3D相移模式投影系統(tǒng)與高分辨率、遠(yuǎn)心鏡頭和大畫(huà)幅相機(jī)相結(jié)合,實(shí)現(xiàn)高精度3D測(cè)量。
非接觸式3D測(cè)量可以通過(guò)各種技術(shù)實(shí)現(xiàn),最常用的方法包括:(1)激光輪廓測(cè)量法:用高功率激光器和線陣或面陣傳感器實(shí)現(xiàn);(2)立體相機(jī)法:用兩個(gè)面陣傳感器和主動(dòng)模式投影(使用一個(gè)面陣相機(jī)和一個(gè)主動(dòng)模式投影儀)實(shí)現(xiàn)(見(jiàn)圖1)。
在單線激光器/相機(jī)組合中,當(dāng)物體或掃描儀移動(dòng)時(shí),激光器/相機(jī)組合捕獲單一激光線反射;與之不同的是,模式投影方法可以用于在單一無(wú)運(yùn)動(dòng)掃描中,捕獲一個(gè)完整的圖像。這也是主動(dòng)模式投影在機(jī)器視覺(jué)市場(chǎng)中越來(lái)越流行的原因之一。
主動(dòng)模式投影越來(lái)越流行的另一個(gè)原因,在很大程度上得益于關(guān)鍵硬件組件的進(jìn)步,如高分辨率高速面陣相機(jī)的發(fā)展,以及在成像系統(tǒng)中使用LCOS(硅上液晶)和DMD(數(shù)字微鏡器件)等電光器件的可能性。
LCOS和DMD這兩種器件能夠與高功率LED光源和投影透鏡系統(tǒng)相結(jié)合,實(shí)現(xiàn)快速主動(dòng)模式投影。該系統(tǒng)可以投射編程到LCOS或DMD器件上的任何圖像,并能很容易地使用觸發(fā)信號(hào)同步LED和相機(jī),允許為各種應(yīng)用實(shí)現(xiàn)更廣泛的模式。
相移法
條紋模式是由幾個(gè)相位變化的波型(見(jiàn)圖2)創(chuàng)建的,是測(cè)量應(yīng)用的一種有效的主動(dòng)模式。相比于激光輪廓測(cè)量和立體相機(jī)方法,相移法的主要優(yōu)點(diǎn)包括速度快、覆蓋面積大、分辨率高、精度高和可靠的3D測(cè)量。模式的靈活性能夠?qū)崿F(xiàn)各種樣本的測(cè)量。然而,一個(gè)成功的解決方案要求一個(gè)可編程的主動(dòng)模式投影儀,它可以快速改變幾種模式,并將它們與相機(jī)采集同步。而且,將模式投影儀與高分辨率遠(yuǎn)心鏡頭和大畫(huà)幅相機(jī)相結(jié)合,可以同時(shí)獲得高質(zhì)量2D圖像以及不同模式的投影圖像(見(jiàn)圖1-3)。從這些高質(zhì)量圖像中,可以很容易地分析2D和3D尺寸數(shù)據(jù),以確認(rèn)需要驗(yàn)證的零件尺寸、表面質(zhì)量和其他重要特性。
自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(AOI)提高了印制電路板(PCB)生產(chǎn)中故障檢測(cè)的準(zhǔn)確性和速度。以前,PCB故障檢測(cè)通常使用高速2D區(qū)域檢測(cè),因?yàn)檫@種方法易于實(shí)施。然而,隨著元器件尺寸的不斷縮小、PCB的復(fù)雜性不斷增加,以及更嚴(yán)格的質(zhì)量要求,3D檢測(cè)已經(jīng)成為高端PCB制造商(如那些為消費(fèi)類電子產(chǎn)品和汽車市場(chǎng)提供PCB的制造商)的必須之選。
圖1:1-1:激光輪廓測(cè)量系統(tǒng)使用線激光器和面陣相機(jī)組合。在這種方法中,樣品或激光束必須移動(dòng)以完成輪廓掃描。1-2:立體相機(jī)系統(tǒng)需要將兩臺(tái)面陣相機(jī)呈不同角度放置,如同人眼一樣。1-3:模式投影系統(tǒng)包括一個(gè)投影儀、標(biāo)準(zhǔn)遠(yuǎn)心鏡頭和一臺(tái)面陣相機(jī)。通常,以不同角度放置的多投影儀可以減少投影陰影。
圖2:2-1:波紋投影被用于相移法中。2-2:從相機(jī)端看到的相移條紋。2-3:相移圖案的強(qiáng)度分布。
在手機(jī)和可穿戴設(shè)備等消費(fèi)電子應(yīng)用中,終端產(chǎn)品的尺寸正在逐年變小、變薄。由于這些變化需要更小的電氣元件,因此只使用2D檢測(cè)方法已經(jīng)很難找到安裝不正確的零件,而且在擁擠的裝配中幾乎不可能描述和測(cè)量它們。
