BSM250D17P2E004
1700V耐壓產(chǎn)品的需求高漲
采用新的芯片涂覆材料和工藝方法
絕緣擊穿
高溫高濕反偏試驗(yàn)
HV-H3TRB
導(dǎo)通電阻降低10%
ROHM面向以戶外發(fā)電系統(tǒng)和充放電測(cè)試儀等評(píng)估裝置為首的工業(yè)設(shè)備用電源的逆變器和轉(zhuǎn)換器,開發(fā)出實(shí)現(xiàn)行業(yè)領(lǐng)先*可靠性的、額定值保證1700V/250A的全SiC功率模塊“BSM250D17P2E004”。
*截至2018年10月26日 ROHM調(diào)查數(shù)據(jù)
需求高漲的1700V耐壓全SiC功率模塊
近年來(lái),由于SiC產(chǎn)品的節(jié)能效果優(yōu)異,以1200V耐壓為主的SiC產(chǎn)品在汽車和工業(yè)設(shè)備等領(lǐng)域的應(yīng)用日益廣泛。系統(tǒng)呈高電壓化發(fā)展趨勢(shì),1700V耐壓產(chǎn)品的需求日益旺盛。然而,1700V耐壓產(chǎn)品受可靠性等因素影響,遲遲難以推出SiC產(chǎn)品,目前主要使用IGBT。
此次開發(fā)的1700V模塊采用新涂覆材料和新工藝方法,成功地預(yù)防了絕緣擊穿,并抑制了漏電流的增加。另外,在高溫高濕反偏試驗(yàn)中,呈現(xiàn)出極高可靠性,超過(guò)1,000小時(shí)也未發(fā)生絕緣擊穿現(xiàn)象,從而成功推出了額定值保證1700V/250A的全SiC功率模塊。
在高溫高濕環(huán)境下確保行業(yè)領(lǐng)先的可靠性
1700V全SiC功率模塊BSM250D17P2E004通過(guò)采用新涂覆材料作為芯片的保護(hù)對(duì)策,并引進(jìn)新工藝方法,使模塊通過(guò)了高溫高濕反偏試驗(yàn)(HV-H3TRB:High Voltage High Humidity High Temperature Reverse Bias)。
對(duì)BSM250D17P2E004和同等IGBT模塊實(shí)施了HV-H3TRB高溫高濕反偏試驗(yàn),試驗(yàn)條件為在85℃/85%的高溫高濕環(huán)境下,施加1360V。試驗(yàn)結(jié)果是IGBT模塊比較早期出現(xiàn)絕緣劣化或絕緣擊穿導(dǎo)致的漏電流增加現(xiàn)象,在1,000小時(shí)內(nèi)發(fā)生了故障。而新開發(fā)的SiC功率模塊即使超出1,000小時(shí)也未發(fā)生絕緣擊穿,表現(xiàn)出極高的可靠性。
導(dǎo)通電阻更低,有助于進(jìn)一步降低設(shè)備損耗
構(gòu)成BSM250D17P2E004的SiC SBD(肖特基勢(shì)壘二極管)和SiC MOSFET全部由ROHM生產(chǎn)。通過(guò)SiC SBD和SiC MOSFET的最佳組合配置,使導(dǎo)通電阻低于同等普通產(chǎn)品10%。這將非常有助于進(jìn)一步降低應(yīng)用的能耗。
SiC功率模塊的產(chǎn)品陣容
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電阻
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半導(dǎo)體
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功率
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