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不使用輔助線圈是否可行?比如在初級線圈上檢測來做原邊反饋?

PE5Z_PCBTech ? 來源:未知 ? 作者:李倩 ? 2018-05-07 16:29 ? 次閱讀

不使用輔助線圈是否可行

●如果不要求輔助線圈供電,那么是否可以用其他檢測方法,比如在初級線圈上檢測來做原邊反饋?

●理論上是可行的,思路如下: -在初級線圈上并聯(lián)一個(gè)高阻支路,對初級線圈進(jìn)行采樣,同時(shí)提供TOFF期間初級線圈的回路。 -考慮到檢測電壓必須為正,因此有兩種基本形式,如下圖:

檢查輸出信息的方法

●原邊反饋不能得到所有的輸出信息,但可以得到較多的輸出信息。 -不能得到輸出電流信息,但可以得到初級的電流信息。 -不能直接得到輸出電壓信息,可以通過輔助繞組來得到輸出電壓信息。

可檢測性

●電感兩端電壓太高,檢測IL和VD很困難,通過ISES和VSES檢測;

●考慮到隔離要求,次級電流和輸出電壓不能直接檢測,只能通過其他值計(jì)算出來。

PSR輸出電壓計(jì)算

●MOS管關(guān)斷后,變壓器中儲(chǔ)存的能量都由次級和輔助線圈釋放出來,次級線圈和輔助線圈形成變壓器,此時(shí)VSES上的電壓為:

●VD和次級線圈的電流有關(guān),電流越小,VD越小,電流為0時(shí),VD為0。 ●因此,在去磁點(diǎn)時(shí)刻,VO電壓為:

膝電壓的定義

●當(dāng)流過次級二極管的電流為0后,變壓器退磁,此時(shí)VD比VIN高一個(gè)反射電壓,初級電感和寄生電容形成的LC電路開始震蕩,初級電感上的電壓將從VD-VIN開始,以正弦方式往下降。

●這樣,在VSES上看到的電壓將呈現(xiàn)出一個(gè)膝蓋狀,因此,將退磁點(diǎn)電壓稱為膝電壓。 因?yàn)檎移鹗键c(diǎn)處的斜率為-1,膝電壓就是電壓斜率從負(fù)載消耗導(dǎo)致的斜率變化到-1的時(shí)刻的電壓。

PSR輸出電流計(jì)算 ●MOS管關(guān)斷后,變壓器中儲(chǔ)存的能量都由次級和輔助線圈釋放出來,此時(shí)次級的平均電流為:

●ISND_PK無法直接測到,只能由ISES_PK近似換算得到:

●TOFF的測量也依賴于膝電壓的時(shí)刻,但是需要的不是電壓值,而是膝點(diǎn)的時(shí)刻。

電流和電壓檢測的共同點(diǎn)

●共同之處就是都需要檢測到膝點(diǎn)。

●對于電流來說,檢測到膝點(diǎn),然后根據(jù)膝點(diǎn)和開關(guān)管斷開的時(shí)刻計(jì)算出TOFF,加上ISES的電流,就能算出平均輸出電流。

●對于電壓來說,需要檢測到膝點(diǎn)的電壓,具體的方法就是檢測到膝點(diǎn),然后看當(dāng)前時(shí)刻VSES上的電壓,從而根據(jù)匝比得出當(dāng)前時(shí)刻的輸出電壓。

膝點(diǎn)檢測算法

●有2種檢測方法,一種是從前往后檢測,另一種就是從后往前檢測。 -從前往后檢測,是通過延遲,或者是斜率轉(zhuǎn)變的方法來找到膝點(diǎn)的時(shí)刻。 -從后往前檢測,是利用膝點(diǎn)后諧振頻率固定的特點(diǎn),從過零點(diǎn)反推膝點(diǎn)的位置。

