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濕度大揭秘!如何影響功率半導(dǎo)體器件芯片焊料熱阻?

北京中科同志科技股份有限公司 ? 2025-02-07 11:32 ? 次閱讀

近年來,隨著電力電子技術(shù)的快速發(fā)展,功率半導(dǎo)體器件在風(fēng)力發(fā)電、光伏發(fā)電、電動(dòng)汽車等戶外工況中的應(yīng)用日益廣泛。然而,這些戶外環(huán)境往往伴隨著較高的濕度,這對(duì)功率半導(dǎo)體器件的運(yùn)行可靠性構(gòu)成了嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。特別是濕度對(duì)功率半導(dǎo)體器件芯片焊料熱阻的影響,已成為學(xué)術(shù)界和工業(yè)界關(guān)注的焦點(diǎn)。本文將深入探討濕度對(duì)功率半導(dǎo)體器件芯片焊料熱阻的影響機(jī)理,以期為功率半導(dǎo)體器件的設(shè)計(jì)、制造和應(yīng)用提供理論支持。

一、引言

功率半導(dǎo)體器件在工作過程中會(huì)產(chǎn)生損耗,這些損耗最終會(huì)轉(zhuǎn)化為熱能,導(dǎo)致器件溫度上升。器件的溫度升高與產(chǎn)生的熱量和散熱效率密切相關(guān),其中散熱效率又受到散熱通路熱阻的影響。芯片焊料作為功率半導(dǎo)體器件散熱通路中的重要組成部分,其熱阻特性對(duì)器件的散熱性能具有重要影響。然而,濕度作為一種環(huán)境因素,可能通過多種機(jī)制影響芯片焊料的熱阻特性,進(jìn)而影響器件的可靠性和壽命。

二、濕度對(duì)功率半導(dǎo)體器件芯片焊料熱阻的影響機(jī)理

(一)濕度對(duì)芯片焊料物理特性的影響

  1. 吸濕膨脹

芯片焊料在高濕度環(huán)境下容易吸濕,導(dǎo)致焊料層體積膨脹。這種膨脹效應(yīng)可能改變焊料層的微觀結(jié)構(gòu),如增加孔隙率、改變焊料晶粒尺寸等,從而影響焊料的熱導(dǎo)率。熱導(dǎo)率是影響熱阻的關(guān)鍵因素之一,熱導(dǎo)率降低會(huì)導(dǎo)致熱阻增大,進(jìn)而影響器件的散熱性能。

  1. 化學(xué)腐蝕

濕度環(huán)境中的水分子可能與焊料中的金屬元素發(fā)生化學(xué)反應(yīng),導(dǎo)致化學(xué)腐蝕。這種腐蝕作用可能使焊料層表面變得粗糙,增加熱阻。同時(shí),腐蝕還可能改變焊料的熱容和密度,進(jìn)一步影響焊料的熱阻特性。

  1. 爆米花效應(yīng)

對(duì)于濕敏器件,在高濕度環(huán)境下存放后,如果經(jīng)歷高溫?zé)崽幚憝h(huán)節(jié)(如回流焊、波峰焊等),會(huì)導(dǎo)致器件內(nèi)部潮氣氣化,進(jìn)而產(chǎn)生爆米花效應(yīng)。這種效應(yīng)會(huì)使器件膨脹,撐開塑封膠體或基板,并在冷卻過程中由于材料熱脹冷縮速率不一致,造成內(nèi)部材料出現(xiàn)裂紋。這些裂紋可能會(huì)貫穿焊料層,增加熱阻。

(二)濕度對(duì)芯片焊料熱阻的直接影響

  1. 熱導(dǎo)率變化

如前所述,濕度引起的吸濕膨脹和化學(xué)腐蝕可能改變焊料的熱導(dǎo)率。實(shí)驗(yàn)研究表明,當(dāng)水汽含量占芯片焊料層內(nèi)物質(zhì)總量的0.1%時(shí),焊料的熱導(dǎo)率會(huì)顯著降低至原來的91.4%。熱導(dǎo)率的降低意味著熱量在焊料層中的傳遞速度減慢,從而導(dǎo)致熱阻增大。

  1. 熱容和密度變化

濕度還可能改變焊料的熱容和密度。雖然熱容和密度對(duì)熱阻的直接影響相對(duì)較小,但它們的變化可能會(huì)間接影響焊料的熱阻特性。例如,熱容的增大會(huì)導(dǎo)致焊料層在吸收相同熱量時(shí)溫度升高較慢,從而影響熱量的傳遞過程;密度的變化則可能影響焊料層的微觀結(jié)構(gòu),進(jìn)而影響熱阻。

(三)濕度對(duì)器件整體熱阻的影響

芯片焊料熱阻的變化會(huì)進(jìn)一步影響器件的整體熱阻。在功率半導(dǎo)體器件中,散熱通路通常包括芯片、焊料層、散熱器等多個(gè)部分。芯片焊料熱阻的增大意味著熱量在傳遞到散熱器之前需要經(jīng)過更長的阻力路徑,從而導(dǎo)致器件整體熱阻增大。整體熱阻的增大將降低器件的散熱性能,使器件在相同功耗下溫度升高更快,進(jìn)而影響器件的可靠性和壽命。

三、濕度對(duì)功率半導(dǎo)體器件芯片焊料熱阻影響的實(shí)驗(yàn)研究

為了深入探究濕度對(duì)功率半導(dǎo)體器件芯片焊料熱阻的影響機(jī)理,研究者們進(jìn)行了大量的實(shí)驗(yàn)研究。這些實(shí)驗(yàn)通常采用高溫高濕存儲(chǔ)、功率循環(huán)測(cè)試以及熱阻測(cè)試等方法,對(duì)器件在不同濕度環(huán)境下的熱阻特性進(jìn)行表征和分析。

