0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

MLCC二類介質(zhì)產(chǎn)品的老化特性

方齊煒 ? 來源:jf_48691434 ? 作者:jf_48691434 ? 2024-10-23 14:57 ? 次閱讀

多層陶瓷電容器MLCC)是一種廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備中的電容器,以其小尺寸、高電容值和良好的頻率特性而受到青睞。然而,MLCC在長期存放過程中可能會(huì)出現(xiàn)容量變化的現(xiàn)象,這種現(xiàn)象被稱為老化。

老化現(xiàn)象的產(chǎn)生與MLCC內(nèi)部的陶瓷介質(zhì)材料有關(guān)。陶瓷介質(zhì)材料在生產(chǎn)過程中會(huì)經(jīng)歷高溫?zé)Y(jié),形成穩(wěn)定的晶體結(jié)構(gòu)。但在使用過程中,尤其是當(dāng)溫度低于材料的居里溫度點(diǎn)時(shí),陶瓷介質(zhì)中的立方晶體結(jié)構(gòu)可能會(huì)因?yàn)橥獠侩妶觥囟茸兓蚱渌h(huán)境因素的影響而發(fā)生對(duì)稱性降低,導(dǎo)致其介電性能發(fā)生變化,進(jìn)而影響MLCC的容量。

這種老化現(xiàn)象是可逆的,意味著通過適當(dāng)?shù)奶幚?,可以恢?fù)MLCC的原始容量。去老化處理通常涉及將MLCC置于高溫環(huán)境中烘烤一段時(shí)間,然后讓其自然冷卻。在這個(gè)過程中,高溫可以促進(jìn)陶瓷介質(zhì)內(nèi)部晶體結(jié)構(gòu)的重新排列,恢復(fù)其原有的對(duì)稱性,從而恢復(fù)或接近其初始的介電性能。

去老化處理方法,即在150℃的溫度下烘烤MLCC 1小時(shí),然后讓其自然冷卻24小時(shí)。這個(gè)處理過程可以有效地促進(jìn)陶瓷介質(zhì)內(nèi)部晶體結(jié)構(gòu)的恢復(fù),減少由于老化引起的容量損失。烘烤過程中的高溫有助于加速晶體結(jié)構(gòu)的重組,而隨后的長時(shí)間冷卻則允許晶體結(jié)構(gòu)在沒有外部應(yīng)力的情況下穩(wěn)定下來。

總之,MLCC的老化現(xiàn)象是由于陶瓷介質(zhì)在特定條件下晶體結(jié)構(gòu)對(duì)稱性降低導(dǎo)致的容量變化,這種現(xiàn)象是可逆的。通過適當(dāng)?shù)母邷睾婵竞屠鋮s處理,可以恢復(fù)MLCC的初始容量。然而,為了確保MLCC的長期穩(wěn)定性和可靠性,還需要在設(shè)計(jì)和制造階段采取有效的預(yù)防措施。

審核編輯 黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • MLCC
    +關(guān)注

    關(guān)注

    46

    文章

    697

    瀏覽量

    45670
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    2023 MLCC回暖緩慢但增長趨勢明確,原廠加速布局高性能MLCC

    發(fā)展。 ? 在被動(dòng)元器件領(lǐng)域,電容產(chǎn)品,特別是MLCC在今年又發(fā)展得如何?電容領(lǐng)域MLCC是目前備受關(guān)注的一器件,特別是近年來隨著移動(dòng)互聯(lián)以及5G智能終端的發(fā)展,全球用量最大的被動(dòng)元
    的頭像 發(fā)表于 01-02 01:32 ?2688次閱讀

