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30多種元器件失效后的狀態(tài)比例短路、開(kāi)路、損傷等所占百分比資料說(shuō)明

電源研發(fā)精英圈 ? 來(lái)源:未知 ? 2019-03-03 10:30 ? 次閱讀

這里總結(jié)摘錄MIL-HDBK-338B,美軍可靠性設(shè)計(jì)手冊(cè)來(lái)為FTA(故障樹(shù))做一些支持,這里按照以下的方式介紹:如果我們想要進(jìn)行FTA的定量分析,一定要把可靠性預(yù)測(cè)先做完,在可靠性前一定要把電壓分布表和溫度分布先進(jìn)行初步的運(yùn)算,通過(guò)下面的的表格,大概可以預(yù)計(jì)失效發(fā)生的時(shí)候故障的分配比 例,以下數(shù)字僅供參考,本身MIL-HDBK-338B是一份指導(dǎo)書(shū)性質(zhì)的,所有的數(shù)字僅僅具有參考意義。

電容失效方式分布:電容大部分是以短路形式失效的,特別鉭電容,要特別注意。

電阻:電阻以開(kāi)路為主,混合物電阻一般為分立的電阻,薄膜電阻為SMD表貼電阻

繼電器,線圈,變壓器

二極管:短路為主。

三極管和Mos管:三極管與JFET類似,和MosFET截然不同。

電池

其他元件

上面沒(méi)有的,參考下面的表格:

元器件失效模式分布

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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原文標(biāo)題:【大數(shù)據(jù)】30多種元器件失效后的狀態(tài)比例(短路、開(kāi)路、損傷...所占百分比)!

文章出處:【微信號(hào):dianyuankaifa,微信公眾號(hào):電源研發(fā)精英圈】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

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    這里總結(jié)摘錄MIL-HDBK-338B,美軍可靠性設(shè)計(jì)手冊(cè)來(lái)為FTA(故障樹(shù))做一些支持,這里按照以下的方式介紹:如果我們想要進(jìn)行FTA的定量分析,一定要把可靠性預(yù)測(cè)先做完,在可靠性前一定要把電壓分布表和溫度分布先進(jìn)行初步的運(yùn)算,通過(guò)下面的的表格…
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    <b class='flag-5'>30</b><b class='flag-5'>多種</b><b class='flag-5'>元器件</b><b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>后</b>的<b class='flag-5'>狀態(tài)</b>(<b class='flag-5'>短路</b>、<b class='flag-5'>開(kāi)路</b>、<b class='flag-5'>損傷</b>……)!

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