0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

華為手機項目測試及可靠性測試的標準分享

0BFC_eet_china ? 2018-06-24 09:06 ? 次閱讀

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 華為
    +關(guān)注

    關(guān)注

    216

    文章

    34462

    瀏覽量

    251840
  • 可靠性測試
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1

    文章

    90

    瀏覽量

    14186
收藏 人收藏

    評論

    相關(guān)推薦

    可靠性測試:HAST與PCT的區(qū)別

    HAST測試的核心宗旨HAST測試的核心宗旨宗旨:HAST測試的主要宗旨是通過模擬極端環(huán)境條件,加速半導(dǎo)體元器件的失效過程,以此來驗證元器件在高溫、高濕、高壓條件下的可靠性。這種
    的頭像 發(fā)表于 12-27 14:00 ?152次閱讀
    <b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>:HAST與PCT的區(qū)別

    環(huán)境可靠性測試有哪些項目

    在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中,環(huán)境可靠性測試扮演著至關(guān)重要的角色。這些測試不僅確保產(chǎn)品能夠滿足既定的質(zhì)量標準,還幫助制造商發(fā)現(xiàn)并改進產(chǎn)品設(shè)計和制造過程中的潛在問題。氣候環(huán)境
    的頭像 發(fā)表于 12-25 11:57 ?109次閱讀
    環(huán)境<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>有哪些<b class='flag-5'>項目</b>

    瞻芯電子參與編制SiC MOSFET可靠性和動態(tài)開關(guān)測試標準

    日前,在第十屆國際第三代半導(dǎo)體論壇(IFWS)上,第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟(CASA)發(fā)布了9項碳化硅 (SiC) MOSFET測試可靠性標準,旨在為SiC MOSFET功率器件提供一套科學(xué)、合理的
    的頭像 發(fā)表于 11-29 13:47 ?340次閱讀
    瞻芯電子參與編制SiC MOSFET<b class='flag-5'>可靠性</b>和動態(tài)開關(guān)<b class='flag-5'>測試</b><b class='flag-5'>標準</b>

    半導(dǎo)體封裝的可靠性測試標準

    的第三方檢測與分析機構(gòu),提供全面的可靠性測試服務(wù),幫助客戶確保產(chǎn)品在各種條件下的穩(wěn)定性與性能。產(chǎn)品可靠性的重要產(chǎn)品可靠性直接關(guān)聯(lián)到產(chǎn)品能否
    的頭像 發(fā)表于 11-21 14:36 ?209次閱讀
    半導(dǎo)體封裝的<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>及<b class='flag-5'>標準</b>

    PCB可靠性測試:開啟電子穩(wěn)定之旅

    PCB 可靠性測試是確保印刷電路板質(zhì)量的一系列檢測。它主要模擬 PCB 在實際使用中面臨的各種情況。包括環(huán)境測試,像檢測其在高低溫、濕度變化等條件下是否能正常工作,避免腐蝕等問題;還有機械測試
    的頭像 發(fā)表于 10-24 17:36 ?405次閱讀

    絕緣電阻的重要可靠性測試

    電阻越高,晶振的絕緣性能越好,其抵抗漏電流的能力也就越強,從而提高了工作可靠性和穩(wěn)定性。 絕緣電阻的標準 不同品牌和型號的晶振其絕緣電阻標準會有所不同。以KOAN諧振器為例,其絕緣電阻最低要求為500MΩ。 ? 絕緣電阻
    的頭像 發(fā)表于 06-14 11:12 ?764次閱讀

    LED電源性能測試項目:電性能測試、可靠性測試、安規(guī)測試

    在LED照明應(yīng)用日益普及的今天,對LED電源進行精確測試顯得尤為重要。測試涵蓋了輸入功率因數(shù)、紋波噪聲、負載調(diào)整率等多個關(guān)鍵指標,以確保電源的性能和穩(wěn)定性。本文將詳細介紹LED電源的測試項目
    的頭像 發(fā)表于 05-15 16:13 ?862次閱讀
    LED電源性能<b class='flag-5'>測試</b><b class='flag-5'>項目</b>:電性能<b class='flag-5'>測試</b>、<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>、安規(guī)<b class='flag-5'>測試</b>

