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芯海科技CS32F03X系列通過(guò)IEC 60730軟件安全認(rèn)證

芯??萍迹ㄉ钲冢┕煞萦邢薰?/a> ? 2024-11-14 14:52 ? 次閱讀

芯??萍?/u>CS32F03X系列MCU產(chǎn)品通過(guò)IEC 60730軟件安全認(rèn)證。該系列MCU搭載的安全診斷庫(kù),能全面自檢MCU核心組件,顯著增強(qiáng)智慧家電產(chǎn)品的安全風(fēng)險(xiǎn)管理,助力客戶(hù)產(chǎn)品輕松滿(mǎn)足IEC 60730 B類(lèi)安全標(biāo)準(zhǔn),同時(shí)有效降低認(rèn)證成本。

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IEC 60730標(biāo)準(zhǔn):為智慧家電安全保駕護(hù)航

隨著物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的蓬勃發(fā)展,智慧家電日益普及,但其復(fù)雜的電子控制和高級(jí)顯示功能也帶來(lái)了安全隱患。為此,國(guó)際電工委員會(huì)制定了IEC 60730標(biāo)準(zhǔn),旨在確保家電嵌入式控制硬件和軟件的安全運(yùn)行。該標(biāo)準(zhǔn)不僅提高了智慧家電產(chǎn)品的安全性,還定義了多種安全測(cè)試和診斷方法,能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)并消除系統(tǒng)故障風(fēng)險(xiǎn)。

CS32F03X系列MCU:智慧家電安全新選擇

隨著智慧家電中微控制器的廣泛應(yīng)用,其運(yùn)行穩(wěn)定性變得至關(guān)重要。一旦微控制器出現(xiàn)故障,如時(shí)鐘偏差或RAM損壞,都可能引發(fā)誤操作,帶來(lái)難以預(yù)料的后果。為此,芯??萍季拇蛟炝嘶贛DK和IAR開(kāi)發(fā)環(huán)境的“CS32F0XX_IEC60730_STL安全診斷庫(kù)”。

該診斷庫(kù)在MCU的啟動(dòng)及運(yùn)行階段,對(duì)包括CPU寄存器、程序計(jì)數(shù)器、時(shí)鐘、看門(mén)狗超時(shí)復(fù)位功能、堆棧以及內(nèi)存等關(guān)鍵組件進(jìn)行全面自檢。具體測(cè)試項(xiàng)涵蓋:CPU寄存器和程序計(jì)數(shù)器的故障狀態(tài)檢查,時(shí)鐘振蕩器狀態(tài)及頻率的精準(zhǔn)測(cè)試,WWDT/FWDT看門(mén)狗超時(shí)復(fù)位功能的驗(yàn)證,堆棧下溢情況的細(xì)致檢查,非易失性?xún)?nèi)存的CRC32校驗(yàn),以及易失性?xún)?nèi)存的March-C/March-X高效檢測(cè)算法。

MCU在復(fù)位后,會(huì)立即啟動(dòng)自檢流程,確保在投入運(yùn)行前各項(xiàng)關(guān)鍵組件均處于正常狀態(tài)。同時(shí),在運(yùn)行過(guò)程中,診斷庫(kù)還會(huì)進(jìn)行周期性的自檢,以確保系統(tǒng)的持續(xù)穩(wěn)定。用戶(hù)只需根據(jù)自檢庫(kù)的運(yùn)行流程,在對(duì)應(yīng)階段調(diào)用相應(yīng)接口,即可輕松實(shí)現(xiàn)自檢功能,為智慧家電的安全運(yùn)行提供有力保障。

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在啟動(dòng)自檢的關(guān)鍵階段,芯??萍嫉摹癈S32F0XX_IEC60730_STL安全診斷庫(kù)”會(huì)嚴(yán)謹(jǐn)?shù)匕凑占榷樞?,?duì)MCU的核心組件展開(kāi)全面而細(xì)致的測(cè)試。這一流程涵蓋了CPU寄存器的讀寫(xiě)功能、WDT(看門(mén)狗定時(shí)器)的復(fù)位機(jī)制、FLASH存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)校驗(yàn)、RAM的讀寫(xiě)性能,以及時(shí)鐘的精度等多個(gè)關(guān)鍵功能項(xiàng)。通過(guò)這一系列測(cè)試,確保MCU在啟動(dòng)之初,其所有核心組件均處于良好的工作狀態(tài),為后續(xù)的穩(wěn)定運(yùn)行奠定堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。

