Al+3DAOI光學(xué)檢測儀介紹

Al+3DAOI光學(xué)檢測儀介紹：

Al+3D AOI在提升產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率方面發(fā)揮著越來越重要的作用，傳統(tǒng)2D AOI檢測正在逐步向3D AOI技術(shù)發(fā)展。將現(xiàn)有2D檢測與3D技術(shù)相結(jié)合，通過三維影像對元件的形狀和焊點(diǎn)進(jìn)行有效的測量檢測。根據(jù)缺陷檢測類型，自動選擇合適成像方案及算法模型，對于歪斜、OCR、極性等檢查，選取更的2D方案，而翹腳、虛焊等焊點(diǎn)檢測則使用可檢出的3D視覺方案。

智能化提升?：AI技術(shù)的應(yīng)用使得AOI設(shè)備更加智能化和自動化。例如，Al+AOI中采用人工智能深度學(xué)習(xí)算法，可利用深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)從原始數(shù)據(jù)中自動學(xué)習(xí)提取特征，自動準(zhǔn)確地檢測出不同元器件及其重要區(qū)域，大大簡化了編程流程，提升了檢測效率?

AOI（Automated Optical Inspection）全稱自動光學(xué)檢測，是基于光學(xué)原理對生產(chǎn)中遇到的常見外觀缺陷進(jìn)行檢測的設(shè)備。 行業(yè)內(nèi)傳統(tǒng)AOI設(shè)備的判斷程序主要依賴人類的專家手動從數(shù)據(jù)中提取特自定義一個標(biāo)準(zhǔn)，匯總成元器件標(biāo)準(zhǔn)庫，隨后將檢測圖片與標(biāo)準(zhǔn)庫對比，編程時間耗時繁瑣，需要大量反復(fù)的嘗試，誤判率普遍較高并伴有諸多難題。Al+AOI中采用人工智能深度學(xué)習(xí)算法，可利用深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)從原始數(shù)據(jù)中自動學(xué)習(xí)提取特征，在不需要任何額外訓(xùn)練的情況下，自動準(zhǔn)確地檢測出客戶提供的不同金板上不同元器件以及其重要組成區(qū)域(封裝、焊盤、引腳、OCR和極性等)，不需要元器件庫，大大簡化了編程流程，實(shí)現(xiàn)AI算法一鍵自動編程，大幅縮短編程時間，開啟了智能檢測新方式，極大提升檢測效率。

Al+AOI引領(lǐng)智能檢測新紀(jì)元，指數(shù)級提升設(shè)備性能指標(biāo)

基于核心算法能力，Al+AOI檢測設(shè)備較傳統(tǒng)設(shè)備取得了代際革新，各項(xiàng)核心性能指標(biāo)取得指數(shù)級增長。Al+AOI內(nèi)嵌高性能AI運(yùn)算平臺，搭配獨(dú)立的高分辨率視覺系統(tǒng)，智能決策系統(tǒng)將每個批次電路板的檢測前編程設(shè)定耗時由數(shù)個小時降低至1分鐘之內(nèi)，同時可在保證絕對0漏報的前提下，將現(xiàn)有設(shè)備10%的誤報率降低至1%以內(nèi)，解決傳統(tǒng)算法所面臨的“泛化力弱”與“特征提取能力弱”兩大難題。毫秒級別算法推理以及AI模型自動優(yōu)化升級等顛覆了傳統(tǒng)檢測方式，從根本上提升了生產(chǎn)質(zhì)量與效率，在檢測數(shù)量和檢測精度方面相對傳統(tǒng)檢測設(shè)備有著跨代際的優(yōu)勢，全面改善了現(xiàn)有的工業(yè)檢測環(huán)節(jié)，助力行業(yè)用戶實(shí)現(xiàn)降本增效，引領(lǐng)智能檢測新紀(jì)元。

隨著AI工業(yè)質(zhì)檢技術(shù)和深度學(xué)習(xí)技術(shù)的發(fā)展，Al+AOI引領(lǐng)下的國產(chǎn)AOI設(shè)備取得革新發(fā)展。人工智能+”作為驅(qū)動新質(zhì)生產(chǎn)力的關(guān)鍵引擎，不僅推動了生產(chǎn)方式的根本性變革，更通過技術(shù)創(chuàng)新、生產(chǎn)要素優(yōu)化、產(chǎn)業(yè)融合和協(xié)同創(chuàng)新等，對生產(chǎn)過程的每一個環(huán)節(jié)進(jìn)行了重塑，催生出全新的生產(chǎn)模式和生產(chǎn)關(guān)系。Al+AOI的工業(yè)AI智能檢測設(shè)備正逐步解鎖工業(yè)4.0的無限潛能，為我國制造業(yè)的轉(zhuǎn)型升級貢獻(xiàn)力量，共同迎接智能智造的新時代。

審核編輯 黃宇