在汽車市場(chǎng),汽車上使用的電氣零件在逐年增加。與此同時(shí),汽車與人身安全密切相關(guān),所以汽車應(yīng)用對(duì)安全性要求非常高,特別是高壓或高溫電氣零件。
此外,相比于標(biāo)準(zhǔn)的消費(fèi)電子零件,汽車電氣零件可能體積更大、形狀更復(fù)雜。對(duì)這些復(fù)雜的零件而言,3D檢測(cè)必不可少,以確保它們被正確、可靠地安裝。
用于3D測(cè)量的投影儀
對(duì)于具有主動(dòng)條紋模式的高速高精度3D測(cè)量而言,需要一臺(tái)能夠提供高亮度和高對(duì)比度的投影儀。當(dāng)機(jī)器視覺(jué)供應(yīng)商能夠使用高性能鏡頭和LED照明技術(shù)設(shè)計(jì)、整合并制造一個(gè)投影系統(tǒng)時(shí),這樣的解決方案便成為可能(見(jiàn)圖3)。
圖3:2-1:圖案投影系統(tǒng)將高分辨率遠(yuǎn)心鏡頭和大畫(huà)幅相機(jī)結(jié)合在一起。
第一步是為圖案的高亮度輸出選擇合適的LED,如輸出功率15~100W的LED。然后,是設(shè)計(jì)光學(xué)元件以實(shí)現(xiàn)LED輸出最大化,并與DMD或LCOS器件相耦合。最后,對(duì)光路進(jìn)行優(yōu)化后,設(shè)計(jì)用于聚焦圖案的投影光學(xué)元件,以滿足視場(chǎng)、工作距離、亮度和分辨率等成像系統(tǒng)參數(shù)。
記住,最大亮度對(duì)于提高測(cè)量速度至關(guān)重要。投影圖案的分辨率和對(duì)比度,對(duì)于在整個(gè)測(cè)量區(qū)域內(nèi)實(shí)現(xiàn)高精度3D測(cè)量同樣非常重要。
圖4:Scheimpflug原理對(duì)于用斜投影保持水平聚焦平面定位非常有用(左圖)。沒(méi)有Scheimpflug排布,圖像邊緣的對(duì)比度損失(右圖)可能對(duì)3D測(cè)量精度產(chǎn)生較大影響。
當(dāng)比較3D相移圖案投影儀供應(yīng)商的能力時(shí),評(píng)估其設(shè)計(jì)每個(gè)子系統(tǒng)以滿足特定目的的專業(yè)水平至關(guān)重要。與此同時(shí),還要考慮供應(yīng)商在“將這些子系統(tǒng)集成到一個(gè)完整的全合一解決方案中、以滿足具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用需求”方面的經(jīng)驗(yàn)。
最后,確保供應(yīng)商擁有使用Scheimpflug原理的經(jīng)驗(yàn),因?yàn)閷?duì)很多應(yīng)用而言,用傾斜投影保持水平聚焦平面定位非常有用(見(jiàn)圖4左圖)。沒(méi)有Scheimpflug排布,在圖像邊緣的對(duì)比度損失(見(jiàn)圖4右圖)可能對(duì)3D測(cè)量精度的影響較大。
用于高精度3D測(cè)量的強(qiáng)大組合包括(見(jiàn)圖1-3):
高分辨率物方遠(yuǎn)心鏡頭或雙遠(yuǎn)心鏡頭
高速、大畫(huà)幅相機(jī),像素尺寸與鏡頭匹配
基于Scheimpflug原理的高對(duì)比度傾斜投影儀
投影正弦曲線的重現(xiàn)性,對(duì)于使用移相法保持高精度也非常重要(見(jiàn)圖5)。通過(guò)鏡頭設(shè)計(jì)技術(shù)方面的專業(yè)知識(shí),有可能優(yōu)化投影正弦曲線的再現(xiàn)性。
圖5:光學(xué)設(shè)計(jì)優(yōu)化保持投影正弦曲線的再現(xiàn)性,以使用相移法提供高精度。
系統(tǒng)設(shè)計(jì)的一個(gè)主要問(wèn)題是DMD器件在每個(gè)微鏡之間有一個(gè)間隙(見(jiàn)圖6右圖)。這對(duì)正弦波再現(xiàn)性也有很大的影響(見(jiàn)圖6左圖)。因?yàn)殓R子的縫隙不能反射光,因此每個(gè)鏡子之間會(huì)出現(xiàn)亮度下降,并且輸出變得比理想情況更暗。