各方法對比

●延遲法,從TOFF開始,延遲一段時(shí)間,檢測VSES。 -這個(gè)方法可想而知是非常不精確的,因?yàn)門OFF的時(shí)間變化很大。

●檢測斜率法,檢測VSES的斜率,通過波形分析算法找出膝點(diǎn)。 -這個(gè)方法只有在TOFF區(qū)間的斜率和TDEAD區(qū)間的斜率存在明顯差別時(shí)才管用,而且由于在TDEAD區(qū)間,振蕩是呈正弦曲線,膝點(diǎn)處不存在斜率轉(zhuǎn)折,必須依靠某種算法來推算出膝點(diǎn)。

●諧振反推法,膝點(diǎn)后,初級電感的諧振會(huì)傳到輔助線圈,檢測輔助線圈的過零點(diǎn)可以得知諧振頻率,用過零點(diǎn)的時(shí)刻減掉1/4周期,就是膝點(diǎn)。 -這個(gè)方法用于測時(shí)間恒流還是比較簡單的,用于恒壓時(shí)必須將電壓的檢測轉(zhuǎn)變?yōu)闀r(shí)間的檢測。

諧振反推法實(shí)現(xiàn)恒壓

●諧振后,檢測次級線圈的過零點(diǎn)就能得知諧振周期,因此,當(dāng)輸出電壓恰好等于參考電壓時(shí),VSES和VREF的交點(diǎn)到過零點(diǎn)的時(shí)間TFB也應(yīng)該恰好等于1/4諧振周期TR。如果TFB比TR/4大,說明輸出電壓較低,以至于VSES和VREF的交點(diǎn)提前了,反之,如果TFB比TR/4小,說明輸出電壓較高,以至于VSES和VREF的交點(diǎn)推遲了。 -VZC表示過零點(diǎn)閾值,并不是0V,通常為一個(gè)非常小的電壓,比如0.125V之類的

斜率法和諧振反推法的對比

●注意到斜率法和諧振反推法是優(yōu)缺點(diǎn)互補(bǔ)的: -如果TOFF和TDEAD期間的斜率差別越大,越適合用斜率法,如果TOFF和TDEAD期間的斜率差別越小,越適合用諧振反推法。 -實(shí)際上,TOFF期間的斜率通常很小,以至于噪聲對VSES和VREF交叉點(diǎn)的檢測有很大的影響,如果采用諧振反推法,必須有某種消除噪聲的方法。

●使用諧振反推法還要注意一點(diǎn)是,由于膝點(diǎn)前后斜率差別較大,TFB偏大和偏小時(shí),誤差時(shí)間TERR=TR/4 – TFB在大于0和小于0的時(shí)候具有完全不同的環(huán)路增益。 -斜率越低,輸出電壓變化導(dǎo)致的時(shí)間變化差距越大,環(huán)路增益越高,也就是說,當(dāng)輸出電壓小于基準(zhǔn)電壓時(shí),環(huán)路增益高,當(dāng)輸出電壓大于基準(zhǔn)電壓時(shí),環(huán)路增益低。

將PSR技術(shù)用于非隔離拓?fù)?br />
●通常來說,非隔離拓?fù)淇梢灾苯訖z測輸出VO,沒必要使用復(fù)雜的PSR技術(shù)先檢測VSND,然后計(jì)算VO,但有一種情況例外:就是需要一個(gè)IC同時(shí)支持隔離和非隔離的時(shí)候。 -從市場的角度來說,隔離和非隔離都是需要的,如果用相同的技術(shù)來解決,無疑可以節(jié)省大量研發(fā)成本。

PSR固有的問題

●檢測的非實(shí)時(shí)性:每個(gè)切換周期,只有一次正確檢測輸出電壓的機(jī)會(huì),不能像其他非隔離型拓?fù)湟粯涌梢噪S時(shí)隨地的檢測輸出,而且這個(gè)輸出電壓的檢測還依賴于變壓器的退磁,變壓器的退磁點(diǎn)未到來之前,輸出端發(fā)生的任何變化都無法被檢測。

●線纜壓降:能得到電壓只是電容兩端的電壓,而不是負(fù)載兩端的電壓,當(dāng)次級存在明顯的寄生電阻時(shí),檢測到的電壓會(huì)明顯偏低。 -去磁點(diǎn)時(shí),流過二極管的電流為0,電容兩端的電壓等于副邊的電壓,但是流過寄生電阻的電流不為0,負(fù)載上的電壓要小于檢測到的電壓。