    宇陽科技長寬轉(zhuǎn)置MLCC產(chǎn)品介紹

    在電子設(shè)備領(lǐng)域,輕薄化和高集成已成為不可逆轉(zhuǎn)的趨勢,這直接推動(dòng)了對(duì)元器件小型化和高性能的嚴(yán)格要求:MLCC的小型化、大容量以及低ESL,可以很好滿足高速電路和穩(wěn)定電壓的特性。應(yīng)對(duì)此市場需求,長寬轉(zhuǎn)置
    的頭像 發(fā)表于 12-31 15:39 ?59次閱讀
    宇陽科技長寬轉(zhuǎn)置<b class='flag-5'>MLCC</b><b class='flag-5'>產(chǎn)品</b>介紹

    LED如何做老化測試

    LED(發(fā)光極管)因其高效能和長壽命,廣泛應(yīng)用于照明、顯示和信號(hào)等領(lǐng)域。然而,為了確保LED在實(shí)際應(yīng)用中的可靠性和穩(wěn)定性,進(jìn)行老化測試是不可或缺的一步。老化測試可以模擬LED在長期使用過程中的性能表現(xiàn),幫助識(shí)別潛在的缺陷并優(yōu)化
    的頭像 發(fā)表于 10-26 17:14 ?796次閱讀
    LED如何做<b class='flag-5'>老化</b>測試

    MLCC直流偏壓特性解析

    能和濾波等應(yīng)用中。本文將從專業(yè)角度深入解析MLCC的直流偏壓特性,探討其產(chǎn)生原因、影響因素以及在選型時(shí)的注意事項(xiàng)。 一、直流偏壓特性的產(chǎn)生原因 1. 鐵電材料的非線性介電特性
    的頭像 發(fā)表于 10-20 12:04 ?644次閱讀

    MLCC的溫度特性

    多層陶瓷電容器(MLCC)的溫度特性在電子設(shè)計(jì)中具有重要意義,特別是在對(duì)溫度變化敏感的應(yīng)用中。MLCC根據(jù)其介電材料的特性,主要分為一瓷和
    的頭像 發(fā)表于 10-20 12:00 ?386次閱讀
    <b class='flag-5'>MLCC</b>的溫度<b class='flag-5'>特性</b>

    貼片電容陶瓷電容MLCC材質(zhì)分類

    貼片電容陶瓷電容MLCC(Multi-layer Ceramic Capacitors,多層陶瓷電容器)根據(jù)溫度特性、材質(zhì)和生產(chǎn)工藝的不同,可以分為以下幾種主要類型: 一、COG/NPO 溫度特性
    的頭像 發(fā)表于 09-30 09:33 ?332次閱讀
    貼片電容陶瓷電容<b class='flag-5'>MLCC</b>材質(zhì)分類

    晶體的老化原因?如何防止老化

    間的變化,通常表現(xiàn)為指數(shù)正、衰減的頻率漂移特性。然而,頻率變化的方向可以是正的,也可以是負(fù)的,如圖1所示。如圖所示,石英諧振器中可能有幾個(gè)因素共同決定了其老化性能
    的頭像 發(fā)表于 07-03 08:46 ?395次閱讀
    晶體的<b class='flag-5'>老化</b>原因?如何防止<b class='flag-5'>老化</b>?

    宇陽科技0201薄型MLCC產(chǎn)品特性介紹

    ? ? 宇陽科技 0201薄型產(chǎn)品介紹 高頻|高容量|高可靠|小型化MLCC 隨著 AI、大數(shù)據(jù)、5G、物聯(lián)網(wǎng)、汽車電子、可穿戴等新興技術(shù)的快速發(fā)展,下游行業(yè)應(yīng)用場景在廣度和深度上的快速提升帶來
    發(fā)表于 05-13 10:03 ?500次閱讀
    宇陽科技0201薄型<b class='flag-5'>MLCC</b><b class='flag-5'>產(chǎn)品</b><b class='flag-5'>特性</b>介紹