    AC/DC電源模塊的可靠性設(shè)計與測試方法

    OSHIDA ?AC/DC電源模塊的可靠性設(shè)計與測試方法 AC/DC電源模塊是一種將交流電能轉(zhuǎn)換為直流電能的設(shè)備,廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中,如電腦、手機充電器、顯示器等。由于其關(guān)系到設(shè)備的供電穩(wěn)定性
    的頭像 發(fā)表于 05-14 13:53 ?773次閱讀
    AC/DC電源模塊的<b class='flag-5'>可靠性</b>設(shè)計與<b class='flag-5'>測試</b>方法

    第三代SiC功率半導(dǎo)體動態(tài)可靠性測試系統(tǒng)介紹

    的驗證》和《AEC Q101車用分立半導(dǎo)體元器件的基于失效機理的應(yīng)力測試驗證》等行業(yè)標準,確保測試結(jié)果的準確可靠性
    發(fā)表于 04-23 14:37 ?4次下載

    功率器件環(huán)境可靠性測試的加速老化物理模型

    (HighHumidityHighTemperatureReverseBias,H3TRB)等環(huán)境可靠性測試是進行功率器件壽命評估所必備的試驗。由于不同標準下的試驗條件并不相同,因而理解上述環(huán)境
    的頭像 發(fā)表于 04-23 11:31 ?1402次閱讀
    功率器件環(huán)境<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>的加速老化物理模型

    提升開關(guān)電源可靠性:全面了解測試項目標準

    開關(guān)電源可靠性測試是檢測開關(guān)電源質(zhì)量、穩(wěn)定性和質(zhì)量的重要手段。可靠性測試也是開關(guān)電源測試的關(guān)鍵環(huán)節(jié),以此評估開關(guān)電源的性能和使用壽命。
    的頭像 發(fā)表于 03-21 15:50 ?923次閱讀

    可靠性測試中,如何減少HCI和電遷移的測試時間?

    許多可靠性“磨損”測試監(jiān)測的是一個性能參數(shù),該參數(shù)隨著對數(shù)變化的時間長度而穩(wěn)步下降。
    的頭像 發(fā)表于 03-13 14:28 ?2122次閱讀
    <b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>中,如何減少HCI和電遷移的<b class='flag-5'>測試</b>時間?

    可靠性測試中HALT實驗與HASS實驗的區(qū)別

    電子產(chǎn)品高加速壽命測試HALT、高加速應(yīng)力篩選測試HASS,都是可靠性測試的方法,用于評估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。那他們之前
    的頭像 發(fā)表于 01-30 10:25 ?1279次閱讀
    <b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>中HALT實驗與HASS實驗的區(qū)別

    IGBT的可靠性測試方案

    在當(dāng)今的半導(dǎo)體市場,公司成功的兩個重要因素是產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。而這兩者是相互關(guān)聯(lián)的,可靠性體現(xiàn)為在產(chǎn)品預(yù)期壽命內(nèi)的長期質(zhì)量表現(xiàn)。任何制造商要想維續(xù)經(jīng)營,必須確保產(chǎn)品達到或超過基本的質(zhì)量標準
    的頭像 發(fā)表于 01-17 09:56 ?1471次閱讀
    IGBT的<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>方案

    半導(dǎo)體封裝的可靠性測試標準介紹

    本文將介紹半導(dǎo)體的可靠性測試標準。除了詳細介紹如何評估和制定相關(guān)標準以外,還將介紹針對半導(dǎo)體封裝預(yù)期壽命、半導(dǎo)體封裝在不同外部環(huán)境中的可靠性
    的頭像 發(fā)表于 01-13 10:24 ?5359次閱讀
    半導(dǎo)體封裝的<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>及<b class='flag-5'>標準</b>介紹