印刷電路板被廣泛使用,但由于成本和技術(shù)的原因,PCB的生產(chǎn)和應(yīng)用存在大量的故障問題,因而導(dǎo)致很多質(zhì)量糾紛為了找出失敗的原因并找到問題的解決方案并區(qū)分責(zé)任,必須分析失敗案例。
1。乙<強(qiáng)>ackground<強(qiáng)>的
樣品是PCBA板。在SMT之后,發(fā)現(xiàn)少量焊盤是焊接缺陷,并且樣品的故障率約為3/1000。 PCB焊盤的表面處理工藝是浸入式焊接,PCB是雙面表面貼裝技術(shù),所有焊接缺陷的焊盤都位于第二面。
2.分析說明:
首先,進(jìn)行了外觀檢查。通過對(duì)失效墊的顯微放大觀察,墊上沒有焊膏現(xiàn)象,在墊表面沒有發(fā)現(xiàn)明顯的變色和其他異常情況。結(jié)果如圖1所示:
圖1:焊接缺陷
然后分別在爐墊和非爐墊上進(jìn)行NG墊的表面SEM觀察和EDS組成分析。 NG墊表面形成良好,一次爐墊和破壞墊表面出現(xiàn)再結(jié)晶。表面未發(fā)現(xiàn)異常元素,分別如圖2至圖4所示:
< p>圖2:NG墊的SEM照片和EDS光譜
圖3 EDS光譜圖波峰焊接后墊片的EM照片
圖4EDS EM照片的光譜圖墊
然后使用FIB技術(shù)制作故障墊,一次性爐墊和未燒制墊的輪廓,以及在表面上掃描的組件線部分進(jìn)行。發(fā)現(xiàn)Cu元素已經(jīng)出現(xiàn)在NG墊的表面層中,表明Cu已擴(kuò)散到錫層表面。 Cu元素出現(xiàn)在過度焊盤的表面層中,深度約為0.3μm,這表明純錫層的厚度在初級(jí)焊盤之后約為0.3μm。純錫層的厚度約為0.8μm,這表明未充氣墊的表面層深約0.8μm,這表明純錫層的厚度約為0.8μm。鑒于EDS測試精度低,誤差較大,進(jìn)一步分析了AES對(duì)接墊的表面成分。
結(jié)果如圖5至7所示:
圖5:NG墊片的SEM照片和EDS光譜
圖6:波峰焊接后焊盤輪廓的SEM照相EDS光譜圖
圖7:焊盤輪廓的SEM照片EDS光譜圖
最后,分析了NG墊和過爐主墊的電極表面成分。結(jié)果表明,NG墊主要是Sn,O在0~200nm的深度范圍內(nèi),在200~350nm的深度范圍內(nèi),它是銅錫合金,幾乎沒有純錫層。過燒墊主要是0~140nm深度范圍的錫層,其次是元素Cu(金屬化合物)。結(jié)果如圖8至15所示:
圖8.NG墊測試位置
圖9. NG墊電極表面的組成分析
圖10。 NG墊表面成分分析(約50nm深度)
圖11.0~350nm深度的成分分布曲線
圖12.波峰焊后主墊表面成分分析示意圖
圖13。通過波峰焊接焊接主墊表面的成分分析
圖14.波浪后主墊表面(約50nm深度)的成分分析峰值焊接
圖15.波峰焊后主墊(0~220nm)表面深度的成分分布曲線
結(jié)論:從上面的分析可以看出NG墊已經(jīng)在SMT mou之前完成了一次在過爐過程中,表面錫會(huì)被氧化,同時(shí),高溫會(huì)加劇錫與銅之間的擴(kuò)散,形成銅錫合金,從而形成銅錫合金。層厚。錫層變薄。當(dāng)錫層的厚度小于0.2μm時(shí),焊盤的可焊性將無法保證,導(dǎo)致鍍錫失敗。
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