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原子層沉積(ALD, Atomic Layer Deposition)詳解

中科院半導(dǎo)體所 ? 來(lái)源:老虎說(shuō)芯 ? 2025-01-17 10:53 ? 次閱讀

本文介紹了什么是原子層沉積(ALD, Atomic Layer Deposition)。

1.原理:基于分子層級(jí)的逐層沉積

ALD 是一種精確的薄膜沉積技術(shù),其核心原理是利用化學(xué)反應(yīng)的“自限性”,以原子或分子層為單位逐層生長(zhǎng)薄膜。

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具體過(guò)程包括:

前體吸附:將化學(xué)前體(Precursor)引入反應(yīng)室,前體分子在襯底表面發(fā)生吸附,形成單分子層。

吹掃:用惰性氣體(如氮?dú)饣驓鍤猓⑽次降那绑w和副產(chǎn)物清除,確保僅?;瘜W(xué)吸附的分子。

反應(yīng):引入第二種前體,與已吸附分子發(fā)生化學(xué)反應(yīng),生成所需的薄膜層,同時(shí)釋放出氣相副產(chǎn)物。

循環(huán)重復(fù):每次循環(huán)僅沉積一個(gè)原子層,通過(guò)重復(fù)循環(huán),逐漸形成所需厚度的均勻薄膜。

這種“自限性反應(yīng)”確保每個(gè)循環(huán)的沉積厚度恒定,無(wú)論基材表面是平坦還是復(fù)雜的三維結(jié)構(gòu)。

2. 優(yōu)勢(shì)分析

2.1 無(wú)針孔薄膜

特點(diǎn):ALD 沉積薄膜致密,無(wú)微小孔洞,確保膜層具備優(yōu)異的密封性和隔離性。

原因:由于每個(gè)周期只沉積一個(gè)原子層,沉積過(guò)程可以填補(bǔ)薄膜中的微小缺陷,保證膜層完整性。

應(yīng)用:這種無(wú)缺陷薄膜廣泛應(yīng)用于高性能電子器件(如柵氧化層)、防腐涂層和氣體屏障等場(chǎng)景。

2.2 階梯覆蓋能力

特點(diǎn):ALD 在高深寬比結(jié)構(gòu)中實(shí)現(xiàn) 100% 階梯覆蓋,無(wú)論是復(fù)雜凹槽、孔隙還是微納結(jié)構(gòu)。

原因:由于 ALD 依賴于化學(xué)吸附,每個(gè)層面都能均勻吸附前體,并逐層沉積,無(wú)厚薄不均現(xiàn)象。

應(yīng)用:適用于半導(dǎo)體器件、納米線、光學(xué)傳感器等復(fù)雜三維結(jié)構(gòu)的涂覆。

2.3 低溫沉積

特點(diǎn):適合溫度敏感的基材,常見(jiàn)溫度范圍為 50-350°C。

原因:ALD 的前體吸附和化學(xué)反應(yīng)是熱驅(qū)動(dòng)過(guò)程,但在適當(dāng)溫度內(nèi)不需要高溫,因此可避免高溫對(duì)材料的破壞。

應(yīng)用:對(duì)熱敏基材(如柔性電子、聚合物基材)的涂覆。

3. ALD 與傳統(tǒng)沉積技術(shù)的對(duì)比

薄膜均勻性:傳統(tǒng)方法如 PECVD(等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積)或 PVD(物理氣相沉積)在高深寬比結(jié)構(gòu)中沉積不均勻,ALD 能在微納米尺度結(jié)構(gòu)中實(shí)現(xiàn)均勻沉積。

刻蝕精度:ALD 的對(duì)標(biāo)工藝 ALE(原子層刻蝕)同樣依賴自限性反應(yīng),具備更高的刻蝕均勻性和精度。

成本與效率:雖然 ALD 的循環(huán)沉積速度較慢,但其薄膜質(zhì)量和均勻性使其成為高精度領(lǐng)域的首選。

4. 材料與應(yīng)用

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ALD 可沉積多種無(wú)機(jī)和有機(jī)材料:

金屬氧化物:如 TiO?(高折射率薄膜)、ZrO?(電介質(zhì)層)。 氮化物:如 TiN(導(dǎo)電屏蔽層)。 碳化物:用于高溫穩(wěn)定性涂層。

無(wú)機(jī)材料:

有機(jī)涂層:如聚酰胺(納米級(jí)防腐薄膜)。

典型應(yīng)用領(lǐng)域

半導(dǎo)體制造:制備柵極氧化層、導(dǎo)電屏蔽層、鈍化層。

光學(xué)與光子學(xué):制備抗反射涂層、高折射率鏡片。

MEMS:增強(qiáng)微機(jī)電器件表面性能。

綠色能源:用于太陽(yáng)能電池的鈍化和催化劑涂層。

5. ALD 的未來(lái)趨勢(shì)

與 ALE 的聯(lián)動(dòng):結(jié)合原子層沉積和刻蝕技術(shù),推動(dòng)極高深寬比結(jié)構(gòu)制造。

前體開(kāi)發(fā):開(kāi)發(fā)更高反應(yīng)活性、環(huán)保型前體,擴(kuò)展可沉積材料種類。

大面積制造:研究提高 ALD 沉積速率的方案(如 Spatial ALD),實(shí)現(xiàn)高效量產(chǎn)。

通過(guò)逐層沉積和精確控制,ALD技術(shù)已成為微納米制造的基石之一,在半導(dǎo)體、光學(xué)、能源等多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮著不可替代的作用。 END 轉(zhuǎn)載內(nèi)容僅代表作者觀點(diǎn) 不代表中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體所立場(chǎng)

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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原文標(biāo)題:原子層沉積(ALD, Atomic Layer Deposition)詳解

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