通過利用時空糾纏光子對及SAPD單光子相機(jī)的特性，顯著提高了在復(fù)雜環(huán)境中的探測精度和抗干擾能力。該技術(shù)使用SPAD單光子相機(jī)作為探

  LIDAR 單光子 相機(jī)

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• 發(fā)布了文章 2024-06-27 08:16

  激光指向穩(wěn)定在光刻系統(tǒng)應(yīng)用中的關(guān)鍵作用及其優(yōu)化方案

  

  光刻是半導(dǎo)體制造工藝中的核心之一，極紫外光刻技術(shù)作為新一代光刻技術(shù)也處于快速發(fā)展階段。其基本原理是利用光致抗蝕劑（或稱光刻膠）感光后因光化學(xué)反應(yīng)而形成耐蝕性的特點(diǎn)，將掩模板上的圖形刻制到被加工表面上。光刻半導(dǎo)體芯片二氧化硅的主要步驟包括涂布光致抗蝕劑、套準(zhǔn)掩模板并曝光、用顯影液溶解未感光的光致抗蝕劑層、用腐蝕液溶解掉無光致抗蝕劑保護(hù)的二氧化硅層，以及去除已感

  光刻 半導(dǎo)體 激光 芯片

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