本文聚焦塑封集成電路焊錫污染問題,闡述了焊錫污染發(fā)生的條件,分析了其對IC可靠性產(chǎn)生的多方面影響,包括可能導(dǎo)致IC失效、影響電化學(xué)遷移等。通過實際案例和理論解釋,深入探討了焊錫污染對封裝塑封體的不可恢復(fù)性及在特定條件下的再次失效情況。同時,針對SMT工程師提出了避免焊錫污染導(dǎo)致可靠性失效的建議,旨在為集成電路產(chǎn)業(yè)在生產(chǎn)制造過程中有效控制焊錫污染、提高產(chǎn)品質(zhì)量提供參考。
關(guān)鍵詞:塑封集成電路;焊錫污染;可靠性失效;電化學(xué)遷移
一、引言
在集成電路產(chǎn)業(yè)蓬勃發(fā)展的當下,塑封集成電路憑借其成本低、工藝簡單等優(yōu)勢,在電子設(shè)備中得到了廣泛應(yīng)用。然而,在生產(chǎn)制造過程中,焊錫污染問題逐漸凸顯,成為影響集成電路可靠性的重要因素之一。焊錫污染不僅會降低集成電路的性能和壽命,還可能導(dǎo)致整個電子設(shè)備的故障。因此,深入研究塑封集成電路焊錫污染的影響,分析其發(fā)生原因和機制,并提出有效的解決措施,對于提高集成電路產(chǎn)業(yè)的整體水平具有重要意義。
二、焊錫污染發(fā)生的條件
(一)生產(chǎn)環(huán)境因素
在集成電路的制造過程中,生產(chǎn)環(huán)境的潔凈度對焊錫污染的發(fā)生起著關(guān)鍵作用。如果生產(chǎn)車間的空氣中含有大量的灰塵、雜質(zhì)等污染物,這些污染物可能會附著在焊錫表面,隨著焊接過程進入集成電路內(nèi)部,從而導(dǎo)致焊錫污染。例如,在一些小型電子制造企業(yè)中,由于生產(chǎn)車間通風(fēng)不良、凈化設(shè)備不完善,空氣中的顆粒物濃度較高,很容易造成焊錫污染。
(二)焊接工藝參數(shù)
焊接工藝參數(shù)的設(shè)置不合理也是導(dǎo)致焊錫污染的重要原因之一。焊接溫度過高、焊接時間過長等參數(shù)設(shè)置不當,會使焊錫在高溫下發(fā)生氧化反應(yīng),產(chǎn)生氧化物等雜質(zhì)。這些雜質(zhì)會混入焊錫中,影響焊錫的質(zhì)量和性能,進而導(dǎo)致焊錫污染。此外,焊接過程中使用的助焊劑如果選擇不當或使用量過多,也會在焊接后殘留,形成焊錫污染。
(三)原材料質(zhì)量
焊錫材料和集成電路封裝材料的質(zhì)量也會影響焊錫污染的發(fā)生。如果焊錫材料中含有雜質(zhì)較多,或者在儲存和使用過程中受到污染,就會增加焊錫污染的風(fēng)險。同樣,如果集成電路的封裝材料質(zhì)量不佳,與焊錫的兼容性不好,也容易導(dǎo)致焊錫污染。
三、焊錫污染對IC可靠性的影響
(一)導(dǎo)致IC可靠性失效
焊錫污染可能會引起IC內(nèi)部的短路、斷路等故障,從而導(dǎo)致IC可靠性失效。當焊錫中混入雜質(zhì)時,這些雜質(zhì)可能會在IC內(nèi)部形成導(dǎo)電通道,導(dǎo)致短路現(xiàn)象的發(fā)生。短路會使IC的電流過大,溫度升高,進而損壞IC內(nèi)部的電路元件。此外,焊錫污染還可能影響IC內(nèi)部元件之間的連接,導(dǎo)致斷路現(xiàn)象,使IC無法正常工作。
(二)影響電化學(xué)遷移
電化學(xué)遷移是指離子在電磁場的影響下,借助一些介質(zhì)如磁通殘留物的遷移。對于PCB產(chǎn)品來說,隨著環(huán)境濕度的變化,助焊劑殘渣中的一些離子污染物如活性劑、鹽分等會變成電解質(zhì),導(dǎo)致焊點的特性發(fā)生變化。這些PCB在工作時,在應(yīng)力電壓的情況下,焊點之間可能會發(fā)生短路,造成間歇性故障,降低PCB的可靠性。而塑封集成電路的焊錫污染會引入更多的離子污染物,進一步加劇電化學(xué)遷移現(xiàn)象的發(fā)生。
(三)引發(fā)爬行腐蝕
爬行腐蝕是指PCB表面產(chǎn)生銅或銀的硫化物結(jié)晶的現(xiàn)象。與電化學(xué)遷移不同,只要環(huán)境中存在污染源和水分即可導(dǎo)致爬行腐蝕,無需電壓差。當空氣中的硫與PCB上的銅或銀結(jié)合時,會生成硫化銅或硫化銀。這些化合物如硫化銅和硫化銀會向任何方向生長,使細引線開路或間距引線之間出現(xiàn)短路,最終導(dǎo)致PCB質(zhì)量變差。隨著PCB尺寸變得更小和組件小型化,這種腐蝕的風(fēng)險肯定會提高。對于塑封集成電路而言,焊錫污染可能會增加PCB表面的污染源,從而引發(fā)爬行腐蝕,影響集成電路的可靠性。
四、實際案例分析
(一)案例介紹