    消費(fèi)電子產(chǎn)品老化試驗(yàn)簡述

    主要的老化試驗(yàn)項(xiàng)目包括:   1、高低溫濕熱老化試驗(yàn):此項(xiàng)試驗(yàn)適用于各種復(fù)雜的濕熱環(huán)境測試。由于產(chǎn)品在使用過程中往往會(huì)受到溫度和濕度的雙重影響,因此,根據(jù)不同的產(chǎn)品和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)來設(shè)定溫度
    的頭像 發(fā)表于 04-27 10:31 ?735次閱讀
    消費(fèi)<b class='flag-5'>類</b>電子<b class='flag-5'>產(chǎn)品</b><b class='flag-5'>老化</b>試驗(yàn)簡述

    不起眼的微小電子元件:多層陶瓷電容MLCC

    多層陶瓷電容MLCC是電子產(chǎn)品中的重要元件,具有體積小、容量大、耐電壓高、頻率特性好等優(yōu)點(diǎn),廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備中。因?yàn)槠潴w積微小在日常生活中難以直接觀察到,但MLCC在電子設(shè)備中發(fā)揮著
    的頭像 發(fā)表于 04-17 09:52 ?652次閱讀
    不起眼的微小電子元件:多層陶瓷電容<b class='flag-5'>MLCC</b>

    不起眼的微小電子元件:多層陶瓷電容MLCC

    多層陶瓷電容MLCC是電子產(chǎn)品中的重要元件,具有體積小、容量大、耐電壓高、頻率特性好等優(yōu)點(diǎn),廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備中。因?yàn)槠潴w積微小在日常生活中難以直接觀察到,但MLCC在電子設(shè)備中發(fā)揮著
    的頭像 發(fā)表于 04-17 09:51 ?485次閱讀
    不起眼的微小電子元件:多層陶瓷電容<b class='flag-5'>MLCC</b>

    MLCC陶瓷電容與普通電容器的區(qū)別

    MLCC具有體積小、電容量大、高頻使用時(shí)損失率低、適合大量生產(chǎn)、價(jià)格低廉及穩(wěn)定性高等特性。在信息產(chǎn)品講求輕、薄、短、小的發(fā)展趨勢及表面貼裝技術(shù)(SMT)應(yīng)用日益普及的市場環(huán)境下,MLCC
    的頭像 發(fā)表于 03-07 17:29 ?1955次閱讀
    <b class='flag-5'>MLCC</b>陶瓷電容與普通電容器的區(qū)別

    短路和二類短路的區(qū)別

    短路和二類短路的區(qū)別? 一短路和二類短路是電路中常見的兩種故障類型。它們在故障性質(zhì)、引起原因、對(duì)電路影響以及檢測方法等方面存在著明顯的區(qū)別。 一、一
    的頭像 發(fā)表于 02-18 10:07 ?3380次閱讀

    MLCC檢測方法分析

    對(duì)于外部缺陷,通常采用顯微鏡下人工目測法或自動(dòng)外觀分選設(shè)備進(jìn)行檢測。然而,內(nèi)部微小缺陷一直是MLCC檢測的難點(diǎn)之一,它嚴(yán)重影響到產(chǎn)品的可靠性,但卻難以發(fā)現(xiàn)。為了解決這個(gè)問題,超聲波探傷方法被引入到
    的頭像 發(fā)表于 01-16 10:53 ?1745次閱讀

    mlcc失效原因分析

    失效的原因進(jìn)行分析。 1.溫度過高:MLCC的工作環(huán)境溫度對(duì)其性能有很大影響。當(dāng)溫度過高時(shí),電容器內(nèi)部的介質(zhì)會(huì)發(fā)生熱分解,導(dǎo)致電容值下降、漏電流增大等現(xiàn)象。此外,高溫還可能導(dǎo)致電容器內(nèi)部的電極材料與介質(zhì)發(fā)生化學(xué)反應(yīng),生成氣體,使
    的頭像 發(fā)表于 01-16 10:46 ?2977次閱讀
    <b class='flag-5'>mlcc</b>失效原因分析