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采用Flash FPGA芯片的高可靠設計方案介紹

電子設計 ? 來源:郭婷 ? 作者:電子設計 ? 2019-05-03 09:05 ? 次閱讀

引言

在復雜的空間環(huán)境中存在各種高能粒子和宇宙射線,星載系統(tǒng)的電子器件容易發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn)等錯誤,造成整個系統(tǒng)的崩潰。對于星載系統(tǒng)而言,可靠性是非常重要的一項性能指標。在系統(tǒng)研制時,必須保證系統(tǒng)在局部出現(xiàn)故障時屏蔽和容忍錯誤,把錯誤造成的損失降到昀低。比較常用的可靠性措施包括選用抗擾等級高的元器件和適當?shù)钠帘卧O計等,但是這些措施都無法絕對預防永久性故障的發(fā)生,為了滿足衛(wèi)星可靠性的要求必須進行冗余設計。

本文中的設計就采用 Flash型 FPGA取代了 SRAM型 FPGA,前者在結(jié)構(gòu)上的特點決定了它不容易發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn)等錯誤,從而在固件上提高了可靠性。同時采用了改進型的 TMR冗余設計,在保障可靠性的同時也兼顧了實時性。

3 基本思想和系統(tǒng)實現(xiàn)

3.1 Flash型 FPGA概述目前廣泛用于電子產(chǎn)品的 FPGA(Field-Programmable Gate Array,現(xiàn)場可編程門陣列)主要有反熔絲型、SRAM型和 Flash型三種。反熔絲型 FPGA利用熔絲點的通斷來存儲編程信息,只能燒寫一次,可靠性很高,但是同時開發(fā)成本也很高,一般只在成熟正品中使用。

SRAM型 FPGA使用非常廣泛,它的可編程單元是六管結(jié)構(gòu),編程信息是保存在附加的 PROM里的,每次上電時從 PROM中加載到 FPGA中,斷電后編程內(nèi)容消失。在航天應用中,SRAM型 FPGA昀大的缺點是容易發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn)(Single Event Upset, SEU),以及上電加載過程中容易產(chǎn)生錯誤指令。

Flash型 FPGA的可編程單元是兩個三極管組成的 flash開關,其中一個只在編程時起傳感器作用,另一個控制開關的通斷,兩個管子共享的浮柵門存儲了編程信息。 Flash型 FPGA無需附加 PROM,上電時間也很短,另外 flash相比于 SRAM不容易出現(xiàn)單粒子翻轉(zhuǎn),因此 Flash型 FPGA很適合航天應用。

本文中的遙控系統(tǒng)采用 Actel公司的 ProASIC plus系列的 APA300芯片。

采用Flash FPGA芯片的高可靠設計方案介紹

3.2 系統(tǒng)描述

本文主要實現(xiàn)了高可靠遙控系統(tǒng)中將地面和星載計算機發(fā)送的串行碼字譯碼成對應通道指令脈沖的功能,全部功能在一塊 FPGA中實現(xiàn)。遙控電路板上采用兩塊相同的 FPGA進行雙機熱備份,通過 54LVC244選擇輸出。每塊 FPGA內(nèi)部又采用了下面描述的改進型 TMR設計。該系統(tǒng)完成了遙控譯碼的功能,各指令響應正常。

本文重點介紹 FPGA片內(nèi)的改進型 TMR冗余設計。

3.3 改進型 TMR設計

三模冗余(TMR)是一種常用的容錯技術,把需要容錯的部分復制三份,然后由表決器根據(jù)多數(shù)表決原則輸出結(jié)果。TMR屬于靜態(tài)冗余技術,它能夠掩蓋 1個子系統(tǒng)的錯誤,而不能修復錯誤。當 2個或 2個以上的子系統(tǒng)出錯,或者表決器出錯時,TMR系統(tǒng)將輸出錯誤的結(jié)果。TMR技術的優(yōu)點是簡單易行,對于瞬時出現(xiàn)的錯誤具有良好的容錯效果,但是代價是付出了 3倍的面積開銷。

采用Flash FPGA芯片的高可靠設計方案介紹

本文設計中采用的改進型 TMR,實質(zhì)上是一種 3+n模冗余,N個子系統(tǒng)中昀多只有三個子系統(tǒng)同時處于運行狀態(tài),其余的 N-3個子系統(tǒng)作為備份隊列,當某個子系統(tǒng)出現(xiàn)錯誤時,表決模塊用備份的子系統(tǒng)替換下錯誤的子系統(tǒng),繼續(xù)維持 TMR結(jié)構(gòu)。當已無備份可用時, 3模冗余系統(tǒng)可以進行降級重構(gòu),由 3模冗余降級為 1模。由于延長了三模冗余系統(tǒng)的工作時間,整個系統(tǒng)的可靠性得到了很大提高。

