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QLC SSD的設計挑戰(zhàn)及解決方法

UnionMemory憶聯(lián) ? 來源:UnionMemory憶聯(lián) ? 2025-02-15 11:07 ? 次閱讀

在語言大模型(LLM)、推理大模型(如DeepSeek)等AI應用爆火的當下,數(shù)據(jù)存儲和訪問速度、模型訓練與推理效率等相關話題也逐步升溫,SSD在其中扮演著不可或缺的角色。跟隨本欄目,快速了解SSD存儲正在進行著哪些變革。

上期我們對QLC SSD、TLC SSD以及HDD分別進行了優(yōu)勢對比,并得出了成本分析《存儲變革進行時:高密度QLC SSD緣何扛起換代大旗(一)》。

本期將重點介紹QLC SSD在設計上存在的諸多挑戰(zhàn)及解決之道。

01更大的內(nèi)部扇區(qū)尺寸

從硬件設計及成本上考慮,高密度QLC SSD存儲容量增加時,其配置的DRAM容量通常不變,這意味著盤內(nèi)單位扇區(qū)(Indirect Unit)會變大。

例如,標準的4TB TLC 4KB扇區(qū)SSD需要配置4GB DRAM來保存L2P表。對于64TB QLC SSD若其DRAM的配置容量保持不變,則必須使用64KB扇區(qū)。此時如果執(zhí)行一個4KB的隨機寫IO,則需要執(zhí)行“讀-改-寫”的過程,這將產(chǎn)生16倍的寫放大。而TLC SSD的4KB隨機寫則無此問題。

因此,盡管QLC SSD大尺寸連續(xù)寫性能與TLC SSD持平,但是其4KB隨機寫性能遠低于TLC SSD,根源在于其內(nèi)部扇區(qū)更大。

操作系統(tǒng)下發(fā)給SSD盤的讀寫請求中,尺寸小于4KB的請求較為少見,而實際運行中4KB的讀寫請求數(shù)量卻不少,主要源于以下幾個方面:

● 塊設備接口的邏輯扇區(qū)(LBA)尺寸是512B或者4KB;

●主流操作系統(tǒng)的內(nèi)存頁面的尺寸設定為4KB;

●文件系統(tǒng)的空間分配單位通常不小于4KB。

針對這些問題,操作系統(tǒng)的內(nèi)存管理和文件系統(tǒng)正在積極修改,以適應更大的SSD內(nèi)部扇區(qū)尺寸,隨著時間的推移,技術(shù)將逐步演進成熟,將更好地支撐大型內(nèi)部扇區(qū)。

另外,當前的DWPD測試標準是基于JEDEC JESD218制定的,采用4KB寫負載進行評估。雖然4KB寫負載并不能準確模擬實際應用中可能出現(xiàn)的各種工作負載,但是DWPD仍然是評估SSD性能的重要指標,因而必須堅持使用統(tǒng)一的測試標準。考慮到QLC SSD的盤內(nèi)扇區(qū)較大的特性,在這一測試標準下,DWPD測試結(jié)果通常會顯得較為遜色。

解決此類現(xiàn)象的思路包括對DWPD測試標準進行調(diào)整,使用更加適合QLC SSD特性的寫負載進行評估,或者針對QLC SSD制定專項的測試規(guī)范,結(jié)合其特有的存儲單元結(jié)構(gòu)和寫入機制,以便更準確地反映QLC SSD在不同使用場景下的表現(xiàn)。行業(yè)內(nèi)的標準化組織也能盡早推動,形成能夠覆蓋不同NAND類型的綜合性測試標準,以體現(xiàn)更公平的性能評估。

02布局和堆疊

目前大容量的SSD普遍采用TLC或QLC NAND,一般會采用16~32顆NAND FLASH顆粒。顆粒數(shù)量的增加會帶來整盤的器件布局、PCB堆疊設計的挑戰(zhàn)。

