電子發(fā)燒友網(wǎng)報(bào)道(文/黃山明)TSV(Through Silicon Via)即硅通孔技術(shù),是通過(guò)在芯片和芯片之間、晶圓和晶圓之間制作垂直導(dǎo)通,實(shí)現(xiàn)芯片之間互連的技術(shù),是2.5D/3D封裝的關(guān)鍵工藝技術(shù)之一。
這些材料核心功能主要有三個(gè),導(dǎo)電連接,主要提供低電阻信號(hào)/電源傳輸路徑;結(jié)構(gòu)支撐,用來(lái)承受多層堆疊帶來(lái)的機(jī)械應(yīng)力;介質(zhì)隔離,避免相鄰?fù)组g的電短路。
主流材料種類(lèi)繁多,包括導(dǎo)電材料、絕緣材料、輔助材料等。技術(shù)上,TSV材料需要再材料匹配性上讓熱膨脹系數(shù)(CTE)需與硅(2.6ppm/℃)接近,避免熱應(yīng)力導(dǎo)致分層,其中銅填充需控制晶粒尺寸(<1μm)以降低電阻率。
填充工藝上,要滿(mǎn)足高深寬比(>10:1)通孔的無(wú)空洞填充,電鍍銅需優(yōu)化添加劑(如整平劑、抑制劑)實(shí)現(xiàn)超填充( superfilling)。
同時(shí)可靠性上,電遷移壽命(10年@150℃)需滿(mǎn)足 JEDEC 標(biāo)準(zhǔn),銅擴(kuò)散阻擋層厚度需≥10nm(防止與硅反應(yīng)生成Cu?Si)。
當(dāng)前全球TSV技術(shù)發(fā)展情況
目前在全球,主要由臺(tái)積電、三星和英特爾主導(dǎo)TSV技術(shù)發(fā)展,尤其在HBM、3D IC等高端封裝領(lǐng)域占據(jù)全球超80%市場(chǎng)份額。其中銅作為主流填充材料,其電鍍工藝(如硫酸銅、甲基磺酸銅體系)已實(shí)現(xiàn)高深寬比TSV的無(wú)缺陷填充,電鍍?cè)O(shè)備與添加劑市場(chǎng)由安美特、陶氏等國(guó)際企業(yè)壟斷。
規(guī)模上,2024年全球TSV市場(chǎng)規(guī)模達(dá)342.3億美元,預(yù)計(jì)2031年增至796.1億美元(CAGR 13%),其中填充材料成本占比達(dá)44%,驅(qū)動(dòng)電鍍市場(chǎng)年復(fù)合增長(zhǎng)率16%。預(yù)計(jì)2025年中國(guó)TSV市場(chǎng)規(guī)模占全球25%,2027年國(guó)內(nèi)封裝材料市場(chǎng)規(guī)模突破600億元,TSV相關(guān)材料(如絕緣層、種子層)成為增長(zhǎng)核心。
近年來(lái),國(guó)內(nèi)市場(chǎng)在TVS材料上也有了不小的技術(shù)突破,例如深南電路、興森科技的FC-BGA基板通過(guò)華為認(rèn)證;華海誠(chéng)科的顆粒狀環(huán)氧塑封料(GMC)通過(guò)HBM封裝驗(yàn)證;德邦科技實(shí)現(xiàn)集成電路封裝材料批量供應(yīng)。
值得一提的是,TSV關(guān)鍵材料(如絕緣層、種子層)國(guó)產(chǎn)化率逐步提升,2025年目標(biāo)ABF載板15%、鍵合絲30%、封裝樹(shù)脂25%,2030年目標(biāo)達(dá)50%、70%、60%。當(dāng)然,一些高端材料(如高純度球鋁、先進(jìn)基板)仍依賴(lài)進(jìn)口,需加強(qiáng)產(chǎn)學(xué)研協(xié)同發(fā)展。
小結(jié)
TSV 填充材料的選擇需綜合考慮導(dǎo)電性、機(jī)械性能、工藝兼容性及成本。隨著 3D 集成技術(shù)向更高密度、更低功耗發(fā)展,材料創(chuàng)新與工藝優(yōu)化將持續(xù)推動(dòng) TSV 技術(shù)突破,成為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)重要支撐。
這些材料核心功能主要有三個(gè),導(dǎo)電連接,主要提供低電阻信號(hào)/電源傳輸路徑;結(jié)構(gòu)支撐,用來(lái)承受多層堆疊帶來(lái)的機(jī)械應(yīng)力;介質(zhì)隔離,避免相鄰?fù)组g的電短路。
材料類(lèi)型 | 典型材料 | 特性?xún)?yōu)勢(shì) | 應(yīng)用場(chǎng)景 |
導(dǎo)電材料 | 銅(Cu) | 導(dǎo)電性最優(yōu)(1.68μΩ?cm),成本低 | 主流 TSV 填充 |
鎢(W) | 抗電遷移能力強(qiáng),高溫穩(wěn)定性好 | 高溫環(huán)境 / 可靠性要求高 | |
銀(Ag) | 高導(dǎo)電性,但成本高易氧化 | 特殊高頻器件 | |
絕緣材料 | 二氧化硅(SiO?) | 介電常數(shù)低(3.9),工藝成熟 | 通孔側(cè)壁絕緣 |
