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半導(dǎo)體FAB中常見的五種CVD工藝

深圳市賽姆烯金科技有限公司 ? 來源:深圳市賽姆烯金科技有限 ? 2025-01-03 09:47 ? 次閱讀

Hello,大家好,今天來分享下半導(dǎo)體FAB中常見的五種CVD工藝。

化學(xué)氣相沉積(CVD)主要是通過利用氣體混合的化學(xué)反應(yīng)在硅片表面沉積一層固體膜的工藝。在 CVD 工藝過程中,化合物會進行充分混合以氣相形式發(fā)生反應(yīng),使得原子或分子沉積在硅片襯底表面而形成薄膜,其主要的應(yīng)用包括淺溝槽隔離層、金屬前電介質(zhì)層、金屬層間電介質(zhì)層和鈍化保護層。CVD 主要分為常APCVD、LPCVD、PECVD,HDPCVD和ALD。

一.APCVD:常壓 CVD

指的是在大氣壓作用下進行的一種化學(xué)氣相淀積方法,此技術(shù)可高質(zhì)量及穩(wěn)定的量產(chǎn)大直徑硅片,所需系統(tǒng)較為簡單,是最初期應(yīng)用的一種CVD技術(shù)。

優(yōu)點:反應(yīng)簡單,沉積速度快,低溫。

缺點:臺階覆蓋能力差,有顆粒沾 污,低產(chǎn)出率。

應(yīng)用:低溫 SiO?(摻雜或不摻雜)。

二.LPCVD:低壓CVD

這是基于APCVD 的基礎(chǔ)發(fā)展而來的,低壓CVD在市場中運用較為廣泛,該技術(shù)擁有較低的使用成本,同時擁有更卓越的薄膜均勻性和溝槽覆蓋填充能。

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LPCVD反應(yīng)流程圖(來源Mksinst)

優(yōu)點:高純度和均勻性,一致的臺階覆蓋能力,大硅片容量。

缺點:高溫,低淀積速率,需要更多維護,要求真空系統(tǒng)支持。

應(yīng)用:高溫SiO?,Si3N4,多晶硅, W,WSi2。

三&四.PECVD:等離子體增強 CVD,

HDPCVD:高密度等離子體 CVD 。

PECVD和HDPCVD都屬于等離子體輔助 CVD ,主要指的是運用等離子體的能量和熱能,更好的進行 CVD 沉積的所需化學(xué)反應(yīng)。在CVD中使用等離子體好處是可在更低的工藝溫度下在硅片上沉積具有優(yōu)秀粘附能力的膜,該技術(shù)擁有更高的沉積速率和膜密度等。等離子體增強CVD在低壓CVD的基礎(chǔ)上發(fā)展,兩者主要區(qū)別是離子體增強CVD發(fā)生反應(yīng)的溫度遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于低壓CVD反應(yīng)溫度。高密度等離子體CVD是新發(fā)展的一種CVD技術(shù),其優(yōu)點是可在較低溫度下沉積出能夠填充高深寬比間隙的薄膜,該技術(shù)主要用于制造高端IC。

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等離子體輔助CVD中膜的形成(來源《半導(dǎo)體制造技術(shù)》)

優(yōu)點:低溫,快速淀積,好的臺階覆蓋 能力和間隙填充能力。

缺點:要求 RF 系統(tǒng),高成本,壓力 遠(yuǎn)大于張力化學(xué)物質(zhì)(如H?)和 顆粒沾污。

應(yīng)用:高的深寬比間隙的填充,金屬上的低溫SiO?,ILD-1,ILD,為了雙鑲嵌結(jié)構(gòu)的銅籽晶層,鈍化層(Si3N4)。

五.ALD:原子層沉積

ALD是一種以單原子膜形式逐層沉積在基底上的鍍膜方法,是化學(xué)氣相沉積的一種特殊形式。

ALD的原理為氣相前驅(qū)體脈沖交替通入反應(yīng)器并在基底表面以單原子層的模式逐層成膜,反應(yīng)步驟包括:

1)前驅(qū)體A進入反應(yīng)室并吸 附在基體表面;

2)惰性氣體沖洗反應(yīng)室,將剩余的前驅(qū)體A清洗干凈;

3)前驅(qū)體B進入反應(yīng)室并吸附在基體表面,與前驅(qū)體A發(fā)生化 學(xué)反應(yīng),生成目標(biāo)薄膜;

4)惰性氣體沖洗反應(yīng)室,將化學(xué)反應(yīng)生成的副產(chǎn)物清除出反應(yīng)室,完成一次原子層薄膜沉積。如此循環(huán)往 復(fù),即可實現(xiàn)單位原子層級的薄膜沉積。

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ALD原理示意圖(來源微導(dǎo)納米)

除了以上5中CVD技術(shù),還衍生出了SACVD和MOCVD,這兩個工藝和設(shè)備具有很大的潛力,SACVD的高壓環(huán)境能縮小分子自由程,通過臭氧在高溫下形成的高活性氧自由基增加分子間的碰撞,實現(xiàn)優(yōu)秀的填孔能力。MOCVD主要適用于制造第三代半導(dǎo)體材料,例如GaNg,下次再介紹吧。

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原文標(biāo)題:半導(dǎo)體FAB中常見的五種CVD工藝

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