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1200V/50A B6 ECP模塊與DBC模塊對(duì)比
ECP :Embedded component packaging
結(jié)論:與傳統(tǒng)基于DBC的功率模塊相比,功率Die嵌入PCB模塊導(dǎo)通損耗降低21%,熱阻降低29%,關(guān)斷損耗降低25%,開通損耗基本相同。
文章內(nèi)容摘要
1、 功率器件嵌入PCB優(yōu)勢(shì):
可以使用厚銅基板增加熱性能;
平面結(jié)構(gòu)減少環(huán)流回路,從而減少寄生參數(shù);
降低熱阻,減小開關(guān)損耗,提高系統(tǒng)功率密度;
可以使用現(xiàn)有PCB生產(chǎn)工藝,降低制造成本。
2、文章介紹了一種新的工藝,減少PCB廠處理Die要求。由Hochschule Kempten開發(fā)。
第一步通過銀燒結(jié)將Die安裝到DBC基板上;
第二步制作帶有腔體的PCB;
第三步兩部分粘合;
第四步同步盲孔連接。
具體產(chǎn)品生產(chǎn)流程:
C步驟中芯片上端金屬(Interposer)的作用:
金屬的熱容大約是芯片的3倍,短脈沖熱阻顯著降低;
建立對(duì)稱的層堆疊(symmetriclayerStack),減少了芯片與基板由于CTE不匹配導(dǎo)致的分層;
為鉆孔提供buffer,是盲孔的電觸點(diǎn),作為后續(xù)電鍍工藝起始平面
文章中有具體模塊制作的工藝參數(shù)等數(shù)據(jù),關(guān)心的可以自己看文章。
3、模塊參數(shù)介紹
4、測試結(jié)果
靜態(tài)電壓電流曲線
在環(huán)境溫度25℃條件下,+15V柵極電壓下測量兩種模塊的電壓電流曲線。通過線性范圍斜率確定導(dǎo)通電阻。參考模塊為22毫歐,切入PCB工藝為17.7毫歐,Die為17毫歐。由于封裝導(dǎo)致的電阻參考模塊為5毫歐,PCB模塊為0.7毫歐。
50A電流導(dǎo)通損耗減低21%
雙脈沖測試
測試條件:25℃環(huán)溫 驅(qū)動(dòng)電阻18歐姆; 柵極電壓-7V/+15V; 600V母線電壓 測量的參考模塊寄生電感89nH,最大電壓為678V;PCB模塊56nH,最大電壓為650V,減小28V。Dc-link電容寄生電感35nH。
開關(guān)損耗
柵極電阻為28歐姆(內(nèi)10+外18歐姆),開關(guān)損耗基本相同。關(guān)斷損耗,PCB模塊降低28%。主要是降低了尖峰電壓。
熱阻
測量結(jié)到Case的熱阻,使用正向壓降測量。這種方法之前總結(jié)過。
測量電流為50mA。測量底板溫度,通過電壓降和電流測量功率損耗,通過下式計(jì)算熱阻
大約1S后達(dá)到熱平衡。PCB模塊熱阻為0.206k/w,參考模塊為0.291k/w,降低29%。短脈沖PCB熱阻降低更顯著,在10ms時(shí),降低70%。主要原因是芯片頂層的金屬層(Interposer)。
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原文標(biāo)題:功率器件嵌入PCB技術(shù)-論文分享1
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