晶面間距測(cè)量(下期)

前言

上周的教程介紹了如何從高分辨圖片中測(cè)量晶面間距。那是否可以測(cè)量某列晶格點(diǎn)之中的任意兩個(gè)晶格點(diǎn)之間的間距，并且能直觀地看到強(qiáng)度沿直線變化的曲線呢？

為了滿足這種需要，中材新材料的數(shù)據(jù)分析網(wǎng)站上特意制作了晶面間距測(cè)量工具，方便大家隨時(shí)使用。

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網(wǎng)站分的析功能：

我們的網(wǎng)站提供如下分析功能：

①常規(guī)晶體學(xué)計(jì)算——晶面夾角、晶面間距、晶帶軸、六方晶面晶向指數(shù)換算等

②單晶衍射標(biāo)定

③多晶衍射標(biāo)定

④晶面夾角測(cè)量

⑤晶面間距測(cè)量

⑥FCC、BCC、HCP位錯(cuò)消光表

⑦FCC、BCC孿晶衍射標(biāo)定

⑧視頻教程

這是我們的網(wǎng)址：

www.simr.ac.cn

下面是晶面夾角測(cè)量的詳細(xì)使用教程~

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晶格點(diǎn)距離測(cè)量

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下面是“晶面夾角測(cè)量”功能的詳細(xì)使用教程：

1) 右上角登錄

使用前先點(diǎn)擊圖示位置登錄。

2) 進(jìn)入“晶面間距測(cè)量”頁(yè)面

點(diǎn)擊紅框內(nèi)的按鈕進(jìn)入晶面間距測(cè)量頁(yè)面。

3) 切換模式

點(diǎn)擊左上角的滑塊，切換到“距離測(cè)量（強(qiáng)度提取）”模式。上一期我們介紹的是“晶面間距”模式，這一期我們將介紹這個(gè)“距離測(cè)量（強(qiáng)度提取）”模式。

4) 上傳高分辨圖片

點(diǎn)擊圖片框的左上角的“選擇測(cè)量圖片”，導(dǎo)入待測(cè)量的圖片。

5) 確認(rèn)感興趣的晶格點(diǎn)列

在照片中依次點(diǎn)擊創(chuàng)建a點(diǎn)和b點(diǎn)。注意，a點(diǎn)和b點(diǎn)的連線表示的是待測(cè)量的點(diǎn)列。如果點(diǎn)擊之后發(fā)現(xiàn)位置選得不太好，可以用鼠標(biāo)左鍵拖動(dòng)標(biāo)記調(diào)整位置。

6) 確認(rèn)兩個(gè)待測(cè)量晶格點(diǎn)

如上圖，在圖中的直線ab兩側(cè)分別點(diǎn)擊左鍵，可以創(chuàng)建一條輔助線，這里需要縣級(jí)4下，創(chuàng)建兩條輔助線cd和ef。拖動(dòng)點(diǎn)c、d、e、f，使輔助線與直線ab的交點(diǎn)1和交點(diǎn)2落在我們想測(cè)量的兩個(gè)晶格點(diǎn)上。

7) 確認(rèn)標(biāo)尺

接下來(lái)，將鼠標(biāo)光標(biāo)移動(dòng)至標(biāo)尺中心位置，按住Ctrl鍵，并點(diǎn)擊鼠標(biāo)左鍵，系統(tǒng)將自動(dòng)識(shí)別標(biāo)尺的像素長(zhǎng)度；然后，手動(dòng)校準(zhǔn)標(biāo)尺實(shí)際長(zhǎng)度數(shù)值，再按回車(chē)鍵Enter。例如我們導(dǎo)入的這張圖，圖中是0.5 nm，與網(wǎng)站默認(rèn)的2 nm不同，所以需要在左側(cè)輸入框中手動(dòng)改為0.5。

記得輸入完數(shù)字之后，要按回車(chē)鍵Enter才會(huì)進(jìn)入下一步哦！

8) 計(jì)算結(jié)果

點(diǎn)擊上方的“查看結(jié)果”，就可以看到強(qiáng)度曲線顯示在下方，而虛線對(duì)應(yīng)的是交點(diǎn)1和交點(diǎn)2的位置；再點(diǎn)擊下方的曲線圖的右上角的“查看結(jié)果”按鈕（像眼睛一樣的按鈕），就會(huì)計(jì)算虛線間距，并顯示在左側(cè)。由此就可得出交點(diǎn)的距離。另外，可以用鼠標(biāo)拖動(dòng)虛線位置，高分辨圖中的交點(diǎn)也會(huì)同步變化，這樣就可以測(cè)量直線ab上任意兩個(gè)晶格點(diǎn)之間的距離啦！

9) 下載結(jié)果

點(diǎn)擊上方的“導(dǎo)出結(jié)果”，就可以下載結(jié)果了。