某電子制造企業(yè)在生產(chǎn)一批塑封集成電路時,發(fā)現(xiàn)部分產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)了性能不穩(wěn)定、故障率較高等問題。經(jīng)過對故障產(chǎn)品進行檢測和分析,發(fā)現(xiàn)這些產(chǎn)品都存在不同程度的焊錫污染。進一步調(diào)查發(fā)現(xiàn),該企業(yè)在生產(chǎn)過程中,由于焊接工藝參數(shù)設(shè)置不合理,導(dǎo)致焊錫在高溫下氧化嚴重,產(chǎn)生了大量的氧化物雜質(zhì)。同時,生產(chǎn)車間的潔凈度也達不到要求,空氣中的灰塵等污染物附著在焊錫表面,進一步加劇了焊錫污染的程度。
(二)影響分析
在該案例中,焊錫污染導(dǎo)致了IC內(nèi)部的短路和斷路現(xiàn)象,使IC無法正常工作。同時,焊錫中的離子污染物引發(fā)了電化學(xué)遷移和爬行腐蝕,加速了IC的老化和損壞。這些因素共同作用,導(dǎo)致了產(chǎn)品的性能不穩(wěn)定和故障率升高。
(三)解決措施
針對該案例中出現(xiàn)的問題,企業(yè)采取了以下解決措施:首先,優(yōu)化了焊接工藝參數(shù),降低了焊接溫度和焊接時間,減少了焊錫的氧化反應(yīng)。其次,加強了生產(chǎn)車間的潔凈度管理,增加了空氣凈化設(shè)備,提高了空氣質(zhì)量。此外,還對焊錫材料和封裝材料進行了嚴格的質(zhì)量檢測,確保原材料的質(zhì)量符合要求。通過這些措施的實施,產(chǎn)品的質(zhì)量得到了顯著提高,故障率明顯降低。
五、焊錫污染對封裝塑封體的影響
(一)不可恢復(fù)性
焊錫污染對IC封裝塑封體的影響是不可恢復(fù)的。一旦焊錫中的雜質(zhì)進入封裝塑封體內(nèi)部,就會與封裝材料發(fā)生化學(xué)反應(yīng),改變封裝材料的性能。這些化學(xué)反應(yīng)是不可逆的,即使對失效品進行加熱及再次老化處理,也無法使封裝塑封體恢復(fù)到原來的狀態(tài)。
(二)特定條件下的再次失效
在特定條件下,焊錫污染的封裝塑封體還可能會再次失效。例如,當環(huán)境溫度、濕度等條件發(fā)生變化時,焊錫中的雜質(zhì)可能會進一步擴散,與封裝材料發(fā)生更劇烈的化學(xué)反應(yīng),導(dǎo)致封裝塑封體的性能進一步惡化。此外,在受到機械應(yīng)力、電磁干擾等外部因素的影響時,也可能會引發(fā)封裝塑封體的再次失效。
六、避免焊錫污染導(dǎo)致可靠性失效的建議
(一)優(yōu)化生產(chǎn)工藝
SMT工程師應(yīng)優(yōu)化焊接工藝參數(shù),確保焊接溫度、時間等參數(shù)設(shè)置合理,減少焊錫的氧化反應(yīng)。同時,選擇合適的助焊劑,并嚴格控制助焊劑的使用量,避免助焊劑殘留導(dǎo)致的焊錫污染。
(二)加強生產(chǎn)環(huán)境管理
加強生產(chǎn)車間的潔凈度管理,安裝空氣凈化設(shè)備,定期對生產(chǎn)環(huán)境進行清潔和維護,確保生產(chǎn)環(huán)境的潔凈度符合要求。此外,還應(yīng)加強對原材料的儲存和管理,避免原材料受到污染。
(三)嚴格質(zhì)量檢測
對焊錫材料、封裝材料等進行嚴格的質(zhì)量檢測,確保原材料的質(zhì)量符合要求。在生產(chǎn)過程中,加強對產(chǎn)品的質(zhì)量檢測,及時發(fā)現(xiàn)和處理焊錫污染問題。
七、結(jié)論
塑封集成電路焊錫污染是一個嚴重影響集成電路可靠性的問題。焊錫污染的發(fā)生與生產(chǎn)環(huán)境、焊接工藝參數(shù)、原材料質(zhì)量等因素密切相關(guān)。焊錫污染會導(dǎo)致IC可靠性失效、影響電化學(xué)遷移、引發(fā)爬行腐蝕等,對封裝塑封體產(chǎn)生不可恢復(fù)的影響,并在特定條件下可能導(dǎo)致再次失效。通過實際案例分析,我們可以看到焊錫污染對集成電路產(chǎn)業(yè)造成的嚴重危害。為了避免焊錫污染導(dǎo)致可靠性失效,SMT工程師應(yīng)優(yōu)化生產(chǎn)工藝、加強生產(chǎn)環(huán)境管理、嚴格質(zhì)量檢測等。只有這樣,才能提高集成電路的質(zhì)量和可靠性,推動集成電路產(chǎn)業(yè)的健康發(fā)展。
在未來,隨著集成電路技術(shù)的不斷發(fā)展,對焊錫污染的控制要求也將越來越高。因此,我們需要進一步深入研究焊錫污染的發(fā)生機制和影響規(guī)律,不斷探索新的解決措施和技術(shù)手段,為集成電路產(chǎn)業(yè)的發(fā)展提供更加有力的支持。
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