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在主循環(huán)的持續(xù)運(yùn)行中,芯海科技的“CS32F0XX_IEC60730_STL安全診斷庫(kù)”會(huì)周期性地啟動(dòng)自檢操作,以確保MCU在整個(gè)工作過(guò)程中始終保持最佳狀態(tài)。為了最大程度地減少對(duì)應(yīng)用程序運(yùn)行的干擾,特別是針對(duì)耗時(shí)較長(zhǎng)的測(cè)試項(xiàng)目,如FLASH校驗(yàn)和RAM校驗(yàn),診斷庫(kù)采取了分片校驗(yàn)的策略。

運(yùn)行自檢的具體流程如下:

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為了確保所有特定代碼能夠嚴(yán)格按照預(yù)定順序執(zhí)行,并且每個(gè)測(cè)試塊都能順利通過(guò),“CS32F0XX_IEC60730_STL安全診斷庫(kù)”為各個(gè)測(cè)試塊賦予了獨(dú)特的標(biāo)簽,并實(shí)施了嚴(yán)密的監(jiān)控機(jī)制來(lái)追蹤檢測(cè)流程。這一設(shè)計(jì)使得在程序計(jì)數(shù)器發(fā)生偏差或丟失時(shí),系統(tǒng)能夠迅速識(shí)別出異常狀態(tài),并立即采取相應(yīng)措施,將MCU引導(dǎo)至一個(gè)安全的狀態(tài),從而有效防止了因程序執(zhí)行錯(cuò)誤而可能引發(fā)的系統(tǒng)故障或安全隱患。

此外,“CS32F0XX_IEC60730_STL安全診斷庫(kù)”已經(jīng)與CS32F0XX_DFP V1.x.x固件庫(kù)實(shí)現(xiàn)了完美適配,這為用戶(hù)提供了極大的便利。用戶(hù)在進(jìn)行軟件開(kāi)發(fā)時(shí),可以直接利用這一固件庫(kù)中的豐富資源和功能,而無(wú)需擔(dān)心兼容性問(wèn)題。

為了幫助用戶(hù)更好地理解和應(yīng)用這一安全診斷庫(kù),芯海科技還精心準(zhǔn)備了《CS32F0XX STL軟件規(guī)格書(shū)》和《CS32F0XX IEC60730自檢庫(kù)使用手冊(cè)》兩份重要文檔。其中,《CS32F0XX STL軟件規(guī)格書(shū)》詳細(xì)闡述了軟件的設(shè)計(jì)思路、架構(gòu)、功能特性以及實(shí)現(xiàn)細(xì)節(jié),為用戶(hù)提供了全面的技術(shù)參考;而《CS32F0XX IEC60730自檢庫(kù)使用手冊(cè)》則重點(diǎn)介紹了如何使用該自檢庫(kù)進(jìn)行快速移植和開(kāi)發(fā),包括具體的操作步驟、注意事項(xiàng)以及常見(jiàn)問(wèn)題解答等,極大地降低了用戶(hù)的使用門(mén)檻。

通過(guò)這兩份文檔的輔助,用戶(hù)不僅可以快速熟悉和掌握“CS32F0XX_IEC60730_STL安全診斷庫(kù)”的各項(xiàng)功能和使用方法,還能夠根據(jù)實(shí)際需求進(jìn)行靈活的定制和擴(kuò)展,從而滿(mǎn)足不同應(yīng)用場(chǎng)景下的安全診斷需求。

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芯海科技CS32F03X系列MCU基于ARM Cortex-M0/M0+內(nèi)核,主頻48MHz,可提供32KB/64KB Flash、4KB/8KB SRAM等不同容量組合的產(chǎn)品,集成了高精度ADC和多種外設(shè)資源,同時(shí)還擁有豐富的軟件和開(kāi)發(fā)工具支持,可廣泛應(yīng)用于智能家居、消費(fèi)類(lèi)電子、工業(yè)控制等領(lǐng)域。

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