圖6:因?yàn)镈MD器件中每個(gè)微鏡(右圖)之間的間隙不能反射光,因此亮度的下降會(huì)導(dǎo)致輸出比理想情況更暗。對(duì)于高精度3D測(cè)量,高分辨率相機(jī)必須使用高密度圖案俯仰波(左圖)。然而,如果相機(jī)分辨率太高,間隙影響會(huì)變得更大。
對(duì)于高精度3D測(cè)量,高分辨率相機(jī)必須使用高密度圖案的俯仰波。然而,如果相機(jī)分辨率太高,間隙影響會(huì)變得更大。通過(guò)優(yōu)化光學(xué)系統(tǒng),Moritex公司已經(jīng)能夠成功地在其解決方案中減小DMD間隙的影響。
3D測(cè)量
圖7a顯示了使用Moritex的主動(dòng)模式投影儀和雙遠(yuǎn)心鏡頭,實(shí)現(xiàn)的相移法3D測(cè)量解決方案的一個(gè)例子。試驗(yàn)樣品是由3D打印機(jī)制造的,并漆成白色,樣品具有四個(gè)物理臺(tái)階,每個(gè)臺(tái)階的高度為200μm(見(jiàn)圖7c)。圖7b顯示了測(cè)試樣本上的投影正弦圖案。
圖7:(a)Moritex系統(tǒng)解決方案(FOV 32mm)設(shè)置包括WXGA DMD投影儀、400萬(wàn)像素1英寸USB3.0相機(jī)和0.34x雙遠(yuǎn)心鏡頭MTL-5518c。(c)測(cè)試樣品用3D打印機(jī)制成,并漆成白色。每個(gè)臺(tái)階高度增加200μm,臺(tái)階XY維度的尺寸為25mm×9mm。(b)基于相移法的樣本上的投影正弦圖案。
在仔細(xì)校準(zhǔn)系統(tǒng)后,3D測(cè)量測(cè)試結(jié)果顯示在圖8中。該系統(tǒng)能夠在200mm×32mm的視場(chǎng)中測(cè)量200μm的高度差。
重復(fù)測(cè)試,Moritex發(fā)現(xiàn),標(biāo)準(zhǔn)偏差為2~5μm,測(cè)量時(shí)間約為1~2s,數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù)量為2048×2048。該方案表明,以高分辨率、高速度和高精度測(cè)量寬視場(chǎng)目標(biāo)是可行的。
圖8:3D模型數(shù)據(jù)中的3D測(cè)量結(jié)果(左圖)、基于高度的2D彩色圖(右上圖)和基于2D輪廓圖上的紅色交叉線的2D輪廓圖(右下圖)。
圖9:左圖是5mm高平板的3D測(cè)量數(shù)據(jù)。左上方是投影儀產(chǎn)生的3D高度圖數(shù)據(jù),用特殊光學(xué)元件減小了DMD的間隙影響。左下方是投影儀產(chǎn)生的帶有DMD間隙影響的3D高度圖數(shù)據(jù)。右側(cè)為2D線輪廓圖,比較了減小DMD間隙影響和未減少時(shí)的效果。
如果有投影中有DMD微鏡間隙影響,測(cè)量3D數(shù)據(jù)結(jié)果將有一些“波動(dòng)”(artifacts)(見(jiàn)圖9)。圖9中的數(shù)據(jù)是平板的高度測(cè)量。平板的高度設(shè)置是5mm,而使用減小DMD微鏡間隙影響設(shè)計(jì)的投影儀,在2D區(qū)域內(nèi)5mm物體上的標(biāo)準(zhǔn)高度偏差僅為3μm。
相比之下,使用有DMD微鏡間隙影響設(shè)計(jì)的投影儀,在2D區(qū)域內(nèi)5mm物體上的標(biāo)準(zhǔn)高度偏差為9μm,是減小DMD微鏡間隙影響設(shè)計(jì)的3倍。另外,即使實(shí)際的樣品只是一個(gè)平板,在3D數(shù)據(jù)的波面上仍存在“波動(dòng)”,這是由DMD間隙影響引起的。在這種情況下,使用Moritex的投影儀可以降低DMD間隙影響,實(shí)現(xiàn)高精度3D測(cè)量
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原文標(biāo)題:3D測(cè)量| 主動(dòng)模式投影提高AOI三維測(cè)量精度
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