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三星電子1c nm內(nèi)存開發(fā)良率里程碑推遲

CHANBAEK ? 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò)整理 ? 2025-01-22 15:54 ? 次閱讀

據(jù)韓媒報(bào)道,三星電子已將其1c nm DRAM內(nèi)存開發(fā)的良率里程碑時(shí)間推遲了半年。原本,三星計(jì)劃在2024年底將1c nm制程DRAM的良率提升至70%,以達(dá)到結(jié)束開發(fā)工作、順利進(jìn)入量產(chǎn)階段的要求。然而,實(shí)際情況并未如愿。

據(jù)悉,盡管三星電子在去年底成功制得了1c nm DRAM的良品晶粒,但整體良率并未達(dá)到預(yù)期水平。因此,三星不得不將良率里程碑時(shí)間推遲至2025年6月,以確保產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定性和可靠性。

這一變化可能會(huì)對(duì)三星對(duì)HBM4內(nèi)存的規(guī)劃產(chǎn)生影響。HBM4作為高性能內(nèi)存,對(duì)良率和穩(wěn)定性有著極高的要求。因此,三星在1c nm DRAM內(nèi)存開發(fā)上的推遲,可能會(huì)使得HBM4的量產(chǎn)時(shí)間也相應(yīng)延后。

三星電子一直致力于在內(nèi)存技術(shù)方面保持領(lǐng)先地位,此次推遲無(wú)疑對(duì)其市場(chǎng)布局和產(chǎn)品計(jì)劃帶來(lái)了一定的挑戰(zhàn)。未來(lái),三星將需要更加努力地提升良率和生產(chǎn)效率,以滿足市場(chǎng)需求并保持競(jìng)爭(zhēng)力。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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