測試MLCC時(shí)要注意的幾大要點(diǎn)

1測試參數(shù)及測試條件

我們一般通過測量陶瓷電容器的容值C、Q值/D.F.值、絕緣電阻I.R.值來初步判斷電容的參數(shù)是否在規(guī)格范圍內(nèi)，是否存在不良。

要注意的是，再精密的儀器測出的數(shù)據(jù)也只是測量值，由于存在環(huán)境，設(shè)備等多方面因素干擾，測量值只能盡可能地接近真實(shí)值。另外，隨著市場需求多樣化，陶瓷電容的種類繁多，測試條件并未完全統(tǒng)一，針對(duì)具體的型號(hào)的測量，請(qǐng)以對(duì)應(yīng)規(guī)格書中標(biāo)注的為準(zhǔn)。

對(duì)于容值，Q值的測量，一般而言，我們針對(duì)不同溫度特性（TC），不同容值的產(chǎn)品，對(duì)應(yīng)的測量條件（交流頻率&電壓）也不同。一類材質(zhì)Q值較低，我們用Q值作標(biāo)準(zhǔn)，二類材質(zhì)Q值較高，我們往往用其倒數(shù)D.F.值作標(biāo)準(zhǔn)。如下表：

理想的電容器電阻無限大，但是實(shí)際電容加壓后會(huì)有微小電流流過，其絕緣電阻I.R.存在有限值。

當(dāng)給電容施加電壓后，會(huì)有充電電流產(chǎn)生，并呈指數(shù)下降，如下圖。為準(zhǔn)確測量漏電流值，我們一般在額定電壓充電1分鐘（或2分鐘）后測量絕緣阻抗，判定標(biāo)準(zhǔn)與額定容值有關(guān)，詳見下表。

2測試設(shè)備&夾具

我們一般選用LCR電表即自動(dòng)平衡電橋法測量容值和Q值，用高阻計(jì)測量IR值。工具包括：LCR電表（Keysight E4980）, 夾具（16034E, 16334A）,高阻計(jì)（Agilent 4339B）, 鑷子等。

3測試流程

01

預(yù)熱被測品

由于陶瓷材料特性，特別是高容品選用了高介電常數(shù)材料，久置后因內(nèi)部晶格結(jié)構(gòu)改變，容值會(huì)有所下降，此時(shí)測量會(huì)出現(xiàn)偏差，故需要先進(jìn)行預(yù)熱。一般執(zhí)行在140～150℃，持續(xù)1小時(shí)的熱處理，再放置24+/-2小時(shí)。

02

設(shè)備校準(zhǔn)

先啟動(dòng)設(shè)備電源，預(yù)熱半小時(shí)使設(shè)備穩(wěn)定工作，安裝夾具。校準(zhǔn)（Calibration）對(duì)于精確測量非常重要。先保持夾具探頭兩端距離與被測件長度一致，進(jìn)行開路校準(zhǔn)；再使夾具兩端接觸，進(jìn)行短路校準(zhǔn)。設(shè)備操作詳見對(duì)應(yīng)的說明書。

03

補(bǔ)償

如果選用16334A等帶一定長度導(dǎo)線的夾具，需對(duì)應(yīng)設(shè)置CABLE補(bǔ)償值，如1米，以減小夾具帶來的寄生參數(shù)的影響。

04

測量條件設(shè)置

根據(jù)規(guī)格書要求設(shè)置合適的交流電壓，頻率。對(duì)于容值大于1uF電容，打開ALC自動(dòng)電平控制功能，使實(shí)測時(shí)被測件兩端電壓保持恒定，否則很可能測出的容值偏低。

05

參數(shù)顯示設(shè)置

有兩種電路模式顯示測量結(jié)果，一種是Cp并聯(lián)模式，一種是Cs串聯(lián)模式。一般而言，測小容值大電抗用Cp模式，測大容值用Cs模式。但對(duì)于高Q值的電容，兩者差別不大。