聚酰亞胺(PI) | 柔韌性好,應(yīng)力緩沖能力強(qiáng) | 柔性電子器件 | |
氮化硅(Si?N?) | 高擊穿電壓(>10MV/cm) | 高壓器件 | |
輔助材料 | 阻擋層(Ta/TaN) | 防止銅擴(kuò)散至硅基底 | 銅填充 TSV 必備 |
種子層(Cu) | 促進(jìn)電鍍銅均勻沉積 | 銅填充工藝 |
主流材料種類(lèi)繁多,包括導(dǎo)電材料、絕緣材料、輔助材料等。技術(shù)上,TSV材料需要再材料匹配性上讓熱膨脹系數(shù)(CTE)需與硅(2.6ppm/℃)接近,避免熱應(yīng)力導(dǎo)致分層,其中銅填充需控制晶粒尺寸(<1μm)以降低電阻率。
填充工藝上,要滿(mǎn)足高深寬比(>10:1)通孔的無(wú)空洞填充,電鍍銅需優(yōu)化添加劑(如整平劑、抑制劑)實(shí)現(xiàn)超填充( superfilling)。
同時(shí)可靠性上,電遷移壽命(10年@150℃)需滿(mǎn)足 JEDEC 標(biāo)準(zhǔn),銅擴(kuò)散阻擋層厚度需≥10nm(防止與硅反應(yīng)生成Cu?Si)。
當(dāng)前全球TSV技術(shù)發(fā)展情況
目前在全球,主要由臺(tái)積電、三星和英特爾主導(dǎo)TSV技術(shù)發(fā)展,尤其在HBM、3D IC等高端封裝領(lǐng)域占據(jù)全球超80%市場(chǎng)份額。其中銅作為主流填充材料,其電鍍工藝(如硫酸銅、甲基磺酸銅體系)已實(shí)現(xiàn)高深寬比TSV的無(wú)缺陷填充,電鍍?cè)O(shè)備與添加劑市場(chǎng)由安美特、陶氏等國(guó)際企業(yè)壟斷。
規(guī)模上,2024年全球TSV市場(chǎng)規(guī)模達(dá)342.3億美元,預(yù)計(jì)2031年增至796.1億美元(CAGR 13%),其中填充材料成本占比達(dá)44%,驅(qū)動(dòng)電鍍市場(chǎng)年復(fù)合增長(zhǎng)率16%。預(yù)計(jì)2025年中國(guó)TSV市場(chǎng)規(guī)模占全球25%,2027年國(guó)內(nèi)封裝材料市場(chǎng)規(guī)模突破600億元,TSV相關(guān)材料(如絕緣層、種子層)成為增長(zhǎng)核心。
近年來(lái),國(guó)內(nèi)市場(chǎng)在TVS材料上也有了不小的技術(shù)突破,例如深南電路、興森科技的FC-BGA基板通過(guò)華為認(rèn)證;華海誠(chéng)科的顆粒狀環(huán)氧塑封料(GMC)通過(guò)HBM封裝驗(yàn)證;德邦科技實(shí)現(xiàn)集成電路封裝材料批量供應(yīng)。
值得一提的是,TSV關(guān)鍵材料(如絕緣層、種子層)國(guó)產(chǎn)化率逐步提升,2025年目標(biāo)ABF載板15%、鍵合絲30%、封裝樹(shù)脂25%,2030年目標(biāo)達(dá)50%、70%、60%。當(dāng)然,一些高端材料(如高純度球鋁、先進(jìn)基板)仍依賴(lài)進(jìn)口,需加強(qiáng)產(chǎn)學(xué)研協(xié)同發(fā)展。
小結(jié)
TSV 填充材料的選擇需綜合考慮導(dǎo)電性、機(jī)械性能、工藝兼容性及成本。隨著 3D 集成技術(shù)向更高密度、更低功耗發(fā)展,材料創(chuàng)新與工藝優(yōu)化將持續(xù)推動(dòng) TSV 技術(shù)突破,成為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)重要支撐。
聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
-
TSV
+關(guān)注
關(guān)注
4文章
120瀏覽量
81847 -
硅通孔
+關(guān)注
關(guān)注
2文章
26瀏覽量
11970
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
相關(guān)推薦
熱點(diǎn)推薦
日月光最新推出FOCoS-Bridge TSV技術(shù)
日月光半導(dǎo)體最新推出FOCoS-Bridge TSV技術(shù),利用硅通孔提供更短供電路徑,實(shí)現(xiàn)更高 I/O 密度與更好散熱性能,滿(mǎn)足AI/HPC對(duì)高帶寬與高效能的需求。
溝槽填充技術(shù)介紹
(void),溝槽的填充工藝技術(shù)也不斷發(fā)展。從圖中可見(jiàn),集成電路芯片的制造過(guò)程中包含很多種填充技術(shù)上的挑戰(zhàn),包括淺溝槽隔離、接觸孔和溝槽。根據(jù)填充材

