電力場(chǎng)效應(yīng)管(Power Field-Effect Transistor,簡(jiǎn)稱Power FET),特別是其中的絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)管(MOSFET),在電力電子領(lǐng)域因其高速開關(guān)能力和高能效而得到廣泛應(yīng)用。MOSFET的動(dòng)態(tài)特性及其相關(guān)參數(shù)對(duì)于理解其在電路中的行為和優(yōu)化系統(tǒng)性能至關(guān)重要。以下是對(duì)電力MOSFET動(dòng)態(tài)特性和主要參數(shù)的詳細(xì)闡述。
一、動(dòng)態(tài)特性
MOSFET的動(dòng)態(tài)特性主要涉及其在開關(guān)過程中的表現(xiàn),包括開通和關(guān)斷過程的時(shí)間延遲、電壓和電流的變化等。這些特性對(duì)于設(shè)計(jì)高速、高效的電力電子系統(tǒng)至關(guān)重要。
1. 開通過程
MOSFET的開通過程可以分為開通延遲時(shí)間(td(on))和上升時(shí)間(tr)兩個(gè)階段。
- 開通延遲時(shí)間(td(on)) :這是指從柵源電壓(VGS)開始上升(通常定義為上升到其穩(wěn)態(tài)值的10%)到漏源電壓(VDS)開始顯著下降(通常定義為下降到其穩(wěn)態(tài)值的90%)之間的時(shí)間間隔。在這一階段,柵極電容開始充電,但VGS尚未達(dá)到閾值電壓(UT),因此MOSFET尚未開始導(dǎo)通,VDS保持不變。
- 上升時(shí)間(tr) :這是指VDS從90%的穩(wěn)態(tài)值下降到10%的穩(wěn)態(tài)值所需的時(shí)間。在這一階段,VGS繼續(xù)上升并超過UT,MOSFET開始導(dǎo)通,VDS迅速下降,漏極電流(ID)迅速增加。值得注意的是,在上升過程中,由于米勒效應(yīng)(Miller Effect)的存在,VGS可能會(huì)保持在一個(gè)相對(duì)穩(wěn)定的平臺(tái)(米勒平臺(tái))上一段時(shí)間,導(dǎo)致ID的增加速度放緩。
2. 關(guān)斷過程
MOSFET的關(guān)斷過程與開通過程相反,也可以分為關(guān)斷延遲時(shí)間(td(off))和下降時(shí)間(tf)兩個(gè)階段。
- 關(guān)斷延遲時(shí)間(td(off)) :這是指從VGS開始下降(通常定義為下降到其穩(wěn)態(tài)值的90%)到VDS開始顯著上升(通常定義為上升到其穩(wěn)態(tài)值的10%)之間的時(shí)間間隔。在這一階段,柵極電容開始放電,但VGS尚未降低到UT以下,因此MOSFET仍然保持導(dǎo)通狀態(tài),VDS保持不變。
- 下降時(shí)間(tf) :這是指VDS從10%的穩(wěn)態(tài)值上升到90%的穩(wěn)態(tài)值所需的時(shí)間。在這一階段,VGS繼續(xù)下降并低于UT,MOSFET開始關(guān)斷,VDS迅速上升,ID迅速減小。
二、主要參數(shù)
1. 柵極電荷(Qg)
柵極電荷是指為導(dǎo)通MOSFET而注入到柵極電極的電荷量,也稱為總柵極電荷。它包括Qgs(柵極-源極的電荷量)和Qgd(柵極-漏極的電荷量,也稱米勒電荷量)??倴艠O電荷量越大,則導(dǎo)通MOSFET所需的電容充電時(shí)間越長(zhǎng),開關(guān)損耗增加。反之,總柵極電荷量越小,開關(guān)損耗就越小,有利于實(shí)現(xiàn)高速開關(guān)。
2. 電容參數(shù)
- Ciss(輸入電容) :這是柵極與源極和漏極之間的總電容,等于Cgs(柵極-源極電容)和Cgd(柵極-漏極電容)之和。Ciss對(duì)MOSFET的開關(guān)速度有重要影響,因?yàn)樗鼪Q定了柵極電壓的變化速度。
- Coss(輸出電容) :這是漏極與源極之間的總電容,等于Cds(漏極-源極電容)和Cgd之和。Coss主要影響MOSFET的關(guān)斷速度和輸出特性。
- Crss(反向傳輸電容) :這是柵極與漏極之間的電容,也稱為米勒電容。Crss在MOSFET的開關(guān)過程中起著重要作用,是導(dǎo)致米勒效應(yīng)的主要原因。
3. 開關(guān)時(shí)間
- 開通時(shí)間(ton) :開通時(shí)間等于開通延遲時(shí)間(td(on))和上升時(shí)間(tr)之和。它表示了MOSFET從接收到開通信號(hào)到完全導(dǎo)通所需的總時(shí)間。
- 關(guān)斷時(shí)間(toff) :關(guān)斷時(shí)間等于關(guān)斷延遲時(shí)間(td(off))和下降時(shí)間(tf)之和。它表示了MOSFET從接收到關(guān)斷信號(hào)到完全關(guān)斷所需的總時(shí)間。
4. 跨導(dǎo)(gM)
跨導(dǎo)是表示柵源電壓(VGS)對(duì)漏極電流(ID)的控制能力,即ID變化量與VGS變化量的比值??鐚?dǎo)是衡量MOSFET放大能力的重要參數(shù),在動(dòng)態(tài)特性中也起著重要作用。
5. 其他參數(shù)
- 漏源擊穿電壓(V(BR)DSS) :這是指當(dāng)柵源電壓(VGS)為零時(shí),MOSFET的漏極和源極之間所能承受的最大電壓。它是一項(xiàng)極限參數(shù),決定了MOSFET在電路中的耐壓能力。
- 最大耗散功率(PD) :這是指MOSFET在特定條件下所能承受的最大功率損耗。它限制了MOSFET在長(zhǎng)時(shí)間工作下的熱穩(wěn)定性。
- 最大漏源電流(IDSM) :這是指MOSFET在正常工作條件下所能承受的最大漏源電流。它限制了MOSFET在電路中的電流處理能力。
三、總結(jié)
電力場(chǎng)效應(yīng)管(特別是MOSFET)的動(dòng)態(tài)特性和主要參數(shù)對(duì)于理解和設(shè)計(jì)電力電子系統(tǒng)至關(guān)重要。動(dòng)態(tài)特性包括開通過程和關(guān)斷過程中的時(shí)間延遲、電壓和電流變化等,而主要參數(shù)則包括柵極電荷、電容參數(shù)、開關(guān)時(shí)間、跨導(dǎo)以及漏源擊穿電壓、最大耗散功率和最大漏源電流等。通過合理選擇和使用具有適當(dāng)參數(shù)的MOSFET,可以優(yōu)化電路的性能和可靠性。同時(shí),還需要注意MOSFET的保護(hù)和散熱問題,以確保其長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行。
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