微波測(cè)量探針
微波測(cè)量探針
DC~110GHz
36102系列
觸點(diǎn)防堆金處理
微波測(cè)量探針產(chǎn)品36102系列，無(wú)縫隙覆蓋DC~110GHz，觸點(diǎn)防堆金處理，壓痕輕，性能可靠，產(chǎn)品統(tǒng)一采用標(biāo)準(zhǔn)同軸安裝接口，觸點(diǎn)類型、觸點(diǎn)尺寸可選，可通用適配多種探針臺(tái)、探針臂，適用于微波集成電路在片測(cè)試、管結(jié)參數(shù)提取、MEMS產(chǎn)品測(cè)試及片上天線測(cè)試等領(lǐng)域。
編輯
技術(shù)指標(biāo)
微波測(cè)量探針
編輯
編輯
審核編輯 黃宇
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題，請(qǐng)聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
-
探針
+關(guān)注
關(guān)注
4文章
211瀏覽量
20484 -
微波測(cè)量
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
10瀏覽量
7661
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
相關(guān)推薦
常見(jiàn)電位測(cè)量錯(cuò)誤及解決方案
常見(jiàn)電位測(cè)量錯(cuò)誤及解決方案 1. 接觸不良 錯(cuò)誤描述： 在電位測(cè)量中，接觸不良是最常見(jiàn)的問(wèn)題之一。這可能是由于探針接觸不良、氧化層、污垢或腐蝕造成的。 解決方案： 清潔探針和被測(cè)點(diǎn)，確
探針式電子溫度計(jì)用來(lái)測(cè)量什么的溫度
探針式電子溫度計(jì)是一種高精度的溫度測(cè)量工具，廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)、醫(yī)療、科研和日常生活中，以確保溫度的精確控制和監(jiān)測(cè)。這種溫度計(jì)通過(guò)一個(gè)或多個(gè)探針來(lái)接觸被測(cè)物體，從而測(cè)量其表面或內(nèi)部的溫
探針式溫度計(jì)使用的正確流程是
探針式溫度計(jì)，也稱為溫度探頭或熱電偶，是一種用于測(cè)量溫度的設(shè)備。它們廣泛應(yīng)用于工業(yè)、醫(yī)療和科學(xué)領(lǐng)域。以下是使用探針式溫度計(jì)的正確流程的概述： 選擇合適的探針式溫度計(jì) ： 根據(jù)
探針圓頭和尖頭的作用區(qū)別
探針是電子測(cè)試和測(cè)量領(lǐng)域中非常重要的工具，它們用于接觸電路板上的焊盤或測(cè)試點(diǎn)，以便進(jìn)行電氣測(cè)試或測(cè)量。探針的設(shè)計(jì)多種多樣，其中圓頭和尖頭是兩種常見(jiàn)的類型。每種類型的
探針頭型怎么選擇尺寸
探針頭型的選擇尺寸是一個(gè)復(fù)雜的過(guò)程，需要考慮多個(gè)因素，包括被測(cè)點(diǎn)的形狀、大小、間距、測(cè)試環(huán)境以及測(cè)試要求等。以下是一些選擇探針頭型尺寸的基本原則和步驟： 一、基本原則 測(cè)量精度 ：首先，需要明確測(cè)試
共模抑制在探針測(cè)量中的重要性與誤解
檢查常見(jiàn)模式拒絕 探針最常被誤解的問(wèn)題之一是，共模抑制會(huì)限制測(cè)量的質(zhì)量。無(wú)論是單端探針還是差分探針，將兩個(gè)探針頭都連接到DUT 的地線上，看
開(kāi)爾文探針力顯微鏡檢測(cè)的是什么信號(hào)
開(kāi)爾文探針力顯微鏡（Kelvin Probe Force Microscope, KPFM）是一種高分辨率的掃描探針顯微鏡，主要用于表面電荷和電勢(shì)的測(cè)量。它基于原子力顯微鏡（AFM）技術(shù)發(fā)展而來(lái)
開(kāi)爾文探針測(cè)試原理是什么
開(kāi)爾文探針測(cè)試（Kelvin Probe Force Microscopy，KPFM）是一種非接觸式表面電勢(shì)測(cè)量技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、表面科學(xué)、納米技術(shù)和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。KPFM技術(shù)通過(guò)測(cè)量
2024年雷達(dá)微波傳感器革命：精確測(cè)量，智能未來(lái)
2024年微波雷達(dá)傳感器革命:精確測(cè)量，智能未來(lái)。微波雷達(dá)是一種利用微波信號(hào)進(jìn)行探測(cè)和監(jiān)測(cè)的技術(shù)，它通過(guò)發(fā)射微波信號(hào)并檢測(cè)目標(biāo)回波來(lái)獲取信息
微波現(xiàn)代測(cè)量典型設(shè)備有哪些
微波現(xiàn)代測(cè)量技術(shù)是電子測(cè)試領(lǐng)域的重要組成部分，其主要應(yīng)用于通信、雷達(dá)、電子對(duì)抗、航天航空等領(lǐng)域。隨著微波技術(shù)的發(fā)展，微波測(cè)量設(shè)備也在不斷更新
微波測(cè)量的三個(gè)基本參量是什么
微波測(cè)量是電子工程領(lǐng)域中的一個(gè)重要分支，它涉及到對(duì)微波信號(hào)的頻率、幅度、相位等參數(shù)的測(cè)量。在微波測(cè)量
美能FPP230A掃描四探針方阻儀：光伏電池片材料電阻率測(cè)量的專業(yè)解決方案
掃描四探針方阻儀是一種用于測(cè)量光伏電池片材料薄層電阻的設(shè)備，其工作原理基于四探針技術(shù)。四探針技術(shù)通過(guò)在樣品表面放置四個(gè)探針，利用其中兩個(gè)
微波測(cè)試設(shè)備有哪些種類
微波測(cè)試設(shè)備是一類用于測(cè)量和分析微波信號(hào)特性的儀器。它們?cè)谕ㄐ?、雷達(dá)、電子對(duì)抗、航空航天等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。本文將詳細(xì)介紹微波測(cè)試設(shè)備的種類、原理和應(yīng)用。 一、
射頻微波測(cè)量儀器的種類和用途
在通信、半導(dǎo)體、新能源、物聯(lián)網(wǎng)以及汽車電子等高科技領(lǐng)域，射頻微波測(cè)量儀器發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。這些儀器能夠?qū)ι漕l微波信號(hào)進(jìn)行精確的測(cè)量和分析，從而幫助工程師和技術(shù)人員了解信號(hào)的特性、評(píng)
CASCADE探針臺(tái)的應(yīng)用場(chǎng)景 cascade探針臺(tái)用途
將詳細(xì)介紹其主要的幾個(gè)應(yīng)用場(chǎng)景。 網(wǎng)絡(luò)性能監(jiān)測(cè)和故障排除 CASCADE探針臺(tái)可以在網(wǎng)絡(luò)中監(jiān)測(cè)和測(cè)量實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)流量，例如帶寬利用率、延遲、丟包率等指標(biāo)。通過(guò)分析這些數(shù)據(jù)，網(wǎng)絡(luò)管理員可以快速識(shí)別網(wǎng)絡(luò)性能問(wèn)題的根本原因并采取相應(yīng)的措施進(jìn)行故
工商網(wǎng)監(jiān)
評(píng)論