測試點(diǎn)的直徑是測試點(diǎn)大小的重要參數(shù)。以下是測試點(diǎn)的兩個關(guān)鍵直徑參數(shù):
A=最小測試點(diǎn)直徑=0.762mm(30mil)
這個直徑是測試點(diǎn)的最小尺寸,用于確保測試探針可以準(zhǔn)確地與測試點(diǎn)接觸。如果測試點(diǎn)直徑小于這個值,可能會導(dǎo)致測試探針無法正確接觸到測試點(diǎn),從而影響測試的準(zhǔn)確性。
B=最小阻焊層和絲印保持直徑=A+0.152mm(6mil)
這個直徑是為了確保在測試點(diǎn)周圍有足夠的空間來保留阻焊層和絲印。在測試點(diǎn)周圍保留阻焊層和絲印可以保護(hù)測試點(diǎn),并提供額外的機(jī)械強(qiáng)度和標(biāo)識。
以上是測試點(diǎn)的直徑參數(shù),其中最小測試點(diǎn)直徑用于確保測試探針的接觸,而最小阻焊層和絲印保持直徑用于保護(hù)測試點(diǎn)并提供機(jī)械強(qiáng)度和標(biāo)識。這些直徑參數(shù)是根據(jù)設(shè)計要求和標(biāo)準(zhǔn)來確定的,可以根據(jù)具體的應(yīng)用和需求進(jìn)行調(diào)整。
測試點(diǎn)最小尺寸
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機(jī)械
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參數(shù)
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原文標(biāo)題:測試點(diǎn)要求
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電路板設(shè)計:測試點(diǎn)的重要性
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