考慮到資源消耗與可靠性提高的平衡,本文設計中采用了 3+1模結(jié)構(gòu),也就是 3模冗余, 1模備份。3+1模結(jié)構(gòu)的工作方式為:正常時進行三模冗余表決輸出,出現(xiàn)第 1次永久性故障時表決處理模塊能夠檢測出錯誤,在輸出正常信號的同時用備用子系統(tǒng)替換故障子系統(tǒng),繼續(xù)維持 TMR結(jié)構(gòu);出現(xiàn)第 2 次永久故障時,表決處理模塊仍然能夠檢測出錯誤,在輸出正常信號的同時切除故障子系統(tǒng),自動降級為單模工作直至單模子系統(tǒng)完全損壞。這種 3+1模結(jié)構(gòu)借鑒了軟件容錯中的恢復塊技術和動態(tài)冗余結(jié)構(gòu),能夠容忍至少 2個子系統(tǒng)錯誤。由于 APA300實現(xiàn)遙控系統(tǒng)資源余量較大,采用了單片 FPGA片內(nèi)冗余的方案,進一步簡化了系統(tǒng)的復雜度。

采用Flash FPGA芯片的高可靠設計方案介紹

3+1模結(jié)構(gòu)的狀態(tài)轉(zhuǎn)移圖如下, TMR、SMR和 Failure三個狀態(tài)分別代表三模冗余、單模工作和系統(tǒng)失效。

在設計中,通過冗余單元的互鎖機制(Inter-Lock, IL)來防止錯誤數(shù)據(jù)通過冗余單元邊界傳播,為此采用了分區(qū)約束的方法進行布局布線設計。分區(qū)設計不僅能夠隔離錯誤,而且可以充分利用 APA300的 Spine分布,減少路徑延遲。

在用戶約束文件 GCF文件中作如下約束:

這四條語句把 U1~U4四個子系統(tǒng)分別限制在一個 spine內(nèi),除了全局時鐘線和輸入輸出線以外,子系統(tǒng)之間沒有直接的連接,這樣分區(qū)布局布線以后就能夠有效地隔離錯誤。

在保證可靠性的同時,3+1模設計昀大程度的保證了輸出的實時性,不需要經(jīng)過關機等待周期、重發(fā)指令周期或者輸出不確定周期,能夠連續(xù)輸出正確結(jié)果直到系統(tǒng)完全倒向錯誤狀態(tài)。為了避免系統(tǒng)重構(gòu)時過快降級,考慮到很多錯誤是瞬時出現(xiàn)又隨即恢復的軟錯誤,因此設定錯誤出現(xiàn)一定次數(shù)(例如 3次)以后才去掉故障模塊。

對于 3+1模結(jié)構(gòu),可靠性提高的代價是付出了 4倍的資源開銷,另外輸出時間延遲會略有增加,因為關鍵路徑上的表決器增加了判斷、替換的邏輯單元。因此這種結(jié)構(gòu)只適用于資源充裕、系統(tǒng)頻率不高的場合。在空間應用系統(tǒng)中,工作速度往往不是昀重要的,因而 3+1模結(jié)構(gòu)實質(zhì)上是用速度換面積(可靠性),在資源不足的情況下可以只對關鍵模塊、錯誤敏感率高的模塊進行冗余,以節(jié)省資源。

4 系統(tǒng)可靠性分析

假設單機的可靠性為(運行 5年后) , 普通 TMR和本文中改進型 TMR的可靠性分別為。由于 2個以上子系統(tǒng)同時發(fā)生錯誤的概率很小,假定同一時刻昀多只有一個子系統(tǒng)發(fā)生錯誤。

TMR可以容忍 1個子系統(tǒng)錯誤,可靠性相當于 3個子系統(tǒng)都正常的可靠性加上某一個子系統(tǒng)錯誤、其它兩個子系統(tǒng)正常的可靠性:

同理,改進型 TMR的可靠性相當于以下三種情況的可靠性之和:

采用Flash FPGA芯片的高可靠設計方案介紹

取一系列的 R0值(0≤R0≤1),按(1)(2)兩式計算出 RTMR和 RTMR+1如下表 1:

采用Flash FPGA芯片的高可靠設計方案介紹

由表 1可以看出, 3+1模結(jié)構(gòu)的可靠性遠高于 3模冗余和單模工作,特別是在子模塊可靠性降低的情況下提高可靠性的效果更為顯著。

5 結(jié)論

本文提出了一種基于 Flash型 FPGA的高可靠系統(tǒng)解決方案,改進型的 TMR冗余利用片內(nèi)備份的子系統(tǒng)替換出錯的系統(tǒng),能夠長期維持 TMR系統(tǒng),有效地提高可靠性。本文所述思想同樣適用于多芯片 /多機情況下的冗余方案。本系統(tǒng)即將應用于某航天型號設備中,經(jīng)過初步聯(lián)試證明本系統(tǒng)能夠滿足可靠性和性能的要求。

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