一般企業(yè)級的SSD,主要器件包括1顆SoC,5-10顆DDR(含ECC),多顆NAND FLASH顆粒,備電電容等。要在有限的空間內(nèi)實現(xiàn),對PCB的布局密度提出了更高的要求。

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◎表1、常見企業(yè)級SSD硬件形態(tài)

在極端的場景下,例如9顆DDR+32顆NAND FLASH,單層PCB已經(jīng)無法放下, 此時就需要用兩層或者更多層PCB堆疊來實現(xiàn),PCB通過柔性PCB或者接插件鏈接。比如憶聯(lián) UH610 ESSD,采用了高密布局和兩層PCB堆疊來實現(xiàn)。

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◎圖1、憶聯(lián)UH610采用柔性PCB

此外,大容量SSD的NAND顆粒一般采用ODP或HDP的封裝,也就是一個顆粒(package)會封裝8個或者16個Die。對于HDP來說,芯片的高度就會稍高于采用ODP、QDP等Die數(shù)較少的封裝形式,進而影響結(jié)構(gòu)的堆疊設計。

03功耗和散熱

對于單個SSD來說,雖然最大功耗的上限是固定的,但是由于降額的要求,最大功耗場景在一般的業(yè)務運行過程中很難出現(xiàn),我們需要更多關注的是業(yè)務場景下的“典型功耗”。

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◎表2、各硬件形態(tài)SSD最大功耗

一方面,受限于供電、散熱和SI,即使是大容量的SSD,其最大性能仍略低于普通容量的SSD。但在典型的業(yè)務場景下,兩者可達到的性能是基本一致的。SoC的功耗主要取決于性能,因此對于某一款具體的SoC而言,相同業(yè)務壓力下的功耗,可以認為是基本不變的。

另一方面,隨著SSD容量的增加,采用的介質(zhì)(NAND FLASH)不論是Die的數(shù)量,還是單Die的容量,均會增加。采用4KB FTL(Flash Translation Layer)粒度的標準SSD,為了支撐更大的物理容量,F(xiàn)TL表項數(shù)量也會隨容量成比例增加,帶來DDR顆粒的容量或數(shù)量增加。

NAND FLASH和DDR顆粒的增加,不論是數(shù)量,還是總的Die面積(即規(guī)模)增加,都會使漏電流隨之變大,進而導致SSD靜態(tài)功耗增加。因此整盤的功耗會隨著容量增加而增大。

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◎圖2、2TB和16TB SSD 14G帶寬順序讀功耗分布

從單個SSD的角度來看,布局密度增加以及PCB的堆疊設計,增加了SSD的風阻,帶來了更高的風壓,風量就會降低,用于熱交換的空氣變少,導致SSD溫度升高。 9655320e-eabb-11ef-9310-92fbcf53809c.png

◎圖3、阻力越大,風量越小

SSD上的器件(NAND、DDR等)功耗增加,會使流經(jīng)SoC的空氣,被更多的加熱;外殼殼體也會被加熱到更高的溫度,也會使SSD溫度升高。

對于一個系統(tǒng)來說,不論是服務器還是專用的存儲設備,散熱都需要滿足SSD的最大功耗的要求。但是如前面分析,我們更應該關注“典型功耗”。大容量SSD的典型功耗增加,意味著同樣業(yè)務性能下,需要更高的風扇轉(zhuǎn)速或者液冷工質(zhì)流速,提供更多的風量或流量散熱。

綜上所述,QLC SSD在逐漸嶄露頭角的同時,也在不斷攻克內(nèi)部扇區(qū)尺寸、布局與堆疊、功耗與散熱等設計上的挑戰(zhàn),這些創(chuàng)新也為QLC SSD的進一步應用鋪平了道路。

隨著市場對存儲解決方案需求的不斷演變,QLC SSD將會在哪些業(yè)務場景中取得領先優(yōu)勢,又將如何推動存儲技術(shù)的進一步發(fā)展呢?敬請持續(xù)關注本系列文章。

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原文標題:存儲變革進行時:高密度QLC SSD緣何扛起換代大旗(二)

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