中圖儀器

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• 發(fā)布了文章 2023-10-24 09:42

  一種晶圓表面形貌測量方法-WD4000

  

  WD4000無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。1、使用光譜共焦對射技術測量晶圓Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等參數(shù)，同時生成Mapping圖；2、采用白光干涉測量技術對Wafer表面進行非接觸式掃描同時建立表面3D層析圖像，顯示2D剖面圖和3D立體彩色視圖，高效分析表

  半導體 晶圓 測量

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• 發(fā)布了產品 2023-10-23 11:17

  三坐標測量設備

  

  產品型號：Mars575 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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• 發(fā)布了產品 2023-10-23 11:13

  閃測影像儀

  

  產品型號：Novator系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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• 發(fā)布了產品 2023-10-23 11:09

  一鍵全自動閃測儀

  

  產品型號：VX8000系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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• 發(fā)布了產品 2023-10-23 11:05

  半導體晶圓表面三維形貌測量設備

  

  產品型號：WD4000 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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• 上傳了資料 2023-10-20 09:52

  白光干涉儀(光學輪廓儀)：揭秘測量坑的形貌的利器！

  干涉儀 測量 白光干涉儀

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• 上傳了資料 2023-10-20 09:49

  高精度激光測長機：精準測量的嶄新科技

  測量 激光

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• 上傳了資料 2023-10-20 09:46

  御風而行，激光跟蹤儀助力風電行業(yè)發(fā)展

  激光跟蹤儀

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• 發(fā)布了產品 2023-10-19 11:17

  3d線激光輪廓測量儀

  

  產品型號：VJ系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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• 發(fā)布了產品 2023-10-19 11:08

  深圳半導體晶圓檢測設備廠商

  

  產品型號：WD4000 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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