TSV以及博世工藝介紹
在現(xiàn)代半導(dǎo)體封裝技術(shù)不斷邁向高性能、小型化與多功能異構(gòu)集成的背景下,硅通孔(TSV,Through-SiliconVia)工藝作為實(shí)現(xiàn)芯片垂直互連與三維集成(3DIC)的核心技術(shù),正日益成為先進(jìn)封裝

漢思新材料HS711板卡級(jí)芯片底部填充封裝膠
漢思新材料HS711是一種專(zhuān)為板卡級(jí)芯片底部填充封裝設(shè)計(jì)的膠水。HS711填充膠主要用于電子封裝領(lǐng)域,特別是在半導(dǎo)體封裝中,以提供機(jī)械支撐、應(yīng)力緩沖和保護(hù)芯片與基板之間的連接免受環(huán)境因素的影響。漢思

基于TSV的3D-IC關(guān)鍵集成技術(shù)
3D-IC通過(guò)采用TSV(Through-Silicon Via,硅通孔)技術(shù),實(shí)現(xiàn)了不同層芯片之間的垂直互連。這種設(shè)計(jì)顯著提升了系統(tǒng)集成度,同時(shí)有效地縮短了互連線的長(zhǎng)度。這樣的改進(jìn)不僅降低了信號(hào)傳輸?shù)难訒r(shí),還減少了功耗,從而全

玻璃通孔(TGV)技術(shù)深度解析
玻璃通孔(TGV,Through-Glass Via)技術(shù)是一種在玻璃基板上制造貫穿通孔的技術(shù),它與先進(jìn)封裝中的硅通孔(TSV)功能類(lèi)似,被
芯片先進(jìn)封裝硅通孔(TSV)技術(shù)說(shuō)明
高性能計(jì)算機(jī)中日益廣泛采用“處理器+存儲(chǔ)器”體系架構(gòu),近兩年來(lái)Intel、AMD、 Nvidia都相繼推出了基于該構(gòu)架的計(jì)算處理單元產(chǎn)品,將多個(gè)存儲(chǔ)器與處理器集成在一個(gè)TSV硅轉(zhuǎn)接基板上,以提高計(jì)算

TSV三維堆疊芯片的可靠性問(wèn)題
孔質(zhì)量和 信賴(lài)性保證難度大 ;(2) 多層芯片堆疊結(jié)構(gòu)的機(jī)械穩(wěn) 定性控制難度大 ;(3) 芯片間熱管理和散熱解決方案 復(fù)雜 ;(4) 芯片測(cè)試和故障隔離、定位困難。 2.1 TSV 孔的質(zhì)量和可靠性問(wèn)題 作為三維集成電路中的垂
先進(jìn)封裝中的TSV/硅通孔技術(shù)介紹
注入導(dǎo)電物質(zhì),將相同類(lèi)別芯片或不同類(lèi)別的芯片進(jìn)行互連,達(dá)到芯片級(jí)集成的先進(jìn)封裝技術(shù)。 TSV技術(shù)中的這個(gè)通道中主要是通過(guò)銅等導(dǎo)電物質(zhì)的填充完成硅通孔的垂直電氣互連,減小信號(hào)延遲,降低電

用平面錐制造100μm深10μm寬的高縱橫比硅通孔
得到的高深寬比硅通孔深度100μm,頂部底部尺寸分別為10μm和6μm,而不會(huì)造成任何旁瓣損傷。通過(guò)進(jìn)一步優(yōu)化平面錐鏡的設(shè)計(jì),可以解決定制貝塞爾光束制造速度的問(wèn)題,實(shí)現(xiàn)更快、更高分辨率和更精確的TSV制造。 三維集成電路(3D

硅通孔三維互連與集成技術(shù)
本文報(bào)道了硅通孔三維互連技術(shù)的核心工藝以及基于TSV形成的眾多先進(jìn)封裝集成技術(shù)。形成TSV主要有Via-First、Via-Middle、Via-Last 3大技術(shù)路線。

一文了解硅通孔(TSV)及玻璃通孔(TGV)技術(shù)
匹配), 多芯片模塊封裝 (MCM, 可集成異質(zhì)芯片), 晶圓級(jí)封裝 (WLP,包括扇出型晶圓級(jí)封裝(FOWLP)、 微型表面貼裝元器件 (microSMD)等),三維封裝(微凸塊互連封裝、TSV 互連封裝等),系統(tǒng)封裝(SIP), 芯片系統(tǒng) (

評(píng)論