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薄膜電容的電流沖擊試驗(yàn)

劉先生 ? 2018-06-29 11:07 ? 次閱讀

隨著電力電子技術(shù)的迅速發(fā)展金屬化電容器的應(yīng)用范圍越來(lái)越廣,如各種變頻器、UPS和SVG電源、太陽(yáng)能和風(fēng)能發(fā)電系統(tǒng),混合動(dòng)力和純電動(dòng)汽車等新能源領(lǐng)域中的儲(chǔ)能濾波、吸收保護(hù)用電容器都選用薄膜金屬化結(jié)構(gòu),高比能脈沖電容器也開(kāi)始向金屬化發(fā)展。

電力電子電容器通常應(yīng)用于非工頻場(chǎng)合,其耐峰值電流和耐沖擊電流能力是關(guān)鍵技術(shù)參數(shù),由于耐電流能力是金屬化薄膜電容器的最薄弱環(huán)節(jié),所以有該指標(biāo)的產(chǎn)品必須進(jìn)行耐電流能力的試驗(yàn)考核。采用大功率電子開(kāi)關(guān)組成電容器充放電回路,通過(guò)調(diào)節(jié)充電電壓或放電回路參數(shù)來(lái)定量控制放電電流、電流衰減周被和電流電壓變化率,試驗(yàn)方祛快捷簡(jiǎn)便、實(shí)用,是薄膜電容器進(jìn)行設(shè)計(jì)驗(yàn)證和質(zhì)量控制的有效手段。

電流沖擊試驗(yàn)的嚴(yán)酷度主要由以下參數(shù)決定:

1、大放電電流值,其峰值大小取決于充電電壓和放電回路的阻抗。

2、電流變化率(di/d1),主要由放電回路的電感L決定,電感L越小電流變化率越高。

3、放電電流的衰誠(chéng)振蕩頻率f取決于被測(cè)電容C,和回路電感L。

4、放電電流周被數(shù)取訣于放電回路的電阻R,在同樣電流峰值和變化率下,周波數(shù)多,嚴(yán)酷度就高。

因此我們就這些參數(shù)進(jìn)行電流沖擊試驗(yàn):

1、設(shè)定充電電壓值U,電壓值決定放電電流峰值,I=U/R。

2、設(shè)定充電時(shí)間根據(jù)被試電容器容量C、充電電源內(nèi)阻r和所需電壓U,確定充電時(shí)間。

3、充電開(kāi)關(guān)s由可調(diào)時(shí)間繼電器控制,S閉合,可調(diào)直流電源E給試驗(yàn)電容器C.充電。

4、充電時(shí)間到,S打開(kāi),充電結(jié)束,控制電路發(fā)出脈沖給可控硅SCR ,SCR導(dǎo)通.電容器C,開(kāi)始放電。

5、由于放電回路存在電阻和電感,放電過(guò)程是震蕩衰減,經(jīng)過(guò)幾個(gè)周被后震蕩結(jié)束,電流為零可控硅SCR關(guān)閉,從開(kāi)始震蕩到結(jié)束的幾個(gè)周波時(shí)間一般遠(yuǎn)小于1 s。

6、放電結(jié)束后,充電開(kāi)關(guān)閉合又開(kāi)始充電,重復(fù)上述試驗(yàn)。

以上就是薄膜電容的電流沖擊試驗(yàn)的內(nèi)容了。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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