本文圍繞氮化鎵(GaN)功率IC在無(wú)刷直流(BLDC)電機(jī)驅(qū)動(dòng)應(yīng)用中的優(yōu)勢(shì)展開(kāi)研究,通過(guò)設(shè)計(jì)實(shí)例和實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),論證了其在提升效率、減小尺寸和降低成本方面的顯著效果。
*附件:GaN-Power-ICs-Drive-Efficiency-and-Size-Improvements-in-BLDC-Motor-Drive-Applications-paper.pdf
- 引言 :長(zhǎng)期以來(lái),IGBT和硅MOSFET作為電機(jī)驅(qū)動(dòng)逆變器的功率開(kāi)關(guān),存在反向恢復(fù)導(dǎo)致的高開(kāi)關(guān)損耗問(wèn)題,傳統(tǒng)硅基驅(qū)動(dòng)器效率約80%且開(kāi)關(guān)頻率低。GaN功率開(kāi)關(guān)無(wú)反向恢復(fù),開(kāi)關(guān)損耗低,但其驅(qū)動(dòng)方案不同,集成多種電路可發(fā)揮其性能優(yōu)勢(shì),目前針對(duì)高直流母線電壓應(yīng)用的設(shè)計(jì)較少。
- GaN功率開(kāi)關(guān)選擇標(biāo)準(zhǔn) :相比IGBT和超級(jí)結(jié)MOSFET,GaN晶體管開(kāi)關(guān)損耗低,有助于簡(jiǎn)化熱管理、減小散熱器尺寸和降低用電成本。選擇時(shí)不能僅考慮總損耗,還需關(guān)注最大電流。集成的GaN功率FET可視為數(shù)字功率級(jí),內(nèi)置過(guò)溫、過(guò)流保護(hù)電路和無(wú)損電流檢測(cè)功能,能提升系統(tǒng)可靠性、降低成本。
- 設(shè)計(jì)考量 :以Navitas的NV6247半橋GaN功率IC構(gòu)建的逆變器為例,其外部元件少,集成多種功能電路。設(shè)計(jì)時(shí)需合理選擇高低側(cè)外部電容,布局遵循數(shù)據(jù)手冊(cè)建議,優(yōu)化熱阻,該電路板無(wú)散熱器時(shí)熱阻約12.5K/W 。
- 實(shí)驗(yàn)結(jié)果 :在特定工況下測(cè)試逆變器,300W輸出功率時(shí)效率接近99%,滿載功耗小于3W,可大幅減小散熱器尺寸。輸出300W負(fù)載時(shí),電路板表面溫度低于60°C,該設(shè)計(jì)對(duì)異常工況耐受性強(qiáng)。
- 結(jié)論與展望 :Navitas的GaNSense半橋功率IC實(shí)現(xiàn)的電機(jī)逆變器功率密度高、損耗低,滿載峰值效率超99%,簡(jiǎn)化了逆變器與電機(jī)的集成,降低系統(tǒng)和運(yùn)營(yíng)成本,提升系統(tǒng)動(dòng)態(tài)性能。未來(lái)研究方向是擴(kuò)展功率范圍至數(shù)千瓦,并探索適配不同電機(jī)以進(jìn)一步降低成本。
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