負(fù)載突變的問題

●檢測的非實(shí)時(shí)性主要體現(xiàn)在負(fù)載突變時(shí),比如熱插拔。 -在充電器領(lǐng)域,熱插拔是必須支持的,在LED領(lǐng)域,熱插拔也是有必要支持的,很多規(guī)范都要求熱插拔。 -熱插拔包括空載->滿載,和滿載->空載兩種極端情況。 -真實(shí)情況下,并不是每次都是滿載,但如果能支持滿載-空載切換,必然可以支持其他切換。

●空->滿的切換會(huì)導(dǎo)致輸出跌落,滿->空的切換會(huì)導(dǎo)致輸出過沖,要避免這兩種情況,必須使用非線性控制,IC檢測到熱插拔后,立即調(diào)整控制策略。

熱拔

●如果在TOFF區(qū)間,也就是次級輸出時(shí)熱拔,相當(dāng)于次級的負(fù)載阻抗突然升高,此時(shí)會(huì)有個(gè)小的電壓突變,隨后所有的能量會(huì)在電容上聚集,輸出電壓將升高。

●如果在非TOFF區(qū)間熱拔,除了看不到小的電壓突變,導(dǎo)致的最終結(jié)果和前面是沒有區(qū)別的。

假負(fù)載

●如果不能保證每次都能檢測到且能處理好熱拔,就必須在輸出上加上假負(fù)載或穩(wěn)壓管,讓其能承擔(dān)泄放工作。 -假負(fù)載一般使用電阻,電阻值要小心選取,過大了泄放效果不好,過小又制造大功耗。

熱插和短路判斷

●熱插時(shí),負(fù)載突然變小,輸出電壓會(huì)跌落,電源需要輸出更多的能量到次級,但是要區(qū)分熱插和短路。

●不光要區(qū)分熱插和短路,在任何時(shí)候都需要判斷是否短路。 -短路時(shí),TOFF時(shí)間會(huì)變得很短,可以通過檢查TOFF開始到VSES過零點(diǎn)的時(shí)間來判斷,或者通過TOFF區(qū)間的斜率來判斷。 -如果輸出不在TOFF期間發(fā)生短路,就得等到下一個(gè)TOFF才能檢測到,在短路后,輸出電容會(huì)有很大的電流,這個(gè)大電流如果持續(xù)時(shí)間過長,導(dǎo)致電容溫升,會(huì)對電容的壽命會(huì)有一定的影響,所以能盡早的檢測TOFF是很重要的。 -假設(shè)需要一兩個(gè)周期才能檢測到短路,是否會(huì)對電容壽命產(chǎn)生不利影響,這個(gè)目前不清楚。 區(qū)分熱插,短路,開機(jī)

●這3者都表現(xiàn)為輸出要吸收大量能量,但三者的處理方法卻不能相同。 -熱插需要穩(wěn)壓,減少跌落的幅度和持續(xù)時(shí)間,短路需要識(shí)別到,并采取保護(hù)措施,而開機(jī)則需要控制輸出平穩(wěn)的增加。

●這三者主要的區(qū)別有: -初始狀態(tài)的不同,熱插的初始狀態(tài)為空載,短路的初始狀態(tài)為任意,開機(jī)的初始狀態(tài)為初始態(tài)。 -對輸出的影響不同,由于開機(jī)的初始態(tài)輸出為0,開機(jī)后輸出表現(xiàn)為增加,另外兩者都表現(xiàn)為減少,所以熱插和短路的區(qū)分更困難一些。

熱插拔抖動(dòng)

●在人進(jìn)行插拔的過程中,端子實(shí)際上是抖動(dòng)著的,會(huì)進(jìn)行快速的碰撞,也就是說,插拔的過程中會(huì)有大量的切換。

●如果IC的檢測控制處理不當(dāng),很可能會(huì)出問題。 -出問題的原因在于空載時(shí),切換頻率已經(jīng)降到非常低了,而滿載時(shí)通常要求切換頻率很高,芯片無法在這兩種情況之間快速切換。

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原文標(biāo)題:開關(guān)電源原邊反饋簡介

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