(一)高溫高濕存儲(chǔ)實(shí)驗(yàn)

高溫高濕存儲(chǔ)實(shí)驗(yàn)是一種常用的可靠性測(cè)試方法,旨在模擬器件在戶外高濕度環(huán)境下的長期存儲(chǔ)條件。通過將器件置于規(guī)定溫度和濕度條件下存儲(chǔ)一定時(shí)間(如85℃/85%相對(duì)濕度條件下存儲(chǔ)1000小時(shí)),可以觀察器件性能的變化情況。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,經(jīng)過高溫高濕存儲(chǔ)后,器件的芯片焊料熱阻會(huì)顯著增大。

(二)功率循環(huán)測(cè)試

功率循環(huán)測(cè)試是一種模擬器件在實(shí)際工作過程中反復(fù)開通和關(guān)斷條件的測(cè)試方法。通過將器件置于規(guī)定的負(fù)載電流、阻斷電壓和環(huán)境溫度條件下進(jìn)行循環(huán)測(cè)試,可以觀察器件性能的退化情況。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,經(jīng)過高溫高濕存儲(chǔ)后的器件在功率循環(huán)測(cè)試中表現(xiàn)出更明顯的性能退化現(xiàn)象,如熱阻增大、鍵合線斷裂等。

(三)熱阻測(cè)試

熱阻測(cè)試是一種直接測(cè)量器件散熱通路熱阻的方法。通過測(cè)量器件在不同功耗下的結(jié)溫和環(huán)境溫度差值,并結(jié)合功耗值計(jì)算得到器件的熱阻。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,經(jīng)過高溫高濕存儲(chǔ)后的器件在相同功耗下結(jié)溫升高更快,即熱阻增大。

四、濕度對(duì)功率半導(dǎo)體器件芯片焊料熱阻影響的仿真研究

除了實(shí)驗(yàn)研究外,仿真研究也是探究濕度對(duì)功率半導(dǎo)體器件芯片焊料熱阻影響機(jī)理的重要手段。通過建立器件的熱-濕-力多物理場(chǎng)耦合仿真模型,可以模擬器件在不同濕度環(huán)境下的熱阻特性變化情況。

(一)仿真模型建立

在建立仿真模型時(shí),需要充分考慮器件的材料特性、結(jié)構(gòu)特點(diǎn)以及濕度對(duì)材料特性的影響。例如,需要準(zhǔn)確描述焊料的熱導(dǎo)率、熱容、密度等物理特性隨濕度的變化關(guān)系;同時(shí)還需要考慮濕度對(duì)焊料層微觀結(jié)構(gòu)的影響以及由此產(chǎn)生的熱阻變化。

(二)仿真結(jié)果分析

通過仿真計(jì)算可以得到器件在不同濕度環(huán)境下的熱阻特性變化情況。仿真結(jié)果表明,隨著濕度的增加器件的芯片焊料熱阻會(huì)逐漸增大;同時(shí)還可以通過仿真結(jié)果分析濕度對(duì)器件其他性能參數(shù)(如阻斷電壓、漏電流等)的影響情況。

五、濕度對(duì)功率半導(dǎo)體器件芯片焊料熱阻影響的應(yīng)對(duì)措施

針對(duì)濕度對(duì)功率半導(dǎo)體器件芯片焊料熱阻的影響機(jī)理和實(shí)驗(yàn)結(jié)果,可以采取一系列應(yīng)對(duì)措施來提高器件的可靠性和壽命。

(一)優(yōu)化封裝結(jié)構(gòu)

通過優(yōu)化封裝結(jié)構(gòu)可以減少濕度對(duì)器件內(nèi)部的影響。例如采用密封性更好的封裝材料、增加防潮劑等手段可以有效地防止水分進(jìn)入器件內(nèi)部;同時(shí)還可以通過優(yōu)化封裝內(nèi)部的熱傳導(dǎo)路徑來提高器件的散熱性能。

(二)改進(jìn)材料特性

通過改進(jìn)焊料等關(guān)鍵材料的特性也可以提高器件的抗?jié)穸饶芰Α@绮捎梦鼭裥愿?、熱?dǎo)率更高的焊料材料可以減少濕度對(duì)焊料層的影響;同時(shí)還可以通過對(duì)焊料表面進(jìn)行特殊處理(如涂覆防潮涂層等)來提高其抗?jié)穸饶芰Α?/span>

(三)加強(qiáng)可靠性測(cè)試

通過加強(qiáng)可靠性測(cè)試可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)器件在濕度環(huán)境下的性能退化現(xiàn)象,并采取相應(yīng)的措施進(jìn)行改進(jìn)。例如增加高溫高濕存儲(chǔ)、功率循環(huán)等可靠性測(cè)試項(xiàng)目可以全面地評(píng)估器件在濕度環(huán)境下的性能和可靠性水平。

六、結(jié)論與展望

綜上所述,濕度對(duì)功率半導(dǎo)體器件芯片焊料熱阻的影響機(jī)理是一個(gè)復(fù)雜而重要的問題。通過深入探究濕度對(duì)焊料物理特性的影響、焊料熱阻的直接影響以及器件整體熱阻的變化情況,可以為功率半導(dǎo)體器件的設(shè)計(jì)、制造和應(yīng)用提供理論支持。未來隨著材料科學(xué)和仿真技術(shù)的不斷發(fā)展,相信我們可以更加深入地理解濕度對(duì)功率半導(dǎo)體器件芯片焊料熱阻的影響機(jī)理,并開發(fā)出更加可靠和高效的功率半導(dǎo)體器件產